JP2008112776A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008112776A JP2008112776A JP2006293588A JP2006293588A JP2008112776A JP 2008112776 A JP2008112776 A JP 2008112776A JP 2006293588 A JP2006293588 A JP 2006293588A JP 2006293588 A JP2006293588 A JP 2006293588A JP 2008112776 A JP2008112776 A JP 2008112776A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode pad
- rewiring
- post
- semiconductor device
- circuit block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
- H01L23/3114—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed the device being a chip scale package, e.g. CSP
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/522—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
- H01L23/5227—Inductive arrangements or effects of, or between, wiring layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明に係る半導体装置は、例えば、WCSP(ウエハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ)に適用され、高周波回路ブロックを有する半導体チップと;前記半導体チップ上に形成された複数の電極パッドと;水平面内において、前記高周波回路ブロックと前記電極パッドとの間に配置され、外部端子と接続されたポストと;前記電極パッドと前記ポストとを接続する再配線層とを備えている。
【選択図】図3
Description
12,112,212,312 高周波回路ブロック
14、114,214,314 ポスト
16 再配線
20 シリコン酸化膜
22 絶縁体層
24 アルミ配線
26 外部半田端子
28 封止樹脂
116g,216g,316g 接地用再配線
116s,216s,316s 信号用再配線
130g,230g,330g 接地用電極パッド
130r,230r,330r 受信アンテナ用電極パッド
130t,230t,330t 送信アンテナ用電極パッド
132,232,332 チップエッジ
300 スパイラル・インダクタ
Claims (7)
- 高周波回路ブロックを有する半導体チップと;
前記半導体チップ上に形成された複数の電極パッドと;
前記高周波回路ブロックと前記電極パッドとの間に配置され、外部端子と接続されたポストと;
前記電極パッドと前記ポストとを接続する再配線層とを備えたことを特徴とする半導体装置。 - 前記電極パッドは、信号用電極パッドと接地電極パッドとを含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記信号用電極パッドは、無線通信用の送信アンテナ用電極パッドと受信アンテナ用電極パッドとを含むことを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
- 前記接地電極パッドと接続された前記再配線層は、当該接地電極パッドと前記半導体チップのエッジとの間において引き回されるように形成されることを特徴とする請求項2又は3に記載の半導体装置。
- 前記信号用電極パッドは前記ポストの直下に形成され、これら信号用電極パッドとポストとが前記再配線層を介することなく接続されることを特徴とする請求項2,3又は4に記載の半導体装置。
- 前記送信アンテナ用電極パッドと受信アンテナ用電極パッドとを、前記接地電極パッドと前記高周波回路ブロックとの間に配置し、
前記送信アンテナ用電極パッドと受信アンテナ用電極パッドと、前記ポストとを連結する前記再配線との間に、スパイラル・インダクタを形成したことを特徴とする請求項3に記載の半導体装置。 - 前記半導体装置は、WCSP(ウエハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ)型であることを特徴とする請求項1,2,3,4,5又は6に記載の半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006293588A JP2008112776A (ja) | 2006-10-30 | 2006-10-30 | 半導体装置 |
US11/905,917 US7696630B2 (en) | 2006-10-30 | 2007-10-05 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006293588A JP2008112776A (ja) | 2006-10-30 | 2006-10-30 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008112776A true JP2008112776A (ja) | 2008-05-15 |
Family
ID=39329160
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006293588A Pending JP2008112776A (ja) | 2006-10-30 | 2006-10-30 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7696630B2 (ja) |
JP (1) | JP2008112776A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7137674B1 (ja) | 2021-08-05 | 2022-09-14 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8761688B2 (en) * | 2011-06-08 | 2014-06-24 | Htc Corporation | Radio frequency circuit and signal transmission method |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH685214A5 (fr) * | 1991-10-15 | 1995-04-28 | Hans Ulrich Meyer | Capteur capacitif de position. |
JP4251418B2 (ja) * | 1999-10-06 | 2009-04-08 | Okiセミコンダクタ株式会社 | Icパッケージ |
JP4316851B2 (ja) | 2000-06-21 | 2009-08-19 | 九州日立マクセル株式会社 | 半導体チップの製造方法 |
JP3540729B2 (ja) * | 2000-08-11 | 2004-07-07 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
JP3616605B2 (ja) * | 2002-04-03 | 2005-02-02 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置 |
JP3580803B2 (ja) | 2002-08-09 | 2004-10-27 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置 |
JP3844467B2 (ja) * | 2003-01-08 | 2006-11-15 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP4150604B2 (ja) | 2003-01-29 | 2008-09-17 | 日立マクセル株式会社 | 半導体装置 |
JP3983199B2 (ja) | 2003-05-26 | 2007-09-26 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP4397210B2 (ja) | 2003-10-20 | 2010-01-13 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
JP2004320047A (ja) | 2004-06-11 | 2004-11-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
-
2006
- 2006-10-30 JP JP2006293588A patent/JP2008112776A/ja active Pending
-
2007
- 2007-10-05 US US11/905,917 patent/US7696630B2/en active Active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7137674B1 (ja) | 2021-08-05 | 2022-09-14 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
WO2023013190A1 (ja) * | 2021-08-05 | 2023-02-09 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2023023401A (ja) * | 2021-08-05 | 2023-02-16 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080099930A1 (en) | 2008-05-01 |
US7696630B2 (en) | 2010-04-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9076789B2 (en) | Semiconductor device having a high frequency external connection electrode positioned within a via hole | |
US8299572B2 (en) | Semiconductor die with backside passive device integration | |
US7868462B2 (en) | Semiconductor package including transformer or antenna | |
KR100891763B1 (ko) | 반도체 장치 | |
KR100744979B1 (ko) | 아날로그 반도체 칩 및 디지털 반도체 칩이 순서대로적층된 sip 타입 패키지, 및 그 제조 방법 | |
US7919858B2 (en) | Semiconductor device having lands disposed inward and outward of an area of a wiring board where electrodes are disposed | |
US7157794B2 (en) | Semiconductor device that suppresses variations in high frequency characteristics of circuit elements | |
US20090230541A1 (en) | Semiconductor device and manufacturing method of the same | |
US8791369B2 (en) | Electronic component | |
US6531775B1 (en) | High-frequency module | |
US20150162267A1 (en) | Radio-frequency device package and method for fabricating the same | |
US7978479B2 (en) | WLAN SiP module | |
JP2000299427A (ja) | 高周波集積回路装置 | |
JP2008112776A (ja) | 半導体装置 | |
JP2008017421A (ja) | 半導体装置 | |
US20050180122A1 (en) | Electronic circuit module | |
JP2007165579A (ja) | 半導体装置 | |
JP2007081267A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
US11011846B2 (en) | Antenna and semiconductor device with improved tradeoff relationship between antenna gain and antenna size | |
TWI823770B (zh) | 半導體封裝組件 | |
JP2006049602A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
TW200527616A (en) | Stacked type semiconductor encapsulation device having protection mask | |
JP2004260217A (ja) | 半導体装置 | |
JP2006332096A (ja) | 半導体装置 | |
JPWO2006001087A1 (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080215 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20081210 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081217 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090213 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20090213 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090408 |