JP5258359B2 - 液晶表示装置の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、液晶表示装置の製造方法に関し、より詳しくは、外部光を乱反射させ、内部光を散乱させて、可読性の向上とコントラスト比を改善できるようにした液晶表示装置の製造方法に関する。
一般に、液晶表示装置(Liquid Crystal Display Device:LCD)は、液晶の光学的異方性を利用した装置である。
即ち、電圧が加えられると、電界の強さによって液晶の分子配列が変わり、上記液晶の分子配列に従って光を調節できる特性を利用してイメージを表現する装置であって、上記液晶表示装置(LCD)は、2枚の上部及び下部基板と、その間に充填された液晶から構成される。
そして、図1に示すように、上部基板30の上部及び下部基板20の下部にフィルム形態の上部偏光板40及び下部偏光板10が各々形成されている。
既存のフィルム形態の偏光板を使用する場合、偏光板フィルム自体の外部に表面処理を行って、反射防止(Anti-Reflective)、眩しさ防止(Anti-Glare)、静電気防止(Anti-Static)などの機能を持つ偏光板を製造して、上部基板30及び下部基板20の外部に各々付着した。
特開2008−76723号公報 特開2008−52169号公報 特開2008−58729号公報
しかしながら、このような従来技術の問題点は、機能性偏光板の価格上昇及び工程追加による工程時間の増加により液晶パネルのコストが上昇することができ、補償フィルムや機能性偏光板の厚みだけ液晶パネルの厚みも増加するので、製品価値が落ちることになる。
一方、図2は、偏光板が基板の内部に付着された液晶表示装置を示す断面図であって、上部基板30の下部及び下部基板20の上部に各々付着されたイン−セル偏光板(In-Cell Polarizer)30a、20aを適用する場合、上部基板30及び下部基板20が外部にすぐに露出されることによって、図1に図示した機能性偏光板を使用する場合に比べて、表面に反射、眩しさ、及び静電気などの問題を有することになる。
未説明符号21及び31は、絶縁性の基板、23は画素電極、33はカラーフィルタ層、35は共通電極、50は液晶層を示すものである。
本発明は、前述した問題点を解決するために案出したものであって、本発明の目的は、外部光を乱反射させ、内部光を散乱させて、可読性の向上とコントラスト比を改善できるようにした液晶表示装置の製造方法を提供することにある。
前述した目的を達成するために、本発明の第1態様は、(a)上部基板と多数の薄膜トランジスタを含んだ下部基板とを互いに離隔して対向し、その間に液晶層が充填され、透過及び不透過領域に区分されてでなされた液晶パネルを製作するステップと、(b)上記液晶パネルの外部に露出された上部基板上に一定厚みの透明導電膜を蒸着するステップと、(c)上記外部に露出された上部基板の表面に不均一な凹凸部が形成されるように上記透明導電膜の全体及び上記上部基板の一部を除去するためのエッチング工程を遂行するステップとを含む液晶表示装置の製造方法を提供する。
ここで、上記透明導電膜がITO(Indium Tin Oxide)である場合、フッ酸(HF)系列のエッチング溶液を使用することが好ましい。
好ましくは、上記ステップ(b)において、上記透明導電膜は、40nm乃至120nm厚みの範囲で蒸着する。
本発明の第2の態様は、(a’)上部基板と多数の薄膜トランジスタを含んだ下部基板とを互いに離隔して対向し、その間に液晶層が充填され、透過及び不透過領域に区分されてでなされた液晶パネルを製作するステップと、(b’)上記液晶パネルの外部に露出された上部基板上に一定厚みの透明導電膜を蒸着するステップと、(c’)フォトリソグラフィ工程により上記透明導電膜をパターニングして上記不透過領域と対応するように透明導電膜パターンを形成するステップと、(d’)上記透明導電膜パターンが形成された上部基板の表面に不均一な凹凸部が形成されるように上記透明導電膜の全体及び上記上部基板の一部を除去するためのエッチング工程を遂行するステップとを含む液晶表示装置の製造方法を提供する。
ここで、上記透明導電膜がITO(Indium Tin Oxide)である場合、フッ酸系列のエッチング溶液を使用することが好ましい。
好ましくは、上記ステップ(b’)において、上記透明導電膜は、40nm乃至120nm厚みの範囲で蒸着する。
好ましくは、上記ステップ(d’)において、上記エッチング工程の遂行時、上記透明導電膜パターンが形成されない上部基板は凹凸部が形成されず、一部が除去されるようにエッチングする。
本発明の液晶表示装置の製造方法によると、外部に露出された液晶パネルの上部基板上に透明導電膜を積層した後、透明導電膜と基板を同時にエッチングして基板の表面をより不均一に形成することにより、眩しさを防止して可読性及び画像鮮明度を優れるにし、優れるコントラスト比(CR)が得られる利点がある。
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施形態を詳細に説明する。しかしながら、次に例示する本発明の実施形態は種々の他の形態に変形されることができ、本発明の範囲は次に説明する実施形態に限定されるものではない。本発明の実施形態は、当業界で通常の知識を有する者に本発明をより完全に説明するために提供されるものである。
(第1実施形態)
図3a乃至図3cは、本発明の第1実施形態に係る液晶表示装置の製造方法を説明するための断面図である。
図3aを参照すると、まず、多数のカラーフィルタ(Color Filter)(図示せず)及びブラックマトリックス(Black Matrix:BM)が形成された上部基板110と多数の薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:TFT)(図示せず)が形成された下部基板120とが互いに離隔して対向し、その間に液晶層130が充填され、透過領域及び不透過領域に区分されてなされた液晶パネル100を製作した後、液晶パネル100の外部に露出された上部基板110上に通常のスパッタリング法により光がよく透過される透明導電膜である、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)層200を所定の厚みで蒸着する。
この際、ITO層200の厚みは、約40nm乃至120nmに蒸着することが好ましい。これは、表面反射の正反射効果を減らし、乱反射効果を増加させるために、後述するヘイズ(Haze)を生成することになるが、ITO層200が薄い過ぎると、ヘイズ(Haze)が正しく形成できなくて、乱反射効果が得られず、ITO層200が厚い過ぎると、ヘイズサイズ(Haze Size)が大きくなって乱反射程度は増加するが、透過率低下が甚だしくなって、特性の低下をもたらす。このため、透過率損失を最小化しながら乱反射効果を十分に出すことができるように、ITO層200を約40nm乃至120nmの厚みで形成するようになる。
ここで、上記カラーフィルタは、図示してはいないが、ブラックマトリックス(BM)の間に赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)のパターンからなっており、バックライトユニット(図示せず)から照射されて液晶層130を通過した光にカラーを与える役割をする。このようなカラーフィルタは、通常、感光性有機物質からなっている。
また、上記カラーフィルタの上部には、上記カラーフィルタにより発生する段差を除去して平坦性を向上させるために、オーバーコート層(Overcoat Layer)(図示せず)が形成されることができる。
ブラックマトリックス(BM)は、液晶層130と当接する上部基板110の表面に形成されており、光の漏洩を防止するためのものであって、一般的に、赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)のカラーフィルタの間を区分し、通常、黒色顔料が添加された感光性有機物質からなっている。
そして、図示してはいないが、下部基板120は、通常的に薄膜トランジスタアレイ基板ともいい、スイッチング素子である薄膜トランジスタ(TFT)がマトリックス形態(Matrix Type)で位置し、このような多数の薄膜トランジスタ(TFT)を交差して過ぎるゲート配線(Gate Line)とデータ配線(Data Line)とが形成される。
一方、本発明の一実施形態に適用された液晶パネル100は、概略的に表現されたものであって、図示していない上部基板110及び下部基板120に形成された基本的な構成要素(例えば、カラーフィルタ、スペーサ、共通電極、画素電極、ソース/ドレイン電極等)に対する具体的な構造及びその製造方法は、一般的な液晶表示装置に使われたものと同一であるので、これに対する具体的な説明は省略する。
図3bを参照すると、上記結果物の全面、即ち、液晶パネル100の上部に、例えば、フッ酸(HF)系列のエッチング溶液(Etchant)を使用して、一定時間(好ましくは、約1分乃至5分位)の間エッチング(Etching)することになるが、ITO層200の構造的な特性によりマイクロ以下のサイズで不均一にエッチングされる。
即ち、エッチング初期には部分的に生成されるが、エッチング比(Etch Rate)が異なる非晶質ITO(Indium Tin Oxide)により上部基板110の上に、例えば、エンボ(Embo)形態の凹凸部(R)が生成され始める。
この後、ある程度時間(好ましくは、約10分乃至30分位)が経過すると、図3cに示すように、ITO層200が全てエッチングされると共に、ITO層200と一緒に上部基板110の一部もエッチングされる。
その結果、上部基板110の表面にマイクロ単位の不規則な凹凸部(R)が形成されることにより、外部光による正反射を低下させて、可読性が改善されると共に、優れるコントラスト比(Contrast Ratio:CR)が得られる。
一方、このようなフッ酸系列を用いたエッチング工程は、液晶パネル100の上部及び下部に同時に遂行しても関係ない。
一方、このようなフッ酸系列を用いたエッチング工程は、上部基板110にカラーフィルタ工程を行う前に遂行しても関係ない。
一方、上部基板110に表面反射防止(Anti-Reflective:AR)またはLR(Low Reflectance)偏光板の付着及び表面反射防止(AR)コーティング(Coating)を行って、眩しさ防止(Anti-Glare)/表面反射防止(AR)偏光板構成のようにすることも可能である。
図4は、図3cを実際に具現した図であって、本発明の第1実施形態で提示した方法を実際に具現したガラス表面を3D測定器により測定した結果である。
図4を参照すると、上部基板110の表面を説明すると、ITO層200の不均一なエッチングによりエンボ(Embo)がネガティブ形態(negative type)で形成されるところ、そのサイズ(Size)は約5μm乃至60μm範囲まで多様であり、その高さ(Height)は約2μm乃至50μm範囲でなされて、その角度(Angle)は約2゜乃至30゜位の結果が得られた。
また、ヘイズ(Haze)は、約10%乃至50%位の結果を持つことにより、眩しさ防止フィルム(Anti-Glare Film)や機能性偏光板(Polarizer)の効果が得られた。
(第2実施形態)
図5a乃至図5cは本発明の第2実施形態に係る液晶表示装置の製造方法を説明するための断面図であり、図6は図5cを実際に具現した図である。
本発明の第2実施形態に適用された液晶パネル100の具体的な構造及びその製造方法のうち、第1実施形態と同一な部分に対しては説明を省略する。
図5aを参照すると、透過領域及び不透過領域に区分されてなされた液晶パネル100を製作した後、液晶パネル100の外部に露出された上部基板110上に通常のスパッタリング法により光がよく透過される透明導電膜である、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)層を所定の厚みで蒸着した後、通常のフォトリソグラフィ(Photo-lithography)工程により上記ITO層をパターニング(Patterning)してブラックマトリックス(BM)、即ち、不透過領域に対応するようにITOパターン200’を形成する。
図5bを参照すると、上記結果の全面、即ち、液晶パネル100の上部に、例えば、フッ酸(HF)系列のエッチング溶液(Etchant)を使用して一定時間(好ましくは、約1分乃至5分程度)の間エッチング(Etching)することになるが、ITOパターン200’の構造的な特性によりマイクロ以下のサイズで不均一にエッチングされる。
即ち、エッチング初期には部分的に生成されるが、エッチング比(Etch Rate)が異なる非晶質ITO(Indium Tin Oxide)により上部基板110上に、例えば、エンボ(Embo)形態の凹凸部(R)が生成され始める。
この後、ある程度時間(好ましくは、約10分乃至30分位)が経過すると、図5cに示すように、ITOパターン200’が全てエッチングされると共に、ITOパターン200’と共に上部基板110の一部もエッチングされる。
この際、透過領域は凹凸部(R)無しで、上部基板110の一部が除去されるようにエッチングする。このような透過領域は、凹凸部(R)無しで上部基板110の一部が除去されるので、透過率の低下を防止することができ、不透過領域は上部基板110の表面にマイクロ単位の凹凸部(R)が形成されることにより、外部光による正反射を低下させて可読性が改善されると共に、透過率とコントラスト比(Contrast Ratio:CR)を向上させることができる。
一方、このようなフッ酸系列を用いたエッチング工程は、液晶パネル100の上部及び下部に同時に遂行しても関係ない。
また一方、このようなフッ酸系列を用いたエッチング工程は、上部基板110にカラーフィルタ工程を行う前に遂行しても関係ない。
さらにまた一方、上部基板110に表面反射防止(Anti-Reflective:AR)、またはLR(Low Reflectance)偏光板の付着及び表面反射防止(AR)コーティング(Coating)を行って眩しさ防止(Anti-Glare)/表面反射防止(AR)偏光板構成のようにすることもできる。
図6は、図5cを実際に具現した図であって、本発明の第2実施形態で提示した方法を実際に具現したガラス表面を3D測定器により測定した結果である。
図6を参照すると、結果的に形成されたエンボ(Embo)のサイズ(Size)は約5μm乃至60μm範囲であり、エンボッシング(Embo)の高さ(Height)は約2μm乃至10μm範囲となる。
前述した本発明の実施形態によると、外部に露出した上部基板110の表面に透明導電膜を積層した後、透明導電膜と基板を同時にエッチングして、基板表面をより不均一で、かつ微細な凹凸形態で形成することにより、眩しさを防止して可読性及び画像鮮明度を優れるにし、また外部光の反射が排除されるので、優れるコントラスト比(CR)が得られる。
これは、従来の技術で基板に直接エッチング(Etching)して表面反射率を低下させる方法に比べて約50%以上の反射率の低下差を見せる。
また、本発明は、補償フィルムや機能性偏光板を使用する従来の方法に比べて価格が安くて、製品価値の点で大きい長所がある。
また、上記のように可読性のための表面処理をすると共に、両面に基板がエッチング(Etching)されるので、基板の厚みを縮めてスリム化することができ、透過率を増加させる長所もある。
一方、本発明の一実施形態に係る液晶表示装置の製造方法は、通常の横電界方式であるIPS(In-Plan Switching)またはFFS(Fringe Field Switching)モード液晶表示装置をはじめとする液晶の光学的異方性と分極性質を利用する全ての液晶表示装置に適用可能である。
前述した本発明に係る液晶表示装置の製造方法に対する好ましい実施形態に対して説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、特許請求範囲と発明の詳細な説明及び添付した図面の範囲内で種々の変形が可能であり、これもまた本発明に属する。
一般的に、機能性偏光板が基板の外部に付着された液晶表示装置を示す断面図である。 一般的に、機能性偏光板が基板の内部に付着された液晶表示装置を示す断面図である。 本発明の第1実施形態に係る液晶表示装置の製造方法を説明するための断面図(その1)である。 本発明の第1実施形態に係る液晶表示装置の製造方法を説明するための断面図(その2)である。 本発明の第1実施形態に係る液晶表示装置の製造方法を説明するための断面図(その3)である。 図3cを実際に具現した図である。 本発明の第2実施形態に係る液晶表示装置の製造方法を説明するための断面図(その1)である。 本発明の第2実施形態に係る液晶表示装置の製造方法を説明するための断面図(その2)である。 本発明の第2実施形態に係る液晶表示装置の製造方法を説明するための断面図(その3)である。 図5cを実際に具現した図である。
符号の説明
100 液晶パネル
110 上部基板
120 下部基板
130 液晶層
200 ITO層
BM ブラックマトリックス

Claims (4)

  1. (a’)上部基板と多数の薄膜トランジスタを含んだ下部基板とを互いに離隔して対向し、その間に液晶層が充填され、透過及び不透過領域からなる液晶パネルを製作するステップと、
    (b’)前記液晶パネルの外部に露出された上部基板上に一定厚みの透明導電膜を蒸着するステップと、
    (c’)フォトリソグラフィ工程により前記透明導電膜をパターニングして前記不透過領域と対応するように透明導電膜パターンを形成するステップと、
    (d’)前記透明導電膜パターンが形成された上部基板の表面に不均一な凹凸部が形成されるように前記透明導電膜の全体及び前記透明導電膜下部の上部基板の一部を除去し、前記透明導電膜パターンが形成されない上部基板の表面には凹凸部が形成されないように上部基板の一部を除去するためのエッチング工程を遂行するステップと、
    を含むことを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
  2. 前記透明導電膜がITO(Indium Tin Oxide)である場合、フッ酸系列のエッチング溶液を使用することを特徴とする請求項に記載の液晶表示装置の製造方法。
  3. 前記ステップ(b’)において、
    前記透明導電膜は、40nm乃至120nm厚みの範囲で蒸着することを特徴とする請求項に記載の液晶表示装置の製造方法。
  4. 前記ステップ(d’)において、
    前記エッチング工程の遂行時、前記下部基板の一部も一緒に除去されるようにエッチングすることを特徴とする請求項に記載の液晶表示装置の製造方法。
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