JP5340135B2 - 不揮発性半導体記憶装置、不揮発性半導体記憶システム、および不揮発性半導体記憶装置のデータ書き換え方法 - Google Patents
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Description
コピー処理:65ns×512=33μs
コマンド発行:65ns×512=33μs
書き戻し処理:500ns×512=256μs
なので、合計322μsとなる。ブロックが32Kワードであれば、322μs×(32K/512)=約20ms短縮することができる。
2 ブロック
3 コントローラ
4 RAM
5 MPU
6 プロセッサ
Claims (3)
- 複数のセルを含むブロック毎にセルのデータの書き換えが可能な記憶領域と、
書き換えようとするブロック内のセルのデータを退避するためのRAMと、
前記記憶領域およびRAMの読み書きを制御するコントローラと
を備えた不揮発性半導体記憶装置において、
前記ブロック内のセルに記憶されていたデータの書き換え処理は、
書き換えようとするブロック内の各セルの状態が、プログラム状態であるのか、イレース状態であるのかを判別して、イレース状態であれば、プログラム状態にするため、セルにプログラム電圧をかけるプリプログラム過程と、
書き換えようとするブロック内の全てのセルをイレースするイレース過程と、
イレースしたセルの閾値電圧を均一化するポストプログラム過程とを有していて、
前記プリプログラム過程で、書き換えようとするブロック内の各セルの状態が、プログラム状態であるのか、イレース状態であるのかを判別するのと同時に、各セルの状態をRAMへコピーし、
前記イレース過程の間に、RAMのデータを書き換え、
前記ポストプログラム過程で、RAMにある書き換えられたデータに基づいて、セルの書き換え後のデータがイレース状態に対応するデータであれば、セルのイレース後の閾値電圧を均一化するため、セルにポストプログラム電圧をかけ、セルの書き換え後のデータがプログラム状態に対応するデータであれば、セルをプログラム状態にするため、セルにプログラム電圧をかける
ことを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 請求項1に記載の不揮発性半導体記憶装置と、
前記不揮発性半導体記憶装置と通信するMPUと
を備えていることを特徴とする不揮発性半導体記憶システム。 - 複数のセルを含むブロック毎にセルのデータの書き換えが可能な記憶領域と、
書き換えようとするブロック内のセルのデータを退避するためのRAMと、
前記記憶領域およびRAMの読み書きを制御するコントローラと
を備えた不揮発性半導体記憶装置のデータ書き換え方法において、
前記ブロック内のセルに記憶されていたデータの書き換え処理は、
書き換えようとするブロック内の各セルの状態が、プログラム状態であるのか、イレース状態であるのかを判別して、イレース状態であれば、プログラム状態にするため、セルにプログラム電圧をかけるプリプログラム過程と、
書き換えようとするブロック内の全てのセルをイレースするイレース過程と、
イレースしたセルの閾値電圧を均一化するポストプログラム過程とを有していて、
前記プリプログラム過程で、書き換えようとするブロック内の各セルの状態が、プログラム状態であるのか、イレース状態であるのかを判別するのと同時に、各セルの状態をRAMへコピーし、
前記イレース過程の間に、RAMのデータを書き換え、
前記ポストプログラム過程で、RAMにある書き換えられたデータに基づいて、セルの書き換え後のデータがイレース状態に対応するデータであれば、セルのイレース後の閾値電圧を均一化するため、セルにポストプログラム電圧をかけ、セルの書き換え後のデータがプログラム状態に対応するデータであれば、セルをプログラム状態にするため、セルにプログラム電圧をかける
ことを特徴とする不揮発性半導体記憶装置のデータ書き換え方法。
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KR1020100024717A KR20110074405A (ko) | 2009-12-24 | 2010-03-19 | 불휘발성 반도체 기억 장치, 그것의 데이터 갱신 방법, 및 불휘발성 반도체 기억 시스템 |
US12/945,230 US8406059B2 (en) | 2009-12-24 | 2010-11-12 | Nonvolatile semiconductor memory devices, data updating methods thereof, and nonvolatile semiconductor memory systems |
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