JP5326927B2 - レベルシフト回路 - Google Patents
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Description
ここで、スイッチング素子SWLがオンの状態からスイッチング素子SWHがオンの状態に切り替わるときについて考える。このとき接続点Vswの電位Vswは、接地電位から高電圧のEinに急激に切り替わる。実際のハーフブリッジ回路では、接続点Vswと抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の接続点および抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の接続点の間には、それぞれ寄生容量Cp11およびCp21が存在する。また、抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の接続点および抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の接続点と接地電位との間にも、それぞれ寄生容量Cp12およびCp22が存在する。接続点Vswの電位Vswが接地電位から高電圧のEinに切り替わると、この変化をCp11とCp12およびCP21とCp22で分圧した電圧が、それぞれ抵抗R1とNチャネルMOSトランジスタMN1の接続点および抵抗R2とNチャネルMOSトランジスタMN2の接続点に印加される。これにより抵抗R1,R2の両端に電位差が生じる。すなわち、インバータINV1,INV2にLの誤信号が入力されてしまい、これによりフリップフロップにセット入力とリセット入力が同時に入力されることになり、その結果、フリップフロップの出力が不定となり、スイッチング素子SWHのオンオフも不定となることがある、という問題が生じる。
請求項4に係る発明は、請求項3に係る発明において、前記バッファ回路は直列に接続された2つの反転素子からなることを特徴とする。
図1に示すハーフブリッジ回路は、高電位側駆動回路10のレベルシフト回路が、保護回路200ではなく伝達回路20を設け、記憶素子としてセット・リセット入力端子を有するフリップフロップFFに替えてラッチ回路30を設けたことが、図6のハーフブリッジ回路に対する主たる相違点となっている。
図2に示すハーフブリッジ回路は、高電位側駆動回路10AがインバータINV1,INV2を用いず、保護回路200に替えて伝達回路20Aを設け、伝達回路20Aの出力にプルダウン抵抗R4,R5を接続してフリップフロップFFへの入力としたことが、図6のハーフブリッジ回路に対する相違点となっている。
20,20A 伝達回路
30 ラッチ回路
100 出力回路
120 低電位側駆動回路
200 保護回路
DRVH,DRVL 駆動素子
E1,E2,Ein 電源
FF フリップフロップ
INV1〜INV4 インバータ(反転素子)
INV5,INV6 イネーブル端子付きインバータ
R1〜R5 抵抗
RL 負荷
MN1〜MN6 NチャネルMOSトランジスタ
MP1〜MP3 PチャネルMOSトランジスタ
PON,POFF レベルシフト回路への入力信号
SWH,SWL スイッチング素子
Claims (6)
- 1次側の電位系からの入力信号を、前記1次側の電位系とは異なる2次側電位系で動作する系に伝達するレベルシフト回路であって、
前記2次側電位系の高電位側電源電位と前記1次側電位系の低電位側電源電位との間に直列に接続された第1の抵抗および第1のスイッチ素子からなる第1の直列回路と、前記2次側電位系の高電位側電源電位と前記1次側電位系の低電位側電源電位との間に直列に接続された第2の抵抗および第2のスイッチ素子からなる第2の直列回路と、前記2次側電位系で動作し、前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点および前記第2の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が入力端子に接続される伝達回路と、前記2次側電位系で動作し前記伝達回路の出力が入力される記憶素子と、を有し、
前記第1および第2のスイッチ素子には、前記第1および第2のスイッチ素子のオンオフを制御する前記1次側の電位系の信号が入力され、前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点の電位および前記第2の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点の電位が前記第1および第2のスイッチが同時にオンするときと同等の状態になったとき、前記伝達回路の出力を高インピーダンスとすることを特徴とするレベルシフト回路。 - 前記伝達回路は、反転素子と、第1および第2のPチャネルMOSトランジスタが直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタ直列回路と、第1および第2のNチャネルMOSトランジスタが直列に接続されたNチャネルMOSトランジスタ直列回路と、を有し、
前記PチャネルMOSトランジスタ直列回路と前記NチャネルMOSトランジスタ直列回路は前記2次側電位系の高電位側電源電位と低電位側電源電位の間に直列に接続されていて、
前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が前記第1のPチャネルMOSトランジスタおよび第1のNチャネルMOSトランジスタのゲートに接続され、
前記第2の直列回路の前記第2の抵抗および第2のスイッチ素子の接続点が前記反転素子の入力端子に接続され、
前記反転素子の出力端子が前記第2のPチャネルMOSトランジスタおよび第2のNチャネルMOSトランジスタのゲートに接続され、
前記PチャネルMOSトランジスタ直列回路と前記NチャネルMOSトランジスタ直列回路の接続点が前記記憶素子のデータ入力端子に接続されていることを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト回路。 - 前記記憶素子は、入出力間に抵抗が接続されたバッファ回路からなることを特徴とする請求項2に記載のレベルシフト回路。
- 前記バッファ回路は直列に接続された2つの反転素子からなることを特徴とする請求項3に記載のレベルシフト回路。
- 前記伝達回路は、イネーブル端子を有する第1および第2の反転素子を有し、
前記記憶素子はそれぞれ第3および第4の抵抗の一端がそれぞれ接続されたセット端子およびリセット端子を有し、
前記第3の抵抗の他端は、前記セット端子へのセット入力とはならない側の電源電位に接続され、
前記第4の抵抗の他端は、前記リセット端子へのリセット入力とはならない側の電源電位に接続され、
前記第1の直列回路の前記第1の抵抗および第1のスイッチ素子の接続点が前記第1の反転素子の入力端子および前記第2の反転素子のイネーブル端子に接続され、
前記第2の直列回路の前記第2の抵抗および第2のスイッチ素子の接続点が前記第2の反転素子の入力端子および前記第1の反転素子のイネーブル端子に接続され、
前記第1の反転素子の出力端子が前記記憶素子のセット端子に接続され、
前記第2の反転素子の出力端子が前記記憶素子のリセット端子に接続されていることを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト回路。 - 前記2次側電位系で動作する系に伝達する1次側の電位系からの入力信号のローからハイへの電位変化時に微少時間だけ前記第1のスイッチ素子をオンし、前記入力信号のハイからローへの電位変化時に微少時間だけ前記第2のスイッチ素子をオンすることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載のレベルシフト回路。
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