JP5239000B2 - オゾン濃度測定装置 - Google Patents
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Description
1)O3+波長(320nm〜266nm)→O(D)+O2(酸素分子、以下同じ)、
2)O3+波長(266nm未満〜237nm)→O(S、D)+O2、
3)O3+波長(237nm未満〜200nm)→O(S)+O3になる
単一波長に絞られる。回転制御機構無し集光フィルタ機構120に光学フィルタ200を組み込んだ発光素子ボックス101は、窒化物系深紫外半導体発光素子119と光学フィルタ200の間の紫外線収束管117(材質 金属、ガラス、セラミックス)に不活性ガス(真空状態でも可)を充填する事で放射された連続波長によって活性酸素Oが発生しないので窒化物系深紫外半導体発光素子119表面、光学フィルタ200表面に酸化物膜が形成される事を防ぐ事が出来る。例えば、紫外線収束管117、測定セル105の材質のステンレス材を所定の円錐形状、円筒形状に加工した後、電解研磨により内面が洗浄されると共に内面に鏡面を作り出す事が出来る。更に、内面の電解研磨後、無電解Ni処理を行い、その後、電気Ni処理を行い、Auメッキ処理(物質との反応が少ない安定金属なら可)を行う。紫外線収束管117内面には安定して紫外線が集束できる表面処理層が出来、さらに、測定セル105は安定した真空状態ができる。紫外線収束管117、測定セル105の材質をガラス材とする場合は触媒液で内面に置換処理を行った後、ステンレス材と同じ表面処理を行い最終層はAu(物質との反応が少ない安定金属なら可)にする。なお、メッキ処理でははく、イオンプレーティング処理、蒸着処理、スパッタリング処理でも表面処理層を作ることができる。紫外線収束管117内不活性ガス(真空状態でも可)を充填され、内面に表面処理加工がされているので窒化物系深紫外半導体発光素子119から200〜320nmの連続波長の放射エネルギーによって、活性酸素、オゾンの再発生は無く、紫外線収束管117内面に紫外線のダメージが及ぶ事がない。光学フィルタ200は214nm〜296.5nm(0.5nmスパン)の単一波長を取り出すことが出来る。なお、発光素子ボックス101全体に不活性ガス(真空状態でも可)を充填させ、紫外線収束管117に入り込ませた方法でも放射された連続波長によって活性酸素Oが発生しないので窒化物系深紫外半導体発光素子119表面、光学フィルタ200表面に酸化物膜が形成される事を防ぐ事が出来る。
101 発光素子ボックス
103 強度センサ
104 増幅器
105 測定セル
106 電磁弁
107 真空ポンプ
108 試料ガス入口
109 流量計
111 排ガス出口
113 インターフェイス
114 マイクロコンピュータ
115 表示器
117 紫外線収束管
118 発光素子機構
119 窒化物系深紫外半導体発光素子
120 回転制御機構無し集光フィルタ機構
122 照射方向
200 光学フィルタ
Claims (3)
- 波長200nm〜320nmを含む紫外線を発光する固体発光素子を紫外線源とするオゾン濃度測定装置であって、
前記固体発光素子から紫外線を照射する固体発光素子機構と、
前記固体発光素子から発せられた連続波長の紫外線に対して、波長200nm以上で250nmより短く、又は260nmより長く320nm以下の指定された単一波長の紫外線を取り出す単一波長集光フィルタ機構と、
前記単一波長集光フィルタ機構を透過した紫外線のオゾン吸収量を測定する対象容器となる測定セルと、
前記単一波長の紫外線がオゾン無しの状態の放射出力強度及び前記測定セルを通過した前記単一波長の紫外線が出るときの放射出力強度を計測する強度センサと、
発光強度及び受光強度の2つの信号値からオゾン濃度を算出する処理機構と、
を備え、
前記測定セルがオゾン無しの状態において計測した前記強度センサの信号値を前記発光強度とみなし、
前記測定セル内に試料ガスが充填されている状態における前記強度センサの信号値を前記受光強度として、ランベルト・ベールの法則に基づき、前記測定セル内のオゾン濃度を算出することを特徴とするオゾン濃度測定装置。 - 前記固体発光素子機構は、紫外線の漏れを抑えるように、前記固体発光素子を包み、前記単一波長集光フィルタ機構の直前までの長さがある管状の紫外線収束管を備えることを特徴とする請求項1に記載のオゾン濃度測定装置。
- 前記固体発光素子の紫外線放射出力強度の下限値が平方cm当たり0.1μwであることを特徴とする請求項1乃至2のいずれか1項に記載のオゾン濃度測定装置。
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