JP5355940B2 - 放射線検出装置 - Google Patents

放射線検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5355940B2
JP5355940B2 JP2008151314A JP2008151314A JP5355940B2 JP 5355940 B2 JP5355940 B2 JP 5355940B2 JP 2008151314 A JP2008151314 A JP 2008151314A JP 2008151314 A JP2008151314 A JP 2008151314A JP 5355940 B2 JP5355940 B2 JP 5355940B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analog
pattern
circuit
power supply
circuit board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008151314A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009300084A (ja
Inventor
仁 千代間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Canon Electron Tubes and Devices Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Electron Tubes and Devices Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Electron Tubes and Devices Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2008151314A priority Critical patent/JP5355940B2/ja
Publication of JP2009300084A publication Critical patent/JP2009300084A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5355940B2 publication Critical patent/JP5355940B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

本発明は、放射線を検出する放射線検出装置に関する。
近年、放射線、特にX線を光に変換する蛍光体膜と、その光を電気信号に変換する光電変換素子とをその構成要素として含む平面型の放射線検出装置が実用化されてきている。
これは、放射線検出装置全体の小型軽量化に貢献するとともに、放射線を介した検査対象物からの画像情報を当該放射線検出装置によりデジタル電気情報に変換し、デジタル画像処理、デジタル画像保存など、デジタル情報処理の多くの利便性を享受することができるためである。
この放射線検出装置は、患者の診断や治療に使用する医療用や歯科用、非破壊検査などの工業用、構解析などの科学研究用など広い分野で使われつつある。
それぞれの分野において、デジタル情報処理による高精度な画像抽出、高速度な画像検出が可能となることにより、不要な放射線被爆量の低減や、迅速な検査、診断などの効果が期待できる。
これら放射線検出装置の蛍光体膜には、従来のX線イメージ管で用いられているCs及びIを主成分とするシンチレータ材の技術を転用することが多い。これは、主成分であるヨウ化セシウム(以下CsI)が柱状結晶を成すため、他の粒子状結晶からなるシンチレータ材に比較し、光ガイド効果による感度と解像度の向上を成すことができるためである。
また、従来のX線イメージ管では真空管内の電子レンズ構成を必要としたため、大きく重い構成となっていたが、当該放射線検出装置では光電変換素子を有する光検出器をアモルファスシリコンなどからなる薄膜素子で構成することにより、2次元的な薄く小型軽量な放射線検出装置を形成することが可能となっている。
この薄く小型軽量な特徴をより高度に実現するためには、例えば、蛍光体膜を搭載した光検出器と回路基板とを並行配置とする構造とし、この光検出器と回路基板との間をシフトレジスタ及び検出用集積回路ICを実装したフレキシブル回路基板にて接続し、装置全体の小型化を図った事例がある(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、このような回路基板には、放射線検出パネルを駆動するためのデジタル回路、放射線検出パネルから出力される微弱な信号を増幅し処理するためのアナログ回路、アナログ信号をデジタル化するAD変換回路、各回路へ電力を供給する電源回路などの複数の回路が混在する。
そのため、特にデジタル信号や電源回路におけるDC−DCコンバターのようにスイッチング動作を行う部分から発生するノイズがアナログ信号に与える影響が問題であった。
このノイズ対策として、例えば、各アナログ回路、デジタル回路、電源回路などを別基板として分離、さらに筐体に接続する隔壁でそれぞれを分離する手法が考案されている(例えば、特許文献2参照)。また、電源回路を放射線検出領域外に設置する場合などもある。
特開平8−116044号公報(第33頁、図52) 特開2003−121553号公報(第4−6頁、図1−5)
しかしながら、以上に説明した従来技術によると以下のような問題が生じる。
まずは、筐体構造の複雑化、それに伴う大型化の問題である。すなわち、各アナログ回路、デジタル回路、電源回路、などを別基板として分離し、さらに筐体に接続する隔壁でそれぞれを分離した場合には、回路基板の必要面積や回路基板の設置領域が増大することになり、平面型の放射線検出装置の小型軽量であるという特徴が損なわれる。また、電源回路を放射線検出領域外に設置した場合には、平面型の放射線検出装置の面積がより大きくなる。
また、筐体のフレームGNDが不足した場合には、逆に回路基板の各GNDパターンおよび電源パターンへのノイズ導入のおそれもある。本来ノイズに敏感なアナログ回路を重点的に保護すべきところを、ノイズに強いデジタル回路や電源回路についても共通の保護構造を用いているため、フレームGNDの接地が不十分の場合にはアナログ回路へのノイズ誘導源となるおそれがある。
本発明は、このような点に鑑みなされたもので、小型軽量化を達成し、かつアナログ信号のノイズ要因を抑制し、出力信号の安定とS/N特性の向上も果たすことができる放射線検出装置を提供することを目的とする。
本発明は、放射線を光に変換する蛍光体膜、光を電気信号に変換する光電変換素子を有する光検出器と、この光検出器を電気的に駆動するデジタル回路部および前記光検出器からの出力信号を電気的に処理するアナログ回路部を有する少なくとも1つの回路基板と、前記デジタル回路部および前記アナログ回路部に電力を供給する電源回路部とを具備し、前記デジタル回路部は、デジタルGNDパターンを有し、前記電源回路部は、スイッチングレギュレータおよび電源GNDパターンを有し、この電源GNDパターンが前記デジタルGNDパターンと接続されており、前記回路基板は、前記アナログ回路部のアナログGNDパターンおよびアナログ電源電位パターンのうちの少なくともいずれか一方のパターン、およびこのパターンに導通する導体カバーを備え、前記アナログ回路部が前記パターンと前記導体カバーとによって覆われているものである。
本発明によれば、アナログ回路部をアナログGNDパターンおよびアナログ電源電位パターンのうちの少なくともいずれか一方のパターンと導体カバーとによって覆う構成としたため、放射線検出装置の小型軽量化を達成し、かつアナログ信号のノイズ要因を抑制し、出力信号の安定とS/N特性の向上も果たすことができる。
以下、本発明の一実施の形態を、図面を参照して説明する。
図4は平面型の放射線検出装置としてのX線検出装置11の一部の断面図を示す。
このX線検出装置11は、光検出器である放射線検出パネルとしてのX線検出パネル12、このX線検出パネル12を電気的に駆動しかつX線検出パネル12からの出力信号を電気的に処理する回路基板13、これらX線検出パネル12と回路基板13とを接続する接続基板14、これらX線検出パネル12および回路基板13を支持する支持基板15、および支持基板15を介してこれらを収容する筐体16を備えている。
そして、X線検出パネル12は、光電変換基板19を有し、この光電変換基板19における放射線としてのX線20の入射側に図示しない蛍光体膜を成膜し、さらに蛍光体膜を覆う防湿カバー21を封着した構造となっている。光電変換基板19は、0.7mm厚のガラス基板上にアモルファスシリコン(a−Si)を基材とした複数の薄膜トランジスタ素子(TFT)とフォトダイオード素子とを形成して構成されている。この光電変換基板19の外周部には、光電変換基板19の駆動のための電気信号の入力および出力信号の出力のために外部と接続する複数の端子パッド22が形成されている。
また、回路基板13は、X線検出パネル12を電気的に駆動しかつX線検出パネル12からの出力信号を電気的に処理するものであり、外周部には接続基板14が電気接続されるコネクタ25が配設されている。
また、接続基板14は、配線のみを形成したフレキシブル回路基板28と、このフレキシブル回路基板28より可撓性が小さく集積回路半導体素子29などを搭載したIC搭載基板30とを備え、これらフレキシブル回路基板28の一端側とIC搭載基板30の一端側とを接続して構成されている。
フレキシブル回路基板28は、例えばポリイミド製フィルム上にCuフィルムから成る配線パターンを形成した屈曲性に優れた柔軟性を有する回路基板である。フレキシブル回路基板28の他端側である先端側には、配線パターンが露出するとともにその露出部分には電気接続の安定性を確保するために金メッキが施された接続部31が形成されている。このフレキシブル回路基板28の接続部31がX線検出パネル12の端子パッド22に接続されている。このフレキシブル回路基板28の接続部31と端子パッド22との接続には、非等方性導電フィルム(以下ACFと記す)による熱圧着法が用いられる。この方法により、複数の微細な信号線の電気的接続が確保される。
IC搭載基板30は、例えばガラスエポキシ材に多層のCuフィルムを積層して構成された剛性を有する多層配線基板であり、一面に集積回路半導体素子29などが搭載されるとともにフレキシブル回路基板28の一端側が接続され、他面に回路基板13のコネクタ25と電気接続されるコネクタ32が配設されている。
また、支持基板15は、例えばAl合金からなり、一面にはX線検出パネル12の光電変換基板19がゲル状材としての粘着性を有するゲルシート35を介して固定され、他面にはX線遮蔽用の鉛プレート37と放熱絶縁シート38とを介して回路基板13が固定されている。また、支持基板15の外周部近傍にはX線検出パネル12の光電変換基板19と回路基板13とを接続する接続基板14のフレキシブル回路基板28を通すための開口部40が形成され、支持基板15の角部には複数の取付孔41が形成されている。
また、筐体16は、カバー部44とカバー部45とを有し、これらカバー部44とカバー部45との周縁部間で支持基板15の周縁部を挟持し、これらカバー部44とカバー部45との周縁部間および支持基板15の各取付孔41を通じてねじやボルト・ナットなどの取付具46によって結着している。
そして、回路基板13はX線検出パネル12を駆動する信号を発生するとともに、X線検出パネル12からの微弱な出力信号を増幅、演算するなどの処理を行う機能を有する。
そのため、回路基板13上には、X線検出パネル12の駆動信号を発生するデジタル回路部と、X線検出パネル12からの出力信号を処理するアナログ回路部とが混在し、さらにこれらの回路への電源を供給する電源回路部も搭載される。
このようにデジタル回路部とアナログ回路部が混在するため、微弱なアナログ信号に関してはデジタル回路部などからの過渡的なノイズ成分の混入を抑制する手段が必要である。
図1は回路基板の断面図、図2は回路基板の表面側を示す平面図、図3は回路基板の裏面側を示す底面図である。なお、図3の回路基板の裏面側を示す底面図は、便宜上、回路基板の表面側から見た配置で示す。
回路基板13の一面である表面側には、デジタル回路部51、アナログ回路部52、電源回路部53の領域に分離して形成されている。それぞれの回路部領域の間には、必要に応じて駆動信号54や電源供給55のための配線が配置されている。
なお、本実施の形態では、電源回路部53にはスイッチングレギュレータを使用し省電力化を図っており、電源回路部53はデジタル回路部51と類似のノイズ発生要素を持つことになる。
また、回路基板13の他面である裏面側には、デジタルGNDパターン57、アナログGNDパターン58、電源GNDパターン59の領域に分離して形成されている。
デジタルGNDパターン57はデジタル回路部51の裏面側に対応する領域に形成され、アナログGNDパターン58はアナログ回路部52の裏面側に対応する領域に形成され、電源GNDパターン59は電源回路部53の裏面側に対応する領域に形成されている。
デジタルGNDパターン57は、電源GNDパターン59と接続され、すなわち電源回路部53に対応する領域に延長されている。これは、電源回路部53にスイッチングレギュレータを使用し、電源回路部53がデジタル回路的な要素を含んでいるためである。
また、デジタル回路部51では、X線検出パネル12の複数の薄膜トランジスタ素子(TFT)を順次駆動するためのパルス信号を発生させる等の機能を有する。
アナログ回路部52では、X線検出パネル12からの微弱な検出信号を読取、増幅するとともに、必要に応じた信号補正処理やアナログ・デジタル変換処理などを行う。
このアナログ回路部52では、微弱なアナログ信号を処理するため、他の部分からノイズの侵入を防御する必要がある。
そのため、回路基板13の表面側に、アナログ回路部52を覆う導体カバーとしてのアナログGNDカバー61が設けられている。したがって、アナログ回路部52は、回路基板13の表面側のアナログGNDカバー61と回路基板13の裏面側のアナログGNDパターン58とにて包含した構造とされ、デジタル回路部51や電源回路部53などの他の部分からの電磁放射ノイズなどの浸入を防止した構造となっている。
アナログGNDパターン58とアナログGNDカバー61とは、回路基板13を貫く複数の接続点としてのスルーホール配線62により電気的に導通されている。なお、このスルーホール配線62の設置は極力緻密であるほうが望ましい。すなわち、外部からの電磁放射ノイズの侵入防止などには緻密であることがより有効である。
これにより、アナログ回路部52はアナログGNDパターン58とアナログGNDカバー61とにより、アナログGNDで全体を包含した構造に形成されている。
また、デジタル回路部51、アナログ回路部52、電源回路部53の間には必要に応じて駆動信号54や電源供給55のための配線部が配置されているが、これらはデジタルGNDパターン57の領域とアナログGNDパターン58の領域とを跨ぐ配線となる。
アナログGNDパターン58とデジタルGNDパターン57との分離は、アナログGND安定化やアナログ回路部52へノイズ侵入防止に有効であるが、このままでは上述した配線部に関して帰還電流の流路を阻害することになり、新たな電磁放射原因や信号ノイズ原因となり得る。
そこで、配線部に対応したアナログGNDパターン58とデジタルGNDパターン57との分離箇所に容量性素子としてのバイパスコンデンサ63を設置し、帰還電流の流路を確保し過渡的な電荷変動を吸収させることにより各信号やGNDなどの電位の安定化を図っている。
また、配線部に対応したアナログGNDパターン58と電源GNDパターン59との分離箇所にも同様にバイパスコンデンサ63を設置した。
このようにして、微弱なアナログ信号に影響を与えるノイズ要因を抑制し、小型軽量化かつ出力信号の安定とS/N特性の向上を可能とした平面型のX線検出装置11を構成できる。
なお、デジタルGNDパターン57、アナログGNDパターン58、電源GNDパターン59を回路基板13の裏面側に形成したが、特にこれに規定されるものではなく、多層回路基板の場合には、基板中間層にそれぞれの各GNDパターンを形成しても、同様な効果を得ることができる。
また、アナログGNDパターン58にてアナログ回路部52を包含した構造としたが、安定した一定のアナログ基準電位であるアナログ電源電位パターンでも、同等のノイズ侵入防止効果を期待できる。
本発明の一実施の形態を示す放射線検出装置の回路基板の断面図である。 同上回路基板の表面側を示す平面図である。 同上回路基板の裏面側を示す底面図である。 同上放射線検出装置の一部の断面図である。
符号の説明
11 放射線検出装置としてのX線検出装置
12 光検出器としてのX線検出パネル
13 回路基板
20 放射線としてのX線
51 デジタル回路部
52 アナログ回路部
53 電源回路部
57 デジタルGNDパターン
58 アナログGNDパターン
59 電源GNDパターン
61 導体カバーとしてのアナログGNDカバー
62 接続点としてのスルーホール配線
63 容量性素子としてのバイパスコンデンサ

Claims (3)

  1. 放射線を光に変換する蛍光体膜、光を電気信号に変換する光電変換素子を有する光検出器と、
    この光検出器を電気的に駆動するデジタル回路部および前記光検出器からの出力信号を電気的に処理するアナログ回路部を有する少なくとも1つの回路基板と
    前記デジタル回路部および前記アナログ回路部に電力を供給する電源回路部とを具備し、
    前記デジタル回路部は、デジタルGNDパターンを有し、
    前記電源回路部は、スイッチングレギュレータおよび電源GNDパターンを有し、この電源GNDパターンが前記デジタルGNDパターンと接続されており、
    前記回路基板は、前記アナログ回路部のアナログGNDパターンおよびアナログ電源電位パターンのうちの少なくともいずれか一方のパターン、およびこのパターンに導通する導体カバーを備え、前記アナログ回路部が前記パターンと前記導体カバーとによって覆われている
    ことを特徴とする放射線検出装置。
  2. アナログGNDパターンおよびアナログ電源電位パターンのうちの少なくともいずれか一方のパターンと導体カバーとは、2点以上の接続点で導通されている
    ことを特徴とする請求項1記載の放射線検出装置。
  3. アナログGNDパターンおよびアナログ電源電位パターンのうちの少なくともいずれか一方のパターンは、回路基板内の他の同電位パターンとの間に容量性素子が接続されている
    ことを特徴とする請求項1または2記載の放射線検出装置。
JP2008151314A 2008-06-10 2008-06-10 放射線検出装置 Active JP5355940B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008151314A JP5355940B2 (ja) 2008-06-10 2008-06-10 放射線検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008151314A JP5355940B2 (ja) 2008-06-10 2008-06-10 放射線検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009300084A JP2009300084A (ja) 2009-12-24
JP5355940B2 true JP5355940B2 (ja) 2013-11-27

Family

ID=41547163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008151314A Active JP5355940B2 (ja) 2008-06-10 2008-06-10 放射線検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5355940B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010276687A (ja) * 2009-05-26 2010-12-09 Fujifilm Corp 放射線検出装置及び放射線画像撮影システム
JP5398773B2 (ja) 2011-04-07 2014-01-29 富士フイルム株式会社 放射線検出装置
JP6022750B2 (ja) * 2011-06-27 2016-11-09 東芝電子管デバイス株式会社 放射線検出装置
DE102011108876B4 (de) * 2011-07-28 2018-08-16 Technische Universität Dresden Direktwandelnder Röntgendetektor mit Strahlenschutz für die Elektronik
JP6553929B2 (ja) * 2015-04-13 2019-07-31 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および撮像システム
US11774376B2 (en) 2019-12-26 2023-10-03 Canon Kabushiki Kaisha Power supply unit and radiation imaging apparatus including the same
JP7385522B2 (ja) 2020-04-09 2023-11-22 キヤノン電子管デバイス株式会社 放射線検出器
JP2022012179A (ja) * 2020-07-01 2022-01-17 キヤノン電子管デバイス株式会社 放射線検出器

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0682891B2 (ja) * 1987-01-09 1994-10-19 富士通株式会社 混成集積回路
JPH0634763A (ja) * 1992-07-17 1994-02-10 Fuji Electric Co Ltd 放射線検出器
JP3292453B2 (ja) * 1996-09-26 2002-06-17 松下電器産業株式会社 電子機器のシールド構造
JP2006041517A (ja) * 1997-04-10 2006-02-09 Canon Inc 光電変換装置
JP3930644B2 (ja) * 1998-07-14 2007-06-13 浜松ホトニクス株式会社 X線パネルセンサ
JP2003121553A (ja) * 2001-08-06 2003-04-23 Canon Inc 放射線撮像装置
JP2003194951A (ja) * 2001-12-28 2003-07-09 Canon Inc X線撮影装置
JP4284607B2 (ja) * 2004-02-09 2009-06-24 富士電機システムズ株式会社 線量計
JP2007003470A (ja) * 2005-06-27 2007-01-11 Fuji Electric Holdings Co Ltd 放射線測定装置
JP3817571B1 (ja) * 2005-07-19 2006-09-06 株式会社日立製作所 アナログデジタル混在実装回路基板及び核医学診断装置
JP5437558B2 (ja) * 2006-11-16 2014-03-12 三菱電機株式会社 プリント基板の電磁ノイズ対策構造

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009300084A (ja) 2009-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5355940B2 (ja) 放射線検出装置
JP5032276B2 (ja) 放射線検出装置
JP4532782B2 (ja) 放射線撮像装置及びシステム
JP5455620B2 (ja) 放射線検出器および当該検出器を含む装置
JP4949646B2 (ja) 放射線イメージングシステムの検出器
US7504638B2 (en) Digital flat X-ray detector
JP5512228B2 (ja) 放射線検出装置
KR20160122068A (ko) 방사선 이미징 장치 및 이미징 시스템
JP2009122059A (ja) 放射線検出装置
US20180348382A1 (en) Radiation detector
JP2011128000A (ja) X線画像検出器
JP4761587B2 (ja) 放射線撮像装置及びシステム
JP6227227B2 (ja) 放射線画像撮影装置
JP2012122841A (ja) 電子カセッテ
JP6714332B2 (ja) 放射線検出装置、及び放射線撮像システム
JP4408593B2 (ja) 放射線検出装置及びシステム
JP2002158341A (ja) 撮像装置
JP6022750B2 (ja) 放射線検出装置
JP2013076577A (ja) X線検出パネル
JP2012083170A (ja) 放射線画像撮影装置
JP6953186B2 (ja) 放射線検出器
JP2006112803A (ja) 放射線検出装置
JP6328179B2 (ja) 放射線検出装置、放射線検出システム、及び、放射線検出装置の製造方法
US20070051894A1 (en) X-ray detector
JP2006311441A (ja) 光または放射線用検出器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110523

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120828

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120905

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121101

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130731

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130828

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5355940

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350