JP5228961B2 - 増幅回路及び撮像装置 - Google Patents

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Description

本発明は、2つの信号の差を増幅する増幅回路に係り、特に、イメージセンサから出力される信号のノイズキャンセルと増幅を行う増幅回路に関するものである。
一般的なCMOS(complementary metal-oxide
semiconductor)イメージセンサには、画素アレイと読み出し部が設けられている。画素アレイの各画素回路にフォトダイオードとアンプ回路が含まれており、フォトダイオードに発生する電圧がアンプ回路により増幅されて列信号線に出力される。読み出し部では、CDS(correlated
double sampling:相関二重サンプリング)と呼ばれるノイズキャンセル処理のため、1つの画素について2回の読み出しが行われる。暗レベル(N)と信号レベル(NS)の画素信号がそれぞれ読み出され、これらの信号の差(N−NS)に応じて新たな画素信号(S)が得られる。通常、画像処理を容易にするため、CDS後の画素信号(S)にアナログ−デジタル変換(AD変換)が実行される。
各画素は、並列方式とシーケンシャル方式を合わせた方法で読み出される。画素アレイの各行が順次に選択され、選択された行の複数の列から並列に画素信号が読み出される。それぞれの列で行われる読み出し処理の程度に応じて、並列性の度合が変化する。表1は、各列で行われる読み出し処理の内容と並列性の度合を示す。
並列性の向上は、消費電力を低く抑えながら性能を向上させることを助ける。このことは、イメージセンサの解像度を増やす場合に列レベルでの要素の集積化が強力に推し進める理由となっている。近年では、各列に増幅回路を備えるCMOSイメージセンサが見られるようになっている。
特開平10−164442号公報
図26は、イメージセンサにおいて画素信号の増幅とCDSを行う一般的なスイッチト・キャパシタ増幅器の一例を示す図である。
図26に示す増幅器は、キャパシタCa,Cbと、演算増幅器101と、スイッチ回路102を有する。キャパシタCaの一方の端子がイメージセンサの列信号線に接続され、他方の端子が演算増幅器101の負入力端子に接続される。演算増幅器101の負入力端子と出力端子の間にキャパシタCbとスイッチ回路102が並列接続され、演算増幅器101の正入力端子に基準電圧GNDが入力される。
イメージセンサから暗レベルの電圧Vnが出力されるとき、スイッチ回路102がオン状態となる。このとき、演算増幅器101の負入力端子はほぼ基準電圧GNDに保たれているため、キャパシタCaには電圧Vnが印加される。キャパシタCbの電荷は、オン状態のスイッチ回路102によってクリアされる。
次いで、イメージセンサから信号レベルの電圧Vnsが出力されるとき、スイッチ回路102がオフ状態となる。このときも、演算増幅器101の負入力端子はほぼ基準電圧GNDに保たれているため、キャパシタCaには電圧Vnsが印加される。キャパシタCaの電圧が「Vn」から「Vns」へ変化すると、この電圧の変化分に相当する電荷がキャパシタCbに蓄積される。演算増幅器101の出力電圧Voutは、概ね次の式で表される。
[数1]
Vout=(Ca/Cb)×(Vns−Vn) … (1)
式(1)に示すように、図26に示す増幅器は、暗レベルと信号レベルとの差(Vns−Vn)をキャパシタCa,Cbの容量比に応じたゲインで増幅する。
この増幅器をイメージセンサの各列に設けた場合、静電容量のミスマッチによるゲインのばらつきが問題となる。
静電容量のマッチングの精度は、マスキング処理などによって制限されており、近年のプロセスで比較的大きなキャパシタを形成する場合でも0.1%程度に留まる。この精度は、10ビットの分解能と等価である。暗いシーンを撮影し、カメラシステムの外部で追加的な信号増幅を行う場合、0.1%のエラーはたちまち視認可能なノイズを生じる。増幅器のゲインのばらつきに伴うノイズは、スクリーンにおいて上から下へ走る線のように現れる。各列のゲインを適応的に変化させる広ダイナミックレンジ手法を用いる場合、上述したノイズの問題は更に深刻となる。
また、キャパシタCbの最小のサイズは、静電容量のマッチング精度や熱雑音との兼ね合いによって制限される。そのため、高いゲインが要求される場合、図26に示す増幅器ではキャパシタCaのサイズを大きくしなければならず、面積が大きくなるという問題が生じる。その上、ゲインをプログラマブルにする場合、キャパシタC1を複数の単位キャパシタに分割して、それらの接続を切り替えるスイッチ回路を設ける必要があるため、面積が更に大きくなる。そのため、図26に示す増幅器は、イメージセンサの各列で増幅を行う並列度の高い方式には不向きである。
更に、図26に示す増幅器では、ゲインを高めると演算増幅器101のフィードバック量が減少するため、動特性が劣化するという問題が生じる。また、フィードバック量が減少すると駆動能力が低下するため、演算増幅器101が後段の回路を駆動できなくなるという問題も生じる。一方、このような問題を回避するため演算増幅器101の直流ゲインを高くしてゲイン帯域幅を広くすると、消費電力と回路面積が増大するという問題を生じる。従って、図26に示す増幅器において達成できるゲインは、実際上8倍〜16倍に留まる。もっと高いゲインが必要な場合は別の増幅段を設けることになるため、消費電力と回路面積の増大が避けられない。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、消費電力と回路面積の増大を抑制できる増幅回路と、そのような増幅回路を備えた撮像装置を提供することにある。
本発明の第1の観点に係る増幅回路は、第1信号と第2信号との差を増幅する増幅回路であって、第1ノードと第2ノードの間に設けられた第1キャパシタと、第3ノードと第4ノードの間に設けられた第2キャパシタと、上記第1信号又は上記第2信号を上記第1ノードに入力する入力回路と、上記第2ノードを基準電圧に接続する第1スイッチ回路と、上記第2ノードを上記第3ノードに接続する第2スイッチ回路と、上記第3ノードの電圧が上記基準電圧に近づくように上記第4ノードへ電流を供給する電流供給回路と、上記第2キャパシタの電荷を放電する第2キャパシタ放電回路とを有する。上記増幅回路は、初期フェーズにおいて、上記第2キャパシタ放電回路が上記第2キャパシタの電荷を放電する。また、上記増幅回路は、積分フェーズにおいて、上記第1スイッチ回路がオンし、上記第2スイッチ回路がオフし、上記入力回路が上記第1信号を上記第1ノードに入力する第1信号蓄積動作と、上記第1信号蓄積動作に続いて、上記第1スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路がオンし、上記入力回路が上記第2信号を上記第1ノードに入力する第2信号蓄積動作とを増幅率に応じた回数だけ反復する。
上記増幅回路によれば、上記初期フェーズにおいて、上記第2キャパシタの電荷が上記第2キャパシタ放電回路により放電される。
上記積分フェーズの上記第1信号蓄積動作では、上記第1スイッチ回路を介して上記第2ノードが上記基準電圧に接続され、上記入力回路によって上記第1信号が上記第1ノードに入力されるため、上記第1キャパシタには上記第1信号に応じた電荷が蓄積される。
上記第1信号蓄積動作に続く上記第2信号蓄積動作では、上記第1スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路がオンするため、上記第1キャパシタから上記第2キャパシタへの電荷の移動が可能になる。このとき、上記入力回路によって上記第2信号が上記第1ノードに入力されるとともに、上記第3ノードの電圧が上記基準電圧に近づくように上記第4ノードへ電流が供給されるため、上記第1キャパシタには上記第2信号に応じた電荷が蓄積される。また、上記第1信号と上記第2信号との差分に応じた電荷が上記第1キャパシタから上記第2キャパシタへ転送される。
この第1信号蓄積動作と第2信号蓄積動作が反復されることにより、上記第1信号と上記第2信号との差分に応じた電荷が上記第2キャパシタにおいて蓄積される。当該蓄積される電荷の量は、上記反復の回数を増やすことによって増大する。
好適に、上記増幅回路は、上記第4ノードを上記電流供給回路の電流出力端子に接続する第3スイッチ回路と、上記第4ノードを上記基準電圧に接続する第4スイッチ回路と、上記第1ノードを上記電流供給回路の電流出力端子に接続する第5スイッチ回路と、上記第1キャパシタの電荷を放電する第1キャパシタ放電回路とを有してよい。そして、上記増幅回路は、上記積分フェーズにおいて、上記第4スイッチ回路及び上記第5スイッチ回路がオフし、上記積分フェーズの少なくとも上記第2信号蓄積動作において、上記第3スイッチ回路がオンし、上記積分フェーズの後の放電フェーズにおいて、上記第1キャパシタ放電回路が上記第1キャパシタの電荷を放電し、上記放電フェーズの後の電荷転送フェーズにおいて、上記第1スイッチ回路及び上記第3スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路、上記第4スイッチ回路及び上記第5スイッチ回路がオンし、上記第3ノードの電圧が上記基準電圧に近づくように上記電流供給回路が上記第1ノードへ電流を供給してよい。
上記増幅回路によれば、上記積分フェーズの後の上記放電フェーズにおいて、上記第1キャパシタの電荷が上記第1キャパシタ放電回路により放電される。そして、上記放電フェーズの後の上記電荷転送フェーズでは、上記第1スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路がオンするため、上記第2キャパシタから上記第1キャパシタへの電荷の移動が可能になる。このとき、上記第3スイッチ回路がオフし、上記第5スイッチ回路がオンし、上記第3ノードの電圧が上記基準電圧に近づくように上記第1ノードへ電流が供給されると、上記第3ノードの電圧が上記基準電圧に近づくように上記第2キャパシタから上記第1キャパシタへ電荷が転送される。上記第4スイッチ回路がオンしているため、上記第2キャパシタに蓄積されるほぼ全ての電荷が上記第1キャパシタへ転送される。
好適に、上記増幅回路は、第5ノードと上記第2ノードとの間に設けられた第3キャパシタと、上記第5ノードを上記電流出力端子に接続する第6スイッチ回路とを有してよく、上記電流供給回路は、上記第5ノードの電圧と上記基準電圧との電圧差に応じた電流を出力してよい。この場合、上記初期フェーズにおいて、上記第2スイッチ回路及び上記第5スイッチ回路がオフし、上記第1スイッチ回路及び上記第6スイッチ回路がオンし、上記積分フェーズの上記第2信号蓄積動作並びに上記電荷転送フェーズにおいて、上記第6スイッチ回路がオフしてよい。
好適に、上記増幅回路は、上記第5ノードを上記第3ノードに接続する第7スイッチ回路を有してよい。この場合、上記積分フェーズの上記第1信号蓄積動作において、上記第3スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオンし、上記第6スイッチ回路がオフし、上記積分フェーズの上記第2信号蓄積動作において、上記第3スイッチ回路がオンし、上記第6スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオフし、上記放電フェーズにおいて、上記第3スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオンし、上記第6スイッチ回路がオフし、上記電荷転送フェーズにおいて、上記第3スイッチ回路、上記第6スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオフしてよい。
好適に、上記増幅回路は、上記初期フェーズにおいて、上記第3スイッチ回路がオフし、上記第4スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオンしてよい。この場合、上記初期フェーズにおいて導通経路を形成する上記第4スイッチ回路、上記第7スイッチ回路及び上記第6スイッチ回路と、当該導通経路に放電電流を供給する上記電流供給回路とが上記第2キャパシタ放電回路として動作してよい。
好適に、上記増幅回路は、上記第1スイッチ回路と上記第3キャパシタが共有する第6ノードを上記第2ノードに接続する第8スイッチ回路と、上記第5ノードを上記第2ノードに接続する第9スイッチ回路とを有してよい。この場合、上記増幅回路は、上記初期フェーズ、上記積分フェース、上記放電フェーズ及び上記電荷転送フェーズにおいて、上記第8スイッチ回路がオンし、上記第9スイッチ回路がオフし、上記電荷転送フェーズの後の補正フェーズにおいて、上記第1スイッチ回路、上記第5スイッチ回路及び上記第9スイッチ回路がオンし、上記第2スイッチ回路、上記第3スイッチ回路、上記第6スイッチ回路、上記第7スイッチ回路及び第8スイッチ回路がオフしてよい。
好適に、上記第1キャパシタは、並列に接続された複数の単位キャパシタを含んでよい。この場合、上記増幅回路は、上記電荷転送フェーズにおいて、上記複数の単位キャパシタの少なくとも一部をゲイン設定信号に応じて選択し、当該選択した単位キャパシタを上記第1ノードと上記第2ノードとの間に接続する選択回路を有してよい。
好適に、上記入力回路は、上記第1信号、上記第2信号、第1基準信号又は第2基準信号を上記第1ノードへ入力してよい。この場合、上記増幅回路は、上記積分フェーズにおいて、上記第1スイッチ回路がオンし、上記第2スイッチ回路がオフし、上記入力回路が上記第1基準信号を上記第1ノードに入力する第1基準信号蓄積動作と、上記第1基準信号蓄積動作に続けて、上記第1スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路がオンし、上記入力回路が上記第2基準信号を上記第1ノードに入力する第2基準信号蓄積動作とを上記増幅率に応じた回数だけ反復してよい。
好適に、上記増幅回路は、上記第1ノードを上記基準電圧に接続する第10スイッチ回路を有してよく、上記放電フェーズにおいて、上記第1スイッチ回路及び上記第10スイッチ回路がオンしてよい。この場合、上記放電フェーズにおいて導通経路を形成する上記第1スイッチ回路及び上記第10スイッチ回路が上記第1キャパシタ放電回路として動作してよい。
好適に、上記増幅回路は、それぞれ所定のタイミングで発生する上記第1信号及び上記第2信号を保持する信号保持回路を有してよい。
本発明の第2の観点に係る撮像装置は、行列状に配列された複数の画素回路を含む画素アレイと、上記画素アレイの各行を順次に選択し、選択した行に属するN個の画素回路からそれぞれノイズレベルに応じた第1信号及び撮像レベルに応じた第2信号を出力させる画素走査回路と、上記N個の画素回路から出力される上記第1信号及び上記第2信号の差をそれぞれ増幅するN個の上記増幅回路とを備える。
本発明によれば、入力される2つの信号の差に応じた電荷をキャパシタへ繰り返し蓄積させることにより増幅を行うため、消費電力と回路面積の増大を抑制できる。
第1の実施形態に係る撮像装置の構成の一例を示す図である。 画素回路の構成の一例を示す図である。 垂直走査回路の構成の一例を示す図である。 信号保持回路の構成の一例を示す図である。 読み出し回路の構成の一例を示す図である。 シリアル変換回路の構成の一例を示す図である。 初期フェーズにおける読み出し回路(図5)の接続状態の一例を示す図である。 第2信号蓄積動作における読み出し回路(図5)の接続状態の一例を示す図である。 第1信号蓄積動作における読み出し回路(図5)の接続状態の一例を示す図である。 放電フェーズにおける読み出し回路(図5)の接続状態の一例を示す図である。 電荷転送フェーズにおける読み出し回路(図5)の接続状態の一例を示す図である。 補正フェーズにおける読み出し回路(図5)の接続状態の一例を示す図である。 第2の実施形態における読み出し回路の構成の一例を示す図である。 電荷転送フェーズにおける読み出し回路(図13)の接続状態の一例を示す図である。 第3の実施形態における読み出し回路の構成の一例を示す図である。 第1基準信号蓄積動作における読み出し回路(図15)の接続状態の一例を示す図である。 第2基準信号蓄積動作における読み出し回路(図15)の接続状態の一例を示す図である。 第4の実施形態における読み出し回路の構成の一例を示す図である。 初期フェーズにおける読み出し回路(図18)の接続状態の一例を示す図である。 第2信号蓄積動作における読み出し回路(図18)の接続状態の一例を示す図である。 第1信号蓄積動作における読み出し回路(図18)の接続状態の一例を示す図である。 放電フェーズにおける読み出し回路(図18)の接続状態の一例を示す図である。 電荷転送フェーズにおける読み出し回路(図18)の接続状態の一例を示す図である。 第5の実施形態における読み出し回路の構成の一例を示す図である。 第6の実施形態におけるシリアル変換回路の構成の一例を示す図である。 イメージセンサにおいて画素信号の増幅とCDSを行う一般的なスイッチト・キャパシタ増幅器の一例を示す図である。
<第1の実施形態>
図1は、本発明の第1の実施形態に係る撮像装置の構成の一例を示す図である。本実施形態に係る撮像装置は、画素アレイ1と、垂直走査回路2と、読み出し処理回路3と、制御回路4を有する。
画素アレイ1は、本発明における画素アレイの一実施形態である。
垂直走査回路2は、本発明における画素走査回路の一実施形態である。
[画素アレイ1]
画素アレイ1は、それぞれ撮像対象からの光を電気信号に変換する複数の画素回路10を有する。画素回路10は行列状に配列されており、行ごとに共通の行信号線LR1,LR2,…に接続され、列ごとに共通の列信号線LC1,LC2,…に接続される。
図2は、画素回路10の構成の一例を示す図である。画素回路10は、撮像対象の光を受けて光電荷を生成するフォトダイオードPDと、n型のMOSトランジスタQ1〜Q4を有する。
フォトダイオードPDのアノードが基準電圧GNDに接続され、そのカソードがMOSトランジスタ(転送トランジスタ)Q1を介してフローティング領域FDに接続される。電源ラインVDDとフローティング領域FDの間にMOSトランジスタ(リセットトランジスタ)Q2が設けられる。MOSトランジスタ(増幅トランジスタ)Q3のゲートがフローティング領域FDに接続され、そのドレインが電源ラインVDDに接続され、そのソースがMOSトランジスタ(選択トランジスタ)Q4を介して出力Poutに接続される。MOSトランジスタQ1,Q2,Q4のゲートには、行信号線(LR1,LR2,…)を介して制御信号φt,φr,φxが入力される。画素回路10において発生した画素信号は、出力Poutから列信号線(LC1,LC2,…)へ出力される。
図2に示す画素回路10は以下のように動作する。
新たなフィールドに入ると、転送トランジスタQ1及びリセットトランジスタQ2がオフに設定されて蓄積期間が開始される。蓄積期間では、撮像対象からの光に応じて発生した光電荷がフォトダイオードPDにおいて蓄積される。
蓄積期間が終了するとき、転送トランジスタQ1がオフに設定された状態でリセットトランジスタQ2がオンに設定される。これにより、フローティング領域FDの電荷がリセットされる。このリセット状態において、増幅トランジスタQ3の出力信号がリセットレベル信号Nとして読み出される。
フローティング領域FDの電荷がリセットされた後、転送トランジスタQ1がオン、リセットトランジスタQ2がオフに設定される。これにより、フォトダイオードPDに蓄積された光電荷がリセット状態のフローティング領域FDに転送される。光電荷の転送後、転送トランジスタQ1が再びオフに設定される。フローティング領域FDに光電荷が転送された状態において、増幅トランジスタQ3の出力信号が画素信号NSとして読み出される。画素信号NSは、フォトダイオードPDの容量に蓄積された光電荷の成分と、リセットレベル信号Nの成分を含む。画素信号NSからリセットレベル信号Nを減算することにより、リセットレベルのノイズ分をキャンセルした画素信号Sが得られる。
このようにして1つのフィールドが終了すると、次のフィールドにおいて同様な動作が繰り返される。読み出し処理回路3において信号(N,NS)が読み出されるとき、制御信号φxがハイレベルに設定され、選択トランジスタQ4がオン状態となる。
[垂直走査回路2]
垂直走査回路2は、画素アレイ1の画素行列を1行ずつ順次に選択し、選択した行に属する画素回路10の画素信号を各々の列信号線LC1,LC2,…へ出力させる。
図3は、垂直走査回路2の構成の一例を示す図である。図3に示す垂直走査回路2は、パルスシフト回路21とスイッチ回路22を有する。
パルスシフト回路21は、制御回路4において生成される制御信号(スタート信号、垂直走査クロック信号等)に応じて順次にシフトするパルス信号を発生する。パルスシフト回路21は、例えばシフトレジスタによって構成される。
スイッチ回路22は、パルスシフト回路21のパルス信号に応じて、画素回路10の制御信号線(φr,φt,φx)を行信号線LR1〜LRiの何れか1つに接続する。スイッチ回路22は、例えば図3に示すように、パルスシフト回路21のパルス信号に応じてオンオフするトランジスタによって構成される。
[読み出し処理回路3]
読み出し処理回路3は、垂直走査回路2よって順次に選択される画素アレイ1の1行分の画素回路10から画素信号を読み出し、読み出した画素信号にCDS、増幅、AD変換等の処理を施して画素データPdatを生成する。
読み出し処理回路3は、例えば図1に示すように、信号保持回路31−1〜31−jと、読み出し回路32−1〜32−jと、シリアル変換回路33と、アナログ−デジタル変換回路34を有する。
信号保持回路31−k(kは1からjまでの任意の整数を示す)は、列信号線LCkを介して画素回路10から読み出されるリセットレベル信号Nと画素信号NSを保持する。
図4は、信号保持回路31−kの構成の一例を示す図である。図4に示す信号保持回路31−kは、キャパシタCn,Cnsと、バッファ回路301,302と、スイッチ回路303と、電流源304を有する。
電流源304は、列信号線LCkを介して画素回路10の出力に接続されており、増幅トランジスタQ3(図2)のソースに一定の電流を流す。
キャパシタCn,Cnsは、その一方の端子が基準電圧GNDに接続され、他方の端子がスイッチ回路303を介して列信号線LCkに接続される。スイッチ回路305は、制御回路4の制御に応じてキャパシタCn,Cnsと列信号線LCkとを選択的に接続する。
画素回路10からリセットレベル信号Nが出力される期間ではキャパシタCnと列信号線LCkが接続され、画素信号NSが出力される期間ではキャパシタCnsと列信号線LCkが接続される。これにより、キャパシタCnにはリセットレベル信号Nが保持され、これに応じた電圧Vnがバッファ回路301から出力される。また、キャパシタCnsには画素信号NSが保持され、これに応じた電圧Vnsがバッファ回路302から出力される。
読み出し回路32−kは、信号保持回路31−kにおいて保持されたリセットレベル信号Nと画素信号NSを入力し、その差を増幅して出力する。
図5は、読み出し回路32−kの構成の一例を示す図である。なお、読み出し回路32−kは、符号「32」で表される場合がある。
図5の例において、読み出し回路32は、スイッチ回路SW1〜SW12と、キャパシタC1〜C3と、演算増幅器305を有する。
キャパシタC1は、本発明における第1キャパシタの一実施形態である。
キャパシタC2は、本発明における第2キャパシタの一実施形態である。
スイッチ回路11及び12を含む回路は、本発明における入力回路の一実施形態である。
スイッチ回路SW1〜SW10は、本発明における第1〜第10スイッチ回路の一実施形態である。
演算増幅器305は、本発明における電流供給回路の一実施形態である。
スイッチ回路SW11は、信号保持回路31−kにおいて保持されたリセットレベル信号N(電圧Vn)をノードN1に入力する。
スイッチ回路SW12は、信号保持回路31−kにおいて保持された画素信号NS(電圧Vns)をノードN1に入力する。
スイッチ回路SW10は、ノードN1を基準電圧GNDに接続する。
キャパシタC1は、ノードN1(第1ノード)とノードN2(第2ノード)の間に設けられる。
キャパシタC2は、ノードN3(第3ノード)とノードN4(第4ノード)の間に設けられる。
スイッチ回路SW8は、ノードN6(第6ノード)をノードN2に接続する。
スイッチ回路SW1は、ノードN6を基準電圧GNDに接続する。スイッチ回路SW8がオンのとき、スイッチ回路SW1がノードN2を基準電圧GNDに接続する。
スイッチ回路SW2は、ノードN6をノードN3に接続する。スイッチ回路SW8がオンのとき、スイッチ回路SW2がノードN2をノードN3に接続する。
演算増幅器305は、基準電圧GNDに接続される正入力端子とノードN5(第5ノード)に接続される負入力端子との電圧差に応じた電流を生成してノードN4に出力する。演算増幅器305は、例えばOTA(operational transconductance amplifier)であり、そのゲイン(トランスコンダクタンス)が非常に大きい。そのため、演算増幅器305からノードN4へ供給される電流の負帰還の働きにより、ノードN5の電圧が基準電圧GNDとほぼ等しくなる。
キャパシタC3は、ノードN5とノードN6の間に設けられる。
スイッチ回路SW6は、ノードN5を演算増幅器305の電流出力端子に接続する。
スイッチ回路SW7は、ノードN5をノードN3に接続する。
スイッチ回路SW9は、ノードN5をノードN2に接続する。
スイッチ回路SW4は、ノードN4を基準電圧GNDに接続する。
スイッチ回路SW3は、ノードN4を演算増幅器305の電流出力端子に接続する。
スイッチ回路SW5は、演算増幅器305の電流出力端子をノードN1に接続する。
図5に示す読み出し回路32では、リセットレベル信号N(電圧Vn)と画素信号NS(電圧Vns)との差(Vn−Vns)に応じた電荷をキャパシタC1からキャパシタC2へ繰り返し転送することにより、その繰り返しの回数に応じて積分された信号電荷がキャパシタC2に蓄積される。また、キャパシタC2に蓄積された信号電荷をキャパシタC1へ戻すことにより、キャパシタC1,C2の容量に依存しない正確なゲインが得られる。
読み出し回路32の詳しい動作については、後に図7〜図12を参照して説明する。
シリアル変換回路33は、各読み出し回路(32−1〜32−j)からパラレルに出力される画素信号をシリアルの信号列に変換する。
図6は、シリアル変換回路33の構成の一例を示す図である。
図6に示すシリアル変換回路33は、読み出し回路32−1〜32−jの出力に設けられたキャパシタCM1〜CMjと、スイッチ回路SA1〜SAj,SB1〜SBj,SC1〜SCj,SD1〜SDjと、OTAなどの演算増幅器306とを有する。
キャパシタCMk(k=1〜j)は、読み出し回路32−kから出力される画素信号Psを保持する。キャパシタCMkの一方の端子は、スイッチ回路SAkを介して読み出し回路32−kの出力に接続されるとともにスイッチ回路SCkを介して演算増幅器306の出力に接続される。キャパシタCMkの他方の端子は、スイッチ回路SBkを介して基準電圧GNDに接続されるとともにスイッチ回路SDkを介して演算増幅器306の負入力端子に接続される。演算増幅器306の正入力端子は基準電圧GNDに接続される。
読み出し回路32−1〜32−jから増幅された画素信号Psが出力される期間において、スイッチ回路SA1〜SAj及びSB1〜SBjが全てオンし、スイッチ回路SC1〜SCj及びSD1〜SDjが全てオフする。これにより、読み出し回路32−1〜32−jから出力される画素信号PsがそれぞれキャパシタCM1〜CMjによって保持される。
画素信号Psの出力期間が終了すると、スイッチ回路SA1〜SAj及びSB1〜SBjが全てオフし、スイッチ回路SC1〜SCj及びSD1〜SDjが順次にオンする。すなわち、スイッチ回路SC1及びSD1,SC2及びSD2,SC3及びSD3,…という具合にスイッチ回路のペアが順次オンする。1つのペアがオンするとき、他のペアはオフする。スイッチ回路のペアが順次にオンすると、キャパシタCM1〜CMjが1つずつ順に演算増幅器306の負入力端子と出力端子の間に接続される。負帰還の働きによって演算増幅器306の負入力端子はほぼ基準電圧GNDと等しくなるため、演算増幅器306の出力にはそのとき接続されるキャパシタ(CM1〜CMj)の電圧とほぼ等しい電圧が発生する。このようにして、キャパシタCM1〜CMjに保持された画素信号Psが演算増幅器306からシリアルに出力される。
アナログ−デジタル変換回路34は、シリアル変換回路33からシリアルに出力される画素信号Soutを所定ビット長のデジタル信号に変換し、画素データPdatとして出力する。
[制御回路4]
制御回路4は、撮像装置の各構成要素を制御するための制御信号を生成する。
例えば、制御回路4は、画素回路10において画素信号を生成するための制御信号(φt,φr,φx)や、垂直走査回路2において画素アレイ1の各行を順次に選択するための制御信号、信号保持回路31−1〜31−jにおいて画素回路10からの信号(N,NS)を保持するための制御信号、読み出し回路32−1〜32−jにおいてスイッチ回路(SW1〜SW12)に供給する制御信号、シリアル変換回路33においてシリアルの信号列を得るための制御信号などを生成する。
ここで、上述した構成を有する撮像装置の動作について、読み出し回路32を中心に詳しく説明する。
垂直走査回路2の走査によって、行信号線(LR1,…LRj)が順次に活性化される。行信号線が活性化されると、これに接続される1行(1ライン)の画素回路10からそれぞれ画素信号(N,NS)が出力される。画素信号は、列信号線(LC1〜LCj)を介して読み出し処理回路3に入力され、信号保持回路31−1〜31−jに保持される。信号保持回路31−1〜31−jに1ライン分の画素信号N,NSが保持されると、読み出し回路32−1〜32−jにおいて画素信号の差(NS−N)を増幅する動作が開始される。
読み出し回路32では、増幅動作が複数のフェーズ(初期フェーズ,積分フェーズ,放電フェーズ,電荷転送フェーズ,補正フェーズ)によって段階的に進行する。
1.初期フェーズ(図7)
初期フェーズにおいては、キャパシタC2の電荷が初期化される。
図7は、初期フェーズにおける読み出し回路32の接続状態の一例を示す図である。
初期フェーズにおける各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW1,SW4,SW6,SW7,SW8,SW11
オフ状態:SW2,SW3,SW5,SW9,SW10,SW12
初期フェーズにおいて、演算増幅器305の出力端子がスイッチ回路SW6を介して負入力端子に接続され、負入力端子と正入力端子の間にキャパシタC2,C3が接続される。負帰還の働きによって負入力端子と正入力端子の電圧はほぼ等しくなるが、演算増幅器305が有限の直流ゲインを有しているため、キャパシタC2,C3には微小なオフセット電圧Vofsが保持される。
また、図7に例示する接続状態では、ノードN1にリセットレベル信号N(電圧Vn)が入力され、ノードN2に基準電圧GNDが入力されるため、キャパシタC1にはリセットレベル信号N(電圧Vn)が保持される。
2.積分フェーズ(図7,図8,図9)
積分フェーズにおいては、リセットレベル信号Nと画素信号NSとの差分(Vn−Vns)に応じた電荷(以下、「信号電荷」と呼ぶ)がキャパシタC1からキャパシタC2へ繰り返し転送されることにより、この繰り返し回数に応じて積分された信号電荷がキャパシタC2に蓄積される。
具体的には、次に述べる第1信号蓄積動作と第2信号蓄積動作のセットが増幅率(ゲイン)に応じた回数だけ反復される。
すなわち、第1信号蓄積動作では、リセットレベル信号N(電圧Vn)に応じた電荷がキャパシタC1に蓄積される。
第1信号蓄積動作に続く第2信号蓄積動作では、画素信号NS(電圧Vns)に応じた電荷がキャパシタC1に蓄積されるとともに、差分(Vn−Vns)に応じた信号電荷がキャパシタC1からキャパシタC2へ転送される。
まず、積分フェーズの最初の第1信号蓄積動作は、上述した図7に示す接続状態において初期フェーズと同時に行われる。このときキャパシタC1には、リセットレベル信号Nに応じた電荷「C1×Vn」が蓄積される(「C1」はキャパシタC1の静電容量も示す。キャパシタC2,C3についても同じ。)。
初期フェーズと同時に行われる最初の第1信号蓄積動作に続けて、第2信号蓄積動作が行われる。
図8は、第2信号蓄積動作における読み出し回路32の接続状態の一例を示す図である。
第2信号蓄積動作における各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW2,SW3,SW8,SW12
オフ状態:SW1,SW4,SW5,SW6,SW7,SW9,SW10,SW11
第2信号蓄積動作では、ノードN1に画素信号NS(電圧Vns)が入力され、演算増幅器305の出力端子がキャパシタC2を介してノードN2に接続され、ノードN5がキャパシタC3を介してノードN2に接続される。
このとき、演算増幅器305の負入力端子(ノードN5)に生じるオフセット電圧Vofsと、第1信号蓄積動作においてキャパシタC3に保持される電圧とがほぼ等しいため、両者の電圧が相殺し、ノードN2の電圧がほぼ基準電圧GNDと等しくなる。
ノードN2の電圧がほぼ基準電圧GNDと等しいため、キャパシタC1には電荷「C1×Vns」が蓄積される。直前の第1信号蓄積動作においてキャパシタC1に電荷「C1×Vn」が蓄積されているため、差分の信号電荷「C1×(Vn−Vns)」がキャパシタC1からキャパシタC2へ転送される。
キャパシタC3に保持される電圧によって演算増幅器305のオフセット電圧Vofsが相殺されるため、キャパシタC1からキャパシタC2へ電荷を転送する際のオフセット電圧Vofsによる誤差がほぼ除去される。
なお、演算増幅器305の有限な直流ゲインの影響に関しては、信号電荷の積分に伴って演算増幅器305の出力電圧が変化することによる誤差が存在する。しかし、演算増幅器305の直流ゲインが信号レンジにおいてほぼ一定である場合、この誤差は積分結果に比例するため、一定のゲイン誤差になる。そのため、イメージセンサにおいてはあまり問題にはならない。
上述した第2信号蓄積動作に続けて、2回目以降の第1信号蓄積動作が図9に示す接続状態により行われる。
2回目以降の第1信号蓄積動作における各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW1,SW3,SW7,SW8,SW11
オフ状態:SW2,SW4,SW5,SW6,SW9,SW10,SW12
図9に示す第1信号蓄積動作においても、ノードN1にリセットレベル信号N(電圧Vn)が入力され、ノードN2が基準電圧GNDに接続されるため、キャパシタC1にはリセットレベル信号N(電圧Vn)が保持される。
また、図9に示す第1信号蓄積動作では、演算増幅器305の出力端子がキャパシタC2を介してノードN5に接続され、ノードN5がキャパシタC3を介して基準電圧GNDに接続される。このとき、キャパシタC3に保持される電圧とノードN5に生じるオフセット電圧Vofsがほぼ等しいため、キャパシタC3の電荷量は直前の第2信号蓄積動作における値から変化しない。従って、このキャパシタC3と直列に接続されたキャパシタC2の電荷量もほぼ同一に保持される。
なお、第2信号蓄積動作においてはノードN3の接続点が基準電圧GNDからノードN5に変更されるため、演算増幅器305の出力電圧(Ps)はオフセット電圧Vofs分だけシフトする。
3.放電フェーズ(図10)
放電フェーズでは、積分フェーズの最後の第2信号蓄積動作においてキャパシタC1に蓄積された電荷が放電される。
図10は、放電フェーズにおける読み出し回路32の接続状態の一例を示す図である。
放電フェーズにおける各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW1,SW3,SW7,SW8,SW10
オフ状態:SW2,SW4,SW5,SW6,SW9,SW11,SW12
放電フェーズにおいては、ノードN1とノードN2が基準電圧GNDに接続されるため、積分フェーズでキャパシタC1に蓄積された電荷が放電される。
また、放電フェーズにおいては、図9に示す第1蓄積動作と同様に、演算増幅器305の出力端子がキャパシタC2を介してノードN5に接続され、ノードN5がキャパシタC3を介して基準電圧GNDに接続されるため、キャパシタC2の電荷が一定に保持される。
4.電荷転送フェーズ(図11)
電荷転送フェーズでは、キャパシタC2に積分された電荷がキャパシタC1へ転送される。
図11は、電荷転送フェーズにおける読み出し回路32の接続状態の一例を示す図である。
電荷転送フェーズにおける各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW2,SW4,SW5,SW8
オフ状態:SW1,SW3,SW6,SW7,SW9,SW10,SW11,SW12
電荷転送フェーズにおいては、演算増幅器305の出力端子がキャパシタC1を介してノードN2に接続され、ノードN5がキャパシタC3を介してノードN2に接続され、ノードN2がキャパシタC2を介して基準電圧GNDに接続される。この場合、ノードN2の電圧が基準電圧GNDとほぼ等しくなるように負帰還が働くため、キャパシタC2の電圧はゼロになり、キャパシタC2に蓄積された電荷が全てキャパシタC1に転送される。
第1信号蓄積動作及び第2信号蓄積動作を1セット行った場合、キャパシタC2には電荷「C1×(Vn−Vns)」が蓄積される。従って、この動作をKセット繰り返した場合、キャパシタC2には次式で表される電荷Qsが蓄積される。
[数2]
Qs=K・C1×(Vn−Vns) … (2)
この電荷Qsが再びキャパシタC1に戻されると、キャパシタC1に発生する電圧Vc1は次式で表される。
[数3]
Vc1=Qs/C1=K×(Vn−Vns) … (3)
式(3)に示すように、キャパシタC1の電圧Vc1は蓄積動作の繰り返し回数Kに比例し、キャパシタC1,C2の静電容量には依存しない。
5.補正フェーズ(図12)
補正フェーズでは、キャパシタC1の電圧Vc1に含まれるオフセット電圧Vofsの成分が補正される。
図12は、補正フェーズにおける読み出し回路32の接続状態の一例を示す図である。
補正フェーズにおける各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW1,SW5,SW9
オフ状態:SW2,SW3,SW4,SW6,SW7,SW8,SW10,SW11,SW12
補正フェーズにおいては、演算増幅器305の出力端子がキャパシタC1を介してノードN5に接続され、ノードN5がキャパシタC3を介して基準電圧GNDに接続される。
この場合、キャパシタC3に保持される電圧とノードN5に生じるオフセット電圧Vofsがほぼ等しいため、キャパシタC3の電荷量は直前の電荷転送フェーズにおける値から変化しない。従って、このキャパシタC3と直列に接続されたキャパシタC1の電荷量もほぼ同一に保持される。
一方、電荷転送フェーズにおいてノードN2の電圧は基準電圧GNDとほぼ等しいが、補正フェーズでは基準電位GNDからオフセット電圧Vofs分だけシフトする。すなわち、キャパシタC1の電荷量を保持しつつ、ノードN2の電圧がオフセット電圧Vofs分だけシフトする。そのため、演算増幅器305の出力電圧(ノードN1の電圧)は、電荷転送フェーズの場合と比べてオフセット電圧Vofs分だけシフトする。
この電圧のシフトは、初期フェーズにおいてキャパシタC2に印加されたオフセット電圧Vofsによる誤差成分を相殺する。すなわち、キャパシタC1の電圧Vc1に残存していたオフセット電圧Vofsによる誤差成分が、補正フェーズにおいて補正される。
上記のようにして増幅された画素信号Psが、読み出し回路32−1〜32−jから一斉に出力される。読み出し回路32−1〜32−jから出力された画素信号Psは、それぞれシリアル変換回路33(図6)のキャパシタCM1〜CMjに保持される。キャパシタCM1〜CMjに保持された画素信号Psは、演算増幅器306を介して順次シリアルに出力される。シリアル変換回路33からシリアルに出力される画素信号は、アナログ−デジタル変換回路34においてデジタルの画素データPdatに変換される。
以上説明したように、本実施形態によれば、初期フェーズ(図7)においてキャパシタC2の電荷が放電された後、積分フェーズにおいて画素信号の差分(N−NS)に応じた信号電荷がキャパシタC2へ繰り返し転送される。すなわち、積分フェーズでは、第1信号蓄積動作(図7,図9)において、リセットレベル信号Nに応じた電荷がキャパシタC1に蓄積され、第1信号蓄積動作に続く第2信号蓄積動作(図8)において、画素信号NSに応じた電荷がキャパシタC1に蓄積されるとともに、差分(N−NS)に応じた信号電荷がキャパシタC1からキャパシタC2へ転送される。この第1信号蓄積動作と第2信号蓄積動作とが、ゲインの設定値に応じた回数だけ反復される。
このように、本実施形態では、信号蓄積動作の繰り返し回数(K)に比例した信号電荷がキャパシタC2において積分され、この信号電荷に基づいて増幅結果が得られることから、キャパシタの容量比に依らずにゲインを設定できる。これにより、例えば図26に示す増幅回路のように、高いゲインにおいて大容量のキャパシタを設けなくてもよいため、回路面積を抑制できる。
また、所望のゲインを得るために大容量のキャパシタを設けなくてもよいことから、例えば図26に示す増幅回路のように、大容量のキャパシタを駆動することによるフィードバック量の減少を補うため演算増幅器のゲイン帯域幅を広げたり直流ゲインを高めたりする必要がない。従って、演算増幅器における消費電力と回路面積の増大を抑制できる。
また、本実施形態によれば、キャパシタの切り替えを行わずにゲインを変更できるため、切り替えのための回路を設けることによる回路面積の増大を回避できる。
また、本実施形態によれば、キャパシタC2において信号電荷を積分することにより増幅結果を得ることから、この積分がローパスフィルタとして働き、高周波ノイズの影響を大幅に低減できる。低周波のノイズについては、2つの入力信号の差をとるCDS処理によって低減できる。
また、本実施形態によれば、キャパシタC1からキャパシタC2へ繰り返し信号電荷を転送することによってゲインの大きさが設定されるため、ゲインの単調性を構造的に保証することができる。
図26に示す増幅回路では、演算増幅器101のフィードバック量の変化などの影響により、式(1)に示すように容量比に比例する理想的なゲインが得られない。例えばバイナリの重みを付けた複数のキャパシタを切り替える方法によって静電容量の値をプログラマブルに設定しても、そのデジタル信号の値に対してゲインの大きさを単調に変化させることができない。一方、本実施形態では、積分フェーズにおける信号蓄積動作の繰り返し回数Kに対してゲインが単調に変化し、この単調性が演算増幅器305の特性などに影響を受けることがない。そのため、図26に示す増幅回路に比べてより正確にゲインを設定できる。
また、本実施形態によれば、読み出し回路32の消費電力と回路面積を抑制できるため、画素アレイ1の各列に読み出し回路32を設ける並列度の高い方式を採用しながら、全体の消費電力を低く抑えることができる。しかも、1ラインの走査期間の中で各読み出し回路32の積分フェーズの時間を十分に確保できるため、増幅処理の時間が多少長くなっても、全体としての処理スピードを維持できる。
また、本実施形態によれば、積分フェーズにおいてキャパシタC1からキャパシタC2へ繰り返し信号電荷が転送された後、放電フェーズ(図10)においてキャパシタC1の電荷が除去され、電荷転送フェーズ(図11)においてキャパシタC2からキャパシタC1へ信号電荷が転送される。
このように、本実施形態では、キャパシタC2において積分された信号電荷をキャパシタC1へ戻すことによって、式(3)に示すように、キャパシタC1,C2の静電容量に依存しない増幅結果を得ることができる。従って、キャパシタの容量のばらつきに影響を受けることなく、正確にゲインを設定できる。
また、本実施形態によれば、初期フェーズ(図7)において、演算増幅器305の出力からノードN5(負入力端子)へフィードバック経路が形成され、ノードN5がキャパシタC3を介して基準電圧GNDに接続されることにより、演算増幅器305のオフセット電圧VofsがキャパシタC3に保持される。そして、第2信号蓄積動作(図8)において、演算増幅器305の出力端子がキャパシタC1を介してノードN2に接続され、ノードN5がキャパシタC3を介してノードN2に接続されることにより、ノードN5に生じる演算増幅器305のオフセット電圧VofsがキャパシタC3の電圧により相殺される。すなわち、ノードN2の電圧がほぼ基準電圧GNDと等しくなる。この状態でノードN1からキャパシタC1に画素信号NSが入力されるため、キャパシタC1に正確な画素信号NSが入力されるとともに、キャパシタC1からキャパシタC2へ正確な差分(N−NS)の信号電荷が転送される。
従って、本実施形態では、演算増幅器305のオフセット電圧Vofsによる積分誤差が非常に小さくなり、信号蓄積動作を多数回繰り返しても積分される誤差が小さいため、高いゲインを正確に設定できる。
また、本実施形態によれば、電荷転送動作(図11)においても上記と同様に、ノードN5のオフセット電圧VofsがキャパシタC3の電圧によって相殺されて、ノードN2の電圧がほぼ基準電圧GNDと等しくなる。これにより、キャパシタC2からキャパシタC1へ正確に信号電荷が転送されるため、出力信号におけるオフセット電圧Vofsの誤差を低減できる。
また、本実施形態によれば、補正フェーズ(図12)において演算増幅器305の出力端子がキャパシタC1を介してノードN5に接続され、ノードN5がキャパシタC3を介して基準電圧GNDに接続される。これにより、初期フェーズ(図7)においてキャパシタC2に印加されたオフセット電圧Vofsに起因する成分が、キャパシタC3に保持されるオフセット電圧Vofsを用いて補正されるため、出力信号におけるオフセット電圧Vofsの誤差を低減できる。
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
第2の実施形態に係る撮像装置は、第1の実施形態に係る撮像装置における読み出し回路32(図5)を、キャパシタC1の容量の変更が可能な読み出し回路32A(図13)に置き換えたものである。
図5に示す読み出し回路32では、積分フェーズにおける信号蓄積動作の繰り返し回数によってゲインが設定されるが、本実施形態における読み出し回路32Aでは、更にキャパシタC1及びC2の容量比によってゲインの調節が可能である。
図13は、読み出し回路32Aの構成の一例を示す図である。
図13に示す読み出し回路32Aは、ノードN1及びN2の間に並列に接続された2つの単位キャパシタを含むキャパシタC1と、各単位キャパシタとノードN2との導電経路に設けられたスイッチ回路SW14及びSW15を有する。読み出し回路32Aの他の構成要素は、図5に示す読み出し回路32と同じである。
スイッチ回路SW14及びSW15は、本発明における選択回路の一実施形態である。
図13に示す読み出し回路32Aでは、スイッチ回路SW14及びSW15によってキャパシタC1の容量が変更される。例えば、2つの単位キャパシタがほぼ同じ静電容量「Ct」を有しているものとすると、キャパシタC1の静電容量は、スイッチ回路SW14及びSW15の一方のみがオンする場合に「Ct」となり、スイッチ回路SW14及びSW15の両方がオンする場合に「2×Ct」となる。
スイッチ回路SW14及びSW15は、初期フェーズ、積分フェーズ及び放電フェーズにおいて両方オンし、電荷転送フェーズ及び補正フェーズにおいて一方のみオンする。図14は、電荷転送フェーズにおける読み出し回路32の接続状態を示す。
スイッチ回路SW14及びSW15の動作によって、キャパシタC1の静電容量が積分フェーズから電荷転送フェーズへ移行する際に2分の1になる。キャパシタC1の静電容量が2分の1に変化すると、静電容量が変化しない場合に比べてキャパシタC1の電圧が2倍になるため、ゲインが2倍になる。
図13の例ではキャパシタC1を2つの単位キャパシタによって構成しているが、単位キャパシタの数や各単位キャパシタの静電容量値を適当に設定することによって、キャパシタC1及びC2の容量比を所望の範囲で変化させることができる。
このように、本実施形態では、積分フェーズから電荷転送フェーズへ移行する際にキャパシタC1及びC2の静電容量比を変化させることによってゲインを調節できる。例えば、積分フェーズから電荷転送フェーズへ移行する際にキャパシタC1の容量をX分の1に変更することによってゲインをX倍にできる。キャパシタC1及びC2の容量比の変更によってゲインを稼ぐことにより、同じゲインを得るために必要とされる信号蓄積動作の繰り返し回数を減らせるため、増幅処理に要する時間を短縮できる。
<第3の実施形態>
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。
第3の実施形態に係る撮像装置は、第1の実施形態に係る撮像装置における読み出し回路32(図5)を、暗レベル電圧VBの入力が可能な読み出し回路32B(図15)に置き換えたものである。
図5に示す読み出し回路32では、積分フェーズにおいて信号電荷が積分されるが、本実施形態における読み出し回路32Bでは、この信号電荷に加えて、所望の暗レベルを設定するための基準電荷が積分される。
図15は、読み出し回路32Bの構成の一例を示す図である。
図15に示す読み出し回路32Bは、ノードN1に暗レベル電圧VBを入力するスイッチ回路SW13を有する。読み出し回路32Bの他の構成要素は、図5に示す読み出し回路32と同じである。
図15に示す読み出し回路32Bは、積分フェーズにおいて、既に説明した第1信号蓄積動作(図7,図9)と第2信号蓄積動作(図8)を繰り返すことにより信号電荷を積分するとともに、これに加えて、次に述べる第1基準信号蓄積動作(図16)と第2基準信号蓄積動作(図17)を繰り返すことにより基準電荷も積分する。
図16は、第1基準信号蓄積動作における読み出し回路32Bの接続状態の一例を示す図である。
図16に示す第1基準信号蓄積動作は、図9に示す第1信号蓄積動作と基本的に同じであり、相違点はノードN1に基準電圧GNDが入力されるところにある。すなわち、図16に示す第1基準信号蓄積動作では、スイッチ回路SW11,SW12,SW13がオフし、スイッチ回路SW10がオンする。
この第1基準信号蓄積動作により、キャパシタC1の電圧がゼロになる。
図17は、第2基準信号蓄積動作における読み出し回路32Bの接続状態の一例を示す図である。
図17に示す第2基準信号蓄積動作は、図8に示す第2信号蓄積動作と基本的に同じであり、相違点はノードN1に暗レベル電圧VBが入力されるところにある。すなわち、図17に示す第2基準信号蓄積動作では、スイッチ回路SW10,SW11,SW12がオフし、スイッチ回路SW13がオンする。
第2基準信号蓄積動作では、ノードN2の電圧がほぼ基準電圧GNDと等しいため、キャパシタC1には電荷「C1×VB」が蓄積される。直前の第1基準信号蓄積動作におけるキャパシタC1の電荷はゼロなので、キャパシタC1からキャパシタC2へ差分の基準電荷「C1×(−VB)」が転送される。
読み出し回路32Bは、まず初期フェーズ(図7)及び第2信号蓄積動作(図8)によってキャパシタC2に信号電荷を蓄積した後、第1基準信号蓄積動作(図16)及び第2基準信号蓄積動作(図17)によってキャパシタC2に基準電荷を蓄積する。以降、読み出し回路32Bは、ゲインの設定値に応じた回数だけ、信号電荷の蓄積(図9,図8)と基準電荷の蓄積(図16,図17)を繰り返す。電荷の蓄積の順序は任意であり、例えば信号電荷の蓄積(図9,図8)と基準電荷の蓄積(図16,図17)を交互に行ってもよいし、一方の電荷の蓄積を連続的に行った後で他方の電荷の蓄積を連続的に行ってもよい。
積分フェーズにおいて信号電荷と基準電荷をキャパシタC2に蓄積した後、読み出し回路32Bは、放電フェーズ(図10)及び電荷転送フェーズ(図11)によってキャパシタC2の電荷をキャパシタC1に転送し、補正フェーズ(図12)によってオフセット電圧Vofsの誤差を補正する。
このようにして読み出し回路32Bから出力される信号Psは、画素信号の差分の電圧(Vns−Vn)に暗レベル電圧VBを加算した結果(Vns−Vn+VB)を増幅したものと等価になる。したがって、本実施形態によれば、暗レベル電圧VBを調節することにより、画素信号の暗レベルを自由に調節することができる。
なお、上述の例では差分の電圧(Vns−Vn)に暗レベル電圧VBを加算しているが、スイッチ回路SW10及びSW13の動作を逆にすることで、差分の電圧(Vns−Vn)から暗レベル電圧VBを減算することもできる。具体的には、第1基準信号蓄積動作(図16)においてノードN1に暗レベル電圧VBを入力し(スイッチ回路SW13をオン、スイッチ回路SW10をオフにする)、第2基準信号蓄積動作(図17)においてノードN1に基準電圧GNDを入力すればよい(スイッチ回路SW13をオフ、スイッチ回路SW10をオンにする)。従って、本実施形態によれば、暗レベルの正負の調整を容易に行うことができる。
<第4の実施形態>
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。
第4の実施形態に係る撮像装置は、第1の実施形態に係る撮像装置における読み出し回路32(図5)を、より簡易な構成の読み出し回路32C(図18)に置き換えたものである。
図18は、読み出し回路32Cの構成の一例を示す図である。
図18に示す読み出し回路32Cは、図5に示す読み出し回路32におけるスイッチ回路SW7,SW8,SW9及びキャパシタC3を省略したものである。スイッチ回路SW7及びSW8の挿入箇所は短絡され、スイッチ回路SW9及びキャパシタC3の挿入箇所は開放される。読み出し回路32Cの他の構成は読み出し回路32と同じである。
図18に示す読み出し回路32Cは、初期フェーズ、積分フェーズ、放電フェーズ,電荷転送フェーズの順に増幅処理を行い、補正フェーズは行わない。読み出し回路32Cにおける各フェーズのスイッチ回路の状態は、概ね読み出し回路32と同じである。
1.初期フェーズ(図19)
図19は、初期フェーズにおける読み出し回路32Cの接続状態の一例を示す図である。
初期フェーズにおける各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW1,SW4,SW6,SW11
オフ状態:SW2,SW3,SW5,SW10,SW12
初期フェーズにおいて、演算増幅器305の出力端子が負入力端子に接続され、負入力端子と正入力端子の間にキャパシタC2が接続される。これによりキャパシタC2には演算増幅器305の微小なオフセット電圧Vofsが印加される。
また、これと並行して、ノードN1にリセットレベル信号N(電圧Vn)が入力され、ノードN2が基準電圧GNDに接続されるため、キャパシタC1にはリセットレベル信号N(電圧Vn)が保持される。
2.積分フェーズ(図19,図20,図21)
積分フェーズでは、電圧Vnに応じた電荷をキャパシタC1に蓄積する第1信号蓄積動作と、差分(Vn−Vns)に応じた信号電荷をキャパシタC1からキャパシタC2へ転送する第2信号蓄積動作とが繰り返されて、キャパシタC2に信号電荷が蓄積される。
第1回目の第1信号蓄積動作は、図5に示す読み出し回路32と同様に、図19に示す接続状態において初期フェーズと同時に行われる。初期フェーズの後、図20に示す第2信号蓄積動作が行われる。以降、ゲインの設定値に応じた回数だけ、図21に示す第1信号蓄積動作と図20に示す第2信号蓄積動作が繰り返される。
図20は、第2信号蓄積動作における読み出し回路32Cの接続状態の一例を示す図である。
第2信号蓄積動作における各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW2,SW3,SW12
オフ状態:SW1,SW4,SW5,SW6,SW10,SW11
第2信号蓄積動作では、ノードN1に電圧Vnsが入力され、演算増幅器305の出力端子がキャパシタC2を介してノードN2に接続される。
このとき、ノードN2の電圧がほぼ基準電圧GNDと等しくなるように負帰還が働くため、キャパシタC1に電荷「C1×Vns」が蓄積され、キャパシタC1からC2へ差分の信号電荷「C1×(Vn−Vns)」が転送される。
図21は、2回目以降の第1信号蓄積動作における読み出し回路32Cの接続状態の一例を示す図である。
2回目以降の第1信号蓄積動作における各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW1,SW11
オフ状態:SW2,SW3,SW4,SW5,SW6,SW10,SW12
図21に示す第1信号蓄積動作において、ノードN1に電圧Vnが入力され、ノードN2が基準電圧GNDに接続されるため、キャパシタC1に電圧Vnが保持される。このとき、スイッチ回路SW3がオフになっているため、キャパシタC2に蓄積された電荷は一定に保持される。
3.放電フェーズ(図22)
放電フェーズでは、積分フェーズの最後の第2信号蓄積動作においてキャパシタC1に蓄積された電荷が放電される。
図22は、放電フェーズにおける読み出し回路32Cの接続状態の一例を示す図である。
放電フェーズにおける各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW1,SW10
オフ状態:SW2,SW3,SW4,SW5,SW6,SW11,SW12
放電フェーズにおいては、ノードN1とノードN2が基準電圧GNDに接続されるため、積分フェーズでキャパシタC1に蓄積された電荷が放電される。また、このとき、スイッチ回路SW3がオフになっているため、キャパシタC2に蓄積された電荷は一定に保持される。
4.電荷転送フェーズ(図23)
図23は、電荷転送フェーズにおける読み出し回路32Cの接続状態の一例を示す図である。
電荷転送フェーズにおける各スイッチ回路のオンとオフの状態は次の通りである。
オン状態:SW2,SW4,SW5
オフ状態:SW1,SW3,SW6,SW10,SW11,SW12
電荷転送フェーズにおいては、演算増幅器305の出力端子がキャパシタC1を介してノードN2に接続され、ノードN2がキャパシタC2を介して基準電圧GNDに接続される。この場合、ノードN2の電圧が基準電圧GNDとほぼ等しくなるように負帰還が働くため、キャパシタC2の電圧はほぼゼロになり、キャパシタC2に蓄積された電荷が全てキャパシタC1に転送される。
本実施形態においても、既に説明した各実施形態と同様に、信号蓄積動作の繰り返し回数に比例した信号電荷がキャパシタC2において積分され、この信号電荷に基づいて増幅結果が得られることから、消費電力と回路面積の増大を抑制できる等、既に述べた実施形態と同様な効果を奏することができる。
また、キャパシタC2において積分された信号電荷をキャパシタC1へ戻すことによって、キャパシタC1,C2の静電容量に依存しない増幅結果を得ることができるため、上述した各実施形態と同様に、ゲインの設定精度を向上できる。
<第5の実施形態>
次に、本発明の第5の実施形態について説明する。
第5の実施形態に係る撮像装置は、第4の実施形態に係る撮像装置における読み出し回路32C(図18)を、更に構成が簡易化された読み出し回路32D(図24)に置き換えたものである。
図24に示す読み出し回路32Dは、図18に示す読み出し回路32Cにおけるスイッチ回路SW5及びSW10を省略したものである。スイッチ回路SW5及びSW10の挿入箇所は解放される。読み出し回路32Dの他の構成は読み出し回路32Cと同じである。
図24に示す読み出し回路32Cは、初期フェーズ、積分フェーズの順に増幅処理を行う。放電フェーズと電荷転送フェーズは省略される。読み出し回路32Dにおける各フェーズのスイッチ回路の状態は、図18に示す読み出し回路32Cと同じである
本実施形態においても、既に説明した各実施形態と同様に、信号蓄積動作の繰り返し回数に比例した信号電荷がキャパシタC2において積分され、この信号電荷に基づいて増幅結果が得られることから、消費電力と回路面積の増大を抑制できる等、既に述べた実施形態と同様な効果を奏することができる。
<第6の実施形態>
次に、本発明の第6の実施形態について説明する。
第6の実施形態に係る撮像装置は、第1の実施形態に係る撮像装置におけるシリアル変換回路33(図6)を、2ライン分のメモリを備えたシリアル変換回路33A(図25)に置き換えたものである。
図25に示すシリアル変換回路33Aは、図6に示すシリアル変換回路33と同様の構成に加えて、キャパシタCMA1〜CMAjと、スイッチ回路SE1〜SEj,SF1〜SFj,SG1〜SGj,SH1〜SHjを更に有する。
キャパシタCMAk(k=1〜j)は、読み出し回路32−kから出力される画素信号Psを保持する。キャパシタCMAkの一方の端子は、スイッチ回路SEkを介して読み出し回路32−kの出力に接続されるとともにスイッチ回路SGkを介して演算増幅器306の出力に接続される。キャパシタCMAkの他方の端子は、スイッチ回路SFkを介して基準電圧GNDに接続されるとともにスイッチ回路SHkを介して演算増幅器306の負入力端子に接続される。
キャパシタCM1〜CMjとキャパシタCMA1〜CMAjは、それぞれ1ライン分の画素信号Psを保持するメモリを構成する。一方のメモリへ1ラインの画素信号Psがパラレルに入力されるとき、他方のメモリから前回のラインの画素信号がシリアルに出力される。
例えば、あるラインの画素信号Psが読み出し回路32−1〜32−jから出力される期間において、スイッチ回路SA1〜SAj及びSB1〜SBjが全てオンし、スイッチ回路SC1〜SCj及びSD1〜SDjが全てオフすることにより、読み出し回路32−1〜32−jからキャパシタCM1〜CMjへ画素信号Psが入力される。他方、この期間において、スイッチ回路SE1〜SEj及びSF1〜SFjが全てオフし、スイッチ回路SG1〜SGj及びSH1〜SHjが順次にオンすることにより、キャパシタCMA1〜CMAjに保持された前のラインの画素信号Psが演算増幅器306からシリアルに出力される。
この1ラインの期間が終了し、次のラインの画素信号Psが読み出し回路32−1〜32−jから出力される期間においては、上記と逆に、スイッチ回路SE1〜SEj及びSF1〜SFjが全てオンし、スイッチ回路SG1〜SGj及びSH1〜SHjが全てオフすることにより、読み出し回路32−1〜32−jからキャパシタCMA1〜CMAjへ画素信号Psが入力される。この期間において、スイッチ回路SA1〜SAj及びSB1〜SBjが全てオフし、スイッチ回路SC1〜SCj及びSD1〜SDjが順次にオンすることにより、キャパシタCM1〜CMjに保持された前のラインの画素信号Psが演算増幅器306からシリアルに出力される。
本実施形態によれば、一方のメモリへ読み出し回路32−1〜32−jの1ラインの画素信号Psを入力している間、他方のメモリからシリアルに画素信号Psを出力させることができる。これにより、読み出し回路32−1〜32−jの増幅処理に1ライン期間の全体を割り当てることができるため、積分フェーズにおける繰り返し回数を多くしても余裕をもって増幅処理を行うことが可能になり、高いゲインを達成できる。
また、増幅処理の期間に余裕が生じるため、キャパシタC1,C2の静電容量を比較的大きくすることが可能になる。そうすると、各スイッチ回路のオンオフに伴うクロック・フィードスルーなどの現象によりキャパシタの電荷が変化しても、この変化により生じる電圧の誤差が相対的に小さくなるため、画素信号をより精度よく増幅することができる。
以上、本発明の幾つかの実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態のみに限定されるものではなく、種々のバリエーションを含んでいる。
上述した実施形態では、初期フェーズ(図7)において第1信号蓄積動作を同時に行っているが、初期フェーズの後で第1信号蓄積動作を行うようにしてもよい。
上述した第2の実施形態では、キャパシタC1の容量を変更可能とし、キャパシタC2を固定にしているが(図13)、本発明はこれに限定されない。例えば、キャパシタC2の容量を変更可能とし、キャパシタC1の容量を固定にしてもよい。或いは、両方のキャパシタの容量を変更可能にしてもよい。
上述した実施形態では、初期フェーズ(図7)におけるキャパシタC2の放電や、放電フェーズ(図10)におけるキャパシタC1の放電を、別のフェーズで利用されるスイッチ回路等により行っているが、本発明はこれに限定されない。例えば、キャパシタと並列に接続した専用のスイッチ回路によって放電を行ってもよい。また、これらの放電においては必ずしも電荷をゼロにする必要はなく、ゼロでない一定の電荷まで放電するようにしてもよい。
第1電荷蓄積動作(図9)や放電フェーズ(図10)においては、フィードバックループ中においてキャパシタC2の電荷を保持しているが、本発明はこれに限定されない。例えば、キャパシタC2の少なくとも一方の端子を開放した状態で電荷を保持してもよい。
上述した実施形態においてはシリアル変換回路33の後段においてアナログ−デジタル変換を行っているが、本発明はこれに限定されない。例えば、各読み出し回路の後段にアナログ−デジタル変換回路を設けてもよい。
本発明の撮像装置は、1つの半導体チップで構成してもよいし、複数の半導体チップで構成してもよい。
上述した実施形態では、本発明の増幅回路を撮像装置に適用する例が示されているが、本発明の増幅回路はこれに限定されない。すなわち、本発明の増幅回路は、2つの信号の差を増幅する任意の装置に広くに適用できる。
1…画素アレイ、10…画素回路、2…垂直走査回路、3…読み出し処理回路、4…制御回路、21…パルスシフト回路、31−1〜31〜j…信号保持回路、32,32A,32B,32C,32D,32−1〜32−j…読み出し回路、33…シリアル変換回路、34…アナログ−デジタル変換回路、301,302…バッファ回路、303…スイッチ回路、304…電流源、305,306…演算増幅器、C1〜C3,CM1〜CMj,CMA1〜CMAj…キャパシタ、SW1〜SW13…スイッチ回路、PD…フォトダイオード、Q1〜Q4…MOSトランジスタ、LR1〜RWi…行信号線、LC1〜LCj…列信号線。

Claims (11)

  1. 第1信号と第2信号との差を増幅する増幅回路であって、
    第1ノードと第2ノードの間に設けられた第1キャパシタと、
    第3ノードと第4ノードの間に設けられた第2キャパシタと、
    上記第1信号又は上記第2信号を上記第1ノードに入力する入力回路と、
    上記第2ノードを基準電圧に接続する第1スイッチ回路と、
    上記第2ノードを上記第3ノードに接続する第2スイッチ回路と、
    上記第3ノードの電圧が上記基準電圧に近づくように上記第4ノードへ電流を供給する電流供給回路と、
    上記第2キャパシタの電荷を放電する第2キャパシタ放電回路と、
    を有し、
    初期フェーズにおいて、上記第2キャパシタ放電回路が上記第2キャパシタの電荷を放電し、
    積分フェーズにおいて、
    上記第1スイッチ回路がオンし、上記第2スイッチ回路がオフし、上記入力回路が上記第1信号を上記第1ノードに入力する第1信号蓄積動作と、
    上記第1信号蓄積動作に続いて、上記第1スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路がオンし、上記入力回路が上記第2信号を上記第1ノードに入力する第2信号蓄積動作と、
    を増幅率に応じた回数だけ反復する、
    増幅回路。
  2. 上記第4ノードを上記電流供給回路の電流出力端子に接続する第3スイッチ回路と、
    上記第4ノードを上記基準電圧に接続する第4スイッチ回路と、
    上記第1ノードを上記電流供給回路の電流出力端子に接続する第5スイッチ回路と、
    上記第1キャパシタの電荷を放電する第1キャパシタ放電回路と、
    を有し、
    上記積分フェーズにおいて、上記第4スイッチ回路及び上記第5スイッチ回路がオフし、
    上記積分フェーズの少なくとも上記第2信号蓄積動作において、上記第3スイッチ回路がオンし、
    上記積分フェーズの後の放電フェーズにおいて、上記第1キャパシタ放電回路が上記第1キャパシタの電荷を放電し、
    上記放電フェーズの後の電荷転送フェーズにおいて、上記第1スイッチ回路及び上記第3スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路、上記第4スイッチ回路及び上記第5スイッチ回路がオンし、上記第3ノードの電圧が上記基準電圧に近づくように上記電流供給回路が上記第1ノードへ電流を供給する、
    請求項1に記載の増幅回路。
  3. 第5ノードと上記第2ノードとの間に設けられた第3キャパシタと、
    上記第5ノードを上記電流出力端子に接続する第6スイッチ回路と、
    を有し、
    上記電流供給回路は、上記第5ノードの電圧と上記基準電圧との電圧差に応じた電流を出力し、
    上記初期フェーズにおいて、上記第2スイッチ回路及び上記第5スイッチ回路がオフし、上記第1スイッチ回路及び上記第6スイッチ回路がオンし、
    上記積分フェーズの上記第2信号蓄積動作並びに上記電荷転送フェーズにおいて、上記第6スイッチ回路がオフする、
    請求項2に記載の増幅回路。
  4. 上記第5ノードを上記第3ノードに接続する第7スイッチ回路を有し、
    上記積分フェーズの上記第1信号蓄積動作において、上記第3スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオンし、上記第6スイッチ回路がオフし
    上記積分フェーズの上記第2信号蓄積動作において、上記第3スイッチ回路がオンし、上記第6スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオフし、
    上記放電フェーズにおいて、上記第3スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオンし、上記第6スイッチ回路がオフし、
    上記電荷転送フェーズにおいて、上記第3スイッチ回路、上記第6スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオフする、
    請求項3に記載の増幅回路
  5. 上記初期フェーズにおいて、上記第3スイッチ回路がオフし、上記第4スイッチ回路及び上記第7スイッチ回路がオンし、
    上記初期フェーズにおいて導通経路を形成する上記第4スイッチ回路、上記第7スイッチ回路及び上記第6スイッチ回路と、当該導通経路に放電電流を供給する上記電流供給回路とが上記第2キャパシタ放電回路として動作する、
    請求項4に記載の増幅回路。
  6. 上記第1スイッチ回路と上記第3キャパシタが共有する第6ノードを上記第2ノードに接続する第8スイッチ回路と、
    上記第5ノードを上記第2ノードに接続する第9スイッチ回路と、
    を有し、
    上記初期フェーズ、上記積分フェース、上記放電フェーズ及び上記電荷転送フェーズにおいて、上記第8スイッチ回路がオンし、上記第9スイッチ回路がオフし、
    上記電荷転送フェーズの後の補正フェーズにおいて、上記第1スイッチ回路、上記第5スイッチ回路及び上記第9スイッチ回路がオンし、上記第2スイッチ回路、上記第3スイッチ回路、上記第6スイッチ回路、上記第7スイッチ回路及び第8スイッチ回路がオフする、
    請求項5に記載の増幅回路。
  7. 上記第1キャパシタは、並列に接続された複数の単位キャパシタを含んでおり、
    上記電荷転送フェーズにおいて、上記複数の単位キャパシタの少なくとも一部をゲイン設定信号に応じて選択し、当該選択した単位キャパシタを上記第1ノードと上記第2ノードとの間に接続する選択回路を有する、
    請求項2乃至6の何れか一項に記載の増幅回路。
  8. 上記入力回路は、上記第1信号、上記第2信号、第1基準信号又は第2基準信号を上記第1ノードへ入力し、
    上記積分フェーズにおいて、
    上記第1スイッチ回路がオンし、上記第2スイッチ回路がオフし、上記入力回路が上記第1基準信号を上記第1ノードに入力する第1基準信号蓄積動作と、
    上記第1基準信号蓄積動作に続けて、上記第1スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路がオンし、上記入力回路が上記第2基準信号を上記第1ノードに入力する第2基準信号蓄積動作と、
    を上記増幅率に応じた回数だけ反復する、
    請求項2乃至7の何れか一項に記載の増幅回路。
  9. 上記第1ノードを上記基準電圧に接続する第10スイッチ回路を有し、
    上記放電フェーズにおいて、上記第1スイッチ回路及び上記第10スイッチ回路がオンし、
    上記放電フェーズにおいて導通経路を形成する上記第1スイッチ回路及び上記第10スイッチ回路が上記第1キャパシタ放電回路として動作する、
    請求項2乃至8の何れか一項に記載の増幅回路。
  10. それぞれ所定のタイミングで発生する上記第1信号及び上記第2信号を保持する信号保持回路を有する、
    請求項2乃至9の何れか一項に記載の増幅回路。
  11. 行列状に配列された複数の画素回路を含む画素アレイと、
    上記画素アレイの各行を順次に選択し、選択した行に属するN個の画素回路からそれぞれノイズレベルに応じた第1信号及び撮像レベルに応じた第2信号を出力させる画素走査回路と、
    上記N個の画素回路から出力される上記第1信号及び上記第2信号の差をそれぞれ増幅するN個の増幅回路と、
    を備え、
    上記増幅回路は、
    第1ノードと第2ノードの間に設けられた第1キャパシタと、
    第3ノードと第4ノードの間に設けられた第2キャパシタと、
    上記第1信号又は上記第2信号を上記第1ノードに入力する入力回路と、
    上記第2ノードを基準電圧に接続する第1スイッチ回路と、
    上記第2ノードを上記第3ノードに接続する第2スイッチ回路と、
    上記第3ノードの電圧が上記基準電圧に近づくように上記第4ノードへ電流を供給する電流供給回路と、
    上記第2キャパシタの電荷を放電する第2キャパシタ放電回路と、
    を有し、
    初期フェーズにおいて、上記第2キャパシタ放電回路が上記第2キャパシタの電荷を放電し、
    積分フェーズにおいて、
    上記第1スイッチ回路がオンし、上記第2スイッチ回路がオフし、上記入力回路が上記第1信号を上記第1ノードに入力する第1信号蓄積動作と、
    上記第1信号蓄積動作に続けて、上記第1スイッチ回路がオフし、上記第2スイッチ回路がオンし、上記入力回路が上記第2信号を上記第1ノードに入力する第2信号蓄積動作と、
    を増幅率に応じた回数だけ反復する、
    撮像装置。
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