JP6313920B2 - 試験装置の制御装置、および、試験装置の制御方法 - Google Patents
試験装置の制御装置、および、試験装置の制御方法 Download PDFInfo
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Description
伝達関数H=Y/Xから、入力波形X=Y/Hを求め、その後フーリエ変換 (IFFT)により、制御信号を生成する振幅制御を行っている。なお、ここで、Yは出力信号、Xは入力信号である。
被試験構造物に対して、外力を負荷して各種の試験を行うための試験装置の制御装置であって、
前記試験装置に対して入力された制御波形に対する試験装置からの応答波形を、基本波成分と、任意のn倍高調波まで演算処理する高調波演算部と、
前記高調波演算部で演算された、前記任意のn倍高調波について、その位相と振幅とを演算処理する高周波生成部と、
前記高周波生成部で演算処理された前記任意のn倍高調波の位相と振幅と、前記基本波成分とを入力し合算して、前記試験装置への制御波形を生成する加算部と、
を備えた波形補正演算部を備え、
予め任意の周波数の1周期分のデータを得て振幅を演算処理し、試験装置からの応答波形のピーク検出によって得られた振幅との差分を、前記加算部からの制御波形に掛け、試験装置への制御波形を生成するピーク演算部を備えることを特徴とする。
被試験構造物に対して、外力を負荷して各種の試験を行うための試験装置の制御方法であって、
前記試験装置に対して入力された制御波形に対する試験装置からの応答波形を、基本波成分と、任意のn倍高調波まで演算処理する高調波演算ステップと、
前記高調波演算部で演算された、前記任意のn倍高調波について、その位相と振幅とを演算処理する高周波生成ステップと、
前記高周波生成部で演算処理された前記任意のn倍高調波の位相と振幅と、前記基本波成分とを入力し合算して、前記試験装置への制御波形を生成する加算ステップと、
を備え、
予め任意の周波数の1周期分のデータを得て振幅を演算処理し、試験装置からの応答波形のピーク検出によって得られた振幅との差分を、前記加算ステップからの制御波形に掛け、試験装置への制御波形を生成するピーク演算処理ステップを備えることを特徴とする。
また、ピークの制御を行っているので、振幅誤差の補正を正確に行うことができ、正確な振動試験結果が得られる。
位相、
ここで、an、bnは、それぞれ、
Tは、加振周波数の1周期の時間、ω0は加振周波数f0[Hz]の角周波数ω0=2πf0である。
前記高調波演算ステップにおいて、計測波形f(t)
位相、
ここで、an、bnは、それぞれ、
Tは、加振周波数の1周期の時間、ω0は加振周波数f0[Hz]の角周波数ω0=2πf0である。
また、ピークの制御を行っているので、振幅誤差の補正を正確に行うことができ、正確な振動試験結果が得られる。
また、ピーク演算部36のピーク検出部38において、検出センサ18からの応答波形のピークが検出される。振幅指示値演算部40では、この応答波形のピークにより、振幅を演算処理している。
そして、振幅指示値演算部40において得られたこれら振幅の差分を、可変ゲイン器32において、波形補正演算部24の加算部30からの制御波形に掛けるように構成されている。
指令値AMP=(max−min)/2である。
12 試験装置本体
14 アクチュエータ
16 ピストン
18 検出センサ
20 駆動部
22 制御部
24 波形補正演算部
26 高調波演算部
28 高周波生成部
28a 高調波生成器
30 加算部
32 可変ゲイン器
36 ピーク演算部
38 ピーク検出部
40 振幅指示値演算部
42 メモリー
100 試験装置
102 試験装置本体
104 架台フレーム
106 アクチュエータ
108 ピストン
110 変位検出器
112 ガイドロッド
114 ボールネジ
116 クロスヘッド
118 上方フレーム
120 検出器
180 加速度
A テストピース
Claims (10)
- 被試験構造物に対して、外力を負荷して各種の試験を行うための試験装置の制御装置であって、
前記試験装置に対して入力された制御波形に対する試験装置からの応答波形を、基本波成分と、任意のn倍高調波まで演算処理する高調波演算部と、
前記高調波演算部で演算された、前記任意のn倍高調波について、その位相と振幅とを演算処理する高周波生成部と、
前記高周波生成部で演算処理された前記任意のn倍高調波の位相と振幅と、前記基本波成分とを入力し合算して、前記試験装置への制御波形を生成する加算部と、
を備えた波形補正演算部を備え、
予め任意の周波数の1周期分のデータを得て振幅を演算処理し、試験装置からの応答波形のピーク検出によって得られた振幅との差分を、前記加算部からの制御波形に掛け、試験装置への制御波形を生成するピーク演算部を備えることを特徴とする試験装置の制御装置。 - 前記制御波形が、正弦波の周期関数であることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の試験装置の制御装置。
- 試験装置本体の駆動部への制御波形が、重畳された制御波形であることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の試験装置の制御装置。
- 被試験構造物に対して、外力を負荷して各種の試験を行うための試験装置の制御方法であって、
前記試験装置に対して入力された制御波形に対する試験装置からの応答波形を、基本波成分と、任意のn倍高調波まで演算処理する高調波演算ステップと、
前記高調波演算部で演算された、前記任意のn倍高調波について、その位相と振幅とを演算処理する高周波生成ステップと、
前記高周波生成部で演算処理された前記任意のn倍高調波の位相と振幅と、前記基本波成分とを入力し合算して、前記試験装置への制御波形を生成する加算ステップと、
を備え、
予め任意の周波数の1周期分のデータを得て振幅を演算処理し、試験装置からの応答波形のピーク検出によって得られた振幅との差分を、前記加算ステップからの制御波形に掛け、試験装置への制御波形を生成するピーク演算処理ステップを備えることを特徴とする試験装置の制御方法。 - 前記制御波形が、正弦波の周期関数であることを特徴とする請求項6から8のいずれかに記載の試験装置の制御方法。
- 試験装置本体の駆動部への制御波形が、重畳された制御波形であることを特徴とする請求項6から9のいずれかに記載の試験装置の制御方法。
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JP2013209107A JP6313920B2 (ja) | 2013-10-04 | 2013-10-04 | 試験装置の制御装置、および、試験装置の制御方法 |
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JP2013209107A JP6313920B2 (ja) | 2013-10-04 | 2013-10-04 | 試験装置の制御装置、および、試験装置の制御方法 |
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JP2015072242A JP2015072242A (ja) | 2015-04-16 |
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Family Applications (1)
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JP2013209107A Active JP6313920B2 (ja) | 2013-10-04 | 2013-10-04 | 試験装置の制御装置、および、試験装置の制御方法 |
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KR102411203B1 (ko) * | 2021-07-20 | 2022-06-22 | 주식회사 두잇 | 저주파 가진에 최적화된 지진 측정 장치용 진동 장치 및 이를 포함하는 지진 측정 장치 검사 시스템 |
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