JP5369369B2 - 表面電位分布の測定方法、表面電位の測定装置、感光体静電潜像の測定装置、潜像担持体及び画像形成装置 - Google Patents
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Description
20 検出部
21 反転粒子検知部材
22 試料台
23 検出器
30 測定制御部
40,50,60 露光部
100 画像形成装置
111 潜像担持体
S 感光体試料
Claims (10)
- 表面電位分布を有する試料に対して、荷電粒子ビームを走査し、該走査によって得られる検出信号により、試料の表面電位分布の状態を測定する表面電位分布の測定方法において、
入射荷電粒子ビームが試料に到達せず反転する軌道上に反転粒子検知部材を配置し、入射荷電粒子ビームが試料に到達せず反転している時は、反転粒子検知部材に衝突させることで、入射荷電粒子が検出器に到達することを妨げて検出量を減少する構成とすることにより、前記走査によって得られる観察像の中に、反転粒子検知部材に起因して暗くなる部分を作り出し、前記暗くなる部分の確認により、
前記荷電粒子ビームが、前記試料に到達せずに反転している状態であることを検知することで、該試料の表面電位を測定することを特徴とする表面電位分布の測定方法。 - 試料に対して、荷電粒子ビームを走査する手段と、該走査によって得られる荷電粒子の信号を検出する手段と、試料の電荷分布の状態を測定する手段と、
を備え、
前記入射荷電粒子ビームが試料に到達せず反転する軌道上に配置された反転粒子検知部材
を有し、
入射荷電粒子ビームが試料に到達せず反転している時は、反転粒子検知部材に衝突させることで、入射荷電粒子が検出器に到達することを妨げて検出量を減少する構成とすることにより、前記走査によって得られる観察像の中に、反転粒子検知部材に起因して暗くなる部分を作り出し、
前記荷電粒子ビームが、前記試料に到達せずに反転している状態であることを前記暗くなる部分を確認できるようにして検知することで、該試料の表面電位を測定することを特徴とする表面電位の測定装置。 - 前記反転粒子を検知する反転粒子検知部材は、メッシュ状であることを特徴とする請求項2に記載の表面電位の測定装置。
- 前記メッシュ状の反転粒子検知部材は、非磁性の導電性材料であることを特徴とする請求項3に記載の表面電位の測定装置。
- 前記反転粒子を検知する反転粒子検知部材を、前記試料面に対して0.1mm以上上方に配置することを特徴とする請求項2に記載の表面電位の測定装置。
- 前記荷電粒子ビームの加速電圧を変える手段を有することを特徴とする請求項2に記載の表面電位の測定装置。
- 表面電位のバイアスを変化させる手段を有することを特徴とする請求項2に記載の表面電位の測定装置。
- 請求項2乃至7のいずれか一項に記載の表面電位の測定装置と、
試料に対して、荷電粒子を照射することで、該試料上に帯電電荷を生成させる手段と、
該試料上に露光して静電潜像を形成するための光学系手段と、
を備え、
試料面を電子ビームで走査し、該走査で得られる検出信号により、試料面の静電潜像分布を測定することを特徴とする感光体静電潜像の測定装置。 - 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の測定方法または測定装置を用いて、潜像担持体の耐絶縁性を評価したときに、試料の厚さ方向にかかる電界強度が10V/μm以下では、5μm以上の大きさの電荷リークの発生がないことを特徴とする潜像担持体。
- 請求項9に記載の潜像担持体を用い、該潜像担持体の感光面に対して光走査を行うことにより潜像を形成し、現像して可視化することを特徴とする画像形成装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006253048A JP5369369B2 (ja) | 2006-09-19 | 2006-09-19 | 表面電位分布の測定方法、表面電位の測定装置、感光体静電潜像の測定装置、潜像担持体及び画像形成装置 |
US11/847,790 US7612570B2 (en) | 2006-08-30 | 2007-08-30 | Surface-potential distribution measuring apparatus, image carrier, and image forming apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006253048A JP5369369B2 (ja) | 2006-09-19 | 2006-09-19 | 表面電位分布の測定方法、表面電位の測定装置、感光体静電潜像の測定装置、潜像担持体及び画像形成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008076099A JP2008076099A (ja) | 2008-04-03 |
JP5369369B2 true JP5369369B2 (ja) | 2013-12-18 |
Family
ID=39348346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006253048A Active JP5369369B2 (ja) | 2006-08-30 | 2006-09-19 | 表面電位分布の測定方法、表面電位の測定装置、感光体静電潜像の測定装置、潜像担持体及び画像形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5369369B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5884523B2 (ja) | 2012-02-02 | 2016-03-15 | 株式会社リコー | 潜像電荷総量の測定方法、潜像電荷総量の測定装置、画像形成方法及び画像形成装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4915468A (ja) * | 1972-05-19 | 1974-02-09 | ||
JPH08212962A (ja) * | 1995-02-03 | 1996-08-20 | Jeol Ltd | 2次電子検出器 |
JP2655513B2 (ja) * | 1995-04-10 | 1997-09-24 | 日本電気株式会社 | 電子線露光装置 |
JPH10303102A (ja) * | 1997-04-25 | 1998-11-13 | Nikon Corp | 荷電粒子線露光装置 |
JPH10307162A (ja) * | 1997-05-08 | 1998-11-17 | Canon Inc | 粉体の採取装置及び帯電量測定装置 |
JP2000182557A (ja) * | 1998-12-14 | 2000-06-30 | Hitachi Ltd | 荷電粒子線装置 |
JP2002156826A (ja) * | 2000-11-16 | 2002-05-31 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2004251800A (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-09 | Ricoh Co Ltd | 表面電荷分布測定方法および装置 |
JP4608272B2 (ja) * | 2004-09-17 | 2011-01-12 | 株式会社リコー | 耐絶縁性測定方法および装置および潜像担持体評価方法 |
JP4559063B2 (ja) * | 2003-12-04 | 2010-10-06 | 株式会社リコー | 表面電位分布の測定方法および表面電位分布測定装置 |
JP4383264B2 (ja) * | 2004-06-24 | 2009-12-16 | 株式会社リコー | 表面電位分布測定方法および測定装置 |
JP4619765B2 (ja) * | 2004-12-14 | 2011-01-26 | 株式会社リコー | 表面電荷分布または表面電位分布の測定方法およびその装置 |
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2006
- 2006-09-19 JP JP2006253048A patent/JP5369369B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008076099A (ja) | 2008-04-03 |
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A977 | Report on retrieval |
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