JP5376952B2 - モリブデン−チタンスパッタリングプレートおよびターゲットの製造法 - Google Patents

モリブデン−チタンスパッタリングプレートおよびターゲットの製造法 Download PDF

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Description

この発明は、低い粒子放出を有するモリブデン−チタンスパッタターゲットに関する。該ターゲットは、特定のタイプの薄膜、例えば薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ(TFT−LCDs)のようなフラットパネルディスプレイを製造するために用いられる薄膜、の作製において役立つ大面積ターゲットを製造するためにいっしょに結合されうる。
背景情報
スパッタリングは、半導体および光電産業において用いられる金属層を種々の製造プロセスにおいて作製するために用いられる技術である。スパッタリング中に形成される膜の性質は、スパッタリングターゲット自体の性質、例えばそれぞれの結晶粒のサイズおよび分布特性を有する第二相の形成と関連している。膜均一性、スパッタリング中の最小粒子生成、および所望された電気的性質を提供するスパッタターゲットを作製することが望ましい。
基板の表面にわたり膜の堆積を引き起こす種々のスパッタリング技術が用いられている。堆積された金属膜、例えばフラットパネルディスプレイ素子の金属膜は、マグネトロンスパッタリング装置または他のスパッタリング技術によって形成されうる。マグネトロンスパッタリング装置は、ターゲットをボンバード処理するためにガスのプラズマイオンを包含し、ターゲット材料の表面原子は基板の表面上の膜または層として放出されかつ堆積される。従来、平面の円板または矩形板の形のスパッタリング源がターゲットとして用いられ、かつ放出された原子は視野方向トラジェクトリー(line-of -sight trajectory)に沿って移動し、その堆積表面がターゲットの侵食面と平行なウェーハの上に堆積する。同時係属出願シリアル番号10/931,203に記載されたような、管状に形作られたスパッタリングターゲットも用いられうる。
圧延のような従来の方法によって製造されえない材料または材料の組み合わせ物を有するスパッタリングターゲットが所望されることもある。そのような場合ターゲットは、粉末を熱間静水圧プレス(hot isostatic pressing)(HIP)することによって製造される。理想的には、ターゲットは単一の工程において製造される。しかしながら、粉末充填密度およびHIP装置のサイズの物理的限界のため、大きいスパッタリングターゲットを作製するためにはより小さいセグメントを接合する必要がある。単相ターゲットのために、溶接のような従来の処理が行われうる;多相材料のために、または合金形成が何らかの理由で回避されるべき場合、ソリッドステートエッジトゥエッジ結合(solid-state edge to edge bonding)が有利である。
半導体およびTFT−LCDsにおける相互配線は、アルミニウムから銅へと発展しており、従って新規の拡散バリアが必要とされる。モリブテンがその高密度バリア安定性に寄与する一方で、チタンは優れた付着性を提供する。集積回路(半導体およびフラットパネルディスプレイにおける)には、ヒロック形成を最小限にするために、反射率を制御しかつフォトリソグラフィー中の化学的侵食から保護するためにMo−Tiが基層またはキャップ層としてアルミニウム、銅、およびアルミニウム合金のために使用される。
US特許5,234,487は、ほとんどβ(Ti、W)合金相を有さないか、または全く有さないタングステン−チタンスパッタリングターゲットの製造法を記載する。US特許5,896,553は、実質的に全て単一相β(Ti、W)であるチタン−タングステンスパッタターゲットを記載する。どちらの特許もタングステンの代用物としてその他の材料の使用を開示していない。
US特許出願公報20050189401は、スパッタリングターゲットのための大きいMoビレットまたはバーの製造法を開示し、その際、Moを有する2つ以上の物体が互いに隣接して配置され(例えば互いに積み重ねて)、Mo粉末金属がその隣接する物体間のギャップまたは接合部に存在する。その隣接する物体は熱間静水圧プレスされ、隣接する物体間の金属−Mo粉末層−金属の接合部で拡散接合を形成し、機械加工もしくは形成され、大きいスパッタリングターゲットを提供しうるビレットまたはバーが形成される。この特許公報はプレートのエッジトゥエッジ結合ではなく、大部分の側面の結合を開示している。
発明の概要
一態様において、本発明は、実質的にβ(Ti、Mo)相を有さないモリブデン−チタンスパッタリングターゲットの製造法を提供し、該製造法は以下の工程:
(a)モリブデンおよびチタンの粉末を提供する工程、その際、該チタン粉末は、モリブデンおよびチタン粉末の全体の原子%に対して約5〜95原子%の量で存在し、残りはモリブデン粉末である;
(b)モリブデンおよびチタン粉末を混合し、混合された粉末を作製する工程;
(c)任意に、混合された粉末を固化する工程;
(d)固化された粉末をカプセル化する工程;および
(e)カプセル化された粉末を加熱しながら圧縮し、第一のMoTiターゲットプレートを作製する工程を有する。
さらに、該方法は以下の工程:
(f)第一のターゲットプレート上の外被(encapsulation)の一部を取り除く工程;
(g)第一のターゲットプレートを第二のMoTiターゲットプレートに、第一および第二のプレートのエッジに沿って結合し、結合されたプレートを作製する工程;および
(h)結合されたプレートを加熱しながら圧縮し、結合されたターゲットプレートを作製する工程を有してもよい。結合されたターゲットプレートは、少なくとも55インチ×67インチの面積をもつ。
付加的な一態様において、本発明は、単一のβ(Ti、Mo)相を有するモリブデン−チタンスパッタリングターゲットの製造法を提供し、該方法は以下の工程:
(a)モリブデンおよびチタンの粉末を提供する工程、その際、該チタン粉末は、モリブデンおよびチタン粉末の全体の原子%に対して約5〜95原子%の量で存在し、残りはモリブデン粉末である;
(b)モリブデンおよびチタン粉末を混合し、混合された粉末を作製する工程;
(c)任意に、混合された粉末を固化する工程;
(d)固化された粉末をカプセル化する工程;および
(e)カプセル化された粉末を加熱しながら圧縮し、単一のβ(MoTi)相を有するMoTiターゲットプレートを作製する工程を有する。
なおさらに他の態様において、本発明は、大面積スパッタターゲットプレートを作製するために2つ以上のスパッタターゲットプレートをいっしょに結合する方法を提供し、該方法は以下の工程:
(a)2つ以上のそれぞれのターゲットプレートのエッジを洗浄する工程;
(b)任意に、結合されるべき2つ以上のターゲットプレートの少なくとも1つのエッジ上に結合材料を設ける工程;
(c)2つ以上のターゲットプレートをカプセル化する工程;および
(d)2つ以上のターゲットプレートを加熱しながら圧縮し、大面積スパッタターゲットプレートを作製する工程を有し、その際、大面積スパッタターゲットプレートは、少なくとも55インチ×67インチの面積をもつ。
本発明はまた、少なくとも55インチ×67インチの面積を有するモリブデン−チタンスパッタリングターゲットを提供する。
付加的な態様において、本発明はさらに、実質的にβ(Mo、Ti)合金相を有さないモリブデン−チタンスパッタリングターゲット;および単一のβ(Mo、Ti)合金相を有するモリブデン−チタンスパッタリングターゲットを提供する。本発明のこれらのおよび他の態様は、後続の図、詳細な説明および添付された特許請求の範囲からより容易に明らかとなる。
図面の簡単な説明
本発明はさらに、後続の図によって説明される:
図1Aおよび図1Bは、モリブデン−チタン合金形成の相図である。
図2Aは、690℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図2Bは、825℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図2Cは、925℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図2Dは、1038℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図3Aは、725℃、15000psiで8時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図3Bは、750℃、15000psiで8時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図3Cは、780℃、15000psiで8時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図3Dは、750℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図4Aは、750℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
図4Bは、825℃、15000psiで4時間のあいだ再HIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真である。
有利な実施態様の詳細な説明
この中で明細書および特許請求の範囲において使用されるように、例えば実施例において使用されるように、かつ特に別個に規定されない限り、全ての数値には"約"という単語が、たとえその用語が特に明示されていなくても前置きされているように理解されうる。またこの中で記載されるどの数値範囲にも、その中に包含される全ての副次的な範囲を含むことが意図されている。
本発明の一態様において、実質的にゼロのMo−Ti合金相を有するMoおよびTiのスパッタリングターゲットが製造される。この中で使用されるように、"実質的にゼロ"とは、約15%(体積比で)以下のβ(Ti、Mo)を意味する。有利には、この発明に従うMo−Tiターゲットは、SEM−EDS分析によって測定された、不所望のβ(Ti、Mo)極微量〜12体積%を有し、最も有利にはβ(Ti、Mo)極微量〜10体積%を有する。合金形成を測定するその他の方法は、X線回折技術によるものである。これらのターゲットは、理論密度の約95%のまたはそれを上回る密度を有する。
本発明のその他の一態様において、実質的に全て単相のβ(Ti、Mo)合金を有するMoおよびTiのスパッタリングターゲットが製造される。ターゲットの微細構造のSEM−EDS分析は、ターゲット微細構造がMoおよびTiの多層からなる場合に、または単一のβ(Mo、Ti)相が形成される場合に測定するために使用される。
図4に示された、かつMassalski, Binary Alloy Phase Diagrams Vol.2, Ed. T. B. Massalski, ASM International, Metals Park, Ohio, pp.1640から取得されるMo−Tiに関する相図は、Mo−Ti合金の処理中にβ(Ti、Mo)相の形成を回避するために処理温度が695℃±20℃の偏析温度(monotectoid temperature)以下にあるべきことを示している。それに応じて、スパッタターゲットにおけるβ(Ti、Mo)の形成を減少させる一方法は、ターゲット温度がこの偏析温度を超過しないように部材を製造しかつ使用することである。実際には、ターゲットを形成する温度は、少しばかり高い。なぜなら、温度が少しばかり高いとより良好に固化されるからである。
選択的に、また相図に示されるように、平衡条件下で695℃を上回る温度を使用すると、単相合金形成が生じる。
チタンおよびモリブデンの量は、スパッタリングターゲットから作製されるべき膜の所望された特性に応じて変化する。典型的に、チタン粉末は、モリブデンおよびチタン粉末の全体の原子%に対して約5〜95%の量で存在し、残りはモリブデン粉末である。いくつかの適用のために、粉末はチタン40〜60原子%と、残りのモリブデンとを有する;他の適用のために、粉末はチタン50原子%およびモリブデン50原子%を有する。
モリブデンおよびチタン粉末の粒度は、本発明の原理に従って変化させてもよい。実質的にゼロの合金相を有するターゲットが所望される場合、モリブデン粉末の有利な平均粒度は2〜150ミクロン、さらに有利には10〜30ミクロンの範囲にある。チタン粉末の平均粒度は40〜150ミクロン、さらに有利には40〜60ミクロンの範囲にある。モリブデンおよびチタンのどちらも高純度の粉末を有するべきであり、モリブデンおよびチタンのどちらも少なくとも99.5%の純度を有する。
単一合金相ターゲットが所望される場合、より小さい粒度が用いられる。モリブデン粉末の平均粒度は、有利には0.1〜25ミクロンの間にあり、さらに有利には5ミクロン未満である。チタン粉末に関して、所望された平均粒度は、有利には50ミクロン、さらに有利には25〜35ミクロンである。
モリブデンおよびチタン粉末は、従来技術において公知の粉末混合技術に従って混合される。例えば、混合は、モリブデンおよびチタン粉末を乾燥容器中に設置し、かつ該容器をその中心軸のまわりを回転させることによって行われうる。混合は、完全に混合されかつ均一に分散された粉末が生じるのに十分な時間にわたって継続される。ボールミルまたは類似する装置も、混合工程を実施するために用いられうる。この発明はいかなる特定の混合技術にも制限されず、かつ他の混合技術も、それらがモリブデンおよびチタン出発粉末を十分に混合するのであれば選択されうる。
次いで、混合された粉末は任意に予備的な圧縮工程において固化され、理論密度の60〜85%である密度が得られる。固化は、当業者に公知の粉末冶金の任意の方法によって、例えば冷間静水圧プレス、圧延またはダイ圧縮によって実施されうる。使用される時間の長さおよび圧力の量は、この工程において達成されるべき所望された固化の度合に応じて変化する。管状のようなターゲットのいくつかのタイプにおいて、この工程は必ずしも必要ではない。
予備的な固化工程に続けて、固化された粉末は、例えば軟鋼缶(mild steel can)内にカプセル化される。カプセル化はまた、連続した表面空隙のない圧縮品を提供する任意の方法によって、例えば焼結、溶射等によって実施されうる。この中で用いられるように、"カプセル化(encapsulation)"という用語は、連続した表面空隙のない圧縮体を提供する従来技術に公知の任意の方法のことを指す。カプセル化の有利な一方法は鋼缶の使用によるものである。
カプセル化後、カプセル化された品は加熱および加圧下で圧縮される。様々の圧縮法が公知であり、例えば不活性ガス一軸ホットプレス、真空ホットプレス、および熱間静水圧プレス、および高速全方向性圧縮(rapid omnidirectional compaction)、CeraconTM処理等が含まれるがそれらに限定されない。有利には、カプセル化された品は、従来技術においてその方法が公知であるように、75〜300MPa、さらに有利には100〜175MPaの圧力下で、725℃〜925℃、さらに有利には750℃〜850℃の温度で、2〜16時間、さらに有利には4〜8時間のあいだ熱間静水圧プレスされ、所望されたターゲット形状となる。適切な温度、圧力および時間条件が維持される限り、本発明のMo−Tiスパッタリングターゲットを作製するためにホットプレスの他の方法が用いられてもよい。
最終的な圧縮工程後、ターゲットプレートは所望されたサイズおよび形状に機械加工され、かつ従来技術において公知のように任意にバッキングプレートに結合され、最終的なスパッタリングターゲットが作製される。
本発明の仕上げられたスパッタターゲットは、約90%の理論密度を上回る密度および有利には理論密度の少なくとも95%の密度を有する。
より大きいスパッタターゲットが所望される場合、本発明の2つ以上のターゲットプレートがエッジトゥエッジ式にいっしょに結合されうる。
他の実施態様において、他の材料からなるターゲットに結合し、より大きいスパッタリングターゲットを製造するために以下に記載された結合法を用いてもよい。そのような材料には、Ti−W、Zr−Mo、Al−Nd、Nb−Mo、Al−Si、Ni−Ti、Fe−Ti、Fe−Tb、Al−Zr、Nb−Ti、およびその他のアルミニウム、クロム、ニオブ、ジルコニウム、鉄、およびタンタル合金等が含まれるがそれらに限定されない。その他の結合材料は、ターゲットにおける材料の組成に応じて用いられる。
結合ターゲットプレートが実質的にゼロのβ(Ti、Mo)合金相を有する場合、結合形成は、別個の元素相をなお維持しつつ、また合金、この場合にはMoTiの量が著しく増大することなく実施されることが所望される。従って、結合形成のための条件は、合金形成を促進するほど高くはないが結合に影響を及ぼすのに十分高い温度であるべきである。結合媒体のタイプもまた合金形成を制御する一要因である。Mo−Ti系の場合、可能な結合材料には、チタン粉末、チタンシート、箔(foil)、フォーム、エキスパンドメタル、組み合わせられたチタンおよびモリブデン粉末またはモリブデン粉末またはこれらの組み合わせ物が含まれる。従来技術において溶接法が公知であるように、2つ以上のプレートをいっしょに溶接することも可能である。
本発明の結合法は、脆性または低強度の相、例えば規則金属間相または薄片相(Leaves phases)が圧延または溶接を困難にする場合はスパッタリングと関連のない系において適用されうる。例えば、チタンはFe、NiおよびCoと組み合わせられる場合に多数のそのような相を形成する。
本発明の結合法において、接合されるべきプレートまたはセグメントのエッジは機械加工され、かつ結合のための適切な表面を提供するために洗浄される。典型的に、ターゲットプレートは1/2〜36インチの間の厚みのスラブであり、それゆえ結合されるべき表面は36インチ以下の厚みである。さらに典型的に、結合されるべき表面は4〜8インチの間の厚みである。結合材料が粉末以外である場合、洗浄は、残留物を留めない方法によってなされる。結合形成は、機械加工された表面間に結合材料を設置し、またそのアセンブリを容器中に、例えば軟鋼缶内に設置することによって実施され、それは気密密閉されえ、かつ真空ポンプ内で発生する温度および圧力に耐えうる構造をもつ。容器およびアセンブリは、ガスおよび湿気を取り除くのを補助するために加熱してもよい。次いで容器は気密密閉され、かつ固化するためにHIP室(HIP vessel)内に設置される。
固化は、上で記載された圧力および温度を用いて、75〜300MPa、さらに有利には100〜175MPaの圧力で、700℃〜950℃、さらに有利には750℃〜850℃の温度で、2〜16時間、さらに有利には4〜8時間にわたって実施される。HIPの後で、該容器は機械的な方法によってかまたは酸分解によって取り除かれる。
本発明の大面積プレートは、有利には少なくとも55インチ(1400mm)×67インチ(1700mm)であり、時として少なくとも60インチ×少なくとも95インチである。
実施例
以下の例は本発明を説明することに向けられており、また本発明をいかなる形においても制限するものとして構成されるべきではない。
例1−ターゲットの製造
HIP条件を選択するために、サブサイズ(sub-sized)の試料をベンダー(Vendor)AおよびベンダーBによって製造した。ベンダーAの試料は、約0.5インチの直径×長さ5インチに仕上げた。ベンダーBの試料は、直径約2インチ×長さ3インチであった。
粉末混合
チタン粉末(グレード Ti−050、100/325メッシュ、Micron Metalsから)およびモリブデン粉末(MMP−7、−100メッシュ、H. C. Starckから)を、Ti33.3%(質量比で)を達成する割合でVブレンダー中で混合した。均一な分布を達成するために混合時間を調整した。非保護雰囲気を、ブレンダーの混合中または排出中に用いた。
CIP
ベンダーAで混合した粉末を、19000psiで冷間静水圧プレス(CIP)し、およそ60%の理論密度(約4.3g/cc)を得た。ベンダーBの試料を30000psiでCIPし、かつ理論の64%〜70%の密度(4.6〜5g/cc)を達成した。
カプセル化、ガス放出(out-gas) & HIP
CIPした圧縮物を、圧縮物と缶壁との間にMo箔バリアを有する鋼缶(C1018、マンドレル引き抜きシームレスチューブ(drawn-over-mandrel seamless tubing)、1/8"壁)内に設置した。缶詰めした圧縮物を、それらが10μの内圧および100μ/分以下の漏れ速度(leak-up rate)に達するまで動的真空下でおよそ200℃に加熱した。次いで缶を、従来技術において公知の方法によって、例えば、該缶の排出管の切断端部のクリンプ加工、カッティング加工および融着加工を含む処理を用いて密閉した。
ガス放出しかつ密閉した缶アセンブリを、様々の温度で15000psiで4時間のあいだ、熱間静水圧プレス(HIP)した。ベンダーAには、680℃、750℃、825℃、950℃および1038℃を用いた;ベンダーBには、690℃、825℃、925℃および1040℃を用いた。
結果
サンプルをそれぞれの試験ビレットから切断し、密度、微細構造を金属組織試験およびSEM−EDSによって測定し、かつ硬度を測定した。密度結果は表1の中でまとめられている。ベンダーBからの、アルキメデス法によって測定された密度からは予測された挙動が起こった。しかしながら、ベンダーAでHIPしたサンプルの密度は、期待されたものより小さくかつ不均一な変形を示した。
Figure 0005376952
金属組織試験により、微細構造がチタンマトリックス中に埋め込まれたMo粒子であることが分かった。Ti粒子を取り囲んでいるのは、Tiに溶解したMoの合金相である。図2A−2Dは、HIP温度による合金相の増大の推移の例を示す。合金の組成を決定するためのサンプルの相分析を、走査型電子顕微鏡―エネルギー分散型分析装置(SEM−EDS)を用いて行った。二次電子モードにおいて撮られた像は、原子番号コントラストを強調する。チタンは最も暗く見え、モリブデンは最も明るく見え、かつ合金相の灰色は2つの中間である。これらの像において容易には検出可能ではないけれども、組成勾配は合金相内に存在し、最高モリブデン含量はMoの斑点(patches)と境を接していることが分かり、かつ最小MoはTi斑点に隣接していることが分かる。最も明るい灰色相はモリブデンにおいて見られる。690℃からのサンプルは、MoとTiしか示さない。825℃では第三の相が存在する。最も明るい灰色はMoであり、最も暗い灰色はTiであり、かつTiを取り囲んでいるのは、Mo10質量%〜20質量%を含有する合金相である。925℃では純粋なTiは全く残らず、かつ1038℃では、微細構造はMoおよびTiとMo約25質量%とを有するTiの合金を有する。
微細構造および密度対HIP温度は、第一のHIPのための最適な温度が720℃〜780℃の範囲にありうることを示していた。3つの付加的な運転を、全て15000psiで8時間のあいだ725℃、750℃および780℃で行った。これらを、密度、微細構造、硬度および合金相組成について測定した。これらの試験の結果は高密度化に関して改善されたことを示しており、4時間の運転での密度および温度のプロットから予測されるものがあらかじめ達成していた値を上回る。これらの運転におけるSEM顕微鏡写真は、図3A〜3Dに示されている。比較のために、750℃および15000psiで4時間のあいだのHIPによって7.07g/ccの密度が生じた。
Figure 0005376952
同時に、MoTiの大きいブロックをベンダーAによって19000psiでCIPし、6.8"×6"×17"および約65%の密度(4.78g/cc)を得、かつ1500psiおよび750℃で4時間のあいだHIPし、およそ5"×5"×15"のサイズに仕上げた(その最小寸法で5.697"×5.425"×15.406")。
粉末から1550mmを超える寸法を有するモノリシックターゲットを作製することは現在の装置能力を超えており、かつ接合セグメントが必要とされる。接合は、第二のHIP操作によって実施してもよい;しかしながら、条件は合金相の形成を回避するために注意深く選択しなければならない。15000psiで4時間のあいだ750℃でHIPした後に、サンプルを15000psiで4時間のあいだ825℃で再HIPした。図4A−4Bは、付加的なHIPサイクルから生じる典型的な微細構造を示す。MoTi合金相の相対的な割合は、750℃のサンプルより825℃からのサンプルにおいて増大していたが、しかし再HIPした微細構造は、図2における825℃のサンプルのものと定性的に類似している。密度は、825℃、4時間、15000psi(7.14g/cc)での単一のHIPサイクル後の密度と比較して、825℃で再HIPしたサンプルにおいては7.20から7.22g/ccに増加した。
例2−結合
それぞれ50原子パーセントの割合の混合したMoおよびTiを、およそ65%〜75%の理論密度に冷間静水圧プレスし、およそ6インチ×6インチ×20インチのブロックを形成し、かつ従来技術において公知の方法を用いて鋼缶内にカプセル化した。粉末を充填した缶を、15000psiおよび750℃で4時間のあいだ熱間静水圧プレスした。固化した圧縮物を鋼缶から取り除き、かつおよそ5インチ×5インチ×1インチ・・・のスライスに切断した。結合されるべき表面を平面に機械加工し、かつ4つのペアのスライスをそれぞれ前のように該スライス間に接合材料を設けて鋼缶内にカプセル化した。該スライスを缶内で配向させ、およそ2インチの厚みのサンドイッチを作製した。試験した結合剤は:それぞれ50原子パーセントの比で混合したMoおよびTi粉末、Ti粉末(0.15〜0.17インチの厚みで仕上げる)、およびTi箔(0.035インチの厚み)であった。一組のスライスはその間に何も有していなかった。
アセンブリを、15000psiおよび825℃で4時間のあいだ、熱間静水圧プレスした。
熱間静水圧プレスの後、該アセンブリを鋼缶から取り除いた。5つの試料をそれぞれ1/2インチ×1/4インチ×1インチで、それぞれ結合されたアセンブリから切断した。結合はそれぞれ試料の中間長さ位置(mid-length location)にてされていた。これらの試料の全てを、ASTM B528に従う結合領域中での抗折力に関して測定した。付加的に5組の試料を、同じ条件で熱間静水圧プレスしたブロックから作製した。これらの試料は結合されておらず、かつMo−Ti金属マトリックス複合物の強度を測定した。以下の表3は結果の概要を示す。
Figure 0005376952
例3−薄膜堆積
マグネトロンスパッタリングを、基板、例えばガラス、シリコンウェーハおよびステンレス鋼上へモリブデン−チタン薄膜を堆積させるための方法として用いた。
1.焼き付け
使用した焼き付け処理は以下の通りであった:ターゲットに施与される粉末を0W〜100Wでランプ加熱し、10分のあいだ定出力に維持し、50分の時間にわたって1000Wにランプ加熱し、次いで2時間のあいだ1000Wで一定に維持した。
2.堆積処理およびパラメータ
堆積に先立ち、シリコン、ステンレス鋼(AISI 304)、ソーダ石灰ガラス、およびCorning 1737ガラス基板を、アセトンおよびエチルアルコールの超音波浴内での連続的な水洗によって化学的な洗浄に供した。次いで、基板を窒素中でブロー乾燥し、かつ成膜チャンバー(deposition chamber)に装填した。
該チャンバーを、5×10−6トルより小さい圧力にポンプで減圧し、かつ表面をスパッタエッチングするためにアルゴンを6.5×10−3トルで充填した。この工程において、アルゴンイオンを基板に加速させながら、100kHzで振動する400Vの負電圧を30分のあいだ基板に印加した。
基板をスパッタクリーニングした後、アルゴン流を2×10−3トル(2ミリトル)に減少させ、かつターゲットを5分のあいだ500W(DC)でスパッタクリーニングした。
基板上への堆積を、異なる条件下においてパワーモード(ターゲットに適用される定格出力(fixed power))にて実施し、その際、ガス圧力および時間を変化させた。表4は、使用したパラメータを載せている。
Figure 0005376952
3.基板ソーススペース(Substrate Source Spacing)(SSS):SSSを5"に保った。
4.堆積速度
SiおよびCorning 1737ガラス基板上でのMo−Tiコーティングの堆積速度を、SEMで測定した膜断面厚さによって決定した。
Figure 0005376952
5.微細構造
堆積圧力の低下とともに、SEMによって観察されたように、Mo−Tiコーティングはより高密度となった。Corning 1737ガラス基板上のコーティングは、Si基板上のより高密度であった。
6.付着力(テープ試験)
Mo−Tiコーティングの付着力をテープ試験によって測定した。約200nmの厚みを有するCorning 1737ガラス上のMo−Tiコーティングは、おそらくより良好な化学的結合とより小さい全応力とに基づき、約5μmの厚みを有するステンレス鋼およびソーダ石灰ガラス基板上でのこれらのコーティングよりはるかに良好な付着力を示した。
Figure 0005376952
Figure 0005376952
実施した付着力テープ試験は、次のASTM基準をベースにした:
ASTM基準D:3359−02:"テープ試験によって付着力を測定するための標準試験法"
ASTM基準B905−00:"機械化テープ試験(Mechanized Tape Test)によって金属コーティングおよび無機コーティングの付着力を評価するための標準法"
7.エッチング速度
Si基板上でのMo−Tiコーティングのエッチング速度は、該コーティングを30分のあいだ25℃でフェリシアニド溶液中に浸漬することによって測定した。Mo−Tiコーティングのエッチング速度は、Mo−NbZrおよび純粋なMoコーティングのエッチング速度より低かった。
Figure 0005376952
8.抵抗率
選択したモリブデン膜のシート抵抗を、4点プローブを用いて測定した。結果は第8表に示される。Mo−Tiコーティングの抵抗率は、上で言及した条件下で堆積された膜の純粋なMoコーティングの抵抗率より高かった。
Figure 0005376952
堆積圧力の低下とともに、Mo−Tiコーティングはより高密度となった。Corning 1737ガラス基板上のコーティングは、Si基板上のより高密度であった。約200nmの厚みを有するCorning 1737ガラス上のMo−Tiコーティングは、おそらくより良好な化学的結合およびより小さい全応力に基づき、約5μmの厚みを有するステンレス鋼およびソーダ石灰ガラス基板上でのこれらのコーティングよりはるかに良好な付着力を示した。Mo−Tiコーティングのエッチング速度は、純粋なMoコーティングのエッチング速度よりはるかに低かった。Mo−Tiコーティングの比抵抗は、純粋なMoコーティングのものより高かった。Mo−Tiの均一性は、前の純粋なMoコーティングに匹敵する。
この発明の特定の態様を説明のために上で記載している一方で、本発明の詳細な内容を、添付された特許請求の範囲において定義された該発明を逸脱することなく多数変化させてもよいことは当業者に明らかである。
モリブデン−チタン合金形成の相図を示す図 モリブデン−チタン合金形成の相図を示す図 690℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 825℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 925℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 1038℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 725℃、15000psiで8時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 750℃、15000psiで8時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 780℃、15000psiで8時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 750℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 750℃、15000psiで4時間のあいだHIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図 825℃、15000psiで4時間のあいだ再HIPに供されたサンプルのSEM顕微鏡写真を示す図

Claims (12)

  1. (a)モリブデン粉末およびチタン粉末を提供する工程、その際、前記チタン粉末は、40〜150ミクロンの平均粒度を有し、かつモリブデン粉末およびチタン粉末の全体の原子%に対して40〜60原子%の量で存在し、残部は、2〜150ミクロンの平均粒度を有するモリブデン粉末である;
    (b)モリブデン粉末およびチタン粉末を混合し、混合された粉末を作製する工程;
    (c)混合された粉末を固化する工程;
    (d)該固化工程(c)の後に固化された粉末をカプセル化する工程;
    (e)熱間静水圧プレスによって圧縮し、エッジをもつ第一のMoTiターゲットプレートを作製する第1の圧縮工程;
    (f)該第一のMoTiターゲットプレートの前記エッジと、前記工程(a)〜(e)に従って作製した第二のMoTiターゲットプレートの対向エッジとの間に、チタンを含む結合材料を設ける工程;および
    (g)前記第一および第二のMoTiターゲットプレートを、それらの間に設けられた前記結合材料とともに熱間静水圧プレスによって圧縮し、少なくとも55インチ×少なくとも67インチの面積をもつ大面積スパッタプレートを形成する第2の圧縮工程
    を含む、大面積モリブデン−チタンスパッタリングターゲットの製造法。
  2. 前記第1の圧縮工程(e)は、前記カプセル化した粉末を、725℃〜925℃の温度で2〜16時間にわたって加熱すると同時に75〜300MPaの圧力で実施する、請求項1記載の方法。
  3. 前記固化工程(c)は冷間静水圧プレスを含み、前記第1の圧縮工程(e)は、前記カプセル化した粉末を、750℃〜850℃の温度で2〜16時間にわたって加熱すると同時に100〜175MPaの圧力で実施する、請求項1記載の方法。
  4. 前記固化工程(c)は冷間静水圧プレスを含み、前記第2の圧縮工程(g)は、700℃〜950℃の温度で2〜16時間にわたって加熱すると同時に75〜300MPaの圧力で実施する、請求項1記載の方法。
  5. 前記固化工程(c)は冷間静水圧プレスを含み、前記第2の圧縮工程(g)は、700℃〜950℃の温度で2〜16時間にわたって加熱すると同時に100〜175MPaの圧力で実施する、請求項2記載の方法。
  6. 前記固化工程(c)は冷間静水圧プレスを含み、前記第2の圧縮工程(g)は、700℃〜950℃の温度で2〜16時間にわたって加熱すると同時に100〜175MPaの圧力で実施する、請求項3記載の方法。
  7. 前記結合材料は、チタン箔、またはチタンを含む粉末である、請求項1記載の方法。
  8. 前記結合材料は、チタン粉末とモリブデン粉末の混合物である、請求項1または6記載の方法。
  9. 前記カプセル化は鋼缶内で実施する、請求項8記載の方法。
  10. 前記混合された粉末は50原子%のTiを含む、請求項6記載の方法。
  11. 前記大面積スパッタターゲットプレートは、少なくとも60インチ×少なくとも95インチである、請求項1、6または8記載の方法。
  12. 前記第1の圧縮工程(e)及び前記第2の圧縮工程(g)の条件は、前記大面積スパッタターゲットプレート内に実質的にβ(Ti、Mo)相が存在せず、理論密度の少なくとも95%である密度と、4〜8インチの厚みが結果として生じるように選択される、請求項1、6または8記載の方法。
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Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030002043A1 (en) * 2001-04-10 2003-01-02 Kla-Tencor Corporation Periodic patterns and technique to control misalignment
RU2418886C2 (ru) * 2005-05-05 2011-05-20 Х.К. Штарк Гмбх Способ нанесения покрытий для изготовления или восстановления мишеней распыления и анодов рентгеновских трубок
US7837929B2 (en) * 2005-10-20 2010-11-23 H.C. Starck Inc. Methods of making molybdenum titanium sputtering plates and targets
JP5210498B2 (ja) * 2006-04-28 2013-06-12 株式会社アルバック 接合型スパッタリングターゲット及びその作製方法
US20080067058A1 (en) * 2006-09-15 2008-03-20 Stimson Bradley O Monolithic target for flat panel application
US20080078268A1 (en) 2006-10-03 2008-04-03 H.C. Starck Inc. Process for preparing metal powders having low oxygen content, powders so-produced and uses thereof
US20080087866A1 (en) * 2006-10-13 2008-04-17 H.C. Stark Inc. Titanium oxide-based sputtering target for transparent conductive film, method for producing such film and composition for use therein
US20080145688A1 (en) 2006-12-13 2008-06-19 H.C. Starck Inc. Method of joining tantalum clade steel structures
US8784729B2 (en) * 2007-01-16 2014-07-22 H.C. Starck Inc. High density refractory metals and alloys sputtering targets
JP2008255440A (ja) * 2007-04-06 2008-10-23 Hitachi Metals Ltd MoTi合金スパッタリングターゲット材
US8197894B2 (en) 2007-05-04 2012-06-12 H.C. Starck Gmbh Methods of forming sputtering targets
US8197885B2 (en) * 2008-01-11 2012-06-12 Climax Engineered Materials, Llc Methods for producing sodium/molybdenum power compacts
JP2011523978A (ja) * 2008-04-28 2011-08-25 ハー ツェー シュタルク インコーポレイテッド モリブデン−ニオブ合金、かかる合金を含有するスパッタリングターゲット、かかるターゲットの製造方法、それから製造される薄膜、およびその使用
US8246903B2 (en) 2008-09-09 2012-08-21 H.C. Starck Inc. Dynamic dehydriding of refractory metal powders
JP2011089188A (ja) * 2009-10-26 2011-05-06 Ulvac Japan Ltd チタン含有スパッタリングターゲットの製造方法
US8449818B2 (en) * 2010-06-30 2013-05-28 H. C. Starck, Inc. Molybdenum containing targets
US8449817B2 (en) * 2010-06-30 2013-05-28 H.C. Stark, Inc. Molybdenum-containing targets comprising three metal elements
US9546418B2 (en) 2011-02-14 2017-01-17 Tosoh Smd, Inc. Diffusion-bonded sputter target assembly and method of manufacturing
WO2012154817A1 (en) 2011-05-10 2012-11-15 H.C. Starck, Inc. Composite target
KR101338688B1 (ko) * 2011-06-02 2013-12-06 엘지이노텍 주식회사 태양전지 및 그의 제조방법
CN102321871B (zh) * 2011-09-19 2013-03-20 基迈克材料科技(苏州)有限公司 热等静压生产平板显示器用钼合金溅射靶材的方法
TWI572725B (zh) * 2011-09-26 2017-03-01 日立金屬股份有限公司 MoTi靶材的製造方法
US8734896B2 (en) 2011-09-29 2014-05-27 H.C. Starck Inc. Methods of manufacturing high-strength large-area sputtering targets
US9334565B2 (en) * 2012-05-09 2016-05-10 H.C. Starck Inc. Multi-block sputtering target with interface portions and associated methods and articles
CN102922225B (zh) * 2012-08-16 2015-05-06 宁夏东方钽业股份有限公司 一种钼靶材的制备方法
CN103060760A (zh) * 2012-11-28 2013-04-24 厦门虹鹭钨钼工业有限公司 一种钼钛合金靶材的制备方法
CN103071793B (zh) * 2013-02-01 2015-07-22 基迈克材料科技(苏州)有限公司 钼溅射靶材热等静压生产方法
CN104708192A (zh) * 2013-12-12 2015-06-17 有研亿金新材料有限公司 一种W-Ti合金靶材组件扩散焊接方法
US9988698B2 (en) * 2013-12-13 2018-06-05 The Abbott Ball Company Method of hardening articles and articles comprising the same
KR101605633B1 (ko) 2014-09-30 2016-04-01 희성금속 주식회사 반도체용 탄탈럼 타겟의 제조방법 및 이로부터 제조된 탄탈럼 스퍼터링 타겟
CN104532201B (zh) * 2014-12-29 2017-03-15 金堆城钼业股份有限公司 一种钼钛合金溅射靶材板的制备方法
CN104480446A (zh) * 2014-12-30 2015-04-01 山东昊轩电子陶瓷材料有限公司 钼钛合金靶材及其生产方法
CN104694774B (zh) * 2015-03-19 2017-12-08 中国工程物理研究院材料研究所 一种高致密度细晶钛合金的热等静压制备方法
CN106148903A (zh) * 2015-04-22 2016-11-23 宁波江丰电子材料股份有限公司 钼钛靶材的制造方法
CN105087982B (zh) * 2015-08-20 2017-03-15 金堆城钼业股份有限公司 一种MoTa/MoTi合金粉末的制备方法
CN106475566A (zh) * 2015-08-27 2017-03-08 宁波江丰电子材料股份有限公司 钼钛靶坯的制造方法
CN105773074B (zh) * 2016-03-14 2017-08-18 洛阳高新四丰电子材料有限公司 一种钼合金舟的制作方法
JP6868426B2 (ja) * 2016-03-29 2021-05-12 東北特殊鋼株式会社 チタン合金製コーティング膜及びその製造方法、並びにチタン合金製ターゲット材の製造方法
WO2017170639A1 (ja) * 2016-03-29 2017-10-05 大同特殊鋼株式会社 チタン合金製コーティング膜及びチタン合金製ターゲット材
US20180244535A1 (en) 2017-02-24 2018-08-30 BWXT Isotope Technology Group, Inc. Titanium-molybdate and method for making the same
US10975464B2 (en) * 2018-04-09 2021-04-13 International Business Machines Corporation Hard mask films with graded vertical concentration formed using reactive sputtering in a radio frequency deposition chamber
CN110952064A (zh) * 2019-11-25 2020-04-03 宁波江丰电子材料股份有限公司 一种钽硅合金溅射靶材及其制备方法
CN113600815A (zh) * 2021-06-24 2021-11-05 厦门虹鹭钨钼工业有限公司 一种干式掺杂钼合金的制备方法
CN114540778A (zh) * 2022-01-14 2022-05-27 西安理工大学 Ti-Mo合金薄膜及其制备方法

Family Cites Families (97)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US787929A (en) * 1904-09-08 1905-04-25 Sumter Telephone Mmfg Company Telephone-switchboard.
US2678270A (en) * 1951-10-06 1954-05-11 Climax Molybdenum Co Molybdenum-tantalum alloys
US2678269A (en) * 1951-10-06 1954-05-11 Climax Molybdenum Co Molybdenum-titanium alloys
US2678268A (en) * 1951-10-06 1954-05-11 Climax Molybdenum Co Molybdenum-vanadium alloys
US3841846A (en) * 1970-01-25 1974-10-15 Mallory & Co Inc P R Liquid phase sintered molybdenum base alloys having additives and shaping members made therefrom
US3714702A (en) * 1971-08-17 1973-02-06 Atomic Energy Commission Method for diffusion bonding refractory metals and alloys
DE2522690C3 (de) * 1975-05-22 1982-03-04 Goetze Ag, 5093 Burscheid Plasmaauftragsschweißpulver für die Herstellung verschleißfester Schichten
JPS5496775A (en) * 1978-01-17 1979-07-31 Hitachi Ltd Method of forming circuit
US4594219A (en) * 1985-08-02 1986-06-10 Metals, Ltd. Powder metal consolidation of multiple preforms
US4647426A (en) * 1985-12-23 1987-03-03 Battelle Memorial Institute Production of billet and extruded products from particulate materials
US4747907A (en) * 1986-10-29 1988-05-31 International Business Machines Corporation Metal etching process with etch rate enhancement
JPH0791636B2 (ja) * 1987-03-09 1995-10-04 日立金属株式会社 スパツタリングタ−ゲツトおよびその製造方法
JPS63241164A (ja) 1987-03-30 1988-10-06 Toshiba Corp スパッタリングターゲットおよび電気配線用合金膜
US4820393A (en) * 1987-05-11 1989-04-11 Tosoh Smd, Inc. Titanium nitride sputter targets
DE3718779A1 (de) * 1987-06-04 1988-12-22 Krauss Maffei Ag Schnecke od. dgl. maschinenteil fuer kunststoffverarbeitende maschinen
US5294321A (en) * 1988-12-21 1994-03-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Sputtering target
US4931253A (en) * 1989-08-07 1990-06-05 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Method for producing alpha titanium alloy pm articles
US4995942A (en) * 1990-04-30 1991-02-26 International Business Machines Corporation Effective near neutral pH etching solution for molybdenum or tungsten
JPH04333565A (ja) * 1991-01-17 1992-11-20 Mitsubishi Materials Corp スパッタリングターゲットおよびその製造方法
JPH0539566A (ja) * 1991-02-19 1993-02-19 Mitsubishi Materials Corp スパツタリング用ターゲツト及びその製造方法
US5292423A (en) 1991-04-09 1994-03-08 New Mexico State University Technology Transfer Corp. Method and apparatus for trace metal testing
US5234487A (en) * 1991-04-15 1993-08-10 Tosoh Smd, Inc. Method of producing tungsten-titanium sputter targets and targets produced thereby
TW234767B (ja) 1992-09-29 1994-11-21 Nippon En Kk
JPH06264233A (ja) 1993-03-12 1994-09-20 Nikko Kinzoku Kk Tft製造用スパッタリングタ−ゲット
US5429877A (en) * 1993-10-20 1995-07-04 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Internally reinforced hollow titanium alloy components
US5397050A (en) * 1993-10-27 1995-03-14 Tosoh Smd, Inc. Method of bonding tungsten titanium sputter targets to titanium plates and target assemblies produced thereby
US5693156A (en) * 1993-12-21 1997-12-02 United Technologies Corporation Oxidation resistant molybdenum alloy
US5518131A (en) * 1994-07-07 1996-05-21 International Business Machines Corporation Etching molydbenum with ferric sulfate and ferric ammonium sulfate
US5857611A (en) * 1995-08-16 1999-01-12 Sony Corporation Sputter target/backing plate assembly and method of making same
DE69633631T2 (de) * 1995-08-23 2005-10-20 Asahi Glass Ceramics Co., Ltd. Target, verfahren zu dessen herstellung und herstellung hochrefraktiver filme
US5896553A (en) * 1996-04-10 1999-04-20 Sony Corporation Single phase tungsten-titanium sputter targets and method of producing same
US5963778A (en) * 1997-02-13 1999-10-05 Tosoh Smd, Inc. Method for producing near net shape planar sputtering targets and an intermediate therefor
JP3629954B2 (ja) 1997-06-17 2005-03-16 ヤマハ株式会社 半導体装置及びその製造方法
US6185413B1 (en) * 1997-06-17 2001-02-06 Siemens Aktiengesellschaft Mobile station having a cost-efficient call management method and system
US20030052000A1 (en) * 1997-07-11 2003-03-20 Vladimir Segal Fine grain size material, sputtering target, methods of forming, and micro-arc reduction method
US5895663A (en) * 1997-07-31 1999-04-20 L. Perrigo Company Pseudoephedrine hydrochloride extended-release tablets
JP2989169B2 (ja) * 1997-08-08 1999-12-13 日立金属株式会社 Ni−Al系金属間化合物ターゲットおよびその製造方法ならびに磁気記録媒体
US6010583A (en) * 1997-09-09 2000-01-04 Sony Corporation Method of making unreacted metal/aluminum sputter target
JPH1180942A (ja) 1997-09-10 1999-03-26 Japan Energy Corp Taスパッタターゲットとその製造方法及び組立体
JP4002659B2 (ja) 1998-03-04 2007-11-07 アルプス電気株式会社 IrMn系合金成膜用ターゲット、およびそれを用いた反強磁性膜
US6183686B1 (en) * 1998-08-04 2001-02-06 Tosoh Smd, Inc. Sputter target assembly having a metal-matrix-composite backing plate and methods of making same
US6071389A (en) * 1998-08-21 2000-06-06 Tosoh Smd, Inc. Diffusion bonded sputter target assembly and method of making
EP1135233A4 (en) * 1998-12-03 2004-11-03 Tosoh Smd Inc INSERT TARGET AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
US6328927B1 (en) * 1998-12-24 2001-12-11 Praxair Technology, Inc. Method of making high-density, high-purity tungsten sputter targets
US6521108B1 (en) * 1998-12-29 2003-02-18 Tosoh Smd, Inc. Diffusion bonded sputter target assembly and method of making same
US20040159374A1 (en) * 1999-01-07 2004-08-19 Jiin-Huey Chern Lin Titanium alloy composition having a major phase of alpha"
US6726787B2 (en) * 1999-01-07 2004-04-27 Jiin-Huey Chern Lin Process for making a work piece having a major phase of α from a titanium alloy
JP2000239838A (ja) 1999-02-15 2000-09-05 Sony Corp 固相拡散接合されたスパッタリングターゲット組立体およびその製造方法
TWI255957B (en) * 1999-03-26 2006-06-01 Hitachi Ltd Liquid crystal display device and method of manufacturing the same
US6165413A (en) 1999-07-08 2000-12-26 Praxair S.T. Technology, Inc. Method of making high density sputtering targets
US6042777A (en) * 1999-08-03 2000-03-28 Sony Corporation Manufacturing of high density intermetallic sputter targets
US6199747B1 (en) * 1999-08-30 2001-03-13 International Business Machines Corporation High temperature refractory joining paste
JP3782353B2 (ja) * 1999-11-22 2006-06-07 株式会社日鉱マテリアルズ スパッタリング用チタンターゲット
US6619537B1 (en) * 2000-06-12 2003-09-16 Tosoh Smd, Inc. Diffusion bonding of copper sputtering targets to backing plates using nickel alloy interlayers
CN1370853A (zh) 2001-02-23 2002-09-25 光洋应用材料科技股份有限公司 金属溅镀靶材的制造方法
US20030029728A1 (en) * 2001-07-18 2003-02-13 Benjamin Scharifker Process to separate the vanadium contained in inorganic acid solutions
JP3748221B2 (ja) 2001-10-23 2006-02-22 日立金属株式会社 Mo系スパッタリング用ターゲットおよびその製造方法
JP4312431B2 (ja) * 2001-11-30 2009-08-12 新日鉄マテリアルズ株式会社 ターゲット材
US6638381B2 (en) * 2001-12-18 2003-10-28 The Boeing Company Method for preparing ultra-fine grain titanium and titanium-alloy articles and articles prepared thereby
JP2003342720A (ja) * 2002-05-20 2003-12-03 Nippon Steel Corp スパッタリング用モリブデンターゲットの製造方法及びモリブデンターゲット
US20040009087A1 (en) * 2002-07-10 2004-01-15 Wuwen Yi Physical vapor deposition targets, and methods of forming physical vapor deposition targets
WO2004052785A2 (en) * 2002-12-09 2004-06-24 Honeywell International Inc. High purity nickel/vanadium sputtering components; and methods of making sputtering components
JP2004204253A (ja) 2002-12-24 2004-07-22 Hitachi Metals Ltd ターゲット
JP4574949B2 (ja) 2003-01-14 2010-11-04 株式会社東芝 スパッタリングターゲットとその製造方法
JP4422975B2 (ja) 2003-04-03 2010-03-03 株式会社コベルコ科研 スパッタリングターゲットおよびその製造方法
TW586336B (en) * 2003-06-30 2004-05-01 Ritdisplay Corp Electrode substrate of flat panel display
JP4415303B2 (ja) * 2003-07-10 2010-02-17 日立金属株式会社 薄膜形成用スパッタリングターゲット
JP2005097697A (ja) 2003-09-26 2005-04-14 Toshiba Corp スパッタリングターゲットとその製造方法
US7336336B2 (en) * 2003-10-14 2008-02-26 Lg. Philips Co. Ltd. Thin film transistor array substrate, method of fabricating the same, liquid crystal display panel having the same and fabricating method thereof
JP4407243B2 (ja) * 2003-11-10 2010-02-03 ソニー株式会社 照合処理装置とその方法
KR101012491B1 (ko) * 2003-12-04 2011-02-08 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 어레이기판과 제조방법
JP4110533B2 (ja) * 2004-02-27 2008-07-02 日立金属株式会社 Mo系ターゲット材の製造方法
US7832619B2 (en) 2004-02-27 2010-11-16 Howmet Corporation Method of making sputtering target
US20050230244A1 (en) * 2004-03-31 2005-10-20 Hitachi Metals, Ltd Sputter target material and method of producing the same
US8252126B2 (en) 2004-05-06 2012-08-28 Global Advanced Metals, Usa, Inc. Sputter targets and methods of forming same by rotary axial forging
US20050279630A1 (en) * 2004-06-16 2005-12-22 Dynamic Machine Works, Inc. Tubular sputtering targets and methods of flowforming the same
US20060042728A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-02 Brad Lemon Molybdenum sputtering targets
KR101061850B1 (ko) * 2004-09-08 2011-09-02 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조방법
JP4596878B2 (ja) 2004-10-14 2010-12-15 キヤノン株式会社 構造体、電子放出素子、2次電池、電子源、画像表示装置、情報表示再生装置及びそれらの製造方法
RU2418886C2 (ru) * 2005-05-05 2011-05-20 Х.К. Штарк Гмбх Способ нанесения покрытий для изготовления или восстановления мишеней распыления и анодов рентгеновских трубок
US7837929B2 (en) * 2005-10-20 2010-11-23 H.C. Starck Inc. Methods of making molybdenum titanium sputtering plates and targets
KR20070049278A (ko) * 2005-11-08 2007-05-11 삼성전자주식회사 배선, 이를 포함하는 박막 트랜지스터 기판과 그 제조 방법
JP5210498B2 (ja) * 2006-04-28 2013-06-12 株式会社アルバック 接合型スパッタリングターゲット及びその作製方法
US20070289864A1 (en) * 2006-06-15 2007-12-20 Zhifei Ye Large Area Sputtering Target
US20080118031A1 (en) * 2006-11-17 2008-05-22 H.C. Starck Inc. Metallic alloy for X-ray target
CN102505109A (zh) * 2007-01-12 2012-06-20 新日铁高新材料 Mo系溅射靶板及其制造方法
US20110303535A1 (en) * 2007-05-04 2011-12-15 Miller Steven A Sputtering targets and methods of forming the same
US8197894B2 (en) * 2007-05-04 2012-06-12 H.C. Starck Gmbh Methods of forming sputtering targets
WO2009020587A1 (en) 2007-08-06 2009-02-12 H.C. Starck, Inc. Refractory metal plates with improved uniformity of texture
US8250895B2 (en) * 2007-08-06 2012-08-28 H.C. Starck Inc. Methods and apparatus for controlling texture of plates and sheets by tilt rolling
JP2011523978A (ja) 2008-04-28 2011-08-25 ハー ツェー シュタルク インコーポレイテッド モリブデン−ニオブ合金、かかる合金を含有するスパッタリングターゲット、かかるターゲットの製造方法、それから製造される薄膜、およびその使用
US8043655B2 (en) * 2008-10-06 2011-10-25 H.C. Starck, Inc. Low-energy method of manufacturing bulk metallic structures with submicron grain sizes
US8449817B2 (en) * 2010-06-30 2013-05-28 H.C. Stark, Inc. Molybdenum-containing targets comprising three metal elements
US8449818B2 (en) * 2010-06-30 2013-05-28 H. C. Starck, Inc. Molybdenum containing targets
WO2012154817A1 (en) * 2011-05-10 2012-11-15 H.C. Starck, Inc. Composite target
US8734896B2 (en) 2011-09-29 2014-05-27 H.C. Starck Inc. Methods of manufacturing high-strength large-area sputtering targets
US9334565B2 (en) * 2012-05-09 2016-05-10 H.C. Starck Inc. Multi-block sputtering target with interface portions and associated methods and articles

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