JP5237943B2 - 磁気検出装置及びその製造方法、ならびに前記磁気検出装置を用いた角度検出装置、位置検出装置及び磁気スイッチ - Google Patents

磁気検出装置及びその製造方法、ならびに前記磁気検出装置を用いた角度検出装置、位置検出装置及び磁気スイッチ Download PDF

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    • B82Y25/00Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance

Description

本発明は、特に、基板上に搭載される複数のチップ間を狭小化でき、高精度に外部磁界を検出することが可能な磁気検出装置及びその製造方法、ならびに前記磁気検出装置を用いた角度検出装置、位置検出装置及び磁気スイッチに関する。
例えば、回転体の回転角度を検知するための角度検出装置には、巨大磁気抵抗効果(GMR効果)を利用した磁気抵抗効果素子(GMR素子)を使用することが出来る。
前記磁気抵抗効果素子は、外部磁界に対して電気抵抗が変化するものであり、外部磁界を生じさせる例えば回転体としての磁石を回転させることで、前記磁気抵抗効果素子に流入する外部磁界の方向が変化し、これにより前記磁気抵抗効果素子の電気抵抗値が変化する。この電気抵抗値の変化に基づいて、回転体の回転角度を検知することが出来る。
例えば前記磁気抵抗効果素子には、2種類の磁気抵抗効果素子が用意される。これら磁気抵抗効果素子は磁界変化に対して逆の電気抵抗変化を示すものであり、この2種類の磁気抵抗効果素子によりブリッジ回路を組むことで出力値を大きくでき高精度に外部磁界の変化を検知できる。
上記のように電気特性の異なる磁気抵抗効果素子は、別々のチップに搭載される。
図13は、従来の磁気検出装置の平面図である。基板1上には第1チップ2と第2チップ3が搭載されている。
前記第1チップ2には2つの第1磁気抵抗効果素子4が設けられている。第2チップ3にも2つの第2磁気抵抗効果素子5が設けられているが、前記第1磁気抵抗効果素子4と第2磁気抵抗効果素子5は磁界変化に対して異なる電気抵抗変化を示す。
図13に示すように各チップ2,3には夫々複数個の接続パッドがチップ表面に露出して設けられている。前記接続パッドのうち、各チップ2,3と対向する側に設けられた内側接続パッド6は、互いにワイヤボンディングによるワイヤ7によって電気的に接続されている。また前記接続パッドのうち、外側接続パッド8は、ワイヤボンディングにより図示しない集積回路(IC)に電気的に接続されている。各チップ2,3の前記内側接続パッド6間を電気的に接続することで、前記第1磁気抵抗効果素子4と第2磁気抵抗効果素子5によりブリッジ回路が構成される。一方、外側接続パッド8は、前記集積回路の入力端子、グランド端子、及ぶ出力端子に夫々接続される。
特開平10−93009号公報 特開平8−264596号公報 特開2003−66127号公報
図13に示す構成では、各チップ2,3の内側接続パッド6同士を直接ワイヤボンディングしているが、このとき、ワイヤ7をループ状にして適切に各内側接続パッド6上に接合するには、前記チップ2,3間の間隔T1を、ある程度、空ける必要性があった。
しかし前記チップ2,3間の間隔T1が広がると、磁石から第1チップ2の第1磁気抵抗効果素子4,及び第2チップ3の第2磁気抵抗効果素子5に夫々作用する外部磁界の水平磁界成分が小さくなる等して高精度に外部磁界の変化を検知できないといった問題があった。よって高精度に外部磁界の変化を検知するには、前記チップ2,3間を小さくすることが必要であった。
また図13に示すように、各チップ2,3の内側接続パッド6同士を直接ワイヤボンディングする構成では、ワイヤを2番目にボンディングするほうの内側接続パッド6を大きめに形成することが必要とされた。2番目のボンディングでは、ワイヤを押圧して潰した際の潰れ寸法を考慮すると、最初にワイヤをボンディングする内側接続パッド6より2番目にワイヤをボンディングする内側接続パッド6を大きめに形成しなければならなかった。この結果、前記第1磁気抵抗効果素子4と第2磁気抵抗効果素子5との間隔が益々広がり、磁界検出精度が低下した。
例えば上記した特許文献1や特許文献2には、チップ間に中継用の導電パターンを設け、前記導電パターンと一方のチップの接続パッド間、及び前記導電パターと他方のチップの接続パッド間をワイヤボンディングする形態が開示されている。
このような形態とすれば、上記した2番目のボンディングを導電パターン上で行うようにすれば、チップの接続パッドを大きく形成しなくてもよくなる。
しかしながら前記チップ間に導電パターンを設ける領域を確保しなければならず各チップ間を狭小化できず、特許文献1や特許文献2に記載された導電パターンを用いた配線構成を磁気検出装置に適用しても、第1磁気抵抗効果素子と第2磁気抵抗効果素子間の間隔を適切に小さくできず、高精度に磁界検知することができなかった。
そこで本発明は上記従来の課題を解決するためのものであり、特に、基板上に搭載される複数のチップ間を狭小化でき、高精度に外部磁界を検出することが可能な磁気検出装置及びその製造方法、ならびに前記磁気検出装置を用いた角度検出装置、位置検出装置及び磁気スイッチを提供することを目的としている。
本発明は。磁界変化に対して電気特性が変化する磁気検出素子と接続パッドとを備えた第1チップ及び第2チップ基板上に搭載され、前記電気特性の変化に基づき、前記磁界変化が検知される磁気検出装置であって、
前記第1チップと前記第2チップとの間の対向領域を除く前記第1チップ及び前記第2チップの外周領域の前記基板上に複数の導電パターンが形成され、前記第1チップ及び前記第2チップの前記接続パッドにはそれぞれ、前記第1チップと前記第2チップ間を電気的に接続するための複数の第1の接続パッドが設けられ、複数の前記第1の接続パッドと複数の前記導電パターン間がそれぞれワイヤボンディングされて、前記第1チップと前記第2チップとが電気的に接続されており、
前記外周領域に形成された複数の前記導電パターンは、前記第1チップ及び前記第2チップの各第1の接続パッドとワイヤボンディングされるそれぞれの位置がボンド領域とされており、
複数の前記導電パターンのうち、前記第2チップの外周を囲むようにして形成された第1導電パターンが設けられており、前記第1導電パターンの前記第1チップに対する前記ボンド領域と前記第1チップとの間、及び前記第1導電パターンの前記第2チップに対する前記ボンド領域と前記第2チップとの間が、ほかの前記導電パターンと各チップとの間でボンディングされたワイヤと交差することなく、ワイヤボンディングされていることを特徴とするものである。
上記構成により前記チップ間を狭小化でき、各磁気検出素子を小さい面積内に集約でき、磁界変化を高精度に検知することが可能になる。
また本発明は、前記第1の接続パッドが、互いに、電気的に接続されるチップとの対向側に設けられている構成に効果的に適用できる。
また本発明では、前記ワイヤボンディングによるワイヤは、前記第1の接続パッド上と前記導電パターン上とに夫々接合されており、前記第1の接続パッド上が最初に前記ワイヤを接合する第1ボンド領域で、前記導電パターン上が次に前記ワイヤを接合する第2ボンド領域であることが好ましい。これにより、前記第1の接続パッドを適切に小さく形成でき、各磁気検出素子をより小さい面積内に集約できる。
また本発明では、電気的に接続された一対のチップには、夫々、磁化方向が固定された固定磁性層と、磁化方向が外部磁界により変動するフリー磁性層とが、非磁性材料層を介して積層された磁気抵抗効果を利用して成る磁気抵抗効果素子が設けられ、
一方のチップに設けられた第1磁気抵抗効果素子の固定磁性層の磁化方向と、他方のチップに設けられた第2磁気抵抗効果素子の固定磁性層の磁化方向は反平行であることが好ましい。これにより簡単な構成で、前記外部磁界の変化に対して出力値を高くでき、より高精度に外部磁界の変化を検知できる。
また本発明における角度検出装置は、上記のいずれかに記載された磁気検出装置と、前記基板の高さ方向にて対向し、外部磁界を発生する磁界発生部材とを有し、
前記磁気検出装置と前記磁界発生部材の少なくともいずれか一方が前記基板の高さ方向を回転軸として回転可能に支持されており、
前記磁気検出装置にて検知された磁界変化に伴う出力変化に基づき、回転角度が検知されることを特徴とするものである。
本発明では前記チップ間を狭小化でき、各磁気検出素子を小さい面積内に集約できる。これにより磁界発生部材から発生する外部磁界の各磁気検出素子に作用する水平磁界成分を大きくでき、高精度に回転角度を検知できる。また本発明では、前記磁界発生部材を小さく形成でき、角度検出装置の小型化を図ることが出来る。
あるいは本発明における位置検出装置は、上記のいずれかに記載された磁気検出装置と、前記基板の高さ方向にて対向し、外部磁界を発生する磁界発生部材とを有し、
前記磁気検出装置が前記磁界発生部材に対して、前記高さ方向と直交する方向への移動成分を有して相対的に移動可能に支持されており、
前記磁気検出装置にて検知された磁界変化に伴う出力変化に基づき、前記磁気検出装置の前記磁界発生部材に対する相対位置が検知されることを特徴とするものである。
または本発明における磁気スイッチは、上記のいずれかに記載された磁気検出装置と、前記基板の高さ方向にて対向し、外部磁界を発生する磁界発生部材とを有し、
前記磁気検出装置と前記磁界発生部材の少なくともいずれか一方が、前記磁気検出装置と前記磁界発生部材間の距離が変動可能なように支持されており、
前記磁気検出装置にて検知された磁界変化に伴う出力変化に基づき、オン信号あるいはオフ信号が生成されることを特徴とするものである。
本発明の磁気検出装置によれば、基板上に搭載される複数のチップ間を狭小化でき、高精度に磁界変化を検出することが可能である。
また前記磁気検出装置を用いた角度検出装置、位置検出装置及び磁気スイッチでは、高精度に磁界検知でき、また磁界発生部材を小さく形成でき、角度検出装置、位置検出装置及び磁気スイッチの小型化を図ることが出来る。
図1は本実施形態の磁気検出装置の平面図、図2は図1に示すA−A線に沿って磁気検出装置を高さ方向に切断しその切断面を矢印方向から見た部分拡大断面図、図3は本実施形態の磁気検出装置の回路構成図、図4は、図1に示すB−B線に沿って磁気検出装置を高さ方向に切断しその切断面を矢印方向から見た部分拡大断面図、図5(a)〜(d)は、外部磁界の方向が変化したときの第1磁気抵抗効果素子と第2磁気抵抗効果素子の固定磁性層及びフリー磁性層の磁化方向を示す模式図、図6は本実施形態における角度検出装置の斜視図、図7〜図9は本実施形態の磁気検出装置の製造工程を示す平面図、図10〜図12は本実施形態におけるワイヤボンディングを説明するための拡大側面図、である。
図1に示すように本実施形態における磁気検出装置20は、基板21上に第1チップ22と第2チップ23が搭載されている。各チップ22,23の大きさは、幅寸法(図示X1−X2方向の寸法)が0.3〜3mm程度、長さ寸法(図示Y1−Y2方向の寸法)が0.3〜3mm程度である。
図1に示すように、第1チップ22及び第2チップ23には夫々、2個ずつ第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25が形成されている。
図4に示すように、前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25は夫々別の基台26上に形成されている。
第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25は、巨大磁気抵抗効果(GMR効果)を利用した巨大磁気抵抗効果素子(GMR素子)である。図4に示すように第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25は、共に下から反強磁性層27、固定磁性層28、非磁性材料層29、フリー磁性層30及び保護層31の順に積層されている。前記反強磁性層27は例えばIrMnで形成される。固定磁性層28やフリー磁性層30はNiFeやCoFe等の強磁性材料で形成される。非磁性材料層29は例えばCuで形成される。保護層31は例えばTaで形成される。
図4に示すように前記第1磁気抵抗効果素子24の固定磁性層28の磁化方向28aは図示X2方向で、第2磁気抵抗効果素子25の固定磁性層28の磁化方向28aは図示X1方向であり、第1磁気抵抗効果素子24と第2磁気抵抗効果素子25とで固定磁性層28の磁化方向28aが180度異なっている(反平行となっている)。
図3に示すように2個の第1磁気抵抗効果素子24と2個の第2磁気抵抗効果素子25はブリッジ回路を構成している。図3に示すように第1直列回路32を構成する第1磁気抵抗効果素子24は入力端子36側に、第2磁気抵抗効果素子25はグランド端子37側に夫々接続されている。また第2直列回路33を構成する第2磁気抵抗効果素子25は入力端子36側に、第1磁気抵抗効果素子24はグランド端子37側に接続されている。図3に示すように前記第1直列回路32の出力取り出し部34と第2直列回路33の出力取り出し部35は共に差動増幅器38に接続され、前記差動増幅器38の出力側が出力端子39に接続される。
図4で説明したように、第1磁気抵抗効果素子24の固定磁性層28の磁化方向28aと第2磁気抵抗効果素子25の固定磁性層28の磁化方向28aが反平行であるとき、外部磁界Hに対する第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25の電気抵抗値の変化は、回転磁場に対して180度、位相がずれている。図5を用いて説明する。
図5(a)では外部磁界HがY1方向に向いている。このとき第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25を構成するフリー磁性層30の磁化方向30aは共に図示Y1方向に向く。図5(a)に示すように第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25ともに固定磁性層28の磁化方向28aとフリー磁性層30の磁化方向30aは直交しているので、第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25の電気抵抗値は同じ値となっている。
次に外部磁界Hが反時計周りに90度回転すると図5(b)のように外部磁界Hは図示X2方向を向く。このとき前記フリー磁性層30の磁化方向30aも図示X2方向に向く。図5(b)に示すように第1磁気抵抗効果素子24では、固定磁性層28の磁化方向28aとフリー磁性層30の磁化方向30aとが平行である。よって図5(b)の状態では前記第1磁気抵抗効果素子24の電気抵抗値は最小となっている。一方、図5(b)に示すように、第2磁気抵抗効果素子25では、固定磁性層28の磁化方向28aとフリー磁性層30の磁化方向30aとが反平行である。よって図5(b)の状態では前記第2磁気抵抗効果素子25の電気抵抗値は最大となっている。このように図5(a)の状態から図5(b)の状態にかけて、第1磁気抵抗効果素子24では、徐々に電気抵抗値が低下し、やがて最小抵抗値となり、第2磁気抵抗効果素子25では徐々に電気抵抗値が上昇し、やがて最大抵抗値となる。
次に、外部磁界Hがさらに反時計周りに90度回転すると図5(c)のように外部磁界Hは図示Y2方向を向く。このとき前記フリー磁性層30の磁化方向30aも図示Y2方向に向く。図5(c)の状態は図5(a)と同様であり、第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25の固定磁性層28の磁化方向28aとフリー磁性層30の磁化方向30aとが直交しており、第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25の電気抵抗値は共に同じになる。図5(b)の状態から図5(c)の状態にかけて、第1磁気抵抗効果素子24では、徐々に電気抵抗値が上昇し、第2磁気抵抗効果素子25では徐々に電気抵抗値が低下する。
次に、外部磁界Hがさらに反時計周りに90度回転すると図5(d)のように外部磁界Hは図示X1方向を向く。このとき前記フリー磁性層30の磁化方向30aも図示X1方向に向く。図5(d)に示すように第1磁気抵抗効果素子24では、固定磁性層28の磁化方向28aとフリー磁性層30の磁化方向30aとが反平行である。よって図5(d)の状態では前記第1磁気抵抗効果素子24の電気抵抗値は最大となっている。一方、図5(d)に示すように、第2磁気抵抗効果素子25では、固定磁性層28の磁化方向28aとフリー磁性層30の磁化方向30aとが平行である。よって図5(d)の状態では前記第2磁気抵抗効果素子25の電気抵抗値は最小となっている。このように図5(c)の状態から図5(d)の状態にかけて、第1磁気抵抗効果素子24では、徐々に電気抵抗値が上昇し、やがて最大抵抗値となり、第2磁気抵抗効果素子25では徐々に電気抵抗値が低下し、やがて最小抵抗値となる。
このように外部磁界Hに対する第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25の電気抵抗値の変化は、回転磁場に対して180度、位相がずれている。したがって、図3に示すように第1磁気抵抗効果素子24と第2磁気抵抗効果素子25とでブリッジ回路を構成することで、一方の磁気抵抗効果素子を固定抵抗素子とした場合に比べて出力値(差動電位)を2倍に大きくできる。
図4に示すように前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25は共に樹脂や無機絶縁材料等で形成されたカバー層40により覆われてパッケージ化されている。図1及び図4に示すように第1チップ22及び第2チップ23のチップ表面22a,23aには導電性の接続パッド41,42が外部に露出して形成されている。前記接続パッド41,42は、各チップ22,23に6個ずつ設けられている。
各接続パッド41,42は直接あるいは間接的に磁気抵抗効果素子24,25と電気的に接続されている。図1の点線Cで示す部分はチップ22,23内部の配線を示す。
なお本実施形態では、第1チップ22と第2チップ23は同じチップ構成であり、前記第2チップ23は第1チップ22の配置方向に対して180度反転させて基板21上に配置される。これにより図4で説明したように前記第1チップ22に形成される第1磁気抵抗効果素子24と前記第2チップ23に形成される第2磁気抵抗効果素子25の固定磁性層28の磁化方向28aを反平行にできる。このように第1チップ22と第2チップ23を同じチップ構成にすることで、前記第1チップ22及び第2チップ23を同一基板上に形成できるが、前記第1チップ22及び第2チップ23を異なるチップ構成で別々に形成することも可能である。
前記接続パッド41,42のうち、接続パッド41(第1の接続パッド)は、各チップ22,23間にて対向する側に設けられ、接続パッド42(第2の接続パッド)は、前記接続パッド41の反対側に設けられている。以下、接続パッド41を内側接続パッド41と、接続パッド42を外側接続パッド42と称する。
図1に示すように前記第1チップ22と前記第2チップ23間には対向領域Dが設けられている。前記対向領域Dの間隔T2は0.1〜0.5mmの範囲内であることが好適である。特にワイヤの配線条件等をクリアできれば、前記対向領域Dの間隔T2をゼロ、すなわち前記第1チップ22と第2チップ23間を接触させることが最も好ましい。
図1に示すように本実施形態では前記チップ22,23間を除く前記チップ22,23の外周領域Eの前記基板21上に導電パターン50,51,52が形成されている。すなわち前記対向領域Dの基板21上に前記導電パターンは形成されず、それ以外の箇所に前記導電パターンが形成されている。
図1に示すように第1チップ22及び第2チップ23の最も図示Y1側に形成された内側接続パッド41どうしは、夫々、導電パターン50との間でワイヤボンディングされることで電気的に接続されている。また、第1チップ22及び第2チップ23の最も図示Y2側に形成された内側接続パッド41どうしは、夫々、導電パターン52との間でワイヤボンディングされることで電気的に接続されている。また、第1チップ22及び第2チップ23のY方向の中間に位置する内側接続パッド41どうしは、夫々、導電パターン51との間でワイヤボンディングされることで電気的に接続されている。
ワイヤボンディングによるワイヤ60は、金等の良好な電気伝導性の材料で形成され、図2に示すように、内側接続パッド41上と導電パターン52上に夫々接合されている。図2に示すように、前記内側接続パッド41上が最初に前記ワイヤ60を接合する第1ボンド領域で、前記導電パターン52上が次に前記ワイヤ60を接合する第2ボンド領域であることが好ましい。
図2に示すように、前記ワイヤ60の前記第1ボンド領域である内側接続パッド41上に位置する第1接合部60aは元々はボール状であったものがキャピラリにより押し付けられたことで潰された形状であり、一方、前記ワイヤ60の前記第2ボンド領域である導電パターン52上に位置する第2接合部60bはワイヤ60を潰して形成される。2番目のボンディングでは、強く導電パターン60上にワイヤ60を接合する部分と、ワイヤ60を所定位置にて切断されやすくするための暫定的な接合領域を形成する等、第2接合部60bの接合領域は第1接合部60aの接合領域よりも広い範囲となる。第2接合部60b側のワイヤ終端面60cが切断面である。このようにワイヤ60の形状を見れば、内側接続パッド41及び導電パターン52のどちらが第1ボンド領域か第2ボンド領域かを判別できる。
ワイヤ60の第2接合部60bは、第1接合部60aに比べて広い領域に形成されるが、本実施形態では、内側接続パッド41を第1ボンド領域としているので、前記内側接続パッド41の大きさを小さくできる。よってチップ22,23の小型化を図ることが可能である。
前記第1チップ22と第2チップ23の内側接続パッド41,41間を図1のように電気的に接続することで図3に示すブリッジ回路が構成される。
図1に示す実施形態では全ての内側接続パッド41が、チップ同士の接続用として、前記導電パターン50,51,52上にワイヤボンディングされているが、例えば一部の内側接続パッド41のみがチップ同士の接続用として使用される形態でもよい。
また、前記第1チップ22及び第2チップ23の外側接続パッド42は、入力端子36と接続される入力側接続点53,54、グランド端子37と接続されるグランド側接続点55,56、出力取り出し部34、35のいずれかに該当する。前記外側接続パッド42と前記入力端子36、グランド端子37及び差動増幅器38の入力部とはワイヤボンディングにより電気的に接続されている。図1には一例を示した。「Vcc」の表記はワイヤ61が入力端子36に接続されることを、「GND」の表記はワイヤ62がグランド端子37に接続されることを、「OUT1」の表記はワイヤ63が接続されている接続パッド42が出力取り出し部34であることを、「OUT2」はワイヤ64が接続されている接続パッド42が出力取り出し部35であることを示している。
以上説明した本実施形態の磁気検出装置20は、図6に示す角度検出装置70に使用される。前記角度検出装置70では、前記磁気検出装置20の高さ方向(Z方向)に対向して磁界発生部材71が設けられている。前記磁気検出装置20と前記磁界発生部材71間には空間があり、非接触式の磁気センサである。
前記磁界発生部材71は前記高さ方向(図示Z方向)を回転軸として回転可能に支持されている。前記磁界発生部材71の回転中心O1を通るライン上の一端部側にN極が、他端部側にS極が着磁されている。前記磁界発生部材71は、回転体と、前記回転体の前記磁気検出装置20との対向面側に設けられた複数個の磁石とからなる形態であっても、あるいは前記磁界発生部材71そのものが磁石であってもよい。
磁界発生部材71が磁気検出装置20の上方にて回転すると、外部磁界Hが図5で説明した回転磁場として前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25の夫々に作用する。これにより前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25のフリー磁性層30の磁化方向30aが変動して前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25の電気抵抗値が変動する。図3で説明した回路により、前記電気抵抗値の変化に基づく出力値(差動電位)が得られ、この出力値に基づき、前記磁界発生部材71の回転角度を検知することが可能である。
図6に示すように磁界発生部材71の回転に伴い、前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25の夫々に、図示X1−X2方向と図示Y1−Y2方向とから成る面内での水平磁場成分が作用し、図5で説明したように、前記水平磁場成分の外部磁界H方向に向けて、フリー磁性層30の磁化方向30aが変動する。
例えば図6に示すように磁界発生部材71の端部での外部磁界Hは、図示Z方向に平行な垂直磁場成分が多くなり、前記垂直磁場成分が第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25に作用しても前記フリー磁性層30の磁化方向30aは変動しない。
したがって前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25に作用する水平磁場成分が大きくなるように構成しなければ適切に前記磁界発生部材71の回転角度を検知できない。
本実施形態では、図1で説明したように、各チップ22,23の内側接続パッド41間を電気的に接続すべくワイヤボンディングを中継するための導電パターン50、51,52をチップ22,23間を除く外周領域Eの基板21上に設けている。このため前記チップ22,23間の対向領域Dを極力狭くすることが可能となる。その結果、第1チップ22に形成される第1磁気抵抗効果素子24と第2チップ23に形成される第2磁気抵抗効果素子25を小さい面積内に集約させることができる。
図6に示すように外部磁界Hの水平磁場成分は、回転軸付近ほど強まるため、第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25を前記回転軸付近に集約させることで、前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25に作用する水平磁場成分を強くでき、この結果、高精度に前記磁界発生部材71の回転角度を検知することが可能である。
また前記磁界発生部材71を小さくしても適切に第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25に対して水平磁界成分を作用させることが可能であるため、回転検出精度に優れた小型の角度検出装置70にできる。
図6に示すように前記磁界発生部材71の回転中心O1と前記磁気検出装置20のチップ22,23間の対向領域Dの中心O2とを回転軸に沿って一致させると、前記第1磁気抵抗効果素子24及び第2磁気抵抗効果素子25を効果的に前記回転軸付近に集約させることができ好適である。
本実施形態での角度検出装置70は、例えば、スロットルポジションセンサやアクセルポジションセンサ等の車載用角度検出センサとして使用される。
また本実施形態の磁気検出装置20を、ジョイスティック等のインプットデバイス用位置検出センサに適用できる。位置検出センサでは、前記磁気検出装置20と、前記基板21の高さ方向にて対向し、外部磁界を発生する磁界発生部材とを有し、前記磁気検出装置20が前記磁界発生部材に対して、前記高さ方向と直交する方向への移動成分を有して相対的に移動可能に支持されており、前記磁気検出装置20にて検知された磁界変化に伴う出力変化に基づき、前記磁気検出装置20の前記磁界発生部材に対する相対位置が検知される。
また本実施形態における磁気検出装置20を磁気スイッチとして使用することもできる。磁気スイッチでは、前記磁気検出装置20と、前記基板21の高さ方向にて対向し、外部磁界を発生する磁界発生部材とを有し、前記磁気検出装置20と前記磁界発生部材の少なくともいずれか一方が、前記磁気検出装置20と前記磁界発生部材間の距離が変動可能なように支持されており、前記磁気検出装置20にて検知された磁界変化に伴う出力変化に基づき、オン信号あるいはオフ信号が生成される。
図6では磁界発生部材71が回転可能に支持されていたが、前記磁気検出装置20が回転可能に支持されていてもよく、前記磁界発生部材71及び前記磁気検出装置20の双方が回転可能に支持されていてもよい。
図1に示す磁気検出装置20の製造方法について、図7ないし図12を用いて以下に説明する。
図7に示す工程では、チップ搭載領域80,81間を除く前記チップ搭載領域80,81の外周領域Eの基板21上に導電パターン50,51,52を形成する。前記導電パターン50,51,52をスクリーン印刷、メッキ、蒸着等の既存の方法で形成する。
前記導電パターンの数は、チップ22,23の内側接続パッド41間の接続数と一致する。この形態では接続数は3であるため、導電パターンを3つ形成している。
次に図8に示す工程では、前記チップ搭載領域80,81上に接着層を介して第1チップ22及び第2チップ23を固着する。前記第1チップ22及び第2チップ23は同じチップ構成であるが、第2チップ23を第1チップ22の設置方向に対して180度反転させた状態で前記基板21上に設置する。これにより前記第1チップ22に形成された第1磁気抵抗効果素子24と第2チップ23に形成された第2磁気抵抗効果素子25の固定磁性層28の磁化方向28aを図4で説明したように反平行状態にできる。
図8に示すように前記チップ22,23間の対向領域Dに前記導電パターンを形成しないので、前記対向領域Dの間隔T2を配線条件等が許す限り狭く設定できる。
図8に示すように、前記第1チップ22及び第2チップ23の内側接続パッド(第1の接続パッド)41を対向領域D側に向けて、前記第1チップ22及び第2チップ23を基板21上に搭載する。
図9に示す工程では、前記第1チップ22及び第2チップ23の内側接続パッド41を夫々、所定の導電パターン50,51,52上にワイヤボンディングする。
図9に示すように、前記第1チップ22及び第2チップ23の最も図示Y1側に形成された内側接続パッド41,41と導電パターン50間をワイヤボンディングしてY1側の前記内側接続パッド41,41間を電気的に接続する。また前記第1チップ22及び第2チップ23の最も図示Y2側に形成された内側接続パッド41,41と導電パターン52間をワイヤボンディングしてY2側の前記内側接続パッド41,41間を電気的に接続する。さらに、前記第1チップ22及び第2チップ23のY方向の中間に位置する内側接続パッド41,41と導電パターン51間をワイヤボンディングして中間位置の前記内側接続パッド41,41間を電気的に接続する。
ワイヤボンディング方法について説明する。図10に示すように、ワイヤ先端に金ボール82が形成された状態にてキャピラリ83を第1チップ22,あるいは第2チップ23のチップ表面に形成された内側接続パッド41上に降下させ、熱・荷重さらには超音波を前記金ボール82に加える。前記金ボール82を潰して図2で説明した第1接合部60aによりワイヤ60と前記内側接続パッド41間を接合する。
次に図11に示す工程では、キャピラリ83を上昇させ、さらに次にボンディングする導電パターン50,51,52上にまで移動させる。このときワイヤ60をループ状に形成する。
前記ワイヤ60を前記導電パターン50,51,52上に押し付け、このとき、前記ワイヤ60に熱・荷重さらには超音波を加えて前記ワイヤ60を潰して変形させる。さらに、2番目のボンディングでは、強く導電パターン50,51,52上にワイヤ60を接合する部分と、ワイヤ60を所定位置にて切断されやすくするための暫定的な接合領域を形成することで、導電パターン50,51,52に対する第2接合部60bの接合面積は広くなる。
そして図12工程では前記キャピラリ83を上昇させて前記ワイヤ60を切断する。
このように、ワイヤボンディングの際、ワイヤ60を前記内側接続パッド41上に最初に接合し、続いて前記ワイヤ60を前記導電パターン50,51,52上に接合し、その後、前記ワイヤ60を切断する。2番目にボンディングされる第2ボンド領域を前記内側接続パッド41にしてしまうと前記内側接続パッド41の面積を広めに形成しなければならないが、本実施形態では前記内側接続パッド41を最初にボンディングされる第1ボンド領域にしているので前記内側接続パッド41の面積を小さく形成できる。その結果、前記第1チップ22及び第2チップ23を小さく形成でき、前記チップ22,23に含まれる磁気抵抗効果素子4,5を小さい面積内に集約することが可能となる。
本実施形態では、基板21上に搭載されるチップ数は2であったが、チップ数は2より多くてもよい。前記チップ数を2より多くしても、チップ間には前記導電パターンを形成せず、前記チップの外周領域の基板21上に前記導電パターンを形成し、チップ同士を電気的に接続するための第1の接続パッドと前記導電パターン間をワイヤボンディングする。
また本実施形態では、前記接続パッドは、図1に示す内側接続パッド41と外側接続パッド42とで構成されるが、前記接続パッドの配置は図1以外の配置であってもよい。ただし本実施形態では前記接続パッドには、電気的に接続されるチップとの対向面側に第1の接続パッド(内側接続パッド)があり、前記第1の接続パッドと前記導電パターン間をワイヤボンディングしてチップ同士を電気的に接続する形態に効果的に適用できる。
またチップに形成される磁気検出素子は、GMR素子以外にTMR素子(トンネル型磁気抵抗効果素子)であってもよい。また前記磁気検出素子はGMR素子やTMR素子以外であってもよいが、GMR素子及びTMR素子は図4で説明した積層構造(TMR素子では非磁性材料層29は絶縁層である)を備え、固定磁性層28の磁化方向28aが反平行となるように同じチップ構成のものを180度反転させて基板21上に設置すれば、回転磁場を大きな出力値で検知できるため、磁気検出素子にはGMR素子あるいはTMR素子を使用することが、簡単な構成にて高精度に磁界検出が可能な磁気検出装置を製造でき好適である。
本実施形態の磁気検出装置の平面図、 図1に示すA−A線に沿って磁気検出装置を高さ方向に切断しその切断面を矢印方向から見た部分拡大断面図、 本実施形態の磁気検出装置の回路構成図、 図1に示すB−B線に沿って磁気検出装置を高さ方向に切断しその切断面を矢印方向から見た部分拡大断面図、 (a)〜(d)は、外部磁界の方向が変化したときの第1磁気抵抗効果素子と第2磁気抵抗効果素子の固定磁性層及びフリー磁性層の磁化方向を示す模式図、 本実施形態における角度検出装置の斜視図、 本実施形態の磁気検出装置の製造工程を示す一工程図(平面図)、 図7の次に行われる一工程図(平面図)、 図8の次に行われる一工程図(平面図)、 本実施形態におけるワイヤボンディングを説明するための一工程図(拡大側面図)、 図10の次に行われる一工程図(拡大側面図)、 図11の次に行われる一工程図(拡大側面図)、 従来の磁気検出装置の平面図、
符号の説明
20 磁気検出装置
21 基板
22 第1チップ
23 第2チップ
24 第1磁気抵抗効果素子
25 第2磁気抵抗効果素子
27 反強磁性層
28 固定磁性層
29 非磁性材料層
30 フリー磁性層
31 保護層
32 第1直列回路
33 第2直列回路
34、35 出力取り出し部
36 入力端子
37 グランド端子
38 差動増幅器
41 内側接続パッド(第1の接続パッド)
42 外側接続パッド
50、51、52 導電パターン
60、61、62、63、64 ワイヤ
60a 第1接合部
60b 第2接合部
70 角度検出装置
71 磁界発生部材
80、81 チップ搭載領域
82 金ボール
83 キャピラリ
D 対向領域
E 外周領域
H 外部磁界

Claims (10)

  1. 磁界変化に対して電気特性が変化する磁気検出素子と接続パッドとを備えた第1チップ及び第2チップ基板上に搭載され、前記電気特性の変化に基づき、前記磁界変化が検知される磁気検出装置であって、
    前記第1チップと前記第2チップとのの対向領域を除く前記第1チップ及び前記第2チップの外周領域の前記基板上に複数の導電パターンが形成され、前記第1チップ及び前記第2チップの前記接続パッドにはそれぞれ、前記第1チップと前記第2チップ間を電気的に接続するための複数の第1の接続パッドが設けられ、複数の前記第1の接続パッドと複数の前記導電パターン間がそれぞれワイヤボンディングされて、前記第1チップと前記第2チップとが電気的に接続されており、
    前記外周領域に形成された複数の前記導電パターンは、前記第1チップ及び前記第2チップの各第1の接続パッドとワイヤボンディングされるそれぞれの位置がボンド領域とされており、
    複数の前記導電パターンのうち、前記第2チップの外周を囲むようにして形成された第1導電パターンが設けられており、前記第1導電パターンの前記第1チップに対する前記ボンド領域と前記第1チップとの間、及び前記第1導電パターンの前記第2チップに対する前記ボンド領域と前記第2チップとの間が、ほかの前記導電パターンと各チップとの間でボンディングされたワイヤと交差することなく、ワイヤボンディングされていることを特徴とする磁気検出装置。
  2. 前記第1の接続パッドは、前記第1チップと前記第2チップとの間にて対向する内側に設けられている請求項1記載の磁気検出装置。
  3. 前記導電パターン上の前記ボンド領域は第2ボンド領域であり、
    前記ワイヤボンディングによるワイヤは、前記第1の接続パッド上と前記導電パターン上とに夫々接合されており、前記第1の接続パッド上が最初に前記ワイヤを接合する第1ボンド領域で、前記導電パターン上が次に前記ワイヤを接合する前記第2ボンド領域である請求項1又は2に記載の磁気検出装置。
  4. 電気的に接続された前記第1チップ及び前記第2チップには、夫々、磁化方向が固定された固定磁性層と、磁化方向が外部磁界により変動するフリー磁性層とが、非磁性材料層を介して積層された磁気抵抗効果を利用して成る磁気抵抗効果素子が設けられ、
    前記第1チップに設けられた前記磁気抵抗効果素子の固定磁性層の磁化方向と、前記第2チップに設けられた前記磁気抵抗効果素子の固定磁性層の磁化方向は反平行である請求項1ないし3のいずれかに記載の磁気検出装置。
  5. 前記第1チップ及び前記第2チップには、対向側に設けられた内側接続パッドとしての前記第1の接続パッドと、前記第1の接続パッドの反対側に設けられた外側接続パッドとが設けられ、
    前記第1の接続パッドは、前記第1チップと前記第2チップ間の電気的接続用として用いられ、
    前記外側接続パッドは、入力端子、グランド端子及び出力取り出し部のいずれかに接続される請求項1ないし4のいずれかに記載の磁気検出装置。
  6. 前記第1チップには2個の磁気検出素子が前記第1チップと前記第2チップとの並び方向と直交する方向に間隔を空けて並設され、各磁気抵抗効果素子の第2チップと対向する内側端部に前記第1の接続パッドが接続され、前記内側端部とは反対側の外側端部に前記外側接続パッドが設けられ、
    一方の前記磁気検出素子から引き出されて、さらにもう一つ、前記第1の接続パッドが形成されており、他方の前記磁気検出素子から引き出されて、さらにもう一つ前記外側接続パッドが設けられており、
    前記第2チップは前記第1チップを180度反転させたチップ構成である請求項5記載の磁気検出装置。
  7. 前記第1チップ及び前記第2チップには夫々、複数で且つ同数の前記第1の接続パッドが設けられ、前記第1チップ及び前記第2チップの並び方向にて対向する各チップの前記第1の接続パッド同士が前記導電パターンを介して電気的に接続されている請求項1ないし6のいずれかに記載の磁気検出装置。
  8. 請求項1ないし7のいずれかに記載された磁気検出装置と、前記基板の高さ方向にて対向し、外部磁界を発生する磁界発生部材とを有し、
    前記磁気検出装置と前記磁界発生部材の少なくともいずれか一方が前記基板の高さ方向を回転軸として回転可能に支持されており、
    前記磁気検出装置にて検知された磁界変化に伴う出力変化に基づき、回転角度が検知されることを特徴とする角度検出装置。
  9. 請求項1ないし7のいずれかに記載された磁気検出装置と、前記基板の高さ方向にて対向し、外部磁界を発生する磁界発生部材とを有し、
    前記磁気検出装置が前記磁界発生部材に対して、前記高さ方向と直交する方向への移動成分を有して相対的に移動可能に支持されており、
    前記磁気検出装置にて検知された磁界変化に伴う出力変化に基づき、前記磁気検出装置の前記磁界発生部材に対する相対位置が検知されることを特徴とする位置検出装置。
  10. 請求項1ないし7のいずれかに記載された磁気検出装置と、前記基板の高さ方向にて対向し、外部磁界を発生する磁界発生部材とを有し、
    前記磁気検出装置と前記磁界発生部材の少なくともいずれか一方が、前記磁気検出装置と前記磁界発生部材間の距離が変動可能なように支持されており、
    前記磁気検出装置にて検知された磁界変化に伴う出力変化に基づき、オン信号あるいはオフ信号が生成されることを特徴とする磁気スイッチ。
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