JP5353808B2 - 疲労試験機 - Google Patents
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Description
32 サーボ弁
33 変位計
34 荷重計
38 供試体
50 制御装置
51 目標波形生成回路
52 逆伝達関数記憶部
53 伝達関数演算部
54 乗算器
55 偏差器
56 スイッチ
57 フィルター回路
61 波形信号発生部
62 フーリエ変換部
63 フーリエ変換部
64 除算器
65 補正回路
66 逆数演算回路
Claims (6)
- 目標波形に逆伝達関数を乗じて生成された駆動信号により負荷アクチュエータを駆動して、供試体に負荷を付与する疲労試験機であって、
前記目標波形を生成する目標波形生成手段と、
前記逆伝達関数を演算する逆伝達関数演算手段と、
前記目標波形に前記逆伝達関数を乗じて前記駆動信号を生成する駆動信号生成手段と、
供試体に前記駆動信号により試験力を付与したときの応答信号を検出する応答信号検出手段と、
前記応答信号における前記駆動信号の変化にかかわらず前記応答信号が変化しない領域であるイタレーション不適格領域に対して補正を行う補正手段と、
前記目標波形と前記補正後の応答信号とに基づいて、前記駆動信号を補正するイタレーション手段と、
を備えたことを特徴とする疲労試験機。 - 請求項1に記載の疲労試験機において、
前記逆伝達関数演算手段は、
前記供試体に入力するランダム波形信号と、そのランダム波形信号の入力により得られる応答信号との比に基づいて伝達関数を算出する伝達関数演算部と、
前記算出された伝達関数の逆数を算出して前記逆伝達関数を算出する逆伝達関数演算部を備える疲労試験機。 - 請求項2に記載の疲労試験機において、
前記イタレーション不適格領域は、試験力がゼロ付近の領域である疲労試験機。 - 請求項3に記載の疲労試験機において、
前記イタレーション不適格領域は、試験力が、その最大値の40%以下となる領域である疲労試験機。 - 請求項3または請求項4に記載の疲労試験機において、
前記補正手段は、前記イタレーション不適格領域における応答信号に対してフィルターをかけるフィルター手段である疲労試験機。 - 請求項5に記載の疲労試験機において、
前記フィルター手段は、前記イタレーション不適格領域における応答信号に対して、前記目標波形における基本周波数以下の周波数のみを通過させるローパスフィルターである疲労試験機。
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