JP2010129154A - 不揮発性半導体記憶装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】指定されたアドレスに対し入力されるn(nは整数)ビットのプログラムデータを同時にプログラムする場合に、論理“0”に属するビットの個数のみをカウント、もしくは論理“1”に属するビットの個数のみをカウント、もしくは両方の論理に属するビットの個数をカウントし、カウント数がn/2以下であった方の論理を初期状態としてプログラムデータを再生成し、その再生成されたプログラムデータに基づいてプログラム動作を行う第1手段と、指定されたアドレスのメモリセルの初期状態が論理“0”と論理“1”のいずれであるかを認識させる認識ビットをプログラム動作時に書き込む第2手段とを具備する。
【選択図】 図1
Description
また、本発明は、プログラム時(書き込み時)のプログラム電流容量を減らすことの出来る不揮発性半導体記憶装置を提供することを目的とする。
このように構成することにより最大プログラムビット数はn/2となるため最大のプログラム回数を従来の約半分とすることができる。
このように構成することにより、認識ビットを参照することにより初期状態が論理“0”に設定されていることが分かる。
これにより、最大分割プログラム回数が従来の約半分となる。
これにより、プログラム電流容量が従来の約半分で済む。
これにより、プログラム動作に先立って初期状態が論理“1”に設定されているのか論理“0”に設定されているのかを判定することができる。
このように構成することにより、初期ビットを参照することにより指定されたアドレスが初期状態か否かを判別することが出来、それに応じて入力されたnビットに対する最大プログラムビット数をn/2となるように設定することが出来る。
これにより、入力データが反転してプログラムされたかどうか、指定アドレスが書き込まれているか否かの判定を行うことが出来る。
これにより、最大分割プログラム回数が従来の約半分となる。
これにより、最大分割プログラム回数が従来の約半分となる。
これにより、プログラム電流容量が従来の約半分で済む。
これにより、初期ビットを確認することによりプログラム動作に先立って、初期状態が、論理“1”に設定されているのか論理“0”に設定されているのかを判定することができる。
データ反転回路106は制御回路120により制御されており、反転が行なわれたか否かの反転情報は、認識ビットとして認識ビットメモリセルアレイ104に書き込まれる。
このような不揮発性半導体記憶装置100において、メモリセルアレイ102中のメモリセルにデータをプログラムして格納する場合には、メモリセルのフローティングゲートに電子を注入する。この場合、通常、フローティングゲートに電子が溜まっていない状態を論理“1”とし、注入により電子が溜まっている状態を論理“0”として認識している。
そして、外部から入力されるnビットのプログラムデータは、同時にプログラムされる場合には、論理値のカウント数がn/2以下であった方の論理を初期状態としてプログラムデータを再生成して、メモリセルアレイ102へ書き込まれる。
本発明では、指定されたアドレスに対し入力されるn(nは整数)ビットのプログラムデータを同時にプログラムする場合に、論理“0”に属するビットの個数のみをカウント、もしくは論理“1”に属するビットの個数のみをカウント、もしくは両方のビットの個数をカウントし、カウント数がn/2を超えている方の論理を初期状態と定義する。
この場合認識ビットには“1”が書き込まれる。
このように、プログラムを行ったnビットに対し、メモリセルの初期状態が論理“0”と論理“1”のどちらであるかを認識させるビットをプログラムすることでプログラムしたデータと外部に出力するデータとの整合性をとることが出来る。
nビットのデータを同時にプログラムする時、必要な電流を生成するチャージポンプの面積などの関係から一度にプログラム出来るビット数がmビットであると制約を受ける時、nビット全てをプログラムする場合、従来の方法ではn/m回、もしくはその値より大きく、一番近い整数回必要となる。
また、本発明の半導体記憶装置は、書き込み時の電流を減らすことを可能とする。
図4は、入力データnビットに対し、ベリファイ判定をmビット毎に行いながら書き込みを行うことで書き込み回数を減らす場合の動作フローチャートである。
図5は、入力データnビットに対し、mビット毎に書き込みを行いnビットすべてを書き込んだ後、ベリファイ判定をnビット一度に行うことで書き込み回数を減らす場合の動作フローチャートである。
ステップ310では、入力データは反転されることなく、そのまま書き込まれる。
反転していない場合、ステップ314に移行し、入力データを反転することなく書き込みデータとする。
ステップ316において、k′=0の場合には、プログラム動作を正常に終了する(ステップ326)。
同様に、ケース(1)、ケース(2)、ケース(3)のようなビット配置について本発明の方法を用いた場合を図に示している。
このように、一度にmビットしか書き込みが出来ない場合、本発明によれば最大書き込み回数をn/2m回、もしくはその値より大きく、一番近い整数回とすることが出来、従来の約半分とすることが出来る。
そして、図7は図4に、図8は図5にそれぞれ対応している。図7、図8の動作フローチャートにおいて、図4、図5の動作フローチャートとの違いは、初期ビットが書き込まれているか否かの確認を行うステップ301を設けたことと、ステップ301において、初期ビットが書き込まれていないと確認されたときに、初期ビットを書き込むステップ320,332を設けたことである。なお初期ビットの書き込みは1回のみで良い。
図7、図8のフローチャートの場合、ステップ301において初期ビットを確認することにより、指定されたアドレスが初期状態か否かを判定するように構成されている。書き込んでいない(初期状態)場合にはステップ304に移行し、書き込んでいる場合はステップ306に移行する。
図9、図10からも明らかなように、初期ビットを確認して行う本発明の書き込みの場合にも、書き込むビット数は増えても分割プログラム回数を減らすことが出来る。
図11は、初期ビットを用いないで行う場合の、図12は初期ビットを用いて行う場合のフローチャートをそれぞれ示している。
図11及び図12で同一ステップには同一符号を付している。
指定されたアドレスに対し、nビットデータを全て読み出し、初期状態であるか否かを確認する(ステップ402)。そして、データに“0”がなく、認識ビットも反転していない(初期状態)場合にはステップ404に移行し、データに“0”がある場合にはステップ406に移行する。ステップ404において、入力データの個数判定を行い、データ“0”の個数がn/2を超えている場合には、ステップ408に移行し、データ“0”の個数がn/2以下の場合には、ステップ410に移行する。
ステップ410では、入力データは反転されることなく、そのまま書き込まれる。
ステップ402において、データに“0”がある場合には、ステップ406において認識ビットの確認を行う。認識ビットが反転している場合、ステップ412に移行し、入力データを反転して書き込みデータとする。
反転していない場合、ステップ414に移行し、入力データを反転することなく書き込みデータとする。
このように、入力データnビットに対し、データ反転回路を組み込むことで、最大書き込みビットはn/2となる。従って、nビットを一度に書き込む場合にn/2ビット+認識ビット分の電流容量があれば良い。
ここで初期ビットは、プログラムする際の指定アドレスが書き込まれているかの判定に使うビットであり、本発明において特に設けられたものである。
なお、図12において図11と同一のステップについては、同一符号を付し、その説明は省略する。
初期ビットを確認して行う本発明の書き込みの場合には、n/2ビット+認識ビット+初期ビット分の電流容量があれば良い。
Claims (11)
- データを記憶するメモリセルにより構成されるメモリセルアレイと、前記メモリセルアレイからデータを読み出すリード動作と、前記メモリセルアレイに対してデータを書き込むプログラム動作とを制御する制御回路とを備えた不揮発性半導体記憶装置において、
指定されたアドレスに対し入力されるn(nは整数)ビットのプログラムデータを同時にプログラムする場合に、論理“0”に属するビットの個数のみをカウント、もしくは論理“1”に属するビットの個数のみをカウント、もしくは両方の論理に属するビットの個数をカウントし、カウント数がn/2以下であった方の論理を初期状態として前記プログラムデータを再生成し、その再生成されたプログラムデータに基づいて前記プログラム動作を行う第1手段と、前記指定されたアドレスのメモリセルの前記初期状態が論理“0”と論理“1”のいずれであるかを認識させる認識ビットを前記プログラム動作時に書き込む第2手段とを具備したことを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記制御回路は、プログラムが通常メモリセルの状態を論理“1”から論理“0”に遷移させることを指す時には、論理“0”に属するビットの個数が論理“1”に属するビットの個数を超えている時、前記入力されるnビットのプログラムデータを反転させてプログラムし、反転情報を前記認識ビットに書き込むことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、一度にプログラム可能なビット数をm(mは整数:m<n/2)とし、最大分割プログラム回数(最大分割プログラム回数とは、nビットを複数回に分けてプログラムする際の最大回数を示す)がn/2m回、もしくはその値より大きく、一番近い整数回となるようにプログラム動作を行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、n/2ビットのプログラムデータと前記認識ビットとを書き込むのに十分なプログラム電流容量でプログラム動作を行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、前記指定されたアドレスに対し、プログラム動作に先立って、nビットデータを読み出し、前記指定されたアドレスに対応するメモリセルがプログラムされていない初期状態にあるか否かを確認することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
- データを記憶するメモリセルにより構成されるメモリセルアレイと、前記メモリセルアレイからデータを読み出すリード動作と、前記メモリセルアレイに対してデータを書き込むプログラム動作とを制御する制御回路とを備えた不揮発性半導体記憶装置において、
指定されたアドレスに対し入力されるn(nは整数)ビットのプログラムデータを同時にプログラムする場合に、論理“0”に属するビットの個数のみをカウント、もしくは論理“1”に属するビットの個数のみをカウント、もしくは両方の論理に属するビットの個数をカウントし、カウント数がn/2以下であった方の論理を初期状態として前記プログラムデータを再生成し、その再生成されたプログラムデータに基づいて前記プログラム動作を行う第1手段と、前記指定されたアドレスのメモリセルの前記初期状態が論理“0”と論理“1”のいずれであるかを認識させる認識ビットを前記プログラム動作時に書き込む第2手段と、前記指定されたアドレスにデータが書き込まれているか否かを判別する初期ビットを書き込む第3手段とを具備したことを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記制御回路は、前記プログラム動作時に前記認識ビットと前記初期ビットとを書き込むことを特徴とする請求項6に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、一度にプログラム可能なビット数をm(mは整数:m<n/2)とし、最大分割プログラム回数(最大分割プログラム回数とは、nビットを複数回に分けてプログラムする際の最大回数を示す)が(n+1)/2m回、もしくはその値より大きく、一番近い整数回となるようにプログラム動作を行うことを特徴とする請求項6又は7に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、一度にプログラム可能なビット数をm(mは整数:m<n/2+1)とし、最大分割プログラム回数(最大分割プログラム回数とは、nビットを複数回に分けてプログラムする際の最大回数を示す)がn/2m回、もしくはその値より大きく、一番近い整数回となるようにプログラム動作を行うことを特徴とする請求項6又は7に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、n/2ビットのプログラムデータと前記認識ビットと前記初期ビットとを書き込むのに十分なプログラム電流容量でプログラム動作を行うことを特徴とする請求項6又は7に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記制御回路は、前記指定されたアドレスに対し、プログラム動作に先立って、前記初期ビットのデータに基づいて前記指定されたアドレスに対応するメモリセルがプログラムされていない初期状態にあるのか否かを確認することを特徴とする請求項6乃至10のいずれかに記載の不揮発性半導体記憶装置。
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