JP5326927B2 - レベルシフト回路 - Google Patents

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Description

本発明は、入力1次側の動作電位とは異なる動作電位で動作する2次側の系に信号を伝達するレベルシフト回路に関する。
スイッチング素子が直列に接続され、高電位系電源で駆動されるハーフブリッジ回路などにおいては、高電位側のスイッチング素子を低電位系の信号により駆動するために、レベルシフト回路が用いられる。
図4は従来のレベルシフト回路を用いたハーフブリッジ回路の構成を示す図である。図4において、100はスイッチング素子であるSWL,SWHが直列に接続された出力回路であり、高電圧の電源Einから電源を供給されている。SWLは低電位側のスイッチング素子で、例えばNチャネルMOSトランジスタ,N型のIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)などであり、SWHは高電位側のスイッチング素子で、例えばNチャネルまたはPチャネルのMOSトランジスタ,P型またはN型のIGBTなどである。
110は、レベルシフト回路,レベルシフト回路の出力を受けて高電位側のスイッチング素子SWHをオンオフ制御する駆動素子DRVHおよび電源E1からなる高電位側駆動回路である。レベルシフト回路は高電位側駆動回路110のうち駆動素子DRVHおよび電源E1を除く部分であり、抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の直列回路,抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の直列回路、記憶素子としてのフリップフロップFF、入力が抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の接続点に接続され出力がフリップフロップFFのセット入力端子Sに接続されたインバータ(反転素子)INV1,および入力が抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の接続点に接続され出力がフリップフロップFFのリセット入力端子Rに接続されたインバータINV2より構成され、フリップフロップの出力端子Qから出力される信号SHがレベルシフト回路によりレベルシフトされた信号として駆動素子DRVHに入力されている。駆動素子DRVHの出力はスイッチング素子であるSWHのゲート端子に接続されている。フリップフロップFF、駆動素子DRVHおよび電源E1の低電位側電源端子はスイッチング素子であるSWL,SWHの接続点Vsw(以下、その電位もVswで表す。)に接続され、フリップフロップFFと駆動素子DRVHは電源E1から電源の供給を受けている。また、抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の直列回路,抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の直列回路の一端はそれぞれ電源E1の高電位側端子に接続され、他端はそれぞれ接地電位(GND)に接続されている。NチャネルMOSトランジスタMN1,MN2のゲートには、高電位側駆動回路110のレベルシフト回路への入力信号であるパルス信号PON,POFFが入力されている。
120は低電位側のスイッチング素子SWLをオンオフ制御する駆動素子DRVLおよび電源E2からなる低電位側駆動回路である。駆動素子DRVLは電源E2から電源の供給を受け、駆動素子DRVLに入力される信号SLを増幅した信号をスイッチング素子SWLのゲート端子に出力する。この構成により、信号SLがH(High)のときスイッチング素子SWLがオン(導通)し、L(Low)のときスイッチング素子SWLがオフ(遮断)する。すなわち、信号SLはスイッチング素子SWLのオンオフを直接指示する信号である。
高電位側駆動回路110に入力される入力信号PON,POFFは、信号SLと異なり、信号PONがスイッチング素子SWHのオン期間の開始(オフ期間の終了)タイミングを指示する信号であり、POFFがスイッチング素子SWHのオフ期間の開始(オン期間の終了)タイミングを指示する信号である。図5にレベルシフトの動作を説明するためのタイミングチャートを示す。入力信号PONがHになるとNチャネルMOSトランジスタMN1がオンしてインバータINV1の入力がL、出力がHとなり、これによりフリップフロップFFがセットされて信号SHがHになり、スイッチング素子SWHがオンする。また、入力信号POFFがHになると、NチャネルMOSトランジスタMN2がオンしてインバータINV2の入力がL、出力がHとなり、これによりフリップフロップFFがリセットされて信号SHがLになり、スイッチング素子SWHがオフする。
スイッチング素子SWL,SWHは、両者ともオフするデッドタイムを除いて相補的にオンオフし(一方がオンのとき、他方がオフする。)、スイッチング素子SWLがオンのとき接続点Vswの電位Vswは接地電位となり、スイッチング素子SWHがオンのとき接続点Vswの電位Vswは高電圧電源Einの出力電圧(これもEinで表す。)となる。
また、RLはハーフブリッジ回路から電力の供給を受ける負荷であり、上記接続点Vswと接地電位の間に接続されている。
ここで、スイッチング素子SWLがオンの状態からスイッチング素子SWHがオンの状態に切り替わるときについて考える。このとき接続点Vswの電位Vswは、接地電位から高電圧のEinに急激に切り替わる。実際のハーフブリッジ回路では、接続点Vswと抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の接続点および抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の接続点の間には、それぞれ寄生容量Cp11およびCp21が存在する。また、抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の接続点および抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の接続点と接地電位との間にも、それぞれ寄生容量Cp12およびCp22が存在する。接続点Vswの電位Vswが接地電位から高電圧のEinに切り替わると、この変化をCp11とCp12およびCP21とCp22で分圧した電圧が、それぞれ抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の接続点および抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の接続点に印加される。これにより抵抗R1,R2の両端に電位差が生じる。すなわち、インバータINV1,INV2にLの誤信号が入力されてしまい、これによりフリップフロップにセット入力とリセット入力が同時に入力されることになり、その結果、フリップフロップの出力が不定となり、スイッチング素子SWHのオンオフも不定となることがある、という問題が生じる。
このフリップフロップにセット入力とリセット入力が同時に入力される現象は、接続点Vswの電位Vswの変化が、寄生容量Cp12,Cp22の両端電圧すなわち寄生容量Cp12,Cp22中の電荷を変化させ、この電荷の変化は抵抗R1,R2に流れる電流で(一部は)供給されたものと見なすことができ、その電流値は寄生容量Cp12,Cp22中の電荷Qの変化量であり、電荷Qの変化は容量Cの両端電圧Vの微分値に比例することから、dv/dtノイズと呼ばれている。すなわち、接続点Vswの電位Vswの微分値に比例した電流が抵抗R1、R2に流れることにより生じる現象という意味である。この現象は、図5の後半(右半分)に示したように、入力信号PON,POFFが同時にHとなったことと等価である(実際にこれらの入力信号がHになっているわけではない。)。この従来のレベルシフト回路を用いたハーフブリッジ回路に関する状態図を表1に示す。
Figure 0005326927
dv/dtノイズはスイッチング素子SWHのオンオフが不定となるという大きな問題に直結しうるので、対策が必要である。
図6に、dv/dtノイズ対策に関する従来技術として、特許文献1に示されたパワーデバイス駆動回路の構成を示す。図6において、図4と同じ部位には同じ符号を付して、詳細な説明は省略する。なお、寄生容量Cp11,Cp12,CP21およびCp22の図示は省略している(以下同様。)。図6に示す回路は、高電位側駆動回路110Aのレベルシフト回路中に保護回路200を設けた点が図4に示す回路と異なっている。保護回路200は2つのインバータINV1,INV2から入力される信号のいずれかがLであれば、インバータINV1,INV2の出力をそのままフリップフロップFFのセット端子,リセット端子にそれぞれ伝達するものである。また、インバータINV1,INV2の出力が両者ともHである場合は、フリップフロップFFのセット端子とリセット端子にLを入力してフリップフロップFFの出力が不定となることを防ぐものである。これにより、図7のタイミングチャートに示すように、dv/dtノイズが発生して信号PON,POFFが両者ともHとなったことと等価な状態になると、フリップフロップFFの出力を変更させずに前の状態を保持するようにして、フリップフロップFFの出力が不定となることを防いでいる。
図8,9に、保護回路200に関する2つの構成例を示す。図8は第1の構成例であり、インバータINV10〜INV16,ノア(NOR)ゲートNOR10およびナンド(NAND)ゲートNAND10,NAND11を有している。インバータINV10,INV11には、それぞれインバータINV1,INV2の出力が入力され、インバータINV15,INV16の出力はそれぞれフリップフロップFFのセット端子,リセット端子に接続されている。本回路において、インバータINV1,INV2の出力が両者ともHであると、ノアゲートNOR10の出力がH、インバータINV13の出力がLとなり、この出力LがナンドゲートNAND10,NAND11に入力されるので、フリップフロップFFのセット端子,リセット端子に入力されるインバータINV15,INV16の出力が両者ともLとなる。一方、信号PON,POFFのいずれかがLであるとインバータINV13の出力がHとなるので、インバータINV15,INV16の出力はそれぞれインバータINV1,INV2の出力に等しくなる。
図9は保護回路200の第2の構成例であり、インバータINV20〜INV22,ノアゲートNOR20,NOR21およびナンドゲートNAND20を有している。インバータINV1の出力がインバータINV20およびナンドゲートNAND20の一方の入力端子に入力され,インバータINV2の出力がインバータINV22およびナンドゲートNAND20の他方の入力端子に入力されている。ノアゲートNOR20,NOR21の出力はそれぞれフリップフロップFFのセット端子,リセット端子に接続されている。本回路において、インバータINV1,INV2の出力が両者ともHであると、ナンドゲートNAND20の出力がL、インバータINV21の出力がHとなり、この出力HがノアゲートNOR20,NOR21に入力されるので、フリップフロップFFのセット端子,リセット端子に入力されるノアゲートNOR20,NOR21の出力が両者ともLとなる。一方、インバータINV1,INV2の出力のいずれかがLであるとインバータINV21の出力がLとなるので、ノアゲートNOR20,NOR21の出力はそれぞれインバータINV1,INV2の出力に等しくなる。また、図6に示す特許文献1のパワーデバイス駆動回路に関する状態図を表2に示す。
Figure 0005326927
特許第3429937号明細書
保護回路200においては、インバータINV1,INV2の出力が伝播する前に、インバータINV1,INV2の出力が両者ともHであることを検出してこれをブロックする必要がある。さもなければ、インバータINV1,INV2の出力がすり抜けてフリップフロップFFに伝達されてしまう。そのため、図8に示す回路においては、インバータINV1,INV2の出力に対しインバータINV12,INV14が応答する前に、インバータINV13が応答する必要がある。また、図9に示す回路では、インバータINV20,INV22が応答する前に、インバータINV21が応答する必要がある。信号(インバータINV1,INV2の出力)が通過するゲート段数が異なるため、上記を保証するためには、インバータINV12,INV14,INV20,INV22の遅延時間をわざと長くする必要がある(例えば図8において、ノアゲートNOR10とインバータINV13の両者を合わせた遅延時間より、インバータINV12やインバータINV14単独の遅延時間を長くする必要がある。)。
一方、ハーフブリッジ回路をスイッチング電源回路などに適用する場合は、スイッチング速度の高速化が進んでおり、1周期内のスイッチング素子のオンオフ時間をより精密に制御することが求められている。上記のインバータINV12,INV14,INV20,INV22の遅延時間を長くすることはこれに反することであり、スイッチング速度の高速化を図り難い方式となっている。
そこで本発明は、上記の課題を解決し、スイッチング素子のオンオフ制御に余計な遅延をもたらすことなくdv/dtノイズを対策することができるレベルシフト回路を提供することを目的とする。
そこで、上記課題を解決するために、請求項1に係る発明は、1次側の電位系からの入力信号を、前記1次側の電位系とは異なる2次側電位系で動作する系に伝達するレベルシフト回路であって、前記2次側電位系の高電位側電源電位と前記1次側電位系の低電位側電源電位との間に直列に接続された第1の抵抗および第1のスイッチ素子からなる第1の直列回路と、前記2次側電位系の高電位側電源電位と前記1次側電位系の低電位側電源電位との間に直列に接続された第2の抵抗および第2のスイッチ素子からなる第2の直列回路と、前記2次側電位系で動作し、前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点および前記第2の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が入力端子に接続される伝達回路と、前記2次側電位系で動作し前記伝達回路の出力が入力される記憶素子と、を有し、前記第1および第2のスイッチ素子には、前記第1および第2のスイッチ素子のオンオフを制御する前記1次側の電位系の信号が入力され、前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点の電位および前記第2の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点の電位が前記第1および第2のスイッチが同時にオンするときと同等の状態になったとき、前記伝達回路の出力を高インピーダンスとすることを特徴とする。
請求項2に係る発明は、請求項1に係る発明において、前記伝達回路は、反転素子と、第1および第2のPチャネルMOSトランジスタが直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタ直列回路と、第1および第2のNチャネルMOSトランジスタが直列に接続されたNチャネルMOSトランジスタ直列回路と、を有し、前記PチャネルMOSトランジスタ直列回路と前記NチャネルMOSトランジスタ直列回路は前記2次側電位系の高電位側電源電位と低電位側電源電位の間に直列に接続されていて、前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が前記第1のPチャネルMOSトランジスタおよび第1のNチャネルMOSトランジスタのゲートに接続され、前記第2の直列回路の前記第2の抵抗および第2のスイッチ素子の接続点が前記反転素子の入力端子に接続され、前記反転素子の出力端子が前記第2のPチャネルMOSトランジスタおよび第2のNチャネルMOSトランジスタのゲートに接続され、前記PチャネルMOSトランジスタ直列回路と前記NチャネルMOSトランジスタ直列回路の接続点が前記記憶素子のデータ入力端子に接続されていることを特徴とする。
請求項3に係る発明は、請求項2に係る発明において、前記記憶素子は、入出力間に抵抗が接続されたバッファ回路からなることを特徴とする。
請求項4に係る発明は、請求項3に係る発明において、前記バッファ回路は直列に接続された2つの反転素子からなることを特徴とする。
請求項5に係る発明は、請求項1に係る発明において、前記伝達回路は、イネーブル端子を有する第1および第2の反転素子を有し、前記記憶素子はそれぞれ第3および第4の抵抗の一端がそれぞれ接続されたセット端子およびリセット端子を有し、前記第3の抵抗の他端は、前記セット端子へのセット入力とはならない側の電源電位に接続され、前記第4の抵抗の他端は、前記リセット端子へのリセット入力とはならない側の電源電位に接続され、前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が前記第1の反転素子の入力端子および前記第2の反転素子のイネーブル端子に接続され、前記第2の直列回路の前記第2の抵抗および第2のスイッチ素子の接続点が前記第2の反転素子の入力端子および前記第1の反転素子のイネーブル端子に接続され、前記第1の反転素子の出力端子が前記記憶素子のセット端子に接続され、前記第2の反転素子の出力端子が前記記憶素子のリセット端子に接続されていることを特徴とする。
請求項6に係る発明は、請求項1ないし5のいずれか1項に係る発明において、前記2次側電位系で動作する系に伝達する1次側の電位系からの入力信号のローからハイへの電位変化時に微少時間だけ前記第1のスイッチ素子をオンし、前記入力信号のハイからローへの電位変化時に微少時間だけ前記第2のスイッチ素子をオンすることを特徴とする。
本発明のレベルシフト回路によれば、記憶素子としてのラッチ回路30の前段に、2つの入力PON,POFFが共にHである、もしくはこれと同等の状態であることを検出すると出力を高インピーダンスにする伝達回路を設けたので、dv/dtノイズによる誤信号を効果的にブロックすることができる。すなわち、出力を高インピーダンスにする伝達回路は、一部回路の遅延時間をわざと長くすることなく構成できるので、最小の遅延時間でdv/dtノイズによる誤信号をブロックすることができる。
本発明のレベルシフト回路の実施の形態に係る第1の実施例を示す図である。 本発明のレベルシフト回路の実施の形態に係る第2の実施例を示す図である。 イネーブル端子付きインバータの構成例を説明するための図である。 従来のレベルシフト回路を用いたハーフブリッジ回路の構成を示す図である。 図4のハーフブリッジ回路におけるレベルシフトの動作に説明するためのタイミングチャートである。 dv/dtノイズ対策に関する従来技術として示す、特許文献1に示されるパワーデバイス駆動回路の構成を説明するための図である。 図6の動作を説明するためのタイミングチャートである。 保護回路200の構成例を示す図である。 保護回路200の別の構成例を示す図である。
以下、図面を用いて本発明のレベルシフト回路について説明する。
図1は本発明に係るレベルシフト回路を用いたハーフブリッジ回路の第1の実施例である。図6と共通する部位には同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。
図1に示すハーフブリッジ回路は、高電位側駆動回路10のレベルシフト回路が、保護回路200ではなく伝達回路20を設け、記憶素子としてセット・リセット入力端子を有するフリップフロップFFに替えてラッチ回路30を設けたことが、図6のハーフブリッジ回路に対する主たる相違点となっている。
伝達回路20は電源E1から電源の供給を受けるPチャネルMOSトランジスタMP1,MP2およびNチャネルMOSトランジスタMN3,MN4の直列回路とインバータINV2から構成されている。インバータINV2の出力はPチャネルMOSトランジスタMP2とNチャネルMOSトランジスタMN4のゲートに接続され、抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の接続点(当該接続点の電位をV2とする。)とインバータINV2の入力端子が接続されている。また、抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の接続点(当該接続点の電位をV1とする。)が、PチャネルMOSトランジスタMP1とNチャネルMOSトランジスタMN3のゲートに接続されている。また、インバータINV2も電源E1から電源の供給を受けている。
ラッチ回路30は、直列に接続されたインバータINV3,INV4、およびインバータINV3の入力端子とインバータINV4の出力端子間に接続された抵抗R3から構成されている。また、ラッチ回路30も電源E1から電源の供給を受けている。インバータINV3への入力がラッチ回路30の入力となっているとともに、インバータINV4の出力がラッチ回路30の出力となっている。
ラッチ回路30は、入力がLまたはHであればその値を記憶して出力し、入力が高インピーダンスになると、入力が高インピーダンスになる直前に記憶した値を保持・出力する回路である。
伝達回路20はdv/dtノイズが発生した場合、すなわち電位V1,V2が共にLになるとき、出力を高インピーダンスにしてラッチ回路30に影響を与えないようにする回路である。すなわち、電位V1,V2が共にLであると、NチャネルMOSトランジスタMN3とPチャネルMOSトランジスタMP2がともにオフするので、伝達回路20の出力端子であるPチャネルMOSトランジスタMP2とNチャネルMOSトランジスタMN3の接続点は高インピーダンスになる。入力が高インピーダンスとなるので、ラッチ回路30は以前の状態を保持し、dv/dtノイズの影響を免れることができる。また、高電位側駆動回路10に入力信号PON=LかつPOFF=Lが入力されているとき、すなわち電位V1,V2が共にHのときも、PチャネルMOSトランジスタMP1とNチャネルMOSトランジスタMN4がオフすることにより伝達回路20の出力は高インピーダンスになり、ラッチ回路30は以前の状態を保持しつづける。
伝達回路20およびラッチ回路30に関する状態図を表3に示す。表2において、Hi−Zは高インピーダンスを意味する。表3から分かるように、高電位側駆動回路10に対する入力信号PON,POFFの一方のみが入力されている状態(一方のみがHとなっている状態)、すなわち電位V1,V2の一方がLで他方がHの場合は、伝達回路20からラッチ回路30に入力信号PON,POFFの情報を伝えるようになっている。すなわち、入力信号PONのみがHになっている場合は伝達回路20の出力(ラッチ入力)がHとなり、入力信号POFFのみがHになっている場合は伝達回路20の出力(ラッチ入力)がLとなる。
Figure 0005326927
このように、本実施例においては、dv/dtノイズが発生すると伝達回路20の出力を高インピーダンスにすることによりdv/dtノイズの影響を除去している。また、伝達回路20は、電位V1,V2の情報を出力に反映させる機能と、dv/dtノイズを検出して出力を高インピーダンスにする機能を、同じPチャネルMOSトランジスタMP1,MP2およびNチャネルMOSトランジスタMN3,MN4の直列回路によって実現しているため、わざと一部の回路に遅延を持たせる必要がなく、最小の遅延時間でdv/dtノイズによる誤信号をブロックすることができる。
なお、表3において入力信号PON,POFFが共にHになっている状態は、dv/dtノイズが発生していることを便宜的に示すためのものであり、実際に外部から入力信号PON,POFF=Hの信号が入力されているわけではない。また、PチャネルMOSトランジスタMP1とMP2の接続順序、および/またはNチャネルMOSトランジスタMN3とMN4の接続順序は入れ替えてもよい。
図2に本発明に係るレベルシフト回路を用いたハーフブリッジ回路の第2の実施例を示す。図1,6と共通する部位には同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。
図2に示すハーフブリッジ回路は、高電位側駆動回路10AがインバータINV1,INV2を用いず、保護回路200に替えて伝達回路20Aを設け、伝達回路20Aの出力にプルダウン抵抗R4,R5を接続してフリップフロップFFへの入力としたことが、図6のハーフブリッジ回路に対する相違点となっている。
伝達回路20Aは2つのイネーブル端子EN付きのインバータINV5,INV6により構成されている。イネーブル端子EN付きインバータの構成例を図3に示す。図3において、イネーブル端子EN付きインバータはPチャネルMOSトランジスタMP3およびNチャネルMOSトランジスタMN5,MN6から構成されている。イネーブル端子ENへの入力信号がLであると、NチャネルMOSトランジスタMN6がオフするため、イネーブル端子EN付きのインバータの出力端子OUTは高インピーダンスになる。一方、イネーブル端子ENへの入力信号がHであると、NチャネルMOSトランジスタMN6がオンするため、PチャネルMOSトランジスタMP3とNチャネルMOSトランジスタMN5からなる通常のインバータで反転された入力端子INへの入力信号が、出力端子OUTに伝達される。
伝達回路20Aを構成するインバータINV5に対しては、電位V1が入力端子INに入力されるとともに、電位V2がイネーブル端子ENに入力されている。一方、インバータINV6に対しては、電位V2が入力端子INに入力されるとともに、電位V1がイネーブル端子ENに入力されていて、インバータINV5,6に対する電位V1,V2の接続関係はたすきがけ状態となっている。
インバータINV5の出力は伝達回路20Aの一方の出力としてフリップフロップFFのセット入力端子Sに接続されるとともに、抵抗R4によりプルダウンされている。また、インバータINV6の出力は伝達回路20Aの他方の出力としてフリップフロップFFのリセット入力端子Rに接続されるとともに、抵抗R5によりプルダウンされている。抵抗R4,R5は、伝達回路20Aの出力が高インピーダンスになったときに、フリップフロップFFへの入力をLに確定させて、フリップフロップFFの状態を変化させないようにするためのものである。
伝達回路20AおよびフリップフロップFFに関する状態図を表4に示す。表4において、EnableはインバータINV5,INV6の出力が高インピーダンスではなく、入力端子INへの入力信号を反転させて出力する状態になっていることを意味する。また、表3と同様に、入力信号PON,POFFが共にHになっている状態は、dv/dtノイズが発生していることを便宜的に示すためのものであり、実際に外部から入力信号PON,POFF=Hの信号が入力されているわけではない。
Figure 0005326927
表4からも分かるように、dv/dtノイズが発生した場合、すなわち電位V1,V2が共にLになるとき、2つの出力をともに高インピーダンスにしてフリップフロップFFに影響を与えないようにする回路である。すなわち、電位V1,V2が共にLであると、インバータINV5,INV6のイネーブル端子ENへの入力が共にLとなるので、伝達回路20Aの出力端子であるインバータINV5,INV6の出力は共に高インピーダンスになる。この場合、フリップフロップFFのセット端子Sおよびリセット入力端子Rにはプルダウン抵抗R4,R5の機能によりLが入力され、フリップフロップFFは以前の状態を保持して、dv/dtノイズによる影響を免れることができる。
入力信号PON,POFFの一方がHで他方がLのときは、インバータINV5,INV6のうち入力Hを伝達するインバータがイネーブル(Enable)状態となってフリップフロップFFにHを入力し、入力Lを伝達するインバータの出力は高インピーダンスとなる。高インピーダンスとなったインバータの出力はプルダウン抵抗によりLに確定されて、このLがフリップフロップFFに入力される。
入力信号PON,POFFの両方がLのときは、インバータINV5,INV6が共にイネーブル状態となり、フリップフロップFFのセット端子Sおよびリセット端子RにLを入力する。
上記のように、本実施例においては、dv/dtノイズが発生すると伝達回路20Aの出力を高インピーダンスにし、プルダウン抵抗によりフリップフロップFFにLを入力することでdv/dtノイズの影響を除去している。これ以外の場合は、入力信号PON,POFFの値をそのままフリップフロップFFに伝達して、フリップフロップFFの状態を変更または保持させる。また、伝達回路20Aのイネーブル端子EN付きインバータは、入力端子INへの入力信号を反転させる通常のインバータを構成するPチャネルMOSトランジスタMP3およびNチャネルMOSトランジスタMN5のゲートと、PチャネルMOSトランジスタMP3およびNチャネルMOSトランジスタMN5からなるインバータの出力を高インピーダンスにするためのNチャネルMOSトランジスタMN6のゲートの3つのゲートに、電位V1,V2が同時に印加されるので、一部回路にわざと遅延を持たせる必要がなく、最小の遅延時間でdv/dtノイズによる誤信号をブロックすることができる。
なお、フリップフロップFFが入力信号がLのときにセットもしくはリセットされるタイプのフリップフロップであるときは、抵抗R4,R5をプルアップ抵抗とすればよい。
10,10A,110,110A 高電位側駆動回路
20,20A 伝達回路
30 ラッチ回路
100 出力回路
120 低電位側駆動回路
200 保護回路
DRVH,DRVL 駆動素子
E1,E2,Ein 電源
FF フリップフロップ
INV1〜INV4 インバータ(反転素子)
INV5,INV6 イネーブル端子付きインバータ
R1〜R5 抵抗
RL 負荷
MN1〜MN6 NチャネルMOSトランジスタ
MP1〜MP3 PチャネルMOSトランジスタ
ON,POFF レベルシフト回路への入力信号
SWH,SWL スイッチング素子

Claims (6)

  1. 1次側の電位系からの入力信号を、前記1次側の電位系とは異なる2次側電位系で動作する系に伝達するレベルシフト回路であって、
    前記2次側電位系の高電位側電源電位と前記1次側電位系の低電位側電源電位との間に直列に接続された第1の抵抗および第1のスイッチ素子からなる第1の直列回路と、前記2次側電位系の高電位側電源電位と前記1次側電位系の低電位側電源電位との間に直列に接続された第2の抵抗および第2のスイッチ素子からなる第2の直列回路と、前記2次側電位系で動作し、前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点および前記第2の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が入力端子に接続される伝達回路と、前記2次側電位系で動作し前記伝達回路の出力が入力される記憶素子と、を有し、
    前記第1および第2のスイッチ素子には、前記第1および第2のスイッチ素子のオンオフを制御する前記1次側の電位系の信号が入力され、前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点の電位および前記第2の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点の電位が前記第1および第2のスイッチが同時にオンするときと同等の状態になったとき、前記伝達回路の出力を高インピーダンスとすることを特徴とするレベルシフト回路。
  2. 前記伝達回路は、反転素子と、第1および第2のPチャネルMOSトランジスタが直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタ直列回路と、第1および第2のNチャネルMOSトランジスタが直列に接続されたNチャネルMOSトランジスタ直列回路と、を有し、
    前記PチャネルMOSトランジスタ直列回路と前記NチャネルMOSトランジスタ直列回路は前記2次側電位系の高電位側電源電位と低電位側電源電位の間に直列に接続されていて、
    前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が前記第1のPチャネルMOSトランジスタおよび第1のNチャネルMOSトランジスタのゲートに接続され、
    前記第2の直列回路の前記第2の抵抗および第2のスイッチ素子の接続点が前記反転素子の入力端子に接続され、
    前記反転素子の出力端子が前記第2のPチャネルMOSトランジスタおよび第2のNチャネルMOSトランジスタのゲートに接続され、
    前記PチャネルMOSトランジスタ直列回路と前記NチャネルMOSトランジスタ直列回路の接続点が前記記憶素子のデータ入力端子に接続されていることを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト回路。
  3. 前記記憶素子は、入出力間に抵抗が接続されたバッファ回路からなることを特徴とする請求項2に記載のレベルシフト回路。
  4. 前記バッファ回路は直列に接続された2つの反転素子からなることを特徴とする請求項3に記載のレベルシフト回路。
  5. 前記伝達回路は、イネーブル端子を有する第1および第2の反転素子を有し、
    前記記憶素子はそれぞれ第3および第4の抵抗の一端がそれぞれ接続されたセット端子およびリセット端子を有し、
    前記第3の抵抗の他端は、前記セット端子へのセット入力とはならない側の電源電位に接続され、
    前記第4の抵抗の他端は、前記リセット端子へのリセット入力とはならない側の電源電位に接続され、
    前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が前記第1の反転素子の入力端子および前記第2の反転素子のイネーブル端子に接続され、
    前記第2の直列回路の前記第2の抵抗および第2のスイッチ素子の接続点が前記第2の反転素子の入力端子および前記第1の反転素子のイネーブル端子に接続され、
    前記第1の反転素子の出力端子が前記記憶素子のセット端子に接続され、
    前記第2の反転素子の出力端子が前記記憶素子のリセット端子に接続されていることを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト回路。
  6. 前記2次側電位系で動作する系に伝達する1次側の電位系からの入力信号のローからハイへの電位変化時に微少時間だけ前記第1のスイッチ素子をオンし、前記入力信号のハイからローへの電位変化時に微少時間だけ前記第2のスイッチ素子をオンすることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載のレベルシフト回路。
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