JP5355894B2 - 局所的なテスト設備とのワイアレスインターフェースを有する遠隔テスト設備 - Google Patents
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Description
デバイスがどのようにテストされる場合であっても、このデバイスのテストを効率的に制御する必要がある。以下に記載されるように、本発明の例示的な実施形態は、1つ以上の局所的なテストサイトにおけるテストを効率的に制御する、遠隔に位置する中央テスト設備を含む。
本発明は、一般的に、テスト用デバイスに関する。しかしながら、本発明は、電子デバイス(例えば、半導体ダイ)をテストすることに特に適する。例示および議論のために、この例示的な実施形態は、電子デバイスをテストするものとして本明細書中に記載される。しかしながら、本発明は、電子デバイスをテストすることに限定することなく、任意の型のデバイスをテストすることに広範囲に適用し得る。実際、本明細書は、本発明の例示的な実施形態および用途を記載するが、本発明は、これらの例示的な実施形態および用途、または本例示的な実施形態および用途が動作する(または本明細書中に記載されている)態様に限定されない。
Claims (19)
- 複数の電子デバイスのテストを制御するための装置であって、
前記装置は、
前記複数の電子デバイスをテストするためのテストデータをワイアレスで局所的なテスト設備に送信するための第一の送信手段と、
前記局所的なテスト設備において前記複数の電子デバイスをテストするために、前記テストデータを利用するように構成されたテストコントローラと、
前記複数の電子デバイスのテストの結果をワイアレスで受信するための第一の受信手段と、
前記複数の電子デバイスが設計される設計設備または前記複数の電子デバイスが製造される製造設備において生成されたトリガ起動基準を含むトリガセットメッセージを、前記設計設備または前記製造設備のうちの少なくとも1つから、ワイアレスで受信するための第二の受信手段と、
前記トリガセットメッセージに含まれるトリガ起動基準が満たされる場合に、前記トリガセットメッセージに対する前記テストの結果を検索し、検索された該テストの結果に関するテスト情報を、前記トリガセットメッセージを送信した前記設計設備または前記製造設備に、ワイアレスで送信するための第二の送信手段と、
を備え、
前記トリガ起動基準は、一定数の前記電子デバイスがテストに不合格であるか否かを基準とする、
装置。 - 前記第二の送信手段は、前記設計設備または前記製造設備のうちの1つに、リアルタイムで前記テスト情報を送信する、請求項1に記載の装置。
- 前記電子デバイスは、半導体ダイを備える、請求項1に記載の装置。
- 前記ダイは、個片化されない半導体ウェーハを構成する、請求項3に記載の装置。
- ワイアレストランシーバを含む中央テスト設備と、
複数の電子デバイスをテストすることが可能であるテストサブシステムとワイアレストランシーバとを各々が含む複数の局所的なテスト設備と、
を備え、
前記中央テスト設備は、ワイアレスリンクを介して前記複数の局所的なテスト設備とワイアレス通信を行い、前記ワイアレスリンクを介して前記中央テスト設備と前記複数の局所的なテスト設備との間で交換されたテストデータおよび応答データを用いて前記テストサブシステムの動作を制御し、
前記中央テスト設備はさらに、
前記複数の電子デバイスが設計される設計設備または前記複数の電子デバイスが製造される製造設備において生成されたトリガ起動基準を含むトリガセットメッセージを、前記設計設備または前記製造設備のうちの少なくとも1つから、前記ワイヤレスリンクを介して受信し、前記トリガセットメッセージに含まれるトリガ起動基準が満たされる場合に、前記応答データを、前記トリガセットメッセージを送信した前記設計設備または前記製造設備に、前記ワイアレスリンクを介して送信し、
前記トリガ起動基準は、一定数の前記電子デバイスがテストに不合格であるか否かを基準とする、
システム。 - 前記テストサブシステムのうちの少なくとも1つはプローバを含む、請求項5に記載のシステム。
- 前記テストサブシステムのうちの少なくとも1つは一体型回路テスタを含む、請求項5に記載のシステム。
- 前記テストサブシステムのうちの少なくとも1つはバーンインサブシステムを含む、請求項5に記載のシステム。
- 前記中央テスト設備は、
メインコントローラと、
通信バスを介して、該メインコントローラと通信する複数のテストコントローラと、
該通信バスと通信する記憶装置ユニットと
を備える、請求項5に記載のシステム。 - 前記テストサブシステムは、
前記電子デバイスをテストするために、前記中央テスト設備から受信されたテストデータを処理するための手段と、
該電子デバイスのテストに基づいて、該中央テスト設備への伝送のために、応答データを生成するための手段と
を備える、請求項5に記載のシステム。 - 前記複数のテストコントローラの各々は前記複数の局所的なテスト設備のうちの異なる1つに対応する、請求項5に記載のシステム。
- 前記中央テスト設備は、前記応答データを解析するための手段をさらに備える、請求項5に記載のシステム。
- 前記局所的なテスト設備は、前記応答データを生成するために、テストを受けている電子デバイスからのデータを解析するための手段をさらに備える、請求項5に記載のシステム。
- 前記テストデータはテストベクトルを含む、請求項5に記載のシステム。
- 前記テストデータはテストコマンドを含む、請求項5に記載のシステム。
- 前記中央テスト設備はテスタを備え、前記局所的なテスト設備はプローバを備える、請求項5に記載のシステム。
- 第一の局所的なテスト設備は第一のデバイスの型をテストするように構成された第一のテスト機器を備え、第二の局所的なテスト設備は該第一のデバイスの型とは異なる第二のデバイスの型をテストするように構成された第2のテスト機器を備える、請求項5に記載のシステム。
- 前記第一のテスト機器はプローバを備え、前記第二のテスト機器はバーンイン設備を備える、請求項17に記載のシステム。
- 前記第一のテスト機器はダイテスタを備え、前記第二のテスト機器はモジュールテスタを備える、請求項17に記載のシステム。
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