JP2008112776A - 半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、高周波LSIを備えた半導体装置の特性を向上させることを課題とする。
【解決手段】本発明に係る半導体装置は、例えば、WCSP(ウエハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ)に適用され、高周波回路ブロックを有する半導体チップと;前記半導体チップ上に形成された複数の電極パッドと;水平面内において、前記高周波回路ブロックと前記電極パッドとの間に配置され、外部端子と接続されたポストと;前記電極パッドと前記ポストとを接続する再配線層とを備えている。
【選択図】図3

Description

本発明は半導体装置、特に、ウェハ・レベルCSPを高周波LSIに適用した半導体装置に関する。
電子機器の高密度実装化に伴い、携帯機器に搭載される半導体装置の小型化(薄型化/外形サイズの小型化)が要求されている。この要求に応えるため、半導体チップの外形寸法とほぼ同じ外形寸法を有するチップ・サイズ・パッケージ(Chip Size Package)と称される半導体パッケージが採用されている。チップ・サイズ・パッケージの一形態としては、ウェハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ(Wafer Level Chip Size Package)又はウェハ・レベル・チップ・スケール・パッケージ(Wafer Level Chip Scale Package)と称される半導体パッケージが存在する。
ウェハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ(以下、WCSPと称す。)では、実装基板と対面する実装面(回路形成面)上に、再配線層によってエリア状に配列された複数の外部端子を備えている。外部端子と回路形成面の周辺に配置された電極(パッド)を再配線によって結線することにより、回路上の配線ピッチを実装基板の配線ピッチに変換すると伴に、LSI回路と実装基板を電気的に接続している。現在、WCSPは、小型・薄型という長所を生かし、携帯電話の電源LSI、フラッシュメモリ、マイコン、RF LSI等に採用されている。
本発明に関連する技術として、特開2004−79579号公報に開示されたWCSP型の半導体装置がある。
特開2004−79579号公報
高周波LSIにWCSPを適用する場合、LSI側の回路レイアウトによっては、WCSPの再配線を引回すエリアが限定される。このため、高周波回路ブロックと再配線が電気的に干渉し、誤動作を引き起こすという懸念がある。特に、携帯電話等の無線通信用LSIでは、数百MHzから数GHzの信号の送受信を行うため、再配線のレイアウトによってはLSIの特性を劣化させるケースがある。
本発明は、上記の課題を解決するために成されたものであり、高周波LSIを備えた半導体装置の特性を向上させること目的とする。
本発明に係る半導体装置は、例えば、WCSP(ウエハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ)に適用され、高周波回路ブロックを有する半導体チップと;前記半導体チップ上に形成された複数の電極パッドと;前記高周波回路ブロックと前記電極パッドとの間に配置され、外部端子と接続されたポストと;前記電極パッドと前記ポストとを接続する再配線層とを備えている。ここで、ポイントとなるのは、ポストが高周波回路ブロックと電極パッドとの間に配置されることであり、高周波回路ブロック上に再配線が形成されないレイアウトを提供する。
好ましくは、接地電極パッドと接続された再配線層は、当該接地電極パッドと半導体チップのエッジとの間において引き回されるように形成する。
信号用電極パッドをポストの直下に形成し、これら信号用電極パッドとポストとを再配線層を介することなく接続することができる。
また、送受信アンテナ用電極パッドを、接地電極パッドと高周波回路ブロックとの間に配置し、更に、送受信アンテナ用電極パッドとポストとを連結する再配線との間に、スパイラル・インダクタを形成することができる。
以上のように本発明によれば、電極パッドと高周波領域回路ブロックの間にポストを配置しているため、高周波回路ブロック上に再配線が形成されず、再配線と高周波回路ブロックとの電気的干渉を抑制することが可能となる。また、送信アンテナ用電極、受信アンテナ用電極とポストとを接続する信号用再配線の長さを短くすることができ、送受信特性の向上が可能となる。
接地電極パッドと接続された再配線層を、当該接地電極パッドと半導体チップのエッジとの間で引き回す構成とした場合には、電極の外側で接地端子を共通化することができ、接地配線の低インピーダンス化を図ることが可能となる。
信号用電極パッドをポストの直下に形成し、これら信号用電極パッドとポストとを接続した場合には、再配線が不要となり、再配線部の寄生パラメータ(LCR)成分による高周波信号の送受信特性の劣化を低減することが可能となる。
更に、送受信アンテナ用電極パッドを、接地電極パッドと高周波回路ブロックとの間に配置し、送受信アンテナ用電極パッドとポストとを連結する再配線との間に、スパイラル・インダクタを形成した場合には、当該インダクタを再配線で形成することができ、高周波LSIが実装されるモジュールの小型化を図ることが可能となる。
図1は、本発明が適用可能なWCSP(ウエハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ)の構成を示す平面図であり、封止樹脂及び外部端子は省略する。図2は、図1のA−A方向の断面図であり、封止樹脂及び外部端子についても示してある。
WCSPは、半導体チップ10と;半導体チップ10表面に形成された絶縁体層22と;絶縁体層22上に形成された再配線層16と;再配線層16に接続されたポスト14と;半導体チップ10の表面を封止する封止樹脂28と;封止樹脂28上に形成され、ポスト14の露出した上面と接続される外部半田端子26とを備えている。本発明は、数百MHzから数GHzの信号の送受信を行う無線通信用LSI等に好適である。
半導体チップ10は、半導体基板11と;当該半導体基板11上に設けられた高周波回路ブロック12と;高周波回路ブロック12及び電極パッドに接続されたアルミ配線層24とを備えている。アルミ配線層24はシリコン酸化膜20に覆われ、シリコン酸化膜20上にはパッシベーション膜としてシリコン窒化膜21が形成されている。
図3は、本発明の第1実施例に係るWCSPの要部の構造(配線レイアウト)を示す平面図である。本実施例においては、電極パッド(130g、130r、130t)とチップエッジ132との間に接地(GND)用再配線116gを引回す領域を確保している。また、高周波回路ブロック112と電極パッド(130g、130r、130t)との間にWCSPのポスト114を配置している。なお、電極パッドには、接地用電極パッド130g、送信アンテナ用電極パッド130t、受信アンテナ用電極パッド130rが含まれる。
複数の接地用電極パッド130gは、電極の外側の領域で接地用再配線116gにて各々電気的に接続されている。また、各電極パッド130gと高周波回路ブロック112との間に複数のポスト114が配置され、接地用再配線116gによって電極パッド130gとポスト114とが接続されている。ここで、接地用再配線116gは、配線のインピーダンスを低減するため、パッケージの信頼性に問題が生じない範囲で、可能な限り太く(幅広く)することが好ましい。
一方、送信アンテナ用電極パッド130t及び受信アンテナ用電極パッド130rは、各電極(130r、130t)と高周波回路ブロック112との間に配置されたポスト140に対して、信号用再配線116sにて電気的に接続される。このとき、各信号用再配線116sの長さは、位相差を無くすために同じ長さに設定すると伴に、配線長が可能な限り短くなるように引回すことが好ましい。
図3において、符号124gは接地用電極パッド130gに接続されるアルミ配線であり、半導体チップ内部に形成される。また、符号124sは送受信アンテナ用電極パッド130t,130rに接続されるアルミ配線であり、同様に半導体チップ内部に形成される。
本実施例においては、各電極パッド(130g、130r、130t)の外側に再配線領域を確保すると共に、各電極(130g、130r、130t)と高周波領域回路ブロック112との間にポスト114を配置しているため、高周波回路ブロック112上に再配線が形成されず、再配線116s,116gと高周波回路ブロック112の電気的干渉を避けることができる。また、送信アンテナ用電極パッド130t、受信アンテナ用電極パッド130rとポスト114とを接続する信号用再配線116sの長さが最短となるような引き回しができるため、送受信特性の向上を図ることが可能となる。
更に、各電極(130g、130r、130t)の外側のエリアでは、接地用再配線116gによって接地用端子が共通化され、接地用配線116gの低インピーダンス化が可能となる。
図4は、本発明の第2実施例に係るWCSPの要部の構造(配線レイアウト)を示す平面図である。本実施例においては、上述した第1実施例と同様に、電極パッド(230g、230r、230t)とチップエッジ232の間に接地(GND)用再配線216gを引回す領域を確保している。また、高周波回路ブロック212と電極パッド(230g、230r、230t)との間にWCSPのポスト214を配置している。ここで、本実施例の特徴となるのは、ポスト214のうち、送受信アンテナ用のポスト214の直下に送受信アンテナ用電極パッド230t、203rを配置することである。
複数の接地用電極パッド230gは、電極の外側の領域で接地用再配線216gにて各々電気的に接続されている。また、各電極パッド230gと高周波回路ブロック212の間に複数のポスト214が配置され、接地用再配線216gによってこれら電極パッドとポストとが接続されている。ここで、接地用再配線216gは、配線のインピーダンスを低減するため、パッケージの信頼性に問題が生じない範囲で、可能な限り太く(幅広く)することが好ましい。
一方、送信アンテナ用電極パッド230t及び受信アンテナ用電極パッド230rは、直上に配置されたポスト240に直接(再配線を介さず)接続される。
図4において、符号224gは接地用電極パッド230gに接続されるアルミ配線であり、半導体チップ内部に形成される。また、符号224sは送受信アンテナ用電極パッド230t,230rに接続されるアルミ配線であり、同様に半導体チップ内部に形成される。
本実施例においては、各電極パッド(230g、230r、230t)の外側に再配線領域を確保しているため、高周波回路ブロック212上に再配線が形成されず、再配線216gと高周波回路ブロック212との電気的干渉を避けることができる。また、送信アンテナ用電極パッド230tと受信アンテナ用電極パッド230rは、直上に配置されたポスト214と接続されるため、再配線が不要となり、再配線部の寄生パラメータ(LCR)成分による高周波信号の送受信特性の劣化を低減することが可能となる。
更に、各電極パッド(230g、230r、230t)の外側のエリアでは、接地用再配線216gによって接地用端子が共通化され、接地用配線216gの低インピーダンス化が可能となる。
図5は、本発明の第3実施例に係るWCSPの要部の構造(配線レイアウト)を示す平面図である。本実施例においては、上述した第1及び第2実施例と同様に、電極パッド(330g、330r、330t)とチップエッジ332の間に接地(GND)用再配線316gを引回す領域を確保している。また、高周波回路ブロック312と電極パッド(330g、330r、330t)との間に接地用電極パッド330gと接続されるポスト314を配置している。
本実施例においては、送受信アンテナ用電極パッド330t,330rを接地用電極パッド330gよりも内側(高周波回路ブロック12側)に配置する。そして、送受信アンテナ用電極パッド330t,330rを、更にその内側に配置したポスト314と再配線層316sによって接続する。再配線層316sにより、その途中にスパイラル・インダクタ300が形成されている。スパイラル・インダクタ300のインダクタンスは、従来(LSIを実装するモジュール基板上の送受信アンテナ端子の外部にチップ部品として搭載されていたもの)と同程度の値に設定する。また、スパイラル・インダクタ300を含む各信号用再配線316sの長さは、位相差を無くすために同じ長さに設定する。
複数の接地用電極パッド330gは、電極の外側の領域で接地用再配線316gにて各々電気的に接続されている。また、各接地用電極パッド330gと高周波回路ブロック312の間に複数のポスト314が配置され、接地用再配線316gによって接続されている。ここで、接地用再配線316gは、配線のインピーダンスを低減するため、パッケージの信頼性に問題が生じない範囲で、可能な限り太くすることが好ましい。
一方、送信アンテナ用電極パッド330t及び受信アンテナ用電極パッド330rは、スパイラル・インダクタ300を介在した信号用再配線316sによって、ポスト314に接続される。
図5において、符号324gは接地用電極パッド330gに接続されるアルミ配線であり、半導体チップ内部に形成される。また、符号324sは送受信アンテナ用電極パッド330t,330rに接続されるアルミ配線であり、同様に半導体チップ内部に形成される。
本実施例においては、各電極パッド(330g、330r、330t)の外側に再配線領域を確保しているため、高周波回路ブロック312上に再配線が形成されず、再配線316gと高周波回路ブロック312との電気的干渉を避けることができる。また、各電極パッド(330g、330r、330t)の外側のエリアでは、接地用再配線316gによって接地用端子が共通化され、接地用配線316gの低インピーダンス化が可能となる。
更に、従来、モジュール基板上に配置していたチップインダクタと同等の特性を持つスパイラル・インダクタ300を再配線316sでWCSP内に形成することにより、高周波LSIが実装されるモジュールの小型化に寄与する。
図1は、本発明が適用可能なWCSP(ウエハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ)の構成を示す平面図であり、封止樹脂及び外部端子は省略する。 図2は、図1のA−A方向の断面図であり、封止樹脂及び外部端子についても示してある。 図3は、本発明の第1実施例に係るWCSPの要部の構造を示す平面図である。 図4は、本発明の第2実施例に係るWCSPの要部の構造を示す平面図である。 図5は、本発明の第3実施例に係るWCSPの要部の構造を示す平面図である。
符号の説明
10 半導体チップ
12,112,212,312 高周波回路ブロック
14、114,214,314 ポスト
16 再配線
20 シリコン酸化膜
22 絶縁体層
24 アルミ配線
26 外部半田端子
28 封止樹脂
116g,216g,316g 接地用再配線
116s,216s,316s 信号用再配線
130g,230g,330g 接地用電極パッド
130r,230r,330r 受信アンテナ用電極パッド
130t,230t,330t 送信アンテナ用電極パッド
132,232,332 チップエッジ
300 スパイラル・インダクタ

Claims (7)

  1. 高周波回路ブロックを有する半導体チップと;
    前記半導体チップ上に形成された複数の電極パッドと;
    前記高周波回路ブロックと前記電極パッドとの間に配置され、外部端子と接続されたポストと;
    前記電極パッドと前記ポストとを接続する再配線層とを備えたことを特徴とする半導体装置。
  2. 前記電極パッドは、信号用電極パッドと接地電極パッドとを含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記信号用電極パッドは、無線通信用の送信アンテナ用電極パッドと受信アンテナ用電極パッドとを含むことを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記接地電極パッドと接続された前記再配線層は、当該接地電極パッドと前記半導体チップのエッジとの間において引き回されるように形成されることを特徴とする請求項2又は3に記載の半導体装置。
  5. 前記信号用電極パッドは前記ポストの直下に形成され、これら信号用電極パッドとポストとが前記再配線層を介することなく接続されることを特徴とする請求項2,3又は4に記載の半導体装置。
  6. 前記送信アンテナ用電極パッドと受信アンテナ用電極パッドとを、前記接地電極パッドと前記高周波回路ブロックとの間に配置し、
    前記送信アンテナ用電極パッドと受信アンテナ用電極パッドと、前記ポストとを連結する前記再配線との間に、スパイラル・インダクタを形成したことを特徴とする請求項3に記載の半導体装置。
  7. 前記半導体装置は、WCSP(ウエハ・レベル・チップ・サイズ・パッケージ)型であることを特徴とする請求項1,2,3,4,5又は6に記載の半導体装置。
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