JP5209883B2 - レーザ加工装置及びレーザ加工方法 - Google Patents
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Description
以下、本発明に係るレーザ加工装置の第1の実施の形態について、図面を参照して説明する。ここで、図1及び図2(a)、(b)は本発明の第1の実施の形態を示す図である。
次に図3及び図4により本発明の第2の実施の形態について説明する。図3及び図4に示す第2の実施の形態は、被加工基板10の側端面13に発生したクラック(欠陥)1を検出するクラック検出部(欠陥検出部)5を更に備えたものであり、クラック検出部5により検出されたクラック1毎に、レーザ光LBを照射して側端面13を修復するものである。なお他の構成は、図1及び図2(a)、(b)に示す第1の実施の形態と略同一である。
次に図4を用いて上述した実施の形態の変形例について説明する。
次に図5により本発明の第3の実施の形態について説明する。図5に示す第3の実施の形態は、被加工基板10の側端面13の異なる位置に対して、異なる方向からレーザ光LBを照射することができるようレーザ発振器20a,20b、ガルバノメータスキャナ30a,30c及びfθレンズ25a,25bを2個ずつ配置したものであり、他は図1及び図2(a)、(b)に示す第1の実施の形態と略同一である。なおレーザ発振器20aとレーザ発振器20bは、同時にレーザ光LBを出射することができる。
5 クラック検出部(欠陥検出部)
10 被加工基板
11 表面
12 裏面
13 側端面
15 基板保持部
20,20a,20b レーザ発振器
25,25a,25b fθレンズ
30,30a,30b ガルバノメータスキャナ
31,31a,31b 可動ミラー
40 制御部
50 レーザ加工装置
LB レーザ光
Claims (18)
- 脆性材料からなり、表面及び裏面と、表面と裏面との間に延びる側端面とを有する板状の被加工基板に対してレーザ光を照射して加工するレーザ加工装置において、
レーザ光を出射するレーザ発振器と、
レーザ発振器から出射されるレーザ光を被加工基板の側端面に集光又は結像させる光学系と、
被加工基板の側端面に発生した欠陥を検出する欠陥検出部と、
欠陥検出部とレーザ発振器とに連結された制御部とを備え、
制御部により、欠陥検出部からの情報に基づいて、レーザ発振器を制御してレーザ光の発振形態、出力、周波数および波長に関する出力パラメータを変化させて、レーザ発振器からレーザ光を出射し、光学系により集光又は結像されるレーザ光を側端面の欠陥に照射することによって、当該欠陥が発生した被加工基板の側端面を修復することを特徴とするレーザ加工装置。 - 脆性材料からなり、表面及び裏面と、表面と裏面との間に延びる側端面とを有する板状の被加工基板に対してレーザ光を照射して加工するレーザ加工装置において、
レーザ光を出射するレーザ発振器と、
レーザ発振器から出射されるレーザ光を被加工基板に集光又は結像させる光学系と、
被加工基板に発生した欠陥を検出する欠陥検出部と、
欠陥検出部とレーザ発振器とに連結された制御部とを備え、
制御部により、欠陥検出部からの情報に基づいて、レーザ発振器を制御してレーザ光の発振形態、出力、周波数および波長に関する出力パラメータを変化させて、レーザ発振器からレーザ光を出射し、光学系により集光又は結像されるレーザ光を欠陥に照射することによって、当該欠陥が発生した被加工基板を修復することを特徴とするレーザ加工装置。 - 光学系により集光又は結像されるレーザ光は、被加工基板に照射されるレーザ光のスポットの位置が調整機構によって調整自在となっていることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のレーザ加工装置。
- 光学系により集光又は結像されるレーザ光は、被加工基板に対する照射角度が調整機構によって調整自在となっていることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のレーザ加工装置。
- レーザ発振器及び光学系は各々、複数個設けられ、
各レーザ発振器及び各光学系は、被加工基板の異なる位置及び/又は方向にレーザ光を照射できるよう配置されていることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のレーザ加工装置。 - 各レーザ発振器は、同時にレーザ光を出射できることを特徴とする請求項5記載のレーザ加工装置。
- 被加工基板は円盤状をなすとともに、基板保持部により保持され、
当該基板保持部は、回転自在であることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のレーザ加工装置。 - 制御部は、欠陥検出部からの情報に基づいて被加工基板が修復されたと判断するまで、繰り返し、欠陥検出部によって、被加工基板に発生した欠陥を検出させるとともに、レーザ発振器からレーザ光を出射させ、光学系により集光又は結像されるレーザ光を被加工基板の欠陥に照射させることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のレーザ加工装置。
- 欠陥検出部により被加工基板の全てを再度検出させる全体再検査モードと、欠陥検出部により被加工基板のうちクラックが検出された箇所を再度検出させる一部再検査モードとを選択可能な選択手段を、さらに備えたことを特徴とする請求項8記載のレーザ加工装置。
- 制御部は、欠陥検出部からの情報に基づいて、更に光学系の位置を制御して、前記欠陥に照射されるレーザ光のスポット径、位置および方向を変化させることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のレーザ加工装置。
- 制御部は、欠陥検出部からの情報に基づいて、欠陥の修復度合いにより出力パラメータを変化させることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載のレーザ加工装置。
- 脆性材料からなり、表面及び裏面と、表面と裏面との間に延びる側端面とを有する板状の被加工基板に対してレーザ光を照射して加工するレーザ加工方法において、
欠陥検出部によって、被加工基板の側端面に発生した欠陥を検出する欠陥検出工程と、
レーザ発振器からレーザ光を出射させ、当該レーザ光を側端面の欠陥に照射することによって、当該側端面を修復する照射工程と、
を備え、
前記照射工程において、欠陥検出部からの情報に基づいて、レーザ発振器を制御してレーザ発振器から出射されるレーザ光の発振形態、出力、周波数および波長に関する出力パラメータを変化させることを特徴とするレーザ加工方法。 - 脆性材料からなり、表面及び裏面と、表面と裏面との間に延びる側端面とを有する板状の被加工基板に対してレーザ光を照射して加工するレーザ加工方法において、
欠陥検出部によって、被加工基板に発生した欠陥を検出する欠陥検出工程と、
レーザ発振器からレーザ光を出射させ、当該レーザ光を欠陥に照射することによって、当該欠陥を修復する照射工程と、
を備え、
前記照射工程において、欠陥検出部からの情報に基づいて、レーザ発振器を制御してレーザ発振器から出射されるレーザ光の発振形態、出力、周波数および波長に関する出力パラメータを変化させることを特徴とするレーザ加工方法。 - 前記照射工程の後で行われ、欠陥検出部によって、被加工基板に発生した欠陥を再度検出する再欠陥検出工程を、さらに備え、
制御部は、欠陥検出部からの情報に基づいて、被加工基板が修復されたかを判断することを特徴とする請求項12または13のいずれかに記載のレーザ加工方法。 - 制御部が欠陥検出部からの情報に基づいて被加工基板が修復されたと判断するまで、
欠陥検出部からの情報に基づいてレーザ発振器からレーザ光を出射させる照射工程と、
欠陥検出部によって、被加工基板に発生した欠陥を再度検出する再欠陥検出工程と、
を繰り返し行うことを特徴とする請求項14記載のレーザ加工方法。 - 再欠陥検出工程において、欠陥検出部は、被加工基板のうち、前回の欠陥検出部による検出によって欠陥が検出された箇所を再度検出することを特徴とする請求項14又は15のいずれかに記載のレーザ加工方法。
- 前記照射工程において、欠陥検出部からの情報に基づいて、更に光学系の位置を制御して当該欠陥に照射されるレーザ光のスポット径、位置および方向を変化させることを特徴とする請求項12または13のいずれかに記載のレーザ加工方法。
- 前記照射工程において、欠陥検出部からの情報に基づいて、欠陥の修復度合いにより出力パラメータを変化させることを特徴とする請求項12または13のいずれかに記載のレーザ加工方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007032397A JP5209883B2 (ja) | 2006-02-14 | 2007-02-13 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006036543 | 2006-02-14 | ||
JP2006036543 | 2006-02-14 | ||
JP2007032397A JP5209883B2 (ja) | 2006-02-14 | 2007-02-13 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007245235A JP2007245235A (ja) | 2007-09-27 |
JP2007245235A5 JP2007245235A5 (ja) | 2010-03-18 |
JP5209883B2 true JP5209883B2 (ja) | 2013-06-12 |
Family
ID=38590061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007032397A Expired - Fee Related JP5209883B2 (ja) | 2006-02-14 | 2007-02-13 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5209883B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2239085A4 (en) * | 2007-12-19 | 2016-12-14 | Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd | METHOD FOR ABREASING / PROCESSING A SUBSTRATE OF SPRING MATERIAL AND ABROADING / MACHINING DEVICE |
TWI414383B (zh) * | 2008-06-25 | 2013-11-11 | Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd | Angle processing device |
CN105502958A (zh) * | 2011-08-08 | 2016-04-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种修复玻璃基板裂纹的方法 |
JP2014079800A (ja) * | 2012-10-18 | 2014-05-08 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | クラッド材補修方法 |
KR101385437B1 (ko) * | 2013-03-22 | 2014-04-16 | 주식회사 고려반도체시스템 | 표시 장치용 투명 기판의 측면 가공 장치 |
KR101652895B1 (ko) * | 2015-04-01 | 2016-09-02 | (주)하드램 | 레이저를 이용한 기판 에지 폴리싱 장치 및 방법 |
JP5997804B1 (ja) * | 2015-06-03 | 2016-09-28 | 株式会社Ihi | 表面処理装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63109112A (ja) * | 1986-10-28 | 1988-05-13 | Riken Corp | ピストンリングの表面硬化処理方法 |
JPS6482610A (en) * | 1987-09-25 | 1989-03-28 | Fujitsu Ltd | Method of treating chamfered part of wafer |
JPH03294075A (ja) * | 1990-04-10 | 1991-12-25 | Nippon Steel Corp | レーザによる部分表面溶削処理方法とその装置 |
JPH11104863A (ja) * | 1997-10-06 | 1999-04-20 | Nikon Corp | レーザ加工装置 |
JP2000344551A (ja) * | 1999-03-03 | 2000-12-12 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | ガラス板の製造方法及びガラス板 |
JP4225375B2 (ja) * | 2002-03-01 | 2009-02-18 | Hoya株式会社 | ガラス基板の製造方法 |
-
2007
- 2007-02-13 JP JP2007032397A patent/JP5209883B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007245235A (ja) | 2007-09-27 |
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