JP5217884B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5217884B2
JP5217884B2 JP2008264847A JP2008264847A JP5217884B2 JP 5217884 B2 JP5217884 B2 JP 5217884B2 JP 2008264847 A JP2008264847 A JP 2008264847A JP 2008264847 A JP2008264847 A JP 2008264847A JP 5217884 B2 JP5217884 B2 JP 5217884B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat radiating
metal plate
semiconductor
insulating layer
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008264847A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010097967A (ja
Inventor
真光  邦明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2008264847A priority Critical patent/JP5217884B2/ja
Publication of JP2010097967A publication Critical patent/JP2010097967A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5217884B2 publication Critical patent/JP5217884B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Description

本発明は、冷却器の上に絶縁層を介して半導体実装体を配置させた半導体装置に関する。
従来より、一定電源を交流に変換する電力変換装置が、例えば特許文献1で提案されている。具体的に、特許文献1では、直流電源を平滑化するコンデンサと、平滑コンデンサにより平滑された直流電源を所定の交流電源に変換する電力変換モジュールとを備えた電力変換装置が提案されている。
上記電力変換モジュールは、複数のスイッチング素子と、各スイッチング素子のべ一ス信号を制御するゲートドライブ基板とを備えている。この電力変換モジュールによってインバータ回路が構成されている。そして、電力変換モジュールの各構成要素と平滑コンデンサは、パスバーを介してそれぞれ電気的に接続されている。
また、電力変換装置においては、平滑コンデンサや各スイッチング素子の冷却のためのヒートシンクを備えている。ヒートシンクの側面の空間にバスバー配線が配置されている。ヒートシンクは液体冷媒による冷却方式とされ、ヒートシンク内に液体冷媒が流れることによって、ヒートシンクに接する平滑コンデンサや各スイッチング素子が冷却される。
特許第3646049号公報
しかしながら、上記従来の技術では、バスバー配線を介した電気的接続を行っているため、電位の異なるバスバー配線が空間にいくつも配置されることになる。このため、異なる電位の各バスバー配線がそれぞれ接触しないように絶縁距離を確保しつつ配置しなければならず、空間における各バスバー配線の配置が制限されてしまうという問題がある。
このように、空間におけるバスバー配線の配置が制限されるにもかかわらず、近年のEHV車両の普及・高性能化に伴い、インバータ回路にはコスト低減の要求や小型化・軽量化の要求が高まってきている。低コスト化や軽量化にはスイッチング素子の小型化が有効な方法の一つであるが、これらを成り立たせるためには以下の問題が生じる。
まず、第1に、スイッチング素子の小型化を実現するためには、放熱性の向上が必要になる。上記のように、通常、水冷によるスイッチング素子等の冷却が行われるが、水冷構造において、放熱の障害になるのは絶縁層や冷媒への熱伝達の部分である。放熱性を高めるには、熱流速低減が重要であるが、スイッチング素子を小型化すると発熱密度が上昇するため、熱拡散させるために放熱板を厚く、また面積を広くする必要がある。しかし、半導体実装体や電力変換器の体格の拡大および重量の拡大を招くという問題が生じる。
また、第2に、電力変換装置そのものの小型化を実現するために、上述のように、バスバー配線の絶縁距離の確保、配線断面積の確保が必要になる。すなわち、電位が露出するバスバー配線間や筐体に対して、規定の絶縁距離(空間・沿面距離)が必要である。上記のように、特許文献1における電力変換装置では、ヒートシンクの側面の空間にバスバー配線を配置しているため、電力変換装置そのものが小型化されると、各バスバー配線の絶縁距離を確保することが困難になる。したがって、スイッチング素子の小型化が困難になるという問題がある。
ここで、仮に、バスバー配線を絶縁被覆したとしても、バスバー配線と各スイッチング素子の端子等を接合するためには、該絶縁被覆を剥いだり、接合後にバスバー配線を再び絶縁被覆する必要があり、コストアップとなってしまう。
本発明は、上記の第1および第2の問題を解決することにより、電力変換を行う半導体装置において、低コスト・軽量化と小型化とを両立することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、冷却に寄与する第1冷却面(11)が設けられた第1冷却器(10)と、第1冷却面(11)の上に配置された第1絶縁層(30)と、第1絶縁層(30)の上に配置された金属板(51、52)と、半導体素子(64〜67)と、半導体素子(64〜67)に熱的および電気的に接続された放熱板(61、62)と、放熱板(61、62)のうち半導体素子(64〜67)が接続された面とは反対側の面が露出するように、半導体素子(64〜67)および放熱板(61、62)を封止したモールド樹脂(72)とを備えて構成された複数の半導体実装体(60)とを備え、複数の半導体実装体(60)それぞれは、金属板(51、52)の上に配置されると共に放熱板(61、62)それぞれが金属板(51、52)に接触させられており、放熱板(61、62)それぞれは金属板(51、52)および第1絶縁層(30)を介して第1冷却面(11)によって冷却されると共に、金属板(51、52)が放熱板(61、62)に対する共通の配線とされて放熱板(61、62)それぞれに電気的に接続されることを特徴とする。
これによると、金属板(51、52)がヒートシンクとして機能するため、半導体実装体(60)の放熱板(61、62)を厚く、また面積を広くしなくても、放熱板(61、62)の放熱性を高めることができる。したがって、半導体素子(64〜67)を小型化すると発熱密度が上昇するが、金属板(51、52)によって半導体素子(64〜67)の放熱性を確保できるので、半導体素子(64〜67)を小型化することができる。
また、金属板(51、52)が共通の配線としても機能するため、複数の半導体実装体(60)ごとにバスバー配線を設ける必要がない。したがって、バスバー配線の絶縁距離の制約が問題にならないため、半導体実装体(60)を小型化することができる。また、金属板(51、52)を共通の配線として用いることから、配線部品の数を減らすことができ、低コスト化および軽量化を図ることができる。
以上のように、金属板(51、52)をヒートシンクおよび配線として機能させることで、半導体装置の低コスト・軽量化と半導体素子(64〜67)の小型化とを両立させることができる。
さらに、請求項に記載の発明では、第1冷却器(10)は第1冷却面(11)の反対側にも第1冷却面(11)を有し、一方の第1冷却面(11)の上および他方の第1冷却面(11)の上に第1絶縁層(30)がそれぞれ配置されており、金属板(51、52)はU字状に折り曲げられ、U字状の金属板(51、52)の一方の先端部が一方の第1冷却面(11)の上の第1絶縁層(30)の上に配置され、U字状の金属板(51、52)の他方の先端部が他方の第1冷却面(11)の上の第1絶縁層(30)の上に配置されることで、第1冷却器(10)の各第1冷却面(11)に第1絶縁層(30)がそれぞれ配置されたものがU字状の金属板(51、52)の両先端部に挟まれていることを特徴とする。
これにより、金属板(51、52)が第1冷却器(10)の一方の第1冷却面(11)だけでなく他方の第1冷却面(11)からも冷やされるため、金属板(51、52)の冷却面積を増やすことができる。これにより、半導体実装体(60)の冷却効率を高めることができる。
また、第1冷却器(10)の他方の第1冷却面(11)側にも金属板(51、52)を配置できるので、U字状の金属板(51、52)の他方の先端部に対する電気的な接続を行うことができる。
請求項に記載の発明では、半導体素子(64〜67)には、一方の面に放熱板(61、62)が接続されると共に他方の面にも放熱板(63)が熱的および電気的に接続され、半導体素子(64〜67)の一方の面に接合された放熱板(61、62)の反対側の面と、他方の面に接合された放熱板(63)の反対側の面とがそれぞれ露出するように、モールド樹脂(72)によって半導体素子(64〜67)および放熱板(61〜63)がそれぞれ封止されており、半導体実装体(60)のうち、半導体素子(64〜67)の他方の面に接続された放熱板(63)が露出する面の上に配置された第2絶縁層(40)と、冷却に寄与する第2冷却面(21)を有し、この第2冷却面(21)が第2絶縁層(40)に接触させられた第2冷却器(20)とを備えていることを特徴とする。
これにより、半導体実装体(60)を両面放熱構造とすることができる。また、該半導体実装体(60)を第1冷却器(10)および第2冷却器(20)で挟んだ両面冷却構造とすることができ、放熱性を向上させることができる。
請求項に記載の発明では、複数の半導体実装体(60)それぞれは、半導体素子(64〜67)として第1半導体素子(64、65)と第2半導体素子(66、67)とを備え、放熱板(61、62)として、第1半導体素子(64、65)が熱的および電気的に接続された第1放熱板(61)と、第2半導体素子(66、67)が熱的および電気的に接続された第2放熱板(62)とを備え、第1放熱板(61)のうち第1半導体素子(64、65)が接続された面とは反対側の面と第2放熱板(62)のうち第2半導体素子(66、67)が接続された面とは反対側の面とが同一平面に配置されると共に露出するように、モールド樹脂(72)によって第1半導体素子(64、65)、第2半導体素子(66、67)、第1放熱板(61)、および第2放熱板(62)が封止されており、さらに、金属板(51、52)として、第1金属板(51)と第2金属板(52)とを有し、第1金属板(51)および第2金属板(52)はそれぞれ離間して第1絶縁層(30)の上に配置され、複数の半導体実装体(60)それぞれは、第1金属板(51)および第2金属板(52)の上に配置されると共に第1放熱板(61)が第1金属板(51)に接触させられ、第2放熱板(62)が第2金属板(52)に接触させられており、第1放熱板(61)は第1金属板(51)および第1絶縁層(30)を介して第1冷却面(11)によって冷却されると共に、第2放熱板(62)は第2金属板(52)および第1絶縁層(30)を介して第1冷却面(11)によって冷却され、第1金属板(51)が第1放熱板(61)に対する共通の配線とされて第1放熱板(61)それぞれに電気的に接続され、第2金属板(52)が第2放熱板(62)に対する共通の配線とされて第2放熱板(62)それぞれに電気的に接続されることを特徴とする。
これにより、第1金属板(51)を各第1放熱板(61)のヒートシンクとして機能させることができると共に、各第1放熱板(61)に共通のバスバー配線としても機能させることができる。第2金属板(52)についても同様に、第2金属板(52)を各第2放熱板(62)のヒートシンクとして機能させることができると共に、各第2放熱板(62)に共通のバスバー配線としても機能させることができる。
以上のように、半導体実装体(60)に複数の半導体素子(64〜67)が設けられていても、各半導体素子(64〜67)に対応した金属板(51、52)を設けることができる。この場合、ヒートシンク兼バスバー配線として機能する第1金属板(51)および第2金属板(52)は、半導体実装体(60)と第1絶縁層(30)との間に離間して配置されるだけである。したがって、バスバー配線の絶縁距離の制約という問題を解消でき、半導体装置自体の小型化を図ることができる。
請求項に記載の発明では、第1金属板(51)は第1絶縁物(53)と第2絶縁物(54)とに挟まれており、第2金属板(52)は第2絶縁物(54)と第3絶縁物(55)とに挟まれていることを特徴とする。
これにより、第2絶縁物(54)によって第1金属板(51)と第2金属板(52)とを確実に絶縁することができる。また、第1絶縁物(53)によって第1金属板(51)と外部とを確実に絶縁することができ、第3絶縁物(55)によって第2金属板(52)と外部とを確実に絶縁することができる。
請求項に記載の発明では、第1絶縁物(53)および第3絶縁物(55)それぞれは、第1冷却器(10)、第1絶縁層(30)、および半導体実装体(60)の積層方向と同方向に延びた位置決め部(57、58)をそれぞれ備えており、第1冷却器(10)、第1絶縁層(30)、および半導体実装体(60)は、第1絶縁物(53)の位置決め部(57)と第3絶縁物(55)の位置決め部(58)との間に配置されていることを特徴とする。
これにより、前記第1冷却器(10)、前記第1絶縁層(30)、および前記半導体実装体(60)に対してそれぞれ位置決めを容易にすることができる。
請求項に記載の発明では、モールド樹脂(72)は、第1放熱板(61)と第2放熱板(62)とが露出した面に、第1放熱板(61)と第2放熱板(62)との間が凹んだ溝部(74)を有し、第2絶縁物(54)は、半導体実装体(60)側に突出した凸部(59)を有しており、第2絶縁物(54)の凸部(59)がモールド樹脂(72)の溝部(74)に嵌め合わされていることを特徴とする。
これにより、第1金属板(51)や第2金属板(52)に対する半導体実装体(60)の位置決めを容易にすることができる。
請求項に記載の発明では、第1冷却器(10)は、第1冷却面(11)が凹んだ第1凹部(12)および第2凹部(13)を有し、第1絶縁層(30)は第1冷却面(11)の第1凹部(12)および第2凹部(13)に沿って第1冷却面(11)の上に配置され、第1金属板(51)は第1絶縁層(30)を介して第1凹部(12)に配置され、第2金属板(52)は第1絶縁層(30)を介して第2凹部(13)に配置されており、半導体実装体(60)それぞれは、第1金属板(51)および第2金属板(52)の上に配置されていることを特徴とする。
これにより、第1金属板(51)および第2金属板(52)の側面についても第1絶縁層(30)を介して第1冷却面(11)によって冷却することができる。このため、第1放熱板(61)および第2放熱板(62)の放熱性を向上させることができる。
請求項に記載の発明では、モールド樹脂(72)は、第1放熱板(61)と第2放熱板(62)とが露出した面に、第1放熱板(61)と第2放熱板(62)との間が凹んだ溝部(74)を有し、第1絶縁層(30)は、半導体実装体(60)側に突出した凸部(31)を有しており、第1絶縁層(30)の凸部(31)がモールド樹脂(72)の溝部(74)に嵌め合わされていることを特徴とする。
これにより、第1冷却器(10)および第2冷却器(20)に対する半導体実装体(60)の位置決めを容易にすることができる。
請求項に記載の発明では、半導体実装体(60)は電力変換器を構成するものであり、半導体実装体(60)に備えられた第1放熱板(61)および第2放熱板(62)のうちの一方が電力変換器の直流電源の陽極の電位とされ、他方が電力変換器の直流電源の陰極の電位とされることを特徴する。
これによると、複数の半導体実装体(60)を第1金属板(51)および第2金属板(52)の延設方向に並べることにより、第1金属板(51)と第2金属板(52)との間で複数の半導体実装体(60)を並列に接続することができる。このため、隣同士の半導体実装体(60)の間隔を狭くすることができ、各半導体実装体(60)間の寄生インダクタンスを低減することができる。
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、図中、同一符号を付してある。
(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態について図を参照して説明する。以下で示される半導体装置は、例えばインバータ装置などの電力変換装置に適用されるものである。
図1は、本発明の第1実施形態に係る半導体装置の一部の側面図である。また、図2は図1のA−A断面図、図3は図1のB−B矢視図である。以下、図1〜図3を参照して説明する。
図1に示されるように、半導体装置は、第1冷却器10と、第2冷却器20と、第1絶縁層30と、第2絶縁層40と、放熱配線シート50と、複数の半導体実装体60とを備えている。
第1冷却器10および第2冷却器20は、各半導体実装体60を冷却するものである。このような第1冷却器10および第2冷却器20は、3枚の金属板の各金属板でコルゲートフィンが挟まれた構造をなしており、冷媒として水が内部に流れる構造になっている。
第1冷却器10には冷却に寄与する第1冷却面11が設けられ、第2冷却器20には冷却に寄与する第2冷却面21が設けられている。
第1絶縁層30および第2絶縁層40は、絶縁を図るための絶縁シートである。第1絶縁層30は第1冷却器10の第1冷却面11の上に配置され、第1冷却器10と放熱配線シート50とを絶縁する役割を果たす。一方、第2絶縁層40は第2冷却器20の第2冷却面21の上に配置され、第2冷却器20と半導体実装体60とを絶縁する役割を果たす。
このような第1絶縁層30および第2絶縁層40は、セラミック基板やエポキシ樹脂にセラミックフィラーを混ぜたシート、アルミナ溶射膜やDLC(ダイヤモンドライクカーボン)等の高熱伝導と絶縁を両立するものである。
放熱配線シート50は、各半導体実装体60に対して、ヒートシンクとバスバー配線とを兼用した役割を果たすものである。このような放熱配線シート50は、第1金属板51と、第2金属板52と、第1絶縁物53と、第2絶縁物54と、第3絶縁物55とを備えている。
第1金属板51および第2金属板52はそれぞれ離間しており、第1金属板51は第1絶縁物53と第2絶縁物54とに挟まれ、第2金属板52は第2絶縁物54と第3絶縁物55とに挟まれている。すなわち、第2絶縁物54が第1金属板51と第2金属板52とに挟まれたものが、第1絶縁物53と第3絶縁物55とによって挟まれて一体化された構成になっている。これにより、第2絶縁物54によって第1金属板51と第2金属板52とが確実に絶縁される。また、第1絶縁物53によって第1金属板51と外部とが確実に絶縁され、第3絶縁物55によって第2金属板52と外部とが確実に絶縁される。
第1金属板51および第2金属板52は、配線として機能できると共にヒートシンクとしても機能できるように、銅(Cu)やアルミニウム(Al)などにより形成されている。一方、第1絶縁物53、第2絶縁物54、および第3絶縁物55としては、ポリフェニレンサルファイド樹脂(PPS)やポリイミド等の絶縁皮膜が採用される。また、放熱配線シート50の厚さは、例えば2〜3mm程度である。
このような放熱配線シート50は、第1絶縁層30の上に配置され、第1金属板51および第2金属板52が共に第1絶縁層30に接触した状態になっている。
複数の半導体実装体60それぞれは、第1放熱板61と、第2放熱板62と、第3放熱板63と、4つの半導体素子64〜67と、4つのターミナル68〜71と、モールド樹脂72とを備えている。
第1放熱板61、第2放熱板62、および第3放熱板63は、各半導体素子64〜67で発生した熱を半導体実装体60の外部に放出するヒートシンクとしての役割と、各半導体素子64〜67を外部と電気的に接続するための電極としての役割を果たすものである。
各放熱板61〜63は、例えばプレス加工等により形成される。各放熱板61〜63の材質は、少なくとも導電性に優れた材料であれば良く、Cu、Al、またはそれらの合金系が採用される。各放熱板61〜63の実装面ははんだ付け等の表面処理として、Niめっきや必要に応じAuめっきされていても良い。
各半導体素子64〜67は、チップ状をなしており、IGBT、MOSトランジスタ、ダイオード等の半導体素子が形成されたものであり、チップの表裏にはんだ付け等される電極が形成されたものである。
これら各半導体素子64〜67、各ターミナル68〜71、各放熱板61〜63は、はんだなどの接合部材73によって熱的および電気的に接続されている。なお、接合部材73として銀ペースト等を用いても構わない。
具体的には、2つの半導体素子64、65の裏面は接合部材73を介してそれぞれ第1放熱板61に接合され、これら半導体素子64、65の表面は接合部材73を介してそれぞれターミナル68、69に接合されている。また、各ターミナル68、69は接合部材73を介して第3放熱板63に接合されている。
一方、他の2つの半導体素子66、67の裏面は接合部材73を介してそれぞれ第3放熱板63に接合され、これら半導体素子66、67の表面は接合部材73を介してそれぞれターミナル70、71に接合されている。また、各ターミナル70、71は接合部材73を介して第2放熱板62に接合されている。第1放熱板61と第2放熱板62とは同一平面に配置されている。
モールド樹脂72は、半導体実装体60の外観をなすものである。このモールド樹脂72は、第1放熱板61のうち2つの半導体素子64、65が接合された面とは反対側の面、第2放熱板62のうちターミナル70、71を介して他の2つの半導体素子66、67が接合された面とは反対側の面、および第3放熱板63のうちターミナル68、69を介して2つの半導体素子64、65が接合されると共に他の2つの半導体素子66、67が接合された面とは反対側の面がそれぞれ露出するように、各放熱板61〜63、各半導体素子64〜67、各ターミナル68〜71をそれぞれ封止している。これにより、半導体実装体60は両面放熱構造となっている。
なお、各半導体素子64〜67は駆動信号を入力するためのリードにワイヤを介して接続されており、該リードの一部が露出するように、リードおよびワイヤがモールド樹脂72で封止されている。
モールド樹脂72の材質として、例えばエポキシ系樹脂が採用される。モールド樹脂72については、表裏の放熱面の露出および形状の精度(平面度/平行度/厚さ精度)を平面加工等で得ることができる。
これにより、図3に示されるように、モールド樹脂72から第1放熱板61および第2放熱板62が露出することとなる。さらに、各半導体実装体60が並べられた方向に第1放熱板61が一列になるように配置されている。第2放熱板62についても同様に一列に配置されている。
このような半導体実装体60において、図3に示された半導体実装体60の第1放熱板61および第2放熱板62が放熱配線シート50の第1金属板51および第2金属板52の上にそれぞれ配置される。本実施形態では、図2に示されるように、第1金属板51および第2金属板52の幅は、第1放熱板61および第2放熱板62の幅よりも大きくなっている。
そして、第1放熱板61が第1金属板51に接触させられ、第2放熱板62が第2金属板52に接触させられている。これにより、第1放熱板61は第1金属板51および第1絶縁層30を介して第1冷却器10の第1冷却面11によって冷却され、第2放熱板62は第2金属板52および第1絶縁層30を介して第1冷却器10の第1冷却面11によって冷却される。
一方、第1金属板51は、複数の半導体実装体60の各第1放熱板61にそれぞれ接触させられている。このため、第1金属板51が各第1放熱板61に対する共通の配線とされて第1放熱板61それぞれに電気的に接続される。また、第2金属板52は、複数の半導体実装体60の各第2放熱板62にそれぞれ接触させられている。このため、第2金属板52が第2放熱板62に対する共通の配線とされて第2放熱板62それぞれに電気的に接続される。
このように、第1金属板51および第2金属板52は共にバスバー配線として機能すると共に、ヒートシンクとしても機能する。したがって、第1金属板51および第2金属板52は、図示しない電気回路に接続されている。
第1金属板51および第2金属板52がヒートシンクとして機能するとなると、第1金属板51と第1放熱板61とを合わせた厚さが実質的なヒートシンクの厚さとなる。同等に、第2金属板52と第2放熱板62とを合わせた厚さが実質的なヒートシンクの厚さとなる。
また、各半導体実装体60において、第3放熱板63が露出した面には、第2絶縁層40が配置されている。そして、上述のように、第2絶縁層40は第2冷却器20の第2冷却面21の上に配置され、第2冷却器20と半導体実装体60とを絶縁している。これにより、各半導体実装体60を第1冷却器10および第2冷却器20で挟んだ両面冷却構造とすることができ、放熱性を向上させることができる。
このように、本実施形態に係る半導体装置は、第1冷却器10、第1絶縁層30、放熱配線シート50、半導体実装体60、第2絶縁層40、第2冷却器20が順に積層された構成となっている。該積層したものを加圧接触させることでインバータ等の電力変換装置としての半導体装置が構成される。この場合、第1放熱板61と第1金属板51との接触、および第2放熱板62と第2金属板52との接触を良好にするため、単純な圧接やねじ止め、はんだや超音波溶接等による接合、導電性接着剤による接着などの方法を採用することができる。リペア性を考えると、圧接やねじ止めが望ましい。
以上のように、放熱配線シート50の第1金属板51および第2金属板52をヒートシンクとして機能させると共に、バスバー配線としての共通の配線としても機能させることにより、以下の効果が得られる。
まず、半導体実装体60の第1放熱板61には第1金属板51が積層され、第2放熱板62には第2金属板52が積層されるため、等価的に第1放熱板61および第2放熱板62がそれぞれ厚くなる。これにより、熱拡散(熱の広がり)の熱抵抗を下げる効果が得られる。さらに、各金属板51、52は第1冷却器10の第1冷却面11全体に渡って連続的して接触しているため、接触面積が大きく、放熱性が向上する。よって、半導体素子64〜67のサイズの小型化による低コスト化、電力変換器全体の小型化が可能となる。
また、第1金属板51および第2金属板52は、半導体実装体60の第1放熱板61および第2放熱板62にそれぞれ接触している。このため、第1放熱板61および第2放熱板62に対する外部接続端子が不要になる。したがって、絶縁距離の制約が発生する端子を減らすことが可能となり、絶縁距離の制約が発生する部位を減らすことができる。また、第1金属板51および第2金属板52自身も各絶縁物53〜55によって絶縁処理されているため、半導体装置の外部に対して絶縁距離の制約が発生する部位は殆どなくなる。よって、電力変換器全体の小型化が可能となる。
そして、各金属板51、52を互いに近接して並行配置することが可能となる。このため、各金属板51、52の間の寄生インダクタンスを低減することができる。また、バスバー配線としての各金属板51、52と半導体実装体60とを短距離で接続することが可能となるため、各金属板51、52と半導体実装体60と間の寄生インダクタンスも低減できる。したがって、半導体実装体60のスイッチング速度に依存するサージを抑えることができ、電力変換器としての半導体装置の損失(発熱)を減らすことが可能となる。このため、各放熱板61、62の小型化や、半導体素子64〜67の小型化が促進される。
さらに、バスバー配線としての各金属板51、52を冷却しながら使用することができるので、熱設計の許す限り、各金属板51、52の断面積をそれぞれ小さくでき、小型・軽量化が可能になる。あるいは、比重の大きなCuに替わり、Alなど比重が小さく電気伝導率がCuに劣る材料を採用し易くなり、軽量化が可能になる。
なお、本実施形態の記載と特許請求の範囲の記載との対応関係については、第1、第2半導体素子64、65が特許請求の範囲の第1半導体素子に対応し、第3、第4半導体素子66、67が特許請求の範囲の第2半導体素子に対応する。
(第2実施形態)
本実施形態では、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。図4は、本実施形態に係る放熱配線シート50および第1冷却器10の断面図であり、図1のA−A断面に相当する図である。この図に示されるように、本実施形態に係る放熱配線シート50は、第1金属板51と、第2金属板52と、各金属板51、52に挟まれた第2絶縁層40とによって構成されている。
また、第1冷却器10は第1冷却面11の反対側にも第1冷却面11を有している。第1冷却器10の一方の第1冷却面11および他方の第1冷却面11すべてを覆うように、一方の第1冷却面11の上および他方の第1冷却面11の上に第1絶縁層30がそれぞれ配置されている。
そして、この第1絶縁層30の上に放熱配線シート50が配置されている。この場合、第1金属板51および第2金属板52はU字状にそれぞれ折り曲げられており、U字状の第1金属板51の一方の先端部が一方の第1冷却面11の上の第1絶縁層30の上に配置され、U字状の第1金属板51の他方の先端部が他方の第1冷却面11の上の第1絶縁層30の上に配置されている。第2金属板52についても同様である。これにより、第1冷却器10の各第1冷却面11に第1絶縁層30がそれぞれ配置されたものがU字状の第1金属板51の両先端部および第2金属板52の両先端部に挟まれた構造になっている。
さらに、U字状の各金属板51、52の上に第3絶縁層56が配置されている。これにより、各金属板51、52と外部との絶縁が図られている。
以上の構成により、各金属板51、52が第1冷却器10の一方の第1冷却面11だけでなく他方の第1冷却面11によっても冷やされる。このため、各金属板51、52の冷却面積が増え、ひいては半導体実装体60の冷却効率を高めることが可能となる。
また、第1冷却器10の他方の第1冷却面11側にも各金属板51、52が配置される。このため、U字状の各金属板51、52の他方の先端部に対する電気的な接続を行うことが可能となる。すなわち、各金属板51、52の他方の先端部が第3絶縁層56から露出させて電気的な接続を行えば良い。
具体的には、電力変換器として用いられる半導体装置では、平滑コンデンサ等の電子部品が接続されることが一般的である。したがって、本実施形態のように、第1冷却器10の第1冷却面11にまで各金属板51、52が配置されていることで、各金属板51、52の他方の先端部に平滑コンデンサ等の電子部品を接続することができる。すなわち、各金属板51、52の他方の先端部において第1冷却器10とは反対側に平滑コンデンサ等を配置すると共に電気的に接続することができる。
これにより、半導体実装体60と平滑コンデンサ等の電子部品とを短距離で電気的に接続することができる。このため、半導体実装体60と平滑コンデンサ等の電子部品との間の寄生インダクタンスを低減することができ、ひいては半導体装置を小型化することができる。
(第3実施形態)
本実施形態では、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。図5は、本実施形態に係る半導体装置の断面図であり、図1のA−A断面に相当する図である。この図に示されるように、本実施形態では、放熱配線シート50を構成する第1、第3絶縁物53、55それぞれは、第1冷却器10、第1絶縁層30、放熱配線シート50、半導体実装体60、第2絶縁層40、第2冷却器20が積層された方向に延びた位置決め部57、58を備えている。
各位置決め部57、58は各冷却器10、20よりも外側にそれぞれ位置している。このような位置決め部57、58により、第1冷却器10、第1絶縁層30、および半導体実装体60は、第1絶縁物53の位置決め部57と第3絶縁物55の位置決め部58とによって挟まれることとなる。これにより、第1冷却器10、第1絶縁層30、半導体実装体60、第2絶縁層40、および第2冷却器20に対してそれぞれ位置決めを容易にすることが可能となる。
(第4実施形態)
本実施形態では、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。図6は、本実施形態に係る半導体装置の断面図であり、図1のA−A断面に相当する図である。この図に示されるように、半導体実装体60において、モールド樹脂72は、第1、第2放熱板61、62が露出した面に、該面が第3放熱板63側に凹んだ溝部74を有している。この溝部74は、第1放熱板61と第2放熱板62との間に設けられている。一方、放熱配線シート50の第2絶縁物54は、半導体実装体60側に突出した凸部59を有している。
そして、放熱配線シート50の上に半導体実装体60が配置されるに際し、第2絶縁物54の凸部59がモールド樹脂72の溝部74に嵌め合わされる。これにより、放熱配線シート50に対する半導体実装体60の位置決めが容易になる。すなわち、第1金属板51や第2金属板52に対する第1放熱板61や第2放熱板62の位置決めを容易にすることができる。
(第5実施形態)
本実施形態では、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。図7は、本実施形態に係る半導体装置の断面図であり、図1のA−A断面に相当する図である。この図に示されるように、第1冷却器10は、第1冷却面11が凹んだ第1凹部12および第2凹部13を有している。第1凹部12は、第1冷却面11の上に半導体実装体60が配置されたときに第1放熱板61が第1冷却面11に投影された場所に設けられている。同様に、第2凹部13は、第1冷却面11の上に半導体実装体60が配置されたときに第2放熱板62が第1冷却面11に投影された場所に設けられている。
また、第1絶縁層30は第1冷却面11の第1凹部12および第2凹部13に沿って第1冷却面11の上に配置されている。そして、第1金属板51は第1絶縁層30を介して第1凹部12に配置され、第2金属板52は第1絶縁層30を介して第2凹部13に配置されている。
このような状態で、半導体実装体60それぞれは、第1金属板51および第2金属板52の上に配置される。これによると、第1放熱板61が第1金属板51に接触し、第2金属板52が第2放熱板62に接触することとなる。
したがって、第1金属板51の側面が第1絶縁層30を介して第1凹部12の壁面に冷却されると共に、第2金属板52の側面が第1絶縁層30を介して第2凹部13の壁面に冷却される。このため、第1放熱板61および第2放熱板62の放熱性を向上させることが可能となる。
(第6実施形態)
本実施形態では、第5実施形態と異なる部分についてのみ説明する。図8は、本実施形態に係る半導体装置の断面図であり、図1のA−A断面に相当する図である。この図に示されるように、図7に示された第1絶縁層30に半導体実装体60側に突出した凸部31が設けられている。一方、半導体実装体60のモールド樹脂72には、第1放熱板61と第2放熱板62とが露出した面に、第1放熱板61と第2放熱板62との間が凹んだ溝部74が設けられている。
そして、第1絶縁層30の凸部31がモールド樹脂72の溝部74に嵌め合わされることとなる。これにより、第1冷却器10に対する半導体実装体60の位置決め、各金属板51、52に対する各放熱板61、62の位置決めを容易にすることができる。
(第7実施形態)
本実施形態では、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。図9は、本実施形態に係る半導体装置の一部の側面図である。また、図10は図9のC−C断面図、図11は図9のD−D矢視図である。以下、図9〜図11を参照して説明する。
図10に示されるように、本実施形態に係る半導体装置は、第1冷却器10と、第2冷却器20と、第1絶縁層30と、第2絶縁層40と、複数の半導体実装体60とを備えている。
複数の半導体実装体60の断面構造については、図2に示されたものと同様である。そして、本実施形態では、図11に示されるように、半導体実装体60それぞれの第1放熱板61および第2放熱板62がモールド樹脂72から突出している。
具体的には、第1放熱板61のうち第1、第2半導体素子64、65が接合された面とは反対側の面が露出すると共に第1放熱板61のうち長手方向の両端部61aがモールド樹脂72から露出している。また、第2放熱板62のうち第3、第4半導体素子66、67が接合された面とは反対側の面が露出すると共に第2放熱板62のうち長手方向の両端部62aがモールド樹脂72から露出している。上記各放熱板61、62は、第1実施形態と同様に、それぞれが離間してモールド樹脂72に封止されている。
そして、第1冷却器10の第1冷却面11の上に第1絶縁層30が配置され、この第1絶縁層30の上に上記構造の複数の半導体実装体60が並べられている。すなわち、各半導体実装体60は、第1放熱板61および第2放熱板62が第1絶縁層30に接することで第1絶縁層30の上にそれぞれ配置されている。これにより、第1放熱板61および第2放熱板62は、第1絶縁層30を介して第1冷却面11によって冷却される。
また、第1絶縁層30の上に並べられた各半導体実装体60のうち隣り合う半導体実装体60において、モールド樹脂72から露出した第1放熱板61の端部61aどうしが電気的に接続されている。本実施形態では、図10に示されるように、ネジ81および板部材82で構成された第1連結部80によって連結されている。すなわち、各第1放熱板61の両端部61aが板部材82によって押さえ付けられ、ネジ81でねじ止めされている。これにより、各半導体実装体60の各第1放熱板61が電気的に接続され、第1、第2半導体素子64、65に対する共通の配線とされる。
同様に、モールド樹脂72から露出した第2放熱板62の端部62aどうしが、ネジ91および板部材92で構成された第2連結部90によって連結されている。これにより、各半導体実装体60の各第2放熱板62が電気的に接続され、第3、第4半導体素子66、67に対する共通の配線とされる。
このように、第1連結部80によって第1放熱板61どうしを接続し、第2連結部90によって第2放熱板62どうしを接続することで、各々を確実に電気的に接続することが可能となる。
そして、半導体実装体60の構成要素である第1放熱板61および第2放熱板62がバスバー配線として機能すると共にヒートシンクとしても機能する。
また、第1実施形態と同様に、各半導体実装体60において、第3放熱板63が露出した面の上に第2絶縁層40が配置され、該第2絶縁層40の上に第2冷却器20が配置されている。これにより、半導体実装体60と第2冷却器20の第2冷却面21とが絶縁されている。
以上が本実施形態に係る半導体装置である。上記のように、半導体実装体60に備えられた第1放熱板61および第2放熱板62をバスバー配線兼ヒートシンクとして用いることにより、各放熱板61、62が第1絶縁層30を介して第1冷却器10によって冷却される。このため、各放熱板61、62の放熱面から第1冷却面11までに介する面の数を第1実施形態における半導体装置よりも少なくすることができる。すなわち、本実施形態に係る半導体装置では、各放熱板61、62から熱が第1絶縁層30に直接伝達されるため、熱が一方の部材の面から他方の部材の面に伝達する際の熱の伝達ロスが少なくなる。したがって、各放熱板61、62の放熱性を向上させることができる。
また、図11に示されるように、モールド樹脂72に封止された各放熱板61、62の長手方向の長さは、図3に示された各放熱板61、62の長手方向の長さよりも長くなっている。このため、半導体実装体60における各放熱板61、62の放熱面積を大きくすることができるので、放熱性を向上させることができる。
さらに、本実施形態では、各金属板51、52のような別部材が不要となっている。また、バスバー配線として機能する各放熱板61、62は半導体実装体60の一部であり、各半導体実装体60を繋げていく構成となるから、各放熱板61、62の絶縁距離の制約が問題になることはない。したがって、半導体実装体60を小型化することができる。さらに、各金属板51、52のような別部材が不要となるので、配線部品の数を減らすことができ、低コスト化および軽量化を図ることができる。
(他の実施形態)
上記各実施形態では、半導体実装体60を両面で冷却する構造について説明したが、これは一例を示したものであり、他の構造であっても良い。例えば、半導体実装体60に第1放熱板61および第2放熱板62のみが備えられた片面放熱構造でも良い。この場合は、各半導体素子64〜67の接続は、ワイヤボンドやリボン状の超音波接合でも良いし、封止方法は金型に露出させたい放熱板を当接させて成形すれば良い。
また、半導体実装体60の構造は、少なくとも半導体素子が放熱板に接合され、該放熱板のうち半導体素子が接合された面とは反対側の面が露出するように、半導体素子および放熱板がモールド樹脂によって封止されていれば良い。すなわち、第1放熱板61のみがモールド樹脂72から露出した構造でも良い。これに伴い、第1〜第6実施形態については、半導体実装体60から露出した放熱板の数に応じた数の金属板を用いれば良い。例えば半導体実装体60から露出した放熱板が1枚ならば、これに対応して金属板は1枚となる。該金属板を用いて放熱配線シート50を構成するならば、1枚の金属板を絶縁物で挟んだものとなる。
第1〜第6実施形態では、放熱配線シート50は、各金属板51、52と各絶縁物53〜55とで構成されていたが、半導体装置は、金属板51、52のみを用いた構成であっても良い。例えば、第1絶縁層30の上に各金属板51、52が離間して配置され、各金属板51、52の上に各放熱板61、62が接触するように半導体実装体60が配置されることとなる。この場合、各金属板51、52の間は空間となる。各金属板51、52については、絶縁性を確保するために絶縁物によってコーティングされていることが好ましい。
各金属板51、52において第1絶縁層30に接触する面には、必要に応じ放熱グリスを印刷等により塗布しても良い。
第3実施形態で示された各位置決め部57、58については、第1冷却器10等の積層方向の高さや、各金属板51、52および各絶縁物53〜55が並べられた方向の位置は一例を示したものであり、図5に限定されるものではない。例えば、該高さがもっと低くても、あるいは該位置が半導体実装体60側に位置していても良いし、各位置決め部57、58が第1冷却器10側のみであるとか第2冷却器20側のみに設けられていても良い。
第7実施形態では、第1、第2連結部80、90によって各放熱板61、62の電気的接続を図っていたが、これは一例を示したものであり、他の方法によって電気的に接続しても良い。例えば、溶接、ワイヤボンディング、はんだなどにより、電気的接続を図ることが可能である。
上記各実施形態では、半導体実装体60において、第1放熱板61および第2放熱板62が同一平面に露出するように封止され、半導体実装体60において第1、第2放熱板61、62の反対側に第3放熱板63が配置された構成になっている。このような構成において、例えば、第3放熱板63の電位を第1、第2放熱板61、62が露出された面に導き、半導体実装体60の一つの面で第1〜第3放熱板61〜63の各電位を取れるようにしても良い。この場合、第1〜第6実施形態については、金属板が3つ必要になる。
半導体実装体60の一つの面で第1、第2放熱板61、62の各電位を取る場合、半導体実装体60は電力変換器を構成するものであるから、第1放熱板61および第2放熱板62のうちの一方を電力変換器の直流電源の陽極の電位とし、他方を電力変換器の直流電源の陰極の電位とすることができる。この場合、第1、第2金属板51、52の上に第1、第2放熱板61、62がそれぞれ接触するので、モールド樹脂72から露出した第1放熱板61および第2放熱板62の各面は同一平面に配置される。
このように、第1、第2放熱板61、62の電位を決めると、複数の半導体実装体60を第1金属板51および第2金属板52の延設方向に複数並べることで、第1金属板51と第2金属板52との間で複数の半導体実装体60を並列に接続することが可能となる。したがって、各半導体実装体60の間隔が狭くなり、各半導体実装体60間の寄生インダクタンスが低減される。もちろん、半導体実装体60の一つの面に第1〜第3放熱板61〜63が露出していたとしても、そのうちの2つを陽極と陰極とにすれば良い。放熱板の数がさらに増えたとしても同様である。
第1冷却器10や第2冷却器20は、樹脂やセラミックの他、絶縁材などで構成されていても良い。この場合、第1冷却器10および第2冷却器20は絶縁体となるので、第1絶縁層30を不要とすることができる。
本発明の第1実施形態に係る半導体装置の一部の側面図である。 図1のA−A断面図である。 図1のB−B矢視図である。 本発明の第2実施形態に係る放熱配線シートおよび第1冷却器の断面図である。 本発明の第3実施形態に係る半導体装置の断面図である。 本発明の第4実施形態に係る半導体装置の断面図である。 本発明の第5実施形態に係る半導体装置の断面図である。 本発明の第6実施形態に係る半導体装置の断面図である。 本発明の第7実施形態に係る半導体装置の一部の側面図である。 図9のC−C断面図である。 図9のD−D矢視図である。
符号の説明
10 第1冷却器
11 第1冷却面
12 第1凹部
13 第2凹部
20 第2冷却器
21 第2冷却面
30 第1絶縁層
31 第1絶縁層の凸部
51、52 金属板
53〜55 絶縁物
57、58 位置決め部
59 第2絶縁物の凸部
60 半導体実装体
61〜63 放熱板
61a、62a 端部
64〜67 半導体素子
72 モールド樹脂
74 溝部
80、90 連結部

Claims (9)

  1. 冷却に寄与する第1冷却面(11)が設けられた第1冷却器(10)と、
    前記第1冷却面(11)の上に配置された第1絶縁層(30)と、
    前記第1絶縁層(30)の上に配置された金属板(51、52)と、
    半導体素子(64〜67)と、前記半導体素子(64〜67)に熱的および電気的に接続された放熱板(61、62)と、前記放熱板(61、62)のうち前記半導体素子(64〜67)が接続された面とは反対側の面が露出するように、前記半導体素子(64〜67)および前記放熱板(61、62)を封止したモールド樹脂(72)とを備えて構成された複数の半導体実装体(60)とを備え、
    前記複数の半導体実装体(60)それぞれは、前記金属板(51、52)の上に配置されると共に前記放熱板(61、62)それぞれが前記金属板(51、52)に接触させられており、
    前記放熱板(61、62)それぞれは前記金属板(51、52)および前記第1絶縁層(30)を介して前記第1冷却面(11)によって冷却されると共に、前記金属板(51、52)が前記放熱板(61、62)に対する共通の配線とされて前記放熱板(61、62)それぞれに電気的に接続されており、
    前記第1冷却器(10)は前記第1冷却面(11)の反対側にも第1冷却面(11)を有し、一方の第1冷却面(11)の上および他方の第1冷却面(11)の上に前記第1絶縁層(30)がそれぞれ配置されており、
    前記金属板(51、52)はU字状に折り曲げられ、前記U字状の金属板(51、52)の一方の先端部が前記一方の第1冷却面(11)の上の第1絶縁層(30)の上に配置され、前記U字状の金属板(51、52)の他方の先端部が前記他方の第1冷却面(11)の上の第1絶縁層(30)の上に配置されることで、前記第1冷却器(10)の前記各第1冷却面(11)に前記第1絶縁層(30)がそれぞれ配置されたものが前記U字状の金属板(51、52)の両先端部に挟まれていることを特徴とする半導体装置。
  2. 冷却に寄与する第1冷却面(11)が設けられた第1冷却器(10)と、
    前記第1冷却面(11)の上に配置された第1絶縁層(30)と、
    前記第1絶縁層(30)の上に配置された金属板(51、52)と、
    半導体素子(64〜67)と、前記半導体素子(64〜67)に熱的および電気的に接続された放熱板(61、62)と、前記放熱板(61、62)のうち前記半導体素子(64〜67)が接続された面とは反対側の面が露出するように、前記半導体素子(64〜67)および前記放熱板(61、62)を封止したモールド樹脂(72)とを備えて構成された複数の半導体実装体(60)とを備え、
    前記複数の半導体実装体(60)それぞれは、前記金属板(51、52)の上に配置されると共に前記放熱板(61、62)それぞれが前記金属板(51、52)に接触させられており、
    前記放熱板(61、62)それぞれは前記金属板(51、52)および前記第1絶縁層(30)を介して前記第1冷却面(11)によって冷却されると共に、前記金属板(51、52)が前記放熱板(61、62)に対する共通の配線とされて前記放熱板(61、62)それぞれに電気的に接続されており、
    前記半導体素子(64〜67)には、一方の面に前記放熱板(61、62)が接続されると共に他方の面にも放熱板(63)が熱的および電気的に接続され、前記半導体素子(64〜67)の一方の面に接合された前記放熱板(61、62)の反対側の面と、前記他方の面に接合された前記放熱板(63)の反対側の面とがそれぞれ露出するように、前記モールド樹脂(72)によって前記半導体素子(64〜67)および前記各放熱板(61〜63)がそれぞれ封止されており、
    前記半導体実装体(60)のうち、前記半導体素子(64〜67)の他方の面に接続された前記放熱板(63)が露出する面の上に配置された第2絶縁層(40)と、
    冷却に寄与する第2冷却面(21)を有し、この第2冷却面(21)が前記第2絶縁層(40)に接触させられた第2冷却器(20)とを備えていることを特徴とする半導体装置。
  3. 冷却に寄与する第1冷却面(11)が設けられた第1冷却器(10)と、
    前記第1冷却面(11)の上に配置された第1絶縁層(30)と、
    前記第1絶縁層(30)の上に配置された金属板(51、52)と、
    半導体素子(64〜67)と、前記半導体素子(64〜67)に熱的および電気的に接続された放熱板(61、62)と、前記放熱板(61、62)のうち前記半導体素子(64〜67)が接続された面とは反対側の面が露出するように、前記半導体素子(64〜67)および前記放熱板(61、62)を封止したモールド樹脂(72)とを備えて構成された複数の半導体実装体(60)とを備え、
    前記複数の半導体実装体(60)それぞれは、前記金属板(51、52)の上に配置されると共に前記放熱板(61、62)それぞれが前記金属板(51、52)に接触させられており、
    前記放熱板(61、62)それぞれは前記金属板(51、52)および前記第1絶縁層(30)を介して前記第1冷却面(11)によって冷却されると共に、前記金属板(51、52)が前記放熱板(61、62)に対する共通の配線とされて前記放熱板(61、62)それぞれに電気的に接続されており、
    前記複数の半導体実装体(60)それぞれは、
    前記半導体素子(64〜67)として第1半導体素子(64、65)と第2半導体素子(66、67)とを備え、
    前記放熱板(61、62)として、前記第1半導体素子(64、65)が熱的および電気的に接続された第1放熱板(61)と、前記第2半導体素子(66、67)が熱的および電気的に接続された第2放熱板(62)とを備え、
    前記第1放熱板(61)のうち前記第1半導体素子(64、65)が接続された面とは反対側の面と前記第2放熱板(62)のうち前記第2半導体素子(66、67)が接続された面とは反対側の面とが同一平面に配置されると共に露出するように、前記モールド樹脂(72)によって前記第1半導体素子(64、65)、前記第2半導体素子(66、67)、前記第1放熱板(61)、および前記第2放熱板(62)が封止されており、
    さらに、前記金属板(51、52)として、第1金属板(51)と第2金属板(52)とを有し、前記第1金属板(51)および前記第2金属板(52)はそれぞれ離間して前記第1絶縁層(30)の上に配置され、
    前記複数の半導体実装体(60)それぞれは、前記第1金属板(51)および前記第2金属板(52)の上に配置されると共に前記第1放熱板(61)が前記第1金属板(51)に接触させられ、前記第2放熱板(62)が前記第2金属板(52)に接触させられており、
    前記第1放熱板(61)は前記第1金属板(51)および前記第1絶縁層(30)を介して前記第1冷却面(11)によって冷却されると共に、前記第2放熱板(62)は前記第2金属板(52)および前記第1絶縁層(30)を介して前記第1冷却面(11)によって冷却され、
    前記第1金属板(51)が前記第1放熱板(61)に対する共通の配線とされて前記第1放熱板(61)それぞれに電気的に接続され、前記第2金属板(52)が前記第2放熱板(62)に対する共通の配線とされて前記第2放熱板(62)それぞれに電気的に接続されることを特徴とする半導体装置。
  4. 前記第1金属板(51)は第1絶縁物(53)と第2絶縁物(54)とに挟まれており、前記第2金属板(52)は前記第2絶縁物(54)と第3絶縁物(55)とに挟まれていることを特徴とする請求項に記載の半導体装置。
  5. 前記第1絶縁物(53)および前記第3絶縁物(55)それぞれは、前記第1冷却器(10)、前記第1絶縁層(30)、および前記半導体実装体(60)の積層方向と同方向に延びた位置決め部(57、58)をそれぞれ備えており、
    前記第1冷却器(10)、前記第1絶縁層(30)、および前記半導体実装体(60)は、前記第1絶縁物(53)の位置決め部(57)と前記第3絶縁物(55)の位置決め部(58)との間に配置されていることを特徴とする請求項に記載の半導体装置。
  6. 前記モールド樹脂(72)は、前記第1放熱板(61)と前記第2放熱板(62)とが露出した面に、前記第1放熱板(61)と前記第2放熱板(62)との間が凹んだ溝部(74)を有し、
    前記第2絶縁物(54)は、前記半導体実装体(60)側に突出した凸部(59)を有しており、
    前記第2絶縁物(54)の凸部(59)が前記モールド樹脂(72)の溝部(74)に嵌め合わされていることを特徴とする請求項4または5に記載の半導体装置。
  7. 前記第1冷却器(10)は、前記第1冷却面(11)が凹んだ第1凹部(12)および第2凹部(13)を有し、
    前記第1絶縁層(30)は前記第1冷却面(11)の前記第1凹部(12)および前記第2凹部(13)に沿って前記第1冷却面(11)の上に配置され、
    前記第1金属板(51)は前記第1絶縁層(30)を介して前記第1凹部(12)に配置され、前記第2金属板(52)は前記第1絶縁層(30)を介して前記第2凹部(13)に配置されており、
    前記半導体実装体(60)それぞれは、前記第1金属板(51)および前記第2金属板(52)の上に配置されていることを特徴とする請求項に記載の半導体装置。
  8. 前記モールド樹脂(72)は、前記第1放熱板(61)と前記第2放熱板(62)とが露出した面に、前記第1放熱板(61)と前記第2放熱板(62)との間が凹んだ溝部(74)を有し、
    前記第1絶縁層(30)は、前記半導体実装体(60)側に突出した凸部(31)を有しており、
    前記第1絶縁層(30)の凸部(31)が前記モールド樹脂(72)の溝部(74)に嵌め合わされていることを特徴とする請求項に記載の半導体装置。
  9. 前記半導体実装体(60)は電力変換器を構成するものであり、
    前記半導体実装体(60)に備えられた前記第1放熱板(61)および前記第2放熱板(62)のうちの一方が前記電力変換器の直流電源の陽極の電位とされ、他方が前記電力変換器の直流電源の陰極の電位とされることを特徴とする請求項3ないし8のいずれか1つに記載の半導体装置。
JP2008264847A 2008-10-14 2008-10-14 半導体装置 Expired - Fee Related JP5217884B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008264847A JP5217884B2 (ja) 2008-10-14 2008-10-14 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008264847A JP5217884B2 (ja) 2008-10-14 2008-10-14 半導体装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012100058A Division JP5621812B2 (ja) 2012-04-25 2012-04-25 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010097967A JP2010097967A (ja) 2010-04-30
JP5217884B2 true JP5217884B2 (ja) 2013-06-19

Family

ID=42259472

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008264847A Expired - Fee Related JP5217884B2 (ja) 2008-10-14 2008-10-14 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5217884B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104952836A (zh) * 2014-03-28 2015-09-30 迪尔公司 用于换流器的电子组件
CN104952816A (zh) * 2014-03-28 2015-09-30 迪尔公司 用于换流器的电子组件

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5674537B2 (ja) * 2011-04-07 2015-02-25 新電元工業株式会社 電気部品モジュール
JP2013062282A (ja) * 2011-09-12 2013-04-04 Toyota Motor Corp 半導体装置
KR101289196B1 (ko) 2011-09-14 2013-07-26 삼성전기주식회사 전력 모듈 패키지 및 그 제조방법
JP5948106B2 (ja) * 2012-03-30 2016-07-06 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワー半導体モジュール及びそれを用いた電力変換装置
JP2013232495A (ja) * 2012-04-27 2013-11-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP6308084B2 (ja) * 2014-09-24 2018-04-11 株式会社デンソー 積層型冷却器
JP6281506B2 (ja) * 2015-02-24 2018-02-21 トヨタ自動車株式会社 半導体モジュール
JP6406190B2 (ja) * 2015-09-15 2018-10-17 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
US10971430B2 (en) 2016-04-15 2021-04-06 Kyocera Corporation Semiconductor device

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06310628A (ja) * 1993-04-23 1994-11-04 Sanyo Electric Co Ltd 混成集積回路
JP2000261120A (ja) * 1999-03-05 2000-09-22 Origin Electric Co Ltd 半導体装置の実装構造及びそれを用いた電子機器
JP3770164B2 (ja) * 2002-01-23 2006-04-26 日産自動車株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP4432892B2 (ja) * 2005-12-14 2010-03-17 株式会社デンソー 半導体冷却構造
JP5076549B2 (ja) * 2007-02-23 2012-11-21 株式会社デンソー 半導体装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104952836A (zh) * 2014-03-28 2015-09-30 迪尔公司 用于换流器的电子组件
CN104952816A (zh) * 2014-03-28 2015-09-30 迪尔公司 用于换流器的电子组件
CN104952836B (zh) * 2014-03-28 2019-06-14 迪尔公司 用于换流器的电子组件
CN104952816B (zh) * 2014-03-28 2019-10-15 迪尔公司 用于换流器的电子组件

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010097967A (ja) 2010-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5217884B2 (ja) 半導体装置
JP5382049B2 (ja) 半導体装置
JP5206822B2 (ja) 半導体装置
EP2690658B1 (en) Power semiconductor module and power unit device
US9392714B2 (en) Power semiconductor module and method of manufacturing a power semiconductor
US11062972B2 (en) Electronic module for power control and method for manufacturing an electronic module power control
JP2009177038A (ja) パワー半導体モジュール
JP2000164800A (ja) 半導体モジュール
JP2008042074A (ja) 半導体装置及び電力変換装置
JP2009071064A (ja) 半導体装置
JP2007068302A (ja) 電力用半導体素子及び半導体電力変換装置
CN110771027B (zh) 功率半导体装置及使用该装置的电力转换装置
JP3673776B2 (ja) 半導体モジュール及び電力変換装置
JP5621812B2 (ja) 半導体装置
JP4935783B2 (ja) 半導体装置および複合半導体装置
JP2020184561A (ja) 半導体装置
CN111587528A (zh) 功率半导体装置
JP5028907B2 (ja) 半導体装置及び電力変換装置
WO2019142543A1 (ja) パワー半導体装置
JP4158648B2 (ja) 半導体冷却ユニット
US20240096727A1 (en) Power Semiconductor Device
JP7088094B2 (ja) 半導体装置
WO2022102412A1 (ja) 電力変換装置
WO2021199261A1 (ja) 部品モジュール
WO2019221242A1 (ja) パワー半導体モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101228

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120228

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120425

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130218

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160315

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5217884

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160315

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees