JP5276832B2 - ソルダーレジスト膜形成方法および感光性組成物 - Google Patents

ソルダーレジスト膜形成方法および感光性組成物 Download PDF

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Description

感光性組成物を基材に塗布して乾燥させた後に、この乾燥塗膜にレーザー光を照射した後、アルカリ水溶液により現像して形成するソルダーレジスト膜の形成方法、並びに本方法に用いる感光性組成物および該組成物をキャリアフィルム上に塗布した後に乾燥して得られるドライフィルムに関する。
プリント配線板の最外層にはソルダーレジスト膜という永久保護膜が設けられている。このソルダーレジストを形成するために、微細なパターンを正確に形成できるフォトレジスト法が広く採用されている。中でも、環境面の配慮等から、アルカリ現像型のフォトレジスト法が主流となっている。
フォトレジスト法の1つの手法としては、紫外線を発するランプからの光を用いる一括露光法が広く知られている(特許文献1)。この一括露光法は、基材に感光性組成物を塗布し乾燥させた後に、紫外線を発するランプからの光をフォトマスクを介してこの乾燥塗膜に全面露光するために、非常に短時間でパターン潜像を形成することができる。しかしながら、この一括露光法は、フォトマスクの基材に対する位置合わせが必要であり、この位置合わせには時間がかかる。さらに、基材は、その回路形成時の熱履歴により寸法が変化し、設計値からのずれを生じやすい。これに対して、フォトマスクは上記のような寸法変化を生じないために、この基材のずれに対応した位置の補正をすることができない。微細なパターンになるほど、ずれの影響を大きく受け、正確なパターン潜像形成が困難になる。正確なパターン潜像を形成するためには、各基材の回路形成後の寸法をそれぞれ測定し、これに対応するフォトマスクを基材ごとに作製する必要があり非常に煩雑である。
これに対して、レーザー光を用いる直接描画(直描)法は、コンピュータからのデータに基づき、レーザー光源からの単一波長の光を用いて、乾燥ソルダーレジスト塗膜に直接パターン潜像を描画する(特許文献2)。この直描法は、上述したような基材の寸法の設計値からのずれに対しては、回路形成後の基材の寸法を測定し、設計値からのずれをコンピュータにて補正して、所望の正確なパターン潜像を形成することができる。従って、直描法は、一括露光法と比較して、微細なパターン潜像を、より正確且つ容易に形成することができる。
特開平01−141904号 国際公開WO02/096969号
しかしながら、直描法は、基材上でレーザー光をスキャンしてパターン潜像を描くために、1枚の基材上にパターン潜像を形成するための時間は、一括露光法と比較してより長くなり、生産性も劣る傾向にある。従って、生産性を高めるために、高速の直描に用いることができる高感度の感光性組成物が求められている。感光性組成物の感度が低いと、高速の直描、すなわち短時間の紫外光の照射でパターン潜像を十分に形成することができない。一般的な紫外線硬化型の感光性組成物は、200mJ〜600mJの感度を有し、この感度範囲は、直描法で厚膜の乾燥ソルダーレジスト塗膜を露光し十分に硬化させるには低い。
また、レーザー直描法では、単一波長を用いるが、一般的に、より短波長のレーザー光を用いると、光線のエネルギーが高いために、硬化を迅速に進めることができるという利点を有する一方で、深部にまで光が透過しにくい傾向があるために、ソルダーレジスト膜の硬化深度が下がる傾向がある。より長波長のレーザー光を用いると、感光性組成物の乾燥塗膜の深部にまで光が届き、硬化深度が高まるという利点を有する一方で、光線のエネルギーが低いため効率が悪く硬化に時間がかかり、さらにこの間、塗膜表面は酸素による硬化阻害を受けやすいために、十分な表面硬化が得られないという傾向がある。
従って、本発明の目的は、より短波長のレーザー光とより長波長のレーザー光のそれぞれの利点を生かしながら、それぞれの欠点を補い合って、感光性組成物から形成される塗膜を、表面から深部に至るまで十分に硬化させることのできるソルダーレジスト膜の形成方法、および該方法に好適に使用することができる高感度の感光性組成物を提供することにある。
本発明の第1の側面によれば、感光性組成物を基材に塗布して乾燥させた後に、この乾燥塗膜に第1のレーザー光および前記第1のレーザー光と波長の異なる第2のレーザー光を照射して、前記第1のレーザー光と第2のレーザー光の双方が照射されたパターン潜像を形成した後、アルカリ水溶液により現像することを特徴とするソルダーレジスト膜の形成方法を提供する。
また、本発明の他の側面によれば、第1の側面によるソルダーレジスト膜の形成方法に用いる感光性組成物であって、その露光前の乾燥塗膜が厚さ25μmあたり、355〜380nmの波長範囲において0.6〜1.2の吸光度を示し、且つ405nmの波長において0.3〜0.6の吸光度を示すことを特徴とする感光性組成物を提供する。
さらに本発明の他の側面によれば、キャリアフィルム上に、上記した感光性組成物を塗布した後に乾燥して得られるドライフィルムを提供する。
本発明のソルダーレジスト膜の形成方法は、波長の異なる2種類のレーザー光を用いることにより、感光性組成物の乾燥塗膜を十分に硬化させることができ、この乾燥塗膜にパターン潜像を正確に形成することができる。また、本発明により提供される感光性組成物は、高感度であり、このソルダーレジスト膜の形成方法に好適に用いることができる。
以下、本発明をさらに詳しく説明する。
本発明のソルダーレジスト膜の形成方法は、感光性組成物を基材に塗布して乾燥させた後に、この乾燥塗膜に第1のレーザー光および前記第1のレーザー光と波長の異なる第2のレーザー光を照射して、前記第1のレーザー光と第2のレーザー光の双方が照射されたパターン潜像を形成した後、アルカリ水溶液により現像する。感光性組成物の乾燥塗膜に、第1のレーザー光および第1のレーザー光と波長の異なる第2のレーザー光を照射することにより、両レーザー光が照射された乾燥塗膜部分は十分に硬化し、パターン潜像(両レーザー光が照射された部分)を正確に形成することができる。2つの波長の異なるレーザー光の照射においては、どちらのレーザー光を先に照射してもよく、順序は問わない。また、2つの波長の異なるレーザー光を同時に照射してもよい。
本発明のソルダーレジスト膜の形成方法に用いる第1のレーザー光と第2のレーザー光は、半導体レーザー光および固体レーザー光を用いることができる。特に、第1のレーザー光または第2のレーザー光の一方が、青紫レーザー光(例えば405nm)であることが好ましい。他方のレーザー光は、通常、紫外レーザー光である。この第1のレーザー光と第2のレーザー光の光源は、1台のレーザー照射装置内に設けられていてもよい。
上記した本発明のソルダーレジスト膜の形成方法には、露光前の乾燥塗膜が厚さ25μmあたり、355〜380nmの波長範囲において0.6〜1.2の吸光度を示し、且つ405nmの波長において0.3〜0.6の吸光度を示す本発明の感光性組成物を好適に用いることができる。詳らかには、露光前の乾燥塗膜が短波長側の355〜380nmの波長範囲において0.6〜1.2の吸光度を示すことにより、入射する光を乾燥塗膜の表層部で大きく吸収し、表面を硬化させるとともに、長波長側の405nmの波長において0.3〜0.6の吸光度を示すことにより、乾燥塗膜の底部にまで光を透過させ、十分な硬化深度を得ることによって、高感度を実現している。
ここで、本発明において「露光前の乾燥塗膜が厚さ25μmあたり、355〜380nmの波長範囲において0.6〜1.2の吸光度を示し、且つ405nmの波長において0.3〜0.6の吸光度を示す」とは、後掲の実施例において詳述するが、感光性組成物ペーストを塗布・乾燥して得られる乾燥塗膜について4つの異なる厚さと、各乾燥塗膜の厚さにおける波長355〜380nmにおける吸光度のグラフを作成し、その近似式から膜厚25μmの乾燥塗膜の吸光度を算出して得られる吸光度が0.6〜1.2の範囲にあり、且つ感光性組成物ペーストを塗布・乾燥して得られる乾燥塗膜について4つの異なる厚さと、各乾燥塗膜の厚さにおける波長405nmにおける吸光度のグラフを作成し、その近似式から膜厚25μmの乾燥塗膜の吸光度を算出して得られる吸光度が0.3〜0.6の範囲にあることを意味する。
また、本発明において「露光前の乾燥塗膜の厚さ25μmあたり、355〜380nmの波長範囲における最大吸光度と405nmの波長における吸光度の差が、0.3以上0.6未満である」とは、後掲の実施例において詳述するが、感光性組成物ペーストを塗布・乾燥して得られる乾燥塗膜について4つの異なる厚さと、各乾燥塗膜の厚さにおける波長355〜380nmにおける吸光度のグラフを作成し、その近似式から膜厚25μmの乾燥塗膜の吸光度を算出して得られる最大吸光度と、感光性組成物ペーストを塗布・乾燥して得られる乾燥塗膜について4つ異なる厚さと、各乾燥塗膜の厚さにおける波長405nmにおける吸光度のグラフを作成し、その近似式から膜厚25μmの乾燥塗膜の吸光度を算出して得られる吸光度の差が0.3以上0.6未満であることを意味する。
また、本発明において「露光前の乾燥塗膜が25μmあたり、355nmの波長において0.6〜1.0の吸光度を示し、および405nmの波長において0.3〜0.5の吸光度を示し、且つ355nmの波長における吸光度と405nmの波長における吸光度の差が0.3以上0.5未満である」とは、後掲の実施例において詳述するが、感光性組成物ペーストを塗布・乾燥して得られる乾燥塗膜について4つの異なる厚さと、各乾燥塗膜の厚さにおける波長355nmにおける吸光度のグラフを作成し、その近似式から膜厚25μmの乾燥塗膜の吸光度を算出して得られる吸光度が0.6〜1.0の範囲にあり、および感光性組成物ペーストを塗布・乾燥して得られる乾燥塗膜について4つの異なる厚さと、各乾燥塗膜の厚さにおける波長405nmにおける吸光度のグラフを作成し、その近似式から膜厚25μmの乾燥塗膜の吸光度を算出して得られる吸光度が0.3〜0.5の範囲にあり、且つ上記と同様にして得られた波長355nmと405nmにおける膜厚25μmの乾燥塗膜の吸光度を算出して得られる吸光度の差が0.3以上0.5未満であることを意味する。
本発明の感光性組成物の、露光前のその乾燥塗膜が355〜380nmの波長範囲において0.6未満の吸光度を示す場合には、表層部での光の吸収が不十分であり、表面硬化が不十分である傾向がある。1.2を超える吸光度を示す場合には、表面硬化が過剰に進み、底部への光の透過を阻む傾向があるため好ましくない。また、露光前の乾燥塗膜が405nmの波長において0.3未満の吸光度を示す場合には、乾燥塗膜に吸収されない光が、例えば、基板上の銅箔に当たって反射し、ソルダーレジスト形状が変化する傾向を有するために好ましくない。また、0.6を超える吸光度を示す場合には、乾燥塗膜の底部にまで十分に光を透過させることができない傾向があり好ましくない。
また、本発明の感光性組成物は、露光前のその乾燥塗膜の厚さ25μmあたり、355〜380nmの波長範囲における最大吸光度と405nmの波長における吸光度の差が、0.3以上0.6未満であることが好ましい。吸光度の差がこの範囲にあることにより、上記した表面硬化および硬化深度を効果的に得ることができ、本発明の感光性組成物をより高感度のものとすることができる。この吸光度の差が0.3未満であると、十分な表面硬化と硬化深度を得るために、より長い露光時間が必要となる傾向がある。また、0.6を超えると、十分な表面硬化と硬化深度を同時に得ることが困難となる傾向があり好ましくない。
さらに本発明の感光性組成物は、露光前のその乾燥塗膜が25μmあたり、355nmの波長において0.6〜1.0の吸光度を示し、および405nmの波長において0.3〜0.5の吸光度を示し、且つ355nmの波長における吸光度と405nmの波長における吸光度の差が0.3以上0.5未満であることが好ましい。
本発明の感光性組成物としては、(A)カルボン酸含有樹脂、(B)光重合開始剤、および(C)顔料を含むものを用いることができる。
カルボン酸含有樹脂(A)としては、分子中にカルボキシル基を含有する公知慣用の樹脂化合物が使用できる。更に分子中にエチレン性不飽和二重結合を有するカルボン酸含有感光性樹脂が、光硬化性や耐現像性の面からより好ましい。
具体的には、下記に列挙するような樹脂が挙げられる。
(1)(メタ)アクリル酸などの不飽和カルボン酸と、それ以外の不飽和二重結合を有する化合物の1種類以上とを共重合することにより得られるカルボン酸含有樹脂、
(2)(メタ)アクリル酸などの不飽和カルボン酸と、それ以外の不飽和二重結合を有する化合物の1種類以上との共重合体に、グリシジル(メタ)アクリレートや3,4−エポキシシクロヘキシルメチル(メタ)アクリレートなどのエポキシ基と不飽和二重結合を有する化合物や(メタ)アクリル酸クロライドを反応させることによって、エチレン性不飽和基をペンダントとして付加させることによって得られるカルボン酸含有感光性樹脂、
(3)グリシジル(メタ)アクリレートや3,4−エポキシシクロヘキシルメチル(メタ)アクリレート等のエポキシ基と不飽和二重結合を有する化合物と、それ以外の不飽和二重結合を有する化合物との共重合体に、(メタ)アクリル酸などの不飽和カルボン酸を反応させ、生成した二級の水酸基に多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボン酸含有感光性樹脂、
(4)無水マレイン酸などの不飽和二重結合を有する酸無水物と、それ以外の不飽和二重結合を有する化合物との共重合体に、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートなどの水酸基と不飽和二重結合を有する化合物を反応させて得られるカルボン酸含有感光性樹脂、
(5)多官能エポキシ化合物と(メタ)アクリル酸などの不飽和モノカルボン酸を反応させ、生成した水酸基に飽和又は不飽和多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボン酸含有感光性樹脂、
(6)ポリビニルアルコール誘導体などの水酸基含有ポリマーに、飽和又は不飽和多塩基酸無水物を反応させた後、生成したカルボン酸に一分子中にエポキシ基と不飽和二重結合を有する化合物を反応させて得られる水酸基含有のカルボン酸含有感光性樹脂、
(7)多官能エポキシ化合物と、(メタ)アクリル酸などの不飽和モノカルボン酸と、一分子中に少なくとも1個のアルコール性水酸基と、エポキシ基と反応するアルコール性水酸基以外の1個の反応性基を有する化合物(例えば、ジメチロールプロピオン酸など)との反応生成物に、飽和又は不飽和多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボン酸含有感光性樹脂、
(8)一分子中に少なくとも2個のオキセタン環を有する多官能オキセタン化合物に(メタ)アクリル酸などの不飽和モノカルボン酸を反応させ、得られた変性オキセタン樹脂中の第一級水酸基に対して飽和又は不飽和多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボン酸含有感光性樹脂、及び
(9)多官能エポキシ樹脂(例えば、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂など)に不飽和モノカルボン酸(例えば、(メタ)アクリル酸など)を反応させた後、多塩基酸無水物(例えば、テトラヒドロフタル酸無水物など)を反応させて得られるカルボン酸含有感光性樹脂に、更に、分子中に1個のオキシラン環と1個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物(例えば、グリシジル(メタ)アクリレートなど)を反応させて得られるカルボン酸含有感光性樹脂などが挙げられるが、これらに限定されるものでは無い。
これらの樹脂の中で好ましいものは、上記(2)、(5)、(7)、(9)のカルボン酸含有感光性樹脂であり、特に上記(9)のカルボン酸含有感光性樹脂が、光硬化性、硬化塗膜特性の面から好ましい。
なお、本明細書中において、(メタ)アクリレートとは、アクリレートおよびメタアクリレートを総称する用語であり、他の類似の表現についても同様である。これらのアクリレート化合物およびメタアクリレート化合物は、単独で用いても、2種以上を混合して用いてもよい。
上記のようなカルボン酸含有樹脂(A)は、バックボーン・ポリマーの側鎖にカルボキシル基を有するため、アルカリ水溶液による現像が可能になる。
また、上記カルボン酸含有樹脂(A)の酸価は、好ましくは40〜200mgKOH/gの範囲にあり、より好ましくは45〜120mgKOH/gの範囲にある。カルボン酸含有樹脂の酸価が40mgKOH/g未満であるとアルカリ現像が困難となり好ましくない。一方、200mgKOH/gを超えると現像液による露光部の溶解が進むために、必要以上にラインが痩せたり、場合によっては、露光部と未露光部の区別なく現像液で溶解剥離してしまい、正常なソルダーレジストパターンの描画が困難となるので好ましくない。
また、上記カルボン酸含有樹脂(A)の重量平均分子量は、樹脂骨格により異なるが、一般的に2,000〜150,000、さらには5,000〜100,000の範囲にあるものが好ましい。重量平均分子量が2,000未満であると、タックフリー性能が劣ることがあり、露光後の塗膜の耐湿性が悪く現像時に膜減りが生じ、解像度が大きく劣ることがある。一方、重量平均分子量が150,000を超えると、現像性が著しく悪くなることがあり、貯蔵安定性が劣ることがある。
このようなカルボン酸含有樹脂(A)の配合量は、本発明の感光性組成物の全質量に基づいて、20〜60質量%、好ましくは30〜50質量%の範囲から選ぶことができる。20質量%未満の場合、塗膜強度が低下する傾向があるので好ましくない。一方、60質量%を超えると、粘性が高くなったり、塗布性等が低下するので好ましくない。
光重合開始剤(B)としては、下記一般式(I)で表される基を有するオキシムエステル系光重合開始剤、下記一般式(II)で表される基を有するα−アミノアセトフェノン系光重合開始剤、またはおよび下記式(III)で表される基を有するアシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤からなる群から選択される1種以上の光重合開始剤を使用することが好ましい
Figure 0005276832
(式中、
は、水素原子、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基、若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表し、
は、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表し、
およびRは、それぞれ独立に、炭素数1〜12のアルキル基またはアリールアルキル基を表し、
およびRは、それぞれ独立に、水素原子、炭素数1〜6のアルキル基、または2つが結合した環状アルキルエーテル基を表し、
およびRは、それぞれ独立に、炭素数1〜10の直鎖状または分岐状のアルキル基、シクロヘキシル基、シクロペンチル基、アリール基、またはハロゲン原子、アルキル基若しくはアルコキシ基で置換されたアリール基を表し、但し、RおよびRの一方は、R−C(=O)−基(ここでRは、炭素数1〜20の炭化水素基)を表してもよい)。
前記一般式(I)で表される基を有するオキシムエステル系光重合開始剤としては、好ましくは、下記式(IV)で表される2−(アセチルオキシイミノメチル)チオキサンテン−9−オン、
Figure 0005276832
下記一般式(V)で表される化合物
Figure 0005276832
(式中、
は、水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜12のアルキル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、フェニル基、ベンジル基、ベンゾイル基、炭素数2〜12のアルカノイル基、炭素数2〜12のアルコキシカルボニル基(アルコキシル基を構成するアルキル基の炭素数が2以上の場合、アルキル基は1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、またはフェノキシカルボニル基を表し、
10、R12は、それぞれ独立に、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表し、
11は、水素原子、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表す)、並びに
下記一般式(VI)で表される化合物
Figure 0005276832
(式中、
13およびR14は、それぞれ独立に、炭素数1〜12のアルキル基を表し、
15、R16、R17、R18およびR19は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜6のアルキル基を表し、および
MはO、SまたはNHを表し、並びに
mおよびnは0〜5の整数を表す)
が挙げられる。中でも、下記式(IV)で表される2−(アセチルオキシイミノメチル)チオキサンテン−9−オン、および式(V)で表される化合物がより好ましい。市販品としては、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のCGI−325、イルガキュアー OXE01、イルガキュアー OXE02等が挙げられる。これらのオキシムエステル系光重合開始剤は、単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
前記一般式(II)で表される基を有するα−アミノアセトフェノン系光重合開始剤としては、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルホリノプロパノン−1、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタン−1−オン、2−(ジメチルアミノ)−2−[(4−メチルフェニル)メチル]−1−[4−(4−モルホリニル)フェニル]−1−ブタノン、N,N−ジメチルアミノアセトフェノンなどが挙げられる。市販品としては、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のイルガキュアー907、イルガキュアー369、イルガキュアー379などが挙げられる。
前記一般式(III)で表される基を有するアシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤としては、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキサイド、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルホスフィンオキサイド、ビス(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチル−ペンチルホスフィンオキサイドなどが挙げられる。市販品としては、BASF社製のルシリンTPO、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のイルガキュアー819などが挙げられる。
このような光重合重合開始剤(B)の配合量は、前記カルボン酸含有樹脂(A)100質量部に対して、0.01〜30質量部、好ましくは0.5〜15質量部の範囲から選ぶことができる。0.01質量部未満であると、銅上での光硬化性が不足し、塗膜が剥離したり、耐薬品性等の塗膜特性が低下するので好ましくない。一方、30質量部を超えると、光重合開始剤(B)のソルダーレジスト塗膜表面での光吸収が激しくなり、深部硬化性が低下する傾向があるために好ましくない。
なお、前記式(I)で表される基を有するオキシムエステル系光重合開始剤の場合、その配合量は、前記カルボン酸含有樹脂(A)100質量部に対して、好ましくは0.01〜20質量部、より好ましくは0.01〜5質量部の範囲から選ぶことが望ましい。このようなオキシムエステル系光重合開始剤(I)は、銅箔との界面で銅原子と反応し、光重合開始剤としての機能が失活する場合があるため、α−アミノアセトフェノン系光重合開始剤(II)などと併用することが好ましい。
本発明の感光性組成物に含まれる顔料(C)として、フタロシアニンブルー系顔料が含有されることが好ましい。405nmの単一波長の光(レーザー光)に対してフタロシアニンブルー系顔料を添加したものの方が、より低露光量で表面硬化性が得られることが本発明者等により見出された。このフタロシアニンブルー系顔料の増感効果の理由は、明らかでないが、例えば膜厚25μm当たりの吸光度が0.3未満の感光性組成物に、フタロシアニンブルーを添加し、吸光度を0.3以上にするだけで十分な表面硬化性と硬化深度が同時に低露光量で得られる。また、この増感効果は、表面の反応性(光沢改善)に効果があり、硬化深度は逆に悪くなる。すなわち、露光した光を反射するような働きをする。この働きはソルダーレジストの形状の安定化にも有効である。フタロシアニンブルー系顔料としては、α型銅フタロシアニンブルー、α型モノクロル銅フタロシアニンブルー、β型銅フタロシアニンブルー、ε型銅フタロシアニンブルー、コバルトフタロシアニンブルー、メタルフリーフタロシアニンブルーなどが挙げられる
このような顔料(C)の適正な添加量は、感光性組成物の乾燥塗膜の405nmの波長における吸光度が、25μmあたり0.3〜0.6となる範囲であれば任意に添加することができ、例えば、カルボン酸含有樹脂(A)100質量部に対して0.01〜5質量部の範囲である。
他に本発明の感光性組成物に好適に用いることができる光重合開始剤、光開始助剤および増感剤としては、ベンゾイン化合物、アセトフェノン化合物、アントラキノン化合物、チオキサントン化合物、ケタール化合物、ベンゾフェノン化合物、キサントン化合物、および3級アミン化合物等を挙げることができる。
ベンゾイン化合物の具体例を挙げると、例えば、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテルである。
アセトフェノン化合物の具体例を挙げると、例えば、アセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシ−2−フェニルアセトフェノン、1,1−ジクロロアセトフェノンである。
アントラキノン化合物の具体例を挙げると、例えば、2−メチルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−t−ブチルアントラキノン、1−クロロアントラキノンである。
チオキサントン化合物の具体例を挙げると、例えば、2,4−ジメチルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、2,4−ジイソプロピルチオキサントンである。
ケタール化合物の具体例を挙げると、例えば、アセトフェノンジメチルケタール、ベンジルジメチルケタールである。
ベンゾフェノン化合物の具体例を挙げると、例えば、ベンゾフェノン、4−ベンゾイルジフェニルスルフィド、4−ベンゾイル−4’−メチルジフェニルスルフィド、4−ベンゾイル−4’−エチルジフェニルスルフィド、4−ベンゾイル−4’−プロピルジフェニルスルフィドである。
3級アミン化合物の具体例を挙げると、例えば、エタノールアミン化合物、ジアルキルアミノベンゼン構造を有する化合物、例えば、4,4’−ジメチルアミノベンゾフェノン(日本曹達社製ニッソキュアーMABP)、4,4’−ジエチルアミノベンゾフェノン(保土ヶ谷化学社製EAB)などのジアルキルアミノベンゾフェノン、7−(ジエチルアミノ)−4−メチル−2H−1−ベンゾピラン−2−オン(7−(ジエチルアミノ)−4−メチルクマリン)等のジアルキルアミノ基含有クマリン化合物、4−ジメチルアミノ安息香酸エチル(日本化薬社製カヤキュアーEPA)、2−ジメチルアミノ安息香酸エチル(インターナショナルバイオ−シンセエティックス社製Quantacure DMB)、4−ジメチルアミノ安息香酸(n−ブトキシ)エチル(インターナショナルバイオ−シンセエティックス社製Quantacure BEA)、p−ジメチルアミノ安息香酸イソアミルエチルエステル(日本化薬社製カヤキュアーDMBI)、4−ジメチルアミノ安息香酸2−エチルヘキシル(Van Dyk社製Esolol 507)、4,4’−ジエチルアミノベンゾフェノン(保土ヶ谷化学社製EAB)である。
上記した中でも、チオキサントン化合物および3級アミン化合物が好ましい。本発明の組成物には、チオキサントン化合物が含まれることが深部硬化性の面から好ましく、中でも、2,4−ジメチルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、2,4−ジイソプロピルチオキサントン等のチオキサントン化合物が好ましい。
このようなチオキサントン化合物の配合量としては、上記カルボン酸含有樹脂(A)100質量部に対して、好ましくは20質量部以下、より好ましくは10質量部以下の割合である。チオキサントン化合物の配合量が多すぎると、厚膜硬化性が低下して、製品のコストアップに繋がるので、好ましくない。
3級アミン化合物としては、ジアルキルアミノベンゼン構造を有する化合物が好ましく、中でも、ジアルキルアミノベンゾフェノン化合物、最大吸収波長が350〜410nmにあるジアルキルアミノ基含有クマリン化合物が特に好ましい。ジアルキルアミノベンゾフェノン化合物としては、4,4’−ジエチルアミノベンゾフェノンが、毒性も低く好ましい。最大吸収波長が350〜410nmにあるジアルキルアミノ基含有クマリン化合物は、最大吸収波長が紫外線領域にあるため、着色が少なく、無色透明なソルダー感光性組成物はもとより、着色顔料を用い、着色顔料自体の色を反映した着色ソルダーレジストを提供することが可能となる。特に、7−(ジエチルアミノ)−4−メチル−2H−1−ベンゾピラン−2−オンが波長400〜410nmのレーザー光に対して優れた増感効果を示すことから好ましい。
このような3級アミン化合物の配合量としては、上記カルボン酸含有樹脂(A)100質量部に対して、好ましくは0.1〜20質量部、より好ましくは0.1〜10質量部の割合である。3級アミン化合物の配合量が0.1質量部以下であると、十分な増感効果を得ることができない傾向にある。20質量部を超えると、3級アミン化合物による乾燥ソルダーレジスト塗膜の表面での光吸収が激しくなり、深部硬化性が低下する傾向がある。
これらの光重合開始剤、光開始助剤および増感剤は、単独で又は2種類以上の混合物として使用することができる。
このような光重合開始剤、光開始助剤、および増感剤の総量は、前記カルボン酸含有樹脂(A)100質量部に対して35質量部以下となる範囲であることが好ましい。35質量部を超えると、これらの光吸収により深部硬化性が低下する傾向にある。
本発明の感光性組成物には、耐熱性を付与するために、分子中に2個以上の環状エーテル基及び/又は環状チオエーテル基(以下、環状(チオ)エーテル基と略す)を有する熱硬化性成分(D)を配合することができる。
このような分子中に2つ以上の環状(チオ)エーテル基を有する熱硬化性成分(D)は、分子中に3、4または5員環の環状エーテル基、又は環状チオエーテル基のいずれか一方又は2種類の基を2個以上有する化合物であり、例えば、分子内に少なくとも2つ以上のエポキシ基を有する化合物、すなわち多官能エポキシ化合物(D−1)、分子内に少なくとも2つ以上のオキセタニル基を有する化合物、すなわち多官能オキセタン化合物(D−2)、分子内に2個以上のチオエーテル基を有する化合物、すなわちエピスルフィド樹脂(D−3)などが挙げられる。
前記多官能エポキシ化合物(D−1)としては、例えば、ジャパンエポキシレジン社製のエピコート828、エピコート834、エピコート1001、エピコート1004、大日本インキ化学工業社製のエピクロン840、エピクロン850、エピクロン1050、エピクロン2055、東都化成社製のエポトートYD−011、YD−013、YD−127、YD−128、ダウケミカル社製のD.E.R.317、D.E.R.331、D.E.R.661、D.E.R.664、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社のアラルダイド6071、アラルダイド6084、アラルダイドGY250、アラルダイドGY260、住友化学工業社製のスミ−エポキシESA−011、ESA−014、ELA−115、ELA−128、旭化成工業社製のA.E.R.330、A.E.R.331、A.E.R.661、A.E.R.664等(何れも商品名)のビスフェノールA型エポキシ樹脂;ジャパンエポキシレジン社製のエピコートYL903、大日本インキ化学工業社製のエピクロン152、エピクロン165、東都化成社製のエポトートYDB−400、YDB−500、ダウケミカル社製のD.E.R.542、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のアラルダイド8011、住友化学工業社製のスミ−エポキシESB−400、ESB−700、旭化成工業社製のA.E.R.711、A.E.R.714等(何れも商品名)のブロム化エポキシ樹脂;ジャパンエポキシレジン社製のエピコート152、エピコート154、ダウケミカル社製のD.E.N.431、D.E.N.438、大日本インキ化学工業社製のエピクロンN−730、エピクロンN−770、エピクロンN−865、東都化成社製のエポトートYDCN−701、YDCN−704、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のアラルダイドECN1235、アラルダイドECN1273、アラルダイドECN1299、アラルダイドXPY307、日本化薬社製のEPPN−201、EOCN−1025、EOCN−1020、EOCN−104S、RE−306、住友化学工業社製のスミ−エポキシESCN−195X、ESCN−220、旭化成工業社製のA.E.R.ECN−235、ECN−299等(何れも商品名)のノボラック型エポキシ樹脂;大日本インキ化学工業社製のエピクロン830、ジャパンエポキシレジン社製エピコート807、東都化成社製のエポトートYDF−170、YDF−175、YDF−2004、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のアラルダイドXPY306等(何れも商品名)のビスフェノールF型エポキシ樹脂;東都化成社製のエポトートST−2004、ST−2007、ST−3000(商品名)等の水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂;ジャパンエポキシレジン社製のエピコート604、東都化成社製のエポトートYH−434、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のアラルダイドMY720、住友化学工業社製のスミ−エポキシELM−120等(何れも商品名)のグリシジルアミン型エポキシ樹脂;チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のアラルダイドCY−350(商品名)等のヒダントイン型エポキシ樹脂;ダイセル化学工業社製のセロキサイド2021、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のアラルダイドCY175、CY179等(何れも商品名)の脂環式エポキシ樹脂;ジャパンエポキシレジン社製のYL−933、ダウケミカル社製のT.E.N.、EPPN−501、EPPN−502等(何れも商品名)のトリヒドロキシフェニルメタン型エポキシ樹脂;ジャパンエポキシレジン社製のYL−6056、YX−4000、YL−6121(何れも商品名)等のビキシレノール型もしくはビフェノール型エポキシ樹脂又はそれらの混合物;日本化薬社製EBPS−200、旭電化工業社製EPX−30、大日本インキ化学工業社製のEXA−1514(商品名)等のビスフェノールS型エポキシ樹脂;ジャパンエポキシレジン社製のエピコート157S(商品名)等のビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂;ジャパンエポキシレジン社製のエピコートYL−931、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のアラルダイド163等(何れも商品名)のテトラフェニロールエタン型エポキシ樹脂;チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製のアラルダイドPT810、日産化学工業社製のTEPIC等(何れも商品名)の複素環式エポキシ樹脂;日本油脂社製ブレンマーDGT等のジグリシジルフタレート樹脂;東都化成社製ZX−1063等のテトラグリシジルキシレノイルエタン樹脂;新日鉄化学社製ESN−190、ESN−360、大日本インキ化学工業社製HP−4032、EXA−4750、EXA−4700等のナフタレン基含有エポキシ樹脂;大日本インキ化学工業社製HP−7200、HP−7200H等のジシクロペンタジエン骨格を有するエポキシ樹脂;日本油脂社製CP−50S、CP−50M等のグリシジルメタアクリレート共重合系エポキシ樹脂;さらにシクロヘキシルマレイミドとグリシジルメタアクリレートの共重合エポキシ樹脂;エポキシ変性のポリブタジエンゴム誘導体(例えばダイセル化学工業製PB−3600等)、CTBN変性エポキシ樹脂(例えば東都化成社製のYR−102、YR−450等)等が挙げられるが、これらに限られるものではない。これらのエポキシ樹脂は、単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。これらの中でも特にノボラック型エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂又はそれらの混合物が好ましい。
前記多官能オキセタン化合物(D−2)としては、ビス[(3−メチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]エーテル、ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]エーテル、1,4−ビス[(3−メチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、1,4−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、(3−メチル−3−オキセタニル)メチルアクリレート、(3−エチル−3−オキセタニル)メチルアクリレート、(3−メチル−3−オキセタニル)メチルメタクリレート、(3−エチル−3−オキセタニル)メチルメタクリレートやそれらのオリゴマー又は共重合体等の多官能オキセタン類の他、オキセタンアルコールとノボラック樹脂、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、カルド型ビスフェノール類、カリックスアレーン類、カリックスレゾルシンアレーン類、又はシルセスキオキサンなどの水酸基を有する樹脂とのエーテル化物などが挙げられる。その他、オキセタン環を有する不飽和モノマーとアルキル(メタ)アクリレートとの共重合体なども挙げられる。
前記分子中に2個以上の環状チオエーテル基を有する化合物(D−3)としては、例えば、ジャパンエポキシレジン社製のビスフェノールA型エピスルフィド樹脂 YL7000などが挙げられる。また、同様の合成方法を用いて、ノボラック型エポキシ樹脂のエポキシ基の酸素原子を硫黄原子に置き換えたエピスルフィド樹脂なども用いることができる。
前記分子中に2つ以上の環状(チオ)エーテル基を有する熱硬化性成分(D)の配合量は、前記カルボン酸含有樹脂のカルボキシル基1当量に対して、好ましくは0.6〜2.0当量、より好ましくは、0.8〜1.5当量となる範囲にある。分子中に2つ以上の環状(チオ)エーテル基を有する熱硬化性成分(D)の配合量が0.6未満である場合、ソルダーレジスト膜にカルボキシル基が残り、耐熱性、耐アルカリ性、電気絶縁性などが低下するので、好ましくない。一方、2.0当量を超える場合、低分子量の環状(チオ)エーテル基が乾燥塗膜に残存することにより、塗膜の強度などが低下するので、好ましくない。
上記分子中に2つ以上の環状(チオ)エーテル基を有する熱硬化性成分(D)を使用する場合、熱硬化触媒を含有することが好ましい。そのような熱硬化触媒としては、例えば、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、4−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−(2−シアノエチル)−2−エチル−4−メチルイミダゾール等のイミダゾール誘導体;ジシアンジアミド、ベンジルジメチルアミン、4−(ジメチルアミノ)−N,N−ジメチルベンジルアミン、4−メトキシ−N,N−ジメチルベンジルアミン、4−メチル−N,N−ジメチルベンジルアミン等のアミン化合物、アジピン酸ジヒドラジド、セバシン酸ジヒドラジド等のヒドラジン化合物;トリフェニルホスフィン等のリン化合物など、また市販されているものとしては、例えば四国化成工業社製の2MZ−A、2MZ−OK、2PHZ、2P4BHZ、2P4MHZ(いずれもイミダゾール系化合物の商品名)、サンアプロ社製のU−CAT3503N、U−CAT3502T(いずれもジメチルアミンのブロックイソシアネート化合物の商品名)、DBU、DBN、U−CATSA102、U−CAT5002(いずれも二環式アミジン化合物及びその塩)などが挙げられる。特に、これらに限られるものではなく、エポキシ樹脂やオキセタン化合物の熱硬化触媒、もしくはエポキシ基及び/又はオキセタニル基とカルボキシル基の反応を促進するものであればよく、単独で又は2種以上を混合して使用してもかまわない。また、グアナミン、アセトグアナミン、ベンゾグアナミン、メラミン、2,4−ジアミノ−6−メタクリロイルオキシエチル−S−トリアジン、2−ビニル−2,4−ジアミノ−S−トリアジン、2−ビニル−4,6−ジアミノ−S−トリアジン・イソシアヌル酸付加物、2,4−ジアミノ−6−メタクリロイルオキシエチル−S−トリアジン・イソシアヌル酸付加物等のS−トリアジン誘導体を用いることもでき、好ましくはこれら密着性付与剤としても機能する化合物を前記熱硬化触媒と併用する。
これら熱硬化触媒の配合量は、通常の量的割合で充分であり、例えばカルボン酸含有樹脂(A)または分子中に2つ以上の環状(チオ)エーテル基を有する熱硬化性成分(D)100質量部に対して、好ましくは0.1〜20質量部、より好ましくは0.5〜15.0質量部である。
本発明の感光性組成物は、その塗膜の物理的強度等を上げるために、必要に応じて、フィラーを配合することができる。このようなフィラーとしては、公知慣用の無機又は有機フィラーが使用できるが、特に硫酸バリウム、球状シリカおよびタルクが好ましく用いられる。さらに、1個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物や前記多官能エポキシ樹脂(D−1)にナノシリカを分散したHanse−Chemie社製のNANOCRYL(商品名) XP 0396、XP 0596、XP 0733、XP 0746、XP 0765、XP 0768、XP 0953、XP 0954、XP 1045(何れも製品グレード名)や、Hanse−Chemie社製のNANOPOX(商品名) XP 0516、XP 0525、XP 0314(何れも製品グレード名)も使用できる。これらを単独で又は2種以上配合することができる。
これらフィラーの配合量は、前記カルボン酸含有樹脂(A)100質量部に対して、好ましくは300質量部以下、より好ましくは0.1〜300質量部、特に好ましくは0.1〜150質量部である。前記フィラーの配合量が、300質量部を超えた場合、感光性組成物の粘度が高くなり印刷性が低下したり、硬化物が脆くなるので好ましくない。
さらに、本発明の感光性組成物は、前記カルボン酸含有樹脂(A)の合成や組成物の調整のため、又は基板やキャリアフィルムに塗布するための粘度調整のため、有機溶剤を使用することができる。
このような有機溶剤としては、ケトン類、芳香族炭化水素類、グリコールエーテル類、グリコールエーテルアセテート類、エステル類、アルコール類、脂肪族炭化水素、石油系溶剤などが挙げることができる。より具体的には、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類;トルエン、キシレン、テトラメチルベンゼン等の芳香族炭化水素類;セロソルブ、メチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、カルビトール、メチルカルビトール、ブチルカルビトール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールジエチルエーテル、トリエチレングリコールモノエチルエーテル等のグリコールエーテル類;酢酸エチル、酢酸ブチル、ジプロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールブチルエーテルアセテートなどのエステル類;エタノール、プロパノール、エチレングリコール、プロピレングリコール等のアルコール類;オクタン、デカン等の脂肪族炭化水素;石油エーテル、石油ナフサ、水添石油ナフサ、ソルベントナフサ等の石油系溶剤などである。このような有機溶剤は、単独で又は2種以上の混合物として用いられる。
本発明の感光性組成物は、さらに必要に応じて、ハイドロキノン、ハイドロキノンモノメチルエーテル、t−ブチルカテコール、ピロガロール、フェノチアジンなどの公知慣用の熱重合禁止剤、微粉シリカ、有機ベントナイト、モンモリロナイトなどの公知慣用の増粘剤、シリコーン系、フッ素系、高分子系などの消泡剤及び/又はレベリング剤、イミダゾール系、チアゾール系、トリアゾール系等のシランカップリング剤、酸化防止剤、防錆剤などのような公知慣用の添加剤類を配合することができる。
本発明の感光性組成物は、例えば前記有機溶剤で塗布方法に適した粘度に調整し、回路形成した基板上に、ディップコート法、フローコート法、ロールコート法、バーコーター法、スクリーン印刷法、カーテンコート法等の方法により塗布し、約60〜100℃の温度で組成物中に含まれる有機溶剤を揮発乾燥(仮乾燥)させることにより、タックフリーの塗膜を形成できる。この本発明の感光性組成物の乾燥塗膜は、15〜100μmの厚さを有することが好ましい。また、本発明の感光性組成物をキャリアフィルム上に塗布し、乾燥させることによりドライフィルムを得ることができる。フィルムとして巻き取ったものを回路形成した基板に貼り合わせ、キャリアフィルムを剥離することにより、回路形成した基板上にソルダーレジスト膜を形成できる。その後、直接描画装置(レーザーダイレクトイメージング装置)でパターン潜像を描画した後、未露光部をアルカリ水溶液(例えば0.3〜3%炭酸ソーダ水溶液)により現像してソルダーレジストパターンが形成される。さらに、熱硬化性成分を含有している場合、例えば約140〜180℃の温度に加熱して熱硬化させることにより、前記カルボン酸含有樹脂(A)のカルボキシル基と、分子中に2つ以上の環状(チオ)エーテル基を有する熱硬化性成分(D)の環状(チオ)エーテル基が反応し、耐熱性、耐薬品性、耐吸湿性、密着性、電気特性などの諸特性に優れた硬化塗膜を形成することができる。
上記基板に用いる基材としては、紙フェノール、紙エポキシ、ガラス布エポキシ、ガラスポリイミド、ガラス布/不繊布エポキシ、ガラス布/紙エポキシ、合成繊維エポキシ、フッ素・ポリエチレン・PPO・シアネートエステル等を用いた高周波回路用銅張積層板等の材質を用いたもので全てのグレード(FR−4等)の銅張積層板、その他ポリイミドフィルム、PETフィルム、ガラス基板、セラミック基板、ウエハ板等を挙げることができる。
本発明の感光性組成物を塗布した後に行う揮発乾燥は、熱風循環式乾燥炉、IR炉、ホットプレート、コンベクションオーブンなど(蒸気による空気加熱方式の熱源を備えたものを用い乾燥機内の熱風を向流接触せしめる方法およびノズルより支持体に吹き付ける方式)を用いて行うことができる。
本発明の感光性組成物の露光手段に用いる光源としては、半導体レーザーや固体レーザーを用いることができる。また、その露光量は本発明の感光性組成物の乾燥膜厚等によって異なるが、一般には5〜100mJ/cm、好ましくは5〜60mJ/cm、さらに好ましくは5〜30mJ/cmの範囲内とすることができる。直描装置としては、例えばペンタックス社製、日立ビアメカニクス社製、ボール・セミコンダクター社製等のものを使用することができる。
前記現像方法としては、ディッピング法、シャワー法、スプレー法、ブラシ法などを挙げることができ、現像液としては、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、リン酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、アンモニア、テトラメチルアンモニウムハイドロオキシドなどのアルカリ水溶液が使用できる。
以下、本発明を実施例により説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
<カルボン酸含有樹脂の合成>
攪拌機、温度計、環流冷却管、滴下ロート及び窒素導入管を備えた2リットルのセパラブルフラスコに、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬(株)製、EOCN−104S、軟化点92℃、エポキシ当量=220g/当量)660g、溶媒としてカルビトールアセテート 421.3gおよびソルベントナフサ 180.6gを仕込み、90℃に加熱・攪拌し、溶解した。次に、一旦60℃まで冷却し、アクリル酸 216g、反応触媒としてトリフェニルホスフィン 4.0g、重合禁止剤のメチルハイドロキノン1.3gを加えて、100℃で12時間反応させ、酸価が0.2mgKOH/gの反応生成物を得た。これにテトラヒドロ無水フタル酸 241.7gを仕込み、90℃に加熱し、6時間反応させた。これにより、不揮発分=65質量%、固形分酸価=77mgKOH/g、二重結合当量(不飽和基1モル当たりの樹脂のg重量)=400g/当量、重量平均分子量=7,000のカルボン酸含有樹脂の溶液を得た。以下、このカルボン酸含有樹脂の溶液を、A−1ワニスと称す。
<感光性組成物1〜7の調製>
表1に示す成分を同表に示す量(質量部)で配合・攪拌し、3本ロールにて分散させてそれぞれ感光性組成物を得た。
Figure 0005276832
感光性組成物1〜7を用いて形成したソルダーレジスト膜の吸光度を調べた。すなわち、各感光性組成物をガラス板にアプリケーター塗布後、熱風循環式乾燥炉を用いて80℃で30分乾燥し、その乾燥塗膜をガラス板上に作製した。このガラス板上の各感光性組成物の乾燥塗膜について、紫外可視分光光度計(日本分光株式会社製 Ubest−V−570DS)、及び積分球装置(日本分光株式会社製 ISN−470)を用いて吸光度を測定した。また、各感光性組成物を塗布したガラス板と同一のガラス板について、300〜500nmの波長範囲における吸光度ベースラインを測定した。作製した乾燥塗膜付きガラス板の吸光度から、ベースラインを差し引くことにより乾燥塗膜の吸光度を算出した。この作業をアプリケーターによる塗布厚を4段階に変えて行い、乾燥塗膜厚と吸光度のグラフを作成し、このグラフから乾燥ソルダーレジスト膜厚25μmにおける吸光度を求めた。結果を表2に示す。
Figure 0005276832
次に、感光性組成物1について、表3に示す実施例1および2、並びに比較例1〜4の露光方法により、その乾燥塗膜を露光した。
Figure 0005276832
ここで、形成されるソルダーレジスト膜の諸性質を調べるために、以下のようにして試験し、評価を行った。
(1)表面硬化性
銅厚35μmの銅張基板をバフロール研磨後、水洗し、乾燥させた。その後、感光性組成物1をこの基板上にスクリーン印刷法により塗布し、80℃の熱風循環式乾燥炉で60分間乾燥させた。乾燥後、実施例1および2、並びに比較例1〜4の露光方法により、この乾燥ソルダーレジスト塗膜に露光した。露光パターンは、全面露光パターンを用いた。露光後、現像液として1質量%炭酸ナトリウム水溶液を用いて、30℃、0.2MPaで60秒間現像を行い、続いて、150℃で60分間、熱硬化を行った。
このようにして得られた硬化塗膜の表面硬化性を、光沢度計マイクロトリグロス(ビッグガードナー社製)を用いて、入射角60°の時の光沢度について評価した。評価基準を光沢度50とし、この数値以上を良好、この数値未満を不良とした。この評価結果を表4に示す。
(2)硬化深度および断面形状
ライン/スペースが300μm/300μmの幅で、銅厚が70μmの回路パターン基板をそれぞれバフロール研磨後、水洗し、乾燥した。この回路パターン基板上に、感光性組成物1をスクリーン印刷法により塗布し、80℃の熱風循環式乾燥炉で30分間乾燥させた。乾燥後、実施例1および2、並びに比較例1〜4の露光方法を用いて、この乾燥塗膜に露光した。露光パターンは、上述したスペース部に、それぞれ順に30/40/50/60/70/80/90/100μmのラインを描画させるパターンを使用した。露光後、1.0質量部%炭酸ナトリウム水溶液を用いて現像を行うことによりソルダーレジストパターンを得た。続いて高圧水銀灯で1000mJ/cmの露光量で紫外光を照射した後、60分間熱硬化させた。このとき、残存する最小ライン幅を硬化深度の評価とした。
また、断面形状の評価を、硬化塗膜の、設計値が100μmであるライン部の断面を観察することにより行った。ここで、銅厚70μm時のソルダーレジスト膜の厚さは65μmであった。断面形状を図1の模式図に従って、A〜Eの5段階で評価した。各評価の状態は、以下、すなわち、
A評価:設計幅通りの理想の状態、
B評価:耐現像性不足等による表面層の食われ発生、
C評価:アンダーカット状態、
D評価:ハレーション等による線太りが発生、
E評価:表面層の線太りとアンダーカットが発生
である。
ここで、アンダーカットおよびハレーションとは、共に設計値からのずれを示す用語である。アンダーカットとは、特に下部が、設計値よりも細くなることを示し、ハレーションは上部・下部のいずれかまたは両方が設計値よりも太くなることを示す。
特にA評価においては、設計値からのずれが、ラインの上部・下部ともに5μm以内のものとした。
A評価に限らず、C評価、D評価もソルダーレジストとしては使用可能なレベルである。これに対し、B評価、E評価のものは、ライン、アンダーカット部が剥離しやすく、ソルダーレジストとしては使用が困難なレベルであり、特にE評価は使用不可能なレベルである。
評価結果を、表4に併せて示す。
Figure 0005276832
表4から明らかなように、本発明の露光方法である実施例1および2の露光方法を用いた場合、低い露光量および短い露光時間で、優れた断面形状、硬化深度および表面硬化性が得られた。一方で、比較例1〜4の露光方法を用いた場合は、組成物を硬化させるためにより高い露光量および長い露光時間が必要であり、さらに、得られるソルダーレジスト膜の断面形状、硬化深度および表面硬化性は不十分なものであった。
さらに、感光性組成物2〜7についてもその乾燥塗膜に露光し、ソルダーレジスト膜を形成した。形成されるソルダーレジスト膜の諸性質を調べるために、露光方法としては実施例1および2の方法を用いて上記と同様にして試験し、評価を行った。これらについての評価結果と、表4における配合例1についての評価結果を併せて表5に示す。
Figure 0005276832
表5の結果から、本発明のソルダーレジスト膜の形成方法においては、露光前の乾燥塗膜の厚さ25μmあたり355〜380nmの波長範囲において0.6〜1.2の範囲にあり、且つ405nmにおいて0.3〜0.6の範囲にある吸光度を示す感光性組成物(1〜5)を用いることがより好ましいことがわかる。
実施例3
表1に示す感光性組成物1をメチルエチルケトンで希釈し、キャリアフィルム上に塗布し、80℃の熱風乾燥機で30分加熱乾燥して、厚さ25μmの光硬化性・熱硬化性樹脂組成物層を形成し、その上にカバーフィルムを貼り合わせてドライフィルムを得た。その後、カバーフィルムを剥がし、パターン形成された銅箔基板に、得られたドライフィルムを熱ラミネートした。その後、表3に示す実施例1および2の条件で露光を実施し、キャリアフィルムを除去した後1wt%の炭酸ナトリウム水溶液で60秒間現像し画像を得た。さらに150℃の熱風乾燥機で60分加熱硬化を行い、試験基板を作製した。得られた硬化被膜を有する試験基板について、前述した試験方法及び評価方法にて、各特性の評価試験を行った。結果は表5の感光性組成物1の結果と同じであった。
感光性組成物の乾燥塗膜に露光し、これを現像した後得られるソルダーレジスト膜の断面形状の模式図。
符号の説明
1a…ライン幅の設計値
1b…露光・現像後のソルダーレジスト膜
1c…基板

Claims (10)

  1. (A)カルボン酸含有樹脂、(B)光重合開始剤、および(C)顔料を含み、前記光重合開始剤(B)が、式(I)で表される基を有するオキシムエステル系光重合開始剤、式(II)で表される基を有するα−アミノアセトフェノン系光重合開始剤、および式(III)で表される基を有するアシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤から成る群から選択される1種以上の光重合開始剤であり、前記(A)カルボン酸含有樹脂100質量部に対して、(B)光重合開始剤が0.01〜30質量部の範囲内で、(C)顔料が0.01〜5質量部の範囲内で配合され、その露光前の乾燥塗膜が厚さ25μmあたり、355〜380nmの波長範囲において0.6〜1.2の吸光度を示し、且つ405nmの波長において0.3〜0.6の吸光度を示す感光性組成物を用い、この感光性組成物を基材に塗布し、揮発乾燥後、この乾燥塗膜に第1のレーザー光及び前記第1のレーザー光と波長の異なる第2のレーザー光を照射して、前記第1のレーザー光と第2のレーザー光の双方が照射されたパターン潜像を形成した後、アルカリ水溶液により現像することを特徴とするソルダーレジスト膜の形成方法。
    Figure 0005276832
    (式中、
    は、水素原子、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基、若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表し、
    は、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表し、
    およびRは、それぞれ独立に、炭素数1〜12のアルキル基またはアリールアルキル基を表し、
    およびRは、それぞれ独立に、水素原子、炭素数1〜6のアルキル基、または2つが結合した環状アルキルエーテル基を表し、
    およびRは、それぞれ独立に、炭素数1〜10の直鎖状または分岐状のアルキル基、シクロヘキシル基、シクロペンチル基、アリール基、またはハロゲン原子、アルキル基若しくはアルコキシ基で置換されたアリール基を表し、但し、RおよびRの一方は、R−C(=O)−基(ここでRは、炭素数1〜20の炭化水素基)を表してもよい)。
  2. 前記第1のレーザー光と第2のレーザー光の一方が、青紫レーザー光であることを特徴とする請求項1に記載のソルダーレジスト膜の形成方法。
  3. (A)カルボン酸含有樹脂、(B)光重合開始剤、および(C)顔料を含み、前記光重合開始剤(B)が、式(I)で表される基を有するオキシムエステル系光重合開始剤、式(II)で表される基を有するα−アミノアセトフェノン系光重合開始剤、および式(III)で表される基を有するアシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤から成る群から選択される1種以上の光重合開始剤であり、前記(A)カルボン酸含有樹脂100質量部に対して、(B)光重合開始剤が0.01〜30質量部の範囲内で、(C)顔料が0.01〜5質量部の範囲内で配合され、その露光前の乾燥塗膜が厚さ25μmあたり、355〜380nmの波長範囲において0.6〜1.2の吸光度を示し、且つ405nmの波長において0.3〜0.6の吸光度を示し、露光前の前記乾燥塗膜の厚さ25μmあたり、355〜380nmの波長範囲における最大吸光度と405nmの波長における吸光度の差が、0.3以上0.6未満であることを特徴とする、請求項1または2に記載のソルダーレジスト膜の形成方法に用いる感光性組成物。
    Figure 0005276832
    (式中、
    は、水素原子、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基、若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表し、
    は、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表し、
    およびR は、それぞれ独立に、炭素数1〜12のアルキル基またはアリールアルキル基を表し、
    およびR は、それぞれ独立に、水素原子、炭素数1〜6のアルキル基、または2つが結合した環状アルキルエーテル基を表し、
    およびR は、それぞれ独立に、炭素数1〜10の直鎖状または分岐状のアルキル基、シクロヘキシル基、シクロペンチル基、アリール基、またはハロゲン原子、アルキル基若しくはアルコキシ基で置換されたアリール基を表し、但し、R およびR の一方は、R−C(=O)−基(ここでRは、炭素数1〜20の炭化水素基)を表してもよい)。
  4. 露光前の前記乾燥塗膜が25μmあたり、355nmの波長において0.6〜1.0の吸光度を示し、および405nmの波長において0.3〜0.5の吸光度を示し、且つ355nmの波長における吸光度と405nmの波長における吸光度の差が0.3以上0.5未満であることを特徴とする請求項3記載の感光性組成物。
  5. 前記式(I)で表される基を有するオキシムエステル系光重合開始剤が、式(IV)の化合物を含むことを特徴とする請求項3又は4に記載の感光性組成物。
    Figure 0005276832
  6. 前記式(I)で表される基を有するオキシムエステル系光重合開始剤が、式(V)の化合物を含むことを特徴とする請求項3〜5のいずれか一項に記載の感光性組成物。
    Figure 0005276832
    (式中、
    は、水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜12のアルキル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、フェニル基、ベンジル基、ベンゾイル基、炭素数2〜12のアルカノイル基、炭素数2〜12のアルコキシカルボニル基(アルコキシル基を構成するアルキル基の炭素数が2以上の場合、アルキル基は1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、またはフェノキシカルボニル基を表し、
    10、R12は、それぞれ独立に、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表し、
    11は、水素原子、フェニル基(炭素数1〜6のアルキル基、フェニル基若しくはハロゲン原子で置換されていてもよい)、炭素数1〜20のアルキル基(1個以上の水酸基で置換されていてもよく、アルキル鎖の中間に1個以上の酸素原子を有していてもよい)、炭素数5〜8のシクロアルキル基、炭素数2〜20のアルカノイル基またはベンゾイル基(炭素数が1〜6のアルキル基若しくはフェニル基で置換されていてもよい)を表す)。
  7. 前記顔料(C)が、フタロシアニンブルー系顔料を含むことを特徴とする請求項3〜6のいずれか一項に記載の感光性組成物。
  8. 分子中に2つ以上の環状エーテル基および/または環状チオエーテル基を有する熱硬化性成分(D)をさらに含むことを特徴とする請求項3〜7のいずれか一項に記載の感光性組成物。
  9. 厚さ15〜100μmの乾燥塗膜として適用されることを特徴とする請求項3〜8のいずれか一項に記載の感光性組成物。
  10. 請求項3〜9のいずれか一項に記載の感光性組成物を、キャリアフィルム上に塗布した後に乾燥して得られるドライフィルム。
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