JP5352551B2 - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5352551B2 JP5352551B2 JP2010199745A JP2010199745A JP5352551B2 JP 5352551 B2 JP5352551 B2 JP 5352551B2 JP 2010199745 A JP2010199745 A JP 2010199745A JP 2010199745 A JP2010199745 A JP 2010199745A JP 5352551 B2 JP5352551 B2 JP 5352551B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gnd
- bonding electrode
- semiconductor device
- electrically connected
- bonding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01019—Potassium [K]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/1901—Structure
- H01L2924/1904—Component type
- H01L2924/19041—Component type being a capacitor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3025—Electromagnetic shielding
Description
図1は本発明の実施の形態1の半導体装置の構造の一例を示す斜視図、図2は図1に示す半導体装置の裏面の端子配列の一例を示す斜視図、図3は図1に示す半導体装置に搭載される半導体チップの回路ブロックの構成の一例とボンディング電極との接続状態の一例を示す平面図、図4は図1に示す半導体装置に組み込まれる配線基板の表層の配線層における共通GNDパターンの一例を示す平面図、図5は図4に示す配線基板の裏面の配線層における配線パターンの一例を示す裏面図、図6は図1に示す半導体装置の外部端子の配列の一例を示す裏面図、図7は図1に示す半導体装置が搭載された無線通信装置における回路構成の一例を示す回路ブロック図、図8は図1に示す半導体装置が実装される実装基板の配線パターンの一例を示す配線図、図9は図8に示す本実施の形態1の実装基板に対する比較例の実装基板の配線パターンを示す配線図、図10は図1に示す半導体装置を簡略化して実装基板へ実装した際の実装構造の一例を示す断面図である。
図11は本発明の実施の形態2の半導体装置に組み込まれる配線基板の表層の配線層における配線パターンの一例を示す平面図、図12は図11に示す配線パターンを用いた変形例の半導体装置の実装構造を示す断面図とプレーン状導体部の平面図、図13は図12に示す変形例の半導体装置における外部端子の配列を示す裏面図、図14は図12に示す変形例の半導体装置の電流リーク無しの状態の一例を示す回路図である。
1a 主面
1b 裏面
1c パッド(表面電極)
1d,1e,1f,1g LNA(第1の回路部)
1h RFフィルタ
1i MIXer
1j RFVCO(第2の回路部)
1k RFSynthsiser
1m PGA
1n ベースバンド
1p MIXer
1q TXVCO(第3の回路部)
1r PA
1s LPF
1t DC/VCXO
1u ControlLogic
1v IFSynthsiser
1w IFVCO
2 アンテナ
3 実装基板
3a 第1の基板側共通配線(第1の基板側共通導体部)
3b 第2の基板側共通配線(第2の基板側共通導体部)
3c 内部配線
3d スルーホール配線
3e 端子
4 高周波パワーモジュール(半導体装置)
5 パッケージ基板(配線基板)
5a 主面
5b 裏面
5c 第1の共通GND配線(第1の共通導体部)
5d 第2の共通GND配線(第2の共通導体部)
5e 第3の共通GND配線(第3の共通導体部)
5f 配線部
5g スルーホール配線
5h バンプランド
5i ボンディング電極
5j 裏面側配線部
5k 第4の共通GND配線(他の共通導体部)
5m プレーン状GND配線(プレーン状導体部)
6 ワイヤ
7 封止体
8 ボール電極(外部端子)
8a LNA用GNDボール電極
8b VCO用GNDボール電極
8c 共通GND用ボール電極
9 電源
10 ダイボンディング材
Claims (15)
- 複数の低雑音増幅器を含む第1回路と前記第1回路とは機能が異なる第2回路とを備え、複数のパッドが配置された主面を有する半導体チップと、
前記半導体チップが搭載された上面と前記上面とは反対側の下面とを有する配線基板と、を有し、
前記半導体チップの前記複数のパッドは、第1パッドと第2パッドとを含み、
前記半導体チップの前記第1回路の前記複数の低雑音増幅器は、入力信号を増幅する第1低雑音増幅器と第2低雑音増幅器とを含み、
前記第1パッドは、前記半導体チップ内において前記第1低雑音増幅器と電気的に接続され、
前記第2パッドは、前記半導体チップ内において前記第2低雑音増幅器と電気的に接続され、
前記配線基板の前記上面には、複数のボンディング電極と、前記複数のボンディング電極の一部のボンディング電極と電気的に接続された第1導電パターンと、が配置され、
前記複数のボンディング電極は、第1ボンディング電極、第2ボンディング電極、第1GNDボンディング電極、第2GNDボンディング電極、および第3GNDボンディング電極を含み、
前記第1導電パターンは、第1部分と第2部分とを有し、
前記半導体チップの前記第1パッドは、前記配線基板の前記第1ボンディング電極と第1導電部材を介して電気的に接続され、
前記半導体チップの前記第2パッドは、前記配線基板の前記第2ボンディング電極と第2導電部材を介して電気的に接続され、
前記第1および第2ボンディング電極は、前記第1GNDボンディング電極と前記第2GNDボンディング電極との間に配置され、
前記第3GNDボンディング電極は、前記第1および第2ボンディング電極との間に配置され、
平面視において、前記第1導電パターンは、前記第1および第2ボンディング電極、および第1、第2、および第3GNDボンディング電極よりも前記配線基板の内側に配置され、
前記第1導電パターンの前記第1部分は、前記第1および第2GNDボンディング電極に電気的に接続され、
前記第1導電パターンの前記第2部分は、前記第3GNDボンディング電極と前記第1導電パターンの前記第1部分とに電気的に接続され、
前記第1ボンディング電極は、前記第1GNDボンディング電極、前記第1導電パターンの前記第1および第2部分、および前記第3GNDボンディング電極とで囲まれる領域内に配置され、
前記第2ボンディング電極は、前記第2GNDボンディング電極、前記第1導電パターンの前記第1および第2部分、および前記第3GNDボンディング電極とで囲まれる領域内に配置され、
前記第1導電パターンは、前記第2回路のGNDパターンとは離間して配置され、かつ電気的に分離されている半導体装置。 - 請求項1に記載の半導体装置において、
前記半導体チップの前記第2回路は、前記第1回路から供給された信号の周波数を変換するRFVCOを備え、
前記半導体チップは、前記第2回路の前記RFVCOと前記半導体チップ内で電気的に接続され、前記主面に配置された第3パッドを有し、
前記配線基板の前記上面には、第2導電パターンが配置され、かつ前記第1ボンディング電極、前記第2ボンディング電極、前記第1GNDボンディング電極、前記第2GNDボンディング電極、および前記第3GNDボンディング電極が配置された辺とは異なる辺に沿って第3ボンディング電極、第4GNDボンディング電極、および第5GNDボンディング電極が配置され、
前記第3パッドは、前記第3ボンディング電極と第3導電部材を介して電気的に接続され、
前記第3ボンディング電極は、前記第4および第5GNDボンディング電極との間に配置され、
平面視において、前記第2導電パターンは、前記第3ボンディング電極、および前記第4および第5GNDボンディング電極よりも前記配線基板の内側に配置され、かつ前記第4および第5GNDボンディング電極に電気的に接続され、
前記第3ボンディング電極は、前記第4GNDボンディング電極、前記第2導電パターン、および前記第5GNDボンディング電極とで囲まれる領域内に配置され、
前記第2導電パターンは、前記第1導電パターンとは電気的に分離されている。 - 請求項2に記載の半導体装置において、
前記第1および第2導電パターンは、それぞれ外部からGND電位が供給されるパターンである。 - 請求項3に記載の半導体装置において、
前記配線基板の前記下面には、複数の外部端子が配置され、
前記第1導電パターンは、前記複数の外部端子のうちの第1外部端子と電気的に接続され、
前記第2導電パターンは、前記複数の外部端子のうち、前記第1外部端子とは異なる第2外部端子と電気的に接続されている。 - 請求項1に記載の半導体装置において、
前記配線基板の前記下面には、複数の外部端子が配置され、
前記第1導電パターンは、前記複数の外部端子のうちの第1外部端子とスルーホール配線を介して電気的に接続されている。 - 請求項1に記載の半導体装置において、
前記半導体チップの前記主面には、前記第1低雑音増幅器と電気的に接続された第1GNDパッドと、前記第2低雑音増幅器と電気的に接続された第2GNDパッドとが配置され、
前記第1および第2GNDパッドは、第4導電部材を介して前記第3GNDボンディング電極と電気的に接続されている。 - 請求項2に記載の半導体装置において、
前記半導体チップの前記主面には、前記RFVCOと電気的に接続された第3GNDパッドが配置され、
前記第3GNDパッドは、第5導電部材を介して前記第4GNDボンディング電極と電気的に接続されている。 - 請求項1に記載の半導体装置において、
前記半導体チップ、前記第1導電部材、前記第2導電部材、および前記配線基板の前記複数のボンディング電極は、モールドレジンにより封止されている。 - 請求項4もしくは請求項5に記載の半導体装置において、
前記配線基板の前記複数の外部端子のそれぞれには半田ボールが形成されている。 - 請求項1に記載の半導体装置において、
前記第1回路は、前記第1回路に入力された信号を増幅する回路である。 - 請求項6に記載の半導体装置において、
前記配線基板の前記複数のボンディング電極の数は、前記半導体チップの前記複数のパッドの数よりも少ない。 - 請求項4に記載の半導体装置において、
前記配線基板の前記複数の外部端子の数は、前記配線基板の前記複数のボンディング電極の数よりも少ない。 - 請求項9に記載の半導体装置において、
前記半導体装置は、BGA型のパッケージ形態である。 - 請求項1に記載の半導体装置において、
前記第1および第2導電部材は、それぞれ金線である。 - 請求項1に記載の半導体装置において、
前記配線基板は、樹脂で構成され、前記複数のボンディング電極、および前記第1導電パターンは、銅箔で構成されている。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010199745A JP5352551B2 (ja) | 2010-09-07 | 2010-09-07 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010199745A JP5352551B2 (ja) | 2010-09-07 | 2010-09-07 | 半導体装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004161300A Division JP2005340741A (ja) | 2004-05-31 | 2004-05-31 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011009776A JP2011009776A (ja) | 2011-01-13 |
JP5352551B2 true JP5352551B2 (ja) | 2013-11-27 |
Family
ID=43565985
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010199745A Active JP5352551B2 (ja) | 2010-09-07 | 2010-09-07 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5352551B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5855913B2 (ja) * | 2011-11-14 | 2016-02-09 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
EP3125285B1 (en) * | 2014-03-24 | 2019-09-18 | Photonics Electronics Technology Research Association | Pad-array structure on substrate for mounting ic chip on substrate, and optical module having said pad-array structure |
JP2017200183A (ja) * | 2016-04-29 | 2017-11-02 | スカイワークス ソリューションズ, インコーポレイテッドSkyworks Solutions, Inc. | 遮蔽されたダイバーシティ受信モジュール |
JP7462089B1 (ja) | 2023-03-13 | 2024-04-04 | 株式会社フジクラ | 半導体パッケージ及びフェーズドアレイアンテナモジュール |
JP7462088B1 (ja) | 2023-03-13 | 2024-04-04 | 株式会社フジクラ | 高周波モジュール及びフェーズドアレイアンテナモジュール |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH067551B2 (ja) * | 1985-04-10 | 1994-01-26 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
JP2001230342A (ja) * | 2000-02-14 | 2001-08-24 | Kyocera Corp | 高周波回路部品搭載用基板の実装構造 |
KR100993277B1 (ko) * | 2002-04-30 | 2010-11-10 | 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤 | 반도체장치 및 전자 장치 |
WO2004010497A1 (ja) * | 2002-07-24 | 2004-01-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 半導体装置 |
JP3580803B2 (ja) * | 2002-08-09 | 2004-10-27 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置 |
-
2010
- 2010-09-07 JP JP2010199745A patent/JP5352551B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011009776A (ja) | 2011-01-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8471379B2 (en) | Semiconductor device | |
US7919858B2 (en) | Semiconductor device having lands disposed inward and outward of an area of a wiring board where electrodes are disposed | |
KR100993277B1 (ko) | 반도체장치 및 전자 장치 | |
KR100891763B1 (ko) | 반도체 장치 | |
US20090230541A1 (en) | Semiconductor device and manufacturing method of the same | |
JP5352551B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR100993579B1 (ko) | 반도체장치 및 전자 장치 | |
JP5086817B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP4527570B2 (ja) | 高周波モジュ−ル及びそれを搭載した無線通信装置 | |
JP4137059B2 (ja) | 電子装置および半導体装置 | |
US20080061415A1 (en) | Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and electric equipment system | |
JP2005235825A (ja) | 電子回路モジュール | |
JP2006332096A (ja) | 半導体装置 | |
JP2008112776A (ja) | 半導体装置 | |
JP2004260217A (ja) | 半導体装置 | |
JP2004320047A (ja) | 半導体装置 | |
JP2009212211A (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120924 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121002 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121130 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130730 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130826 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5352551 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |