JP5206417B2 - 信号測定装置および信号測定方法 - Google Patents

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Description

(関連出願)本願は、先の日本特許出願2006−344648号(2006年12月21日出願)の優先権を主張するものであり、前記先の出願の全記載内容は、本書に引用をもって繰込み記載されているものとみなされる。
本発明は、信号測定装置および信号測定方法に係り、特に半導体集積回路装置における測定結果信号の出力タイミング同定技術に関する。
半導体集積回路装置(LSI)内で発生する電源ノイズは、LSI内の微細化・高速化によって増加している。さらに、低電圧化が進むにつれ、ノイズやクロックの揺らぎ(ジッタ)、温度変動などがチップの動作不良を引き起こすケースが顕著になってきている。また、微細化に伴う高集積化により、チップ内の挙動は、ますます複雑になってきており、動作不良を容易に推測することが困難となってきている。したがって、動作不良の原因特定のためには、LSI内のノイズ、ジッタ、温度変動などの挙動を直接観測することが重要となってきている。
従来、集積回路外部に電源や信号を取り出し、電源や信号の挙動を観測することが一般に行われている。集積回路の動作周波数が上昇するにつれ、高周波数成分を有するノイズやジッタなどが増大している。一方、集積回路外部のボードやパッケージの動作周波数帯域は、動作周波数の上昇速度に追いついていない。したがって、集積回路内部のノイズやジッタを集積回路外部で正確に観測することが困難になってきている。また、集積回路外に信号やクロックを取り出した場合、集積回路内で発生するノイズやジッタ以外に、信号やクロックを集積回路の外に引き出す過程で発生するノイズやジッタが加わるため、測定点でのノイズやジッタを正確に見積もることは困難である。
そこで測定装置をチップ内に内蔵し、チップ内の現象をオンチップ現象測定装置で観測し、測定結果をチップ外部に取り出し易いディジタル信号に変換するオンチップ現象測定装置が有効である。オンチップ現象測定装置により、測定結果をチップ外に取り出し、チップ外部で取り出されたデータに変換をかけ、現象の挙動を可視化するという流れをディジタル化する。このような処理によって、途中経路における信号品質劣化の問題を解決することができる。
ところで、このような装置において、測定結果を保持する場合、記憶容量が極めて大きくなってしまう虞がある。そこで、記憶容量を削減する技術として、例えば、特許文献1には、ハードウェア規模を大幅に増大することなくLSI内部のレジスタ状態のトレース時間を長くするトレースデータ採取方式が開示されている。この方式は、LSIや装置の多数のレジスタを複数のレジスタ群にグループ化し、各グループでイベントフラグを選定し、いずれかのイベントフラグがオンしている時のみ、レジスタ群の値を記録間隔と共に記録する。したがって、有効なデータとその発生タイミングのみが記録され、従来より長時間に亘るトレースが可能となる。
また、特許文献2には、順次発生する事象をデータ圧縮して記憶する場合に、後から記憶された事象変化及び変化発生時刻を簡単に特定できる圧縮記憶装置が記載されている。この装置は、順次発生する事象が基準事象から変化したとき、又は基準事象からの変化が変化したときのみ、この事象変化発生時刻を特定するタイムスタンプを記憶部に記憶保持する。したがって、記憶部の必要とする記憶容量を大幅に節減できると共に、記憶部に記憶された任意の測定データの発生時刻を簡単に特定できる。
なお、関連する技術として、特許文献3には、プログラム実行の際の経過時間情報をも同時に記録し、編集して出力することができるトレース装置が開示されている。この装置は、マイクロプロセッサが実行するプログラムの各命令段階を実行するごとに、各命令を実行した時刻の情報と、トレース結果情報の履歴とを記録し、これらを対応させて出力させることができるから、プログラムのデバッグを効率的に実施することが可能である。
特許第3711884号公報 特開平8−223254号公報 特開平10−260864号公報
以上の特許文献1〜3の開示事項は、本書に引用をもって繰り込み記載されているものとする。以下に本発明による関連技術の分析を与える。
ところで、測定結果用の同定信号は、測定装置の駆動クロックに同期して変動するため、駆動クロック信号が高速化するにつれて、高速で安定に動作する同定信号の生成回路が必要となる。また、測定回数分だけカウンタ値が必要となる場合、同定信号の必要ビット数が大きくなってしまい、回路のタイミング設計が難しくなる。特に駆動クロック信号がGHzに近いような周波数となる場合、ジッタや周波数の変動が大きくなってしまい、測定時間を十分な精度で推定することが難しくなる。
本発明の目的は、低速動作で十分な精度で測定時間を推定可能な信号測定装置および信号測定方法を提供することにある。
本発明の1つのアスペクトに係る信号測定装置は、測定用の駆動クロック信号に同期して測定対象を測定し、測定結果を第1のデータとして出力する測定部と、測定の開始指示に従って、駆動クロック信号よりも低速で所定の周期を有する基準信号に同期して周期毎に異なる値を第2のデータとして出力するタイミング同定部と、を一組として1または複数組備え、駆動クロック信号に同期し、第1のデータと第2のデータとを一組として纏めて順次記憶する記憶部と、を備える。また、タイミング同定部は、測定の開始指示に従ってリセットされ、基準信号の一周期ごとに値が1ずつ増加または減少して第2のデータ中の一構成要素を出力する第1のリセットつきカウンタと、測定の開始指示が入力された時あるいは基準信号の一方のエッジが入力された時に、リセットされ、駆動クロック信号の一周期ごとに1増加または減少して第2のデータ中の他の構成要素を出力する第2のリセットつきカウンタと、を備える。
本発明の信号測定装置において、基準信号は、駆動クロック信号の整数倍の周期を有することが好ましい。
本発明の信号測定装置において、第2のリセットつきカウンタは、駆動クロック信号の周期が最も短いときの周期に対して何倍であるかを示す測定周波数情報信号を入力し、1増加または減少する代わりに測定周波数情報信号に基づいてカウントの増分を切り替えるようにしてもよい。
本発明の信号測定装置において、タイミング同定部は、基準クロック信号の一方のエッジが入力される直前の第2のリセットつきカウンタの出力を保持するレジスタをさらに備え、第2のデータは、レジスタの出力データをさらに構成要素として含むようにしてもよい。
本発明の信号測定装置において、第1のデータが所定の範囲内にあるか否かを判定する比較器と、第1のデータが所定の範囲内にない場合に、所定の範囲内にない第1のデータと所定の範囲内にない第1のデータに対応する第2のデータとを一組として記憶部に順次記憶するように制御する出力制御部と、を、測定部とタイミング同定部との1または複数組み中の少なくとも一組に対して備えるようにしてもよい。
本発明の信号測定装置において、複数組におけるそれぞれの基準信号は、共通とされることが好ましい。
本発明の信号測定装置において、共通とされる基準信号は、複数組におけるそれぞれの駆動クロック信号の周期の最小公倍数の整数倍の周期を有することが好ましい。
本発明の信号測定装置において、記憶部に記憶された時間的に古い順に第1のデータを順次読み出してアナログ値に変換するディジタルアナログ変換器と、ディジタルアナログ変換器を所定の周期で動作させるタイミング生成部と、をさらに備えるようにしてもよい。
本発明の信号測定装置において、所定の周期は、記憶部から第1のデータと共に読み出した第2のデータに対応して変化するようにしてもよい。
本発明の信号測定装置において、半導体集積回路装置に含まれていてもよい。
本発明の他のアスペクトに係る信号測定方法は、測定用の駆動クロック信号に同期して測定対象を測定し、測定結果を第1のデータとして出力するステップと、測定の開始指示に従って、駆動クロック信号よりも低速で所定の周期を有する基準信号に同期して周期毎に異なる値を第2のデータとして出力するステップと、駆動クロック信号に同期し、第1のデータと第2のデータとを一組のデータとして纏めて順次記憶するステップと、を含む。また、第2のデータとして出力するステップにおいて、測定の開始指示に従ってリセットされ、基準信号の一周期ごとに値が1ずつ増加または減少して第2のデータ中の一構成要素を出力するステップと、測定の開始指示が入力された時あるいは基準信号の一方のエッジが入力された時に、リセットされ、駆動クロック信号の一周期ごとに1増加または減少して第2のデータ中の他の構成要素を出力するステップと、を含む。
本発明の信号測定方法において、基準信号は、駆動クロック信号の整数倍の周期を有することが好ましい。
本発明の信号測定方法において、第2のデータ中の他の構成要素を出力するステップにおいて、駆動クロック信号の周期が最も短いときの周期に対して何倍であるかを示す測定周波数情報信号を入力し、1増加または減少する代わりに測定周波数情報信号に基づいてカウントの増分を切り替えるようにしてもよい。
本発明の信号測定方法において、第2のデータとして出力するステップにおいて、基準クロック信号の一方のエッジが入力される直前の第2のデータ中の他の構成要素を保持するステップをさらに含み、第2のデータは、保持された他の構成要素をさらに構成要素として含むようにしてもよい。
本発明の信号測定方法において、順次記憶するステップにおいて、第1のデータが所定の範囲内にあるか否かを判定するステップと、第1のデータが所定の範囲内にない場合に、所定の範囲内にない第1のデータと所定の範囲内にない第1のデータに対応する第2のデータとを一組として順次記憶するステップと、を、含むようにしてもよい。
本発明の信号測定方法において、記憶された時間的に古い順に第1のデータを順次読み出すステップと、読み出した第1のデータをアナログ値に変換して出力するステップと、をさらに含むようにしてもよい。
本発明の信号測定方法において、アナログ値に変換して出力するステップにおいて、第1のデータと共に読み出した第2のデータに対応してアナログ値に変換する周期を変化させるようにしてもよい。
本発明によれば、測定用の駆動クロック信号よりも低速な基準信号を用いて測定タイミングを同定する。これにより、従来に比べて動作周波数の低い基準信号で十分な精度で測定時間を推定することが可能となる。
本発明の第1の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施例に係るタイミング同定部の構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施例に係る信号測定装置の動作タイミングを表す図である。 本発明の第1の実施例に係る記憶部に格納されたデータの構造を示す図である。 各測定結果信号の発生タイミングを同定する方法を説明する図である。 本発明の第1の実施例に係る信号測定装置の他の動作タイミングを表す図である。 本発明の第1の実施例に係る記憶部に格納された他のデータの構造を示す図である。 本発明の第1の実施例に係る信号測定装置のさらに他の動作タイミングを表す図である。 本発明の第1の実施例に係る信号測定装置のさらに他の動作タイミングを説明する図である。 発生順序とは異なる記憶部中のアドレスに格納される場合について格納されたデータの構造を示す図である。 本発明の第2の実施例に係るタイミング同定部の構成を示すブロック図である。 本発明の第2の実施例に係る信号測定装置の動作タイミングを表す図である。 本発明の第2の実施例に係る記憶部に格納されたデータの構造を示す図である。 本発明の第2の実施例に係る信号測定装置の他の動作タイミングを表す図である。 本発明の第2の実施例に係るタイミング同定部の他の構成を示すブロック図である。 本発明の第3の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第3の実施例に係るタイミング同定部の構成を示すブロック図である。 本発明の第3の実施例に係る信号測定装置の動作タイミングを表す図である。 本発明の第3の実施例に係る記憶部に格納されたデータの構造を示す図である。 本発明の第4の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第4の実施例に係る信号測定装置の動作タイミングを表す図である。 本発明の第4の実施例に係る記憶部に格納されたデータの構造を示す第1の図である。 本発明の第4の実施例に係る記憶部に格納されたデータの構造を示す第2の図である。 従来の時間集中管理型の信号測定装置の構成を示すブロック図である。 従来の時間集中管理型の信号測定装置の動作タイミングを表す図である。 本発明の第5の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第6の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第7の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第7の実施例に係る信号測定装置において出力されるアナログ波形を示す図である。
符号の説明
11、11a、11b 測定部
12、12a、12b、12c タイミング同定部
13、13a、13b 信号合成部
14 データバス
15 記憶部
15a FIFO
16 比較器
17 出力制御部
18 論理回路
19 現象発生部
21、22、23 カウンタ
25 レジスタ
30 波形復元部
31 タイミング生成部
32 DA変換器
A 同定信号
A1、A1a、A1b 上位ビット
A2、A2a、A2b 下位ビット
A3 周期ビット
BS 基準信号
CK、CKa、CKb、CK1、CK2、CK3 駆動クロック信号
CS、CSa、CSb 合成信号
FI 測定周波数情報信号
MS、MSa、MSb 測定結果信号
OUT 出力信号
RE 基準値
ST 動作開始信号
X0、Xc 現象
本発明の実施形態に係る信号測定装置は、第1のクロック(図1のCKに相当)に同期して現象(図1のX0に相当)を測定し、その測定結果を出力する半導体集積回路であって、結果を出力する測定装置(図1の11に相当)と、測定の開始を伝える測定開始信号(図1のSTに相当)と、第1のクロックとは異なる、一定周期を有する基準クロック(図1のBSに相当)と、基準クロックの立ち上がり時ごとに異なる値を出力する同定装置(図1の12に相当)と、測定結果とカウンタの値とを合成した合成信号を出力するエンコーダ(図1の13に相当)と、を備える。
同定装置は、測定信号が立ち上がるときに値が0にリセットされ、基準クロックの立ち上がり時ごとに値が1ずつ増加するリセットつきカウンタで構成されてもよい。
基準クロックは、第1のクロックの整数倍の周期を有していてもよい。
また、同定装置は、動作開始信号が入力されると同定信号の上位ビットが0にリセットされ、基準信号が立ち上がるごとに1ずつ増加させる第1のリセットつきカウンタと、測定装置駆動クロックが立ち上がるごとに同定信号の下位ビットが1増加し、動作開始信号が入力されたとき、あるいは基準信号の立ち上がるときに同定信号の下位ビットが0にリセットされる第2のリセットつきカウンタと、で構成されてもよい。
さらに、第1のクロック(図20のCKaに相当)に同期して測定結果を出力する第1の測定装置(図20の11aに相当)には第1の同定装置(図20の12aに相当)を対応させ、第2のクロック(図20のCKbに相当)に同期して測定結果を出力する第2の測定装置(図20の11bに相当)には第2の同定装置(図20の12bに相当)を対応させ、第1の同定装置と第2の同定装置には共通の基準信号(図20のBSに相当)を与え、同定信号が共通の周期で変動するようにしてもよい。
また、基準クロックは、第1のクロックの周期と第2のクロックの周期の最小公倍数の整数倍の周期を有することが好ましい。
さらに、同定装置は、動作開始信号が入力されると同定信号の上位ビットが0にリセットされ、基準信号が立ち上がるごとに1ずつ増加させる第1のリセットつきカウンタと、測定装置駆動クロックが立ち上がるごとに同定信号の下位ビットが1増加し、動作開始信号が入力されたとき、あるいは基準信号の立ち上がるときに同定信号の下位ビットが0にリセットされる第2のリセットつきカウンタと、基準信号が立ち上がるごとに同定信号の下位ビットの値を保存するレジスタ、とで構成されてもよい。
合成信号を出力される順番に保存するメモリ(図28の15aに相当)と、メモリ内の最も古い合成信号に記載された測定結果信号をアナログ値に変換するディジタル−アナログ変換回路(図28の32に相当)と、ディジタル−アナログ変換回路を一定周期で動作させるタイミング生成回路(図28の31に相当)と、を具備してもよい。
以上のような信号測定装置によれば、低速な基準信号のみから測定タイミングを同定する同定信号を生成し、測定結果信号に付加し、各測定結果信号の発生時刻を推定する。したがって、従来のカウンタ制御手法に比べ、分配問題が軽減され、かつ動作周波数の低い測定開始信号および基準信号で十分な精度で測定時間を推定可能にする。以下、実施例に即し、図面を参照して詳細について説明する。
(全測定データを順にメモリに格納する方法)
図1は、本発明の第1の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。図1において、信号測定装置は、測定部11、タイミング同定部12、信号合成部13、データバス14、記憶部15を備える。測定部11は、測定用の駆動クロック信号CKに同期して現象X0を測定し、駆動クロック信号CKの周期毎の測定結果を測定結果信号MSとして出力する。一方、測定部11が動作したタイミングを同定するタイミング同定部12は、測定データの出力を開始するタイミングとして用いる動作開始信号STおよび一定周期ごとに信号が立ち上がる基準信号BSを入力して同定信号Aを出力する。信号合成部13は、測定結果信号MSと同定信号Aとを合成した合成信号CSを生成する。この合成信号CSを図示されない制御機能などによってデータバス14を経由して記憶部15に順次格納する。このとき、全ての周期分の測定結果信号MSを記憶部15に格納する。格納する際に、格納されたデータを読み出す場合に測定結果信号MSの発生順序が同定されるように、例えばメモリの先頭ビットから順に書き込むようにする。
図2は、タイミング同定部12の構成を示すブロック図である。タイミング同定部12は、リセット付きのカウンタ21で構成される。カウンタ21は、基準信号BSの立ち上がり(立下りでもよい)ごとに同定信号Aの値が1増加し、動作開始信号STが入力されると同定信号Aの値が0にリセットされる。なお、ここでは駆動クロック信号CKの周期が一定であるものとする。
図3は、本発明の第1の実施例に係る信号測定装置の動作タイミングを表す図である。図3において、動作開始信号STが立ち上がると、同定信号Aの値が0にリセットされる。動作開始信号STが立ち上がった後に測定部11が測定した測定結果信号MSの値a1、b1、c1・・・に対して、信号合成部13によって同定信号Aの値と測定結果信号MSの値とが合成され、記憶部15に格納される。次の基準信号BSの立ち上がり時に、同定信号Aの値は、1に増加する。このとき以降の測定結果信号MSの値g1、h1、・・・には、同定信号Aの値1が合成され、記憶部15に格納される。
図4は、記憶部15に格納されたデータの構造を示す図である。図4に示すように同定信号Aが0であったときの測定結果の後ろに同定信号Aが1であったときの測定結果が順次格納される。さらに、基準信号BSが立ち上がるごとに、同定信号Aは、2、3、・・・と増加していく。このように合成信号CSは、発生順序が後から特定できるようにメモリに順次格納される。
次に、以上のようにして記憶部15に格納されたデータを取り出し、各測定結果信号の発生タイミングを同定する方法を図5に示す。まず、格納された合成信号のうち、同定信号Aの値が同一である合成信号の数を数える。この合成信号の数だけ基準信号の周期(周期をTsとする)内で等時間間隔(Ts/(データの数))で測定されたと推定する。例えば図3に示すように、同定信号Aが0であるデータの数は、6であるため、各データは、Ts/6ごとに発生したと推定される。基準信号BSの周期Tsが駆動クロック信号CKの周期の整数倍であって、かつ駆動クロック信号CKの周期が一定である場合、上記の手法によって推定された動作タイミングは、図3で駆動クロック信号CKのタイミングと同一となる。
図6は、本発明の第1の実施例に係る信号測定装置の他の動作タイミングを表す図である。図6に示すように、駆動クロック信号CKの周期を変動させる場合、以下の(1)、(2)の条件を満たすか否かで測定精度が変化する。
(1)駆動クロック信号CKの周期変動が発生するのは、基準信号BSの立ち上がりタイミングのみに制限する。
(2)常に基準信号BSの周期Tsが駆動クロック信号CKの最小周期の整数倍になるように基準信号の周期Tsを決定する。
上記(1)、(2)を満たす場合、同定信号Aの値が同一である合成信号CSの発生間隔が常に等しい時間間隔(Ts/(データの数))となる。例えば、図6に示すタイムチャートに対応して記憶されたデータの構造は、図7に示すようになる。図7において、測定結果信号MSの値a1、b1、・・・f1に対して、各データは、Ts/6ごとに発生したと推定される。また、測定結果信号MSの値g1、l1、k1に対して、各データは、Ts/3ごとに発生したと推定される。したがって、図7に示すように上記の手法によって推定された動作タイミングは、図6で駆動クロック信号CKのタイミングと同一となる。
一方、上記(1)、(2)を満たさない場合、つまり基準信号BSの周期Tsが駆動クロック信号CKの周期の整数倍にならない非同期関係の場合においても、図2と同じタイミング同定部12を適用することができる。しかし、この場合には、測定結果信号MSの生起タイミング推定に対して誤差が生じる。同定信号Aが同一値となる測定信号結果の数は、基準信号BSの周期が駆動クロック信号CKの周期の比の値の±1以下の整数のいずれかの値になる。この結果を実際の測定結果信号MSとのタイミングと比較すると、発生タイミングは、完全には一致しない。しかし、タイミング誤差は、駆動クロック信号CKの1周期以下に収めることができる。
これに関し、具体的な例について説明する。図8は、本発明の第1の実施例に係る信号測定装置のさらに他の動作タイミングを表す図である。図8に示すように基準信号BSの周期が駆動クロック信号CKの周期の5.5倍である場合を例に示す。同定信号Aの値が0である測定信号結果の数は6個、同定信号Aの値が1である測定信号結果の数は5個、同定信号Aの値が2である測定信号結果の数は6個、というように6個と5個を繰り返す。記憶部15に格納された合成信号を取り出し、図5と同様の方法で各測定結果信号MSの発生タイミングを推定した場合、図9に示すように基準信号BSの周期として期間0を定めると、期間0の中に同定信号Aの値が0である測定結果信号a1〜f1が等しい時間間隔で発生したと推測される。また、基準信号BSの周期として期間1を定めると、期間1の中に同定信号Aの値が1である測定結果信号g1〜k1が等しい時間間隔で発生したと推測される。この結果を実際の測定結果信号とのタイミングと比較すると、発生タイミングは完全には一致しない。しかし、タイミング誤差は、駆動クロック信号CKの1周期以下に収めることができる。
(測定データの不規則データ格納方法)
本発明の第2の実施例に係る信号測定装置の構成は、図1と同様である。ただし、タイミング同定部12の内部構成が異なる。第2の実施例に係る信号測定装置は、図1の中で、全周期の測定結果信号MSを記憶部15に格納するが、記憶部15への書き込み順序に関して制限を設けない場合、つまり図10に示すように発生順序とは異なる記憶部15中のアドレスに格納される場合について示す。このとき、格納された合成信号を読み込む際に、測定結果信号MSの発生順序が同定できない場合には、図5に示すような方法で先頭ビットから順にデータ発生時間を同定することができない。
そこで、同定信号Aにデータ発生順序を同定することができる信号を付加するようにする。第2の実施例に係るタイミング同定部12の構成を図11に示す。タイミング同定部12は、同定信号Aの上位ビット(A1)を生成するリセットつきカウンタ21と、同定信号の下位ビット(A2)を生成するリセットつきカウンタ22とで構成される。リセットつきカウンタ21は、動作開始信号STが入力されると同定信号の上位ビット(A1)を0にリセットする。リセット後、基準信号BSが立ち上がるごとに同定信号の上位ビット(A1)を1ずつ増加する。リセットつきカウンタ22は、駆動クロック信号CKが立ち上がるごとに同定信号の下位ビット(A2)を1ずつ増加し、動作開始信号STが入力されたとき、あるいは基準信号BSの立ち上がるときに、同定信号の下位ビット(A2)を0にリセットする。
図12は、本発明の第2の実施例に係る信号測定装置の動作タイミングを表す図である。動作開始信号STが入力されると、同定信号Aの値が0にリセットされる。リセット後、駆動クロック信号CKの立ち上がりごとに測定結果信号MSの値がa1、b1、・・・と変化するとともに、同定信号Aの下位ビット(A2)が1ずつ増加する。そして、信号合成部13によって同定信号Aと測定結果信号MSとが合成される。次の基準信号BSの立ち上がり時に、同定信号Aの上位ビット(A1)は、1に増加し、下位ビット(A2)は、0にリセットされる。このとき以降の測定結果信号MSの値g1、h1、・・・と合成される同定信号Aは、上位ビット(A1)が1であって、下位ビット(A2)は、0、1、2、・・・と測定結果信号MSが出力されるごとに1ずつ増加する。この方法では、図13に示すようにデータの発生順序と関係なく記憶部15に格納される。この格納されたメモリからデータを取り出し、各測定結果信号の発生タイミングを同定する方法を以下に述べる。
まず、同定信号Aの上位ビットA1が0であるものをすべて探索し、0である数N0を決定する。すると、上位ビットが0である測定結果信号の発生時刻は、Ts*(下位ビットの値(A2))/N0によって求められる。次に同定信号の上位ビットA1が1であるものをすべて探索し、1である数N1を決定する。すると、上位ビットA1が1である測定結果信号MSの発生時刻は、Ts*(1+(下位ビットの値)/N1)によって求められる。一般的に、上位ビットA1の値がM、下位ビットA2の値がTであり、上位ビットA1がMである測定結果信号MSの数がSであるとき、測定結果信号MSの発生時刻は、Ts*(M+(T/S))であらわされる。これにより、すべての測定結果信号MSの発生時刻を同定することができる。
さらに、図6に示す方法において、基準信号BSの周期内では駆動クロック信号CKの周期は等間隔であるという前提がある。したがって、駆動クロック信号CKの周期が基準信号BSの周期の途中で変更される場合には、図7に示すような復元方法では実際の測定結果の発生時間とは異なるタイミングとして復元されてしまう。この問題に対応するため、駆動クロック信号CKの動作周波数を常に通知する測定周波数情報信号FIを付加する手法を示す。測定周波数情報信号FIは、図14に示すように、駆動クロック信号CKの周期が最も短いときの周期に比べて何倍であるかを常に示している。このときのタイミング同定部12の構成例を図15に示す。図11に示したタイミング同定部12との違いとしては、同定信号の下位ビット(A2)を生成するリセットつきカウンタ23の増分を測定周波数情報信号FIによって切り替え可能にしている。
このときの動作を図14のタイミング図で示す。まず動作開始信号STが入力されると、同定信号Aが0にリセットされる。リセットの後、駆動クロック信号CKが最小周期で動作した場合、駆動クロック信号CKの立ち上がりごとに測定結果信号MSの値a1、b1、・・・が出力されるとともに、同定信号の下位ビット(A2)を測定周波数情報信号FIの値に従って1ずつ増加させる。図14に示す例では、最初の2周期では駆動クロック信号CKは最小周期であるため、測定周波数情報信号FIは1を出力し、下位ビット(A2)の周期ごとの増分は、1となる。その後、駆動クロック信号CKが最小周期の2倍の周期になると、測定周波数情報信号FIは、2を出力し、下位ビット(A2)の周期ごとの増分は、2となる。次の基準信号の立ち上がり時には、同定信号の上位ビット(A1)を1に増加させ、下位ビット(A2)を0にリセットする。その後は、駆動クロック信号CKの立ち上がりごとに測定結果信号MSの値g1、il、・・・が出力されるとともに、同定信号の下位ビット(A2)が測定周波数情報信号FIの値ずつ増加する。
以上のような方法によれば、基準信号BSの周期Tsと駆動クロック信号CKの最小周期との比が既知であれば、測定結果信号MSの発生時刻を同定信号Aから特定することができる。たとえば図14では、基準信号BSの周期Tsと駆動クロック信号CKの最小周期との比が6であることから、同定信号の発生時刻は、Ts*((同定信号の上位ビット(A1))+((同定信号の下位ビット(A2))/6))であると推定することができる。
(測定データの一部をメモリに格納する方法)
図16は、本発明の第3の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。図16において、図1と同一の符号は、同一物を表し、その説明を省略する。比較器16は、測定結果信号MSがあらかじめ設定した基準値REの範囲を外れているかどうかを検知する。基準値REの範囲を外れている場合、すなわち、現象X0が異常状態であると認識された場合に、その旨を出力制御部17に通知する。出力制御部17は、現象X0が異常状態である場合にのみ信号合成部13が出力する合成信号CSを記憶部15に転送する。このような構成によれば、記憶部15に格納するデータの総数を低減することができ、記憶部15におけるメモリ量の削減が実現される。
このような構成の場合、メモリに格納されたデータのうち、同定信号Aが同一である数は、出力制御部17の選択結果に応じて変化してしまうため、図5に示すようにメモリ信号に格納された同定信号の数に応じて測定結果信号の時間を推定することはできない。そこで、同定信号にデータ発生順序および同定信号が同一である数を含めることで、データの発生タイミングを同定できる同定信号発生方法を以下に述べる。
第3の実施例に係るタイミング同定部12の構成を図17に示す。図17において、図15と同一の符号は、同一物を表し、その説明を省略する。タイミング同定部12は、同定信号の上位ビット(A1)を生成するリセットつきカウンタ21と、同定信号の下位ビット(A2)を生成するリセットつきカウンタ23と、同定信号が同一である数を示す周期ビットを生成するレジスタ25と、で構成される。レジスタ25は、基準信号BSが立ち上がるごとに同定信号の下位ビット(A2)の値(Bがリセットされる直前の値)を保持し、保持した値を周期ビット(A3)として出力する。
図17に示すタイミング同定部12における動作を図18のタイミング図に示す。まず動作開始信号STが入力されると、同定信号Aが0にリセットされる。この後、駆動クロック信号CKの立ち上がりごとに測定結果信号MSの値a1、b1、・・・が出力されるとともに、同定信号の下位ビット(A2)は1ずつ増加する。その後、再び基準信号BSが立ち上がったとき、同定信号(A2)は、0にリセットされるとともに、レジスタ25が動作し、周期ビット(A3)には、その直前の下位ビット(A2)の値「5」が出力される。この値は、基準信号BSの周期内で駆動クロック信号CKが動作した回数よりも1回少ない値に等しくなる。
したがって、図19に示すように記憶部15に保存された測定データにおいて、測定動作の格納された記憶部15からデータを取り出し、各測定結果信号の発生タイミングを同定する際、メモリ内の同定信号が同一であるデータの数を数えなくても、基準信号の周期(周期をTsとする)内で(周期ビット(A3)+1)回だけ等時間間隔(Ts/(A3+1))で測定されていたと推定することができる。そこで、各データの動作タイミングは、Ts*(A1+A2/(A3+1))と推定される。例えば、図19では、測定結果信号MSの値h1に付随する同定信号は、A1が1、A2が1のときのA3の値が5であるため。値h1が発生したタイミングは、Ts*(1+1/6)と推定される。この結果は図18と一致する。
(複数の測定マクロ間やマクロI/Oデータなどの異種データ間の同期方法)
図20は、本発明の第4の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。図20において、測定部11a、11bは、図1の測定部11と同一物である。また、タイミング同定部12a、12bは、図1のタイミング同定部12と同一物である。さらに、信号合成部13a、13bは、図1の信号合成部13と同一物である。
第4の実施例に係る信号測定装置は、複数の測定部の測定結果や、マクロの入出力データなど、複数の測定データ間の時間関係を特定する。測定部11aと測定部11bとの同期を取るため、タイミング同定部12aとタイミング同定部12bとに入力する基準信号BSと動作開始信号STとは、同じタイミングで立ち上がり動作を行えるように信号を分配する。基準信号BSの周期Tsを、すべての測定部の駆動クロック信号(ここではCKaとCKb)における周期の最小公倍数の整数倍に設定しておくことで、記憶部15に格納された測定結果信号MSa、MSbの測定時間を正しく推定することができる。
このような構成の信号測定装置における動作タイミングの一例を図21に示す。測定部11aの駆動クロックの周期をt1(例えば4ns)、測定部11bの駆動クロックの周期をt2(例えば5ns)とするとき、基準信号BSの周期をt1とt2との最小公倍数であるt0(例えば20ns)に設定する。この設定によって、測定部11aの同定信号が同一の測定結果信号MSaの数は、常に例えば5個となる。一方、測定部11bの同定信号が同一の測定結果信号MSbの数は、常に例えば4個となる。
合成信号CSaと合成信号CSbとを記憶部15に格納した結果をそれぞれ図22と図23に示す。記憶部15からデータを取り出し、測定結果信号MSa、MSbの発生タイミングを同定する際、記憶部15内の同定信号が同一であるデータの数は、上記のようにそれぞれ5個、4個となっている。したがって、測定部11aの測定間隔は、t0(20ns)/5=t1(4ns)、測定部11bの測定間隔は、t0(20ns)/4=t2(5ns)と推定される。これは、図21で示した測定間隔と一致し、正しく測定結果の測定間隔が復元できていることがわかる。
図24は、従来の時間集中管理型の信号測定装置の構成を示すブロック図である。図24において、カウンタ100は、測定装置101a、101b、101cから測定結果信号を集めてタイミングを同定する。本実施例に係る信号測定装置と時間集中管理型(図24)とを比較すると、従来の時間集中管理型では観測装置の動作周期の最大公約数周期で動作する高速動作カウンタが必要である。たとえば、図25に示すように4ns周期で観測する第1の測定部と5ns周期で観測する第2の測定部の測定結果信号の発生タイミングを同定する場合、1nsが区別できるカウンタ(タイマ)、つまり1GHzでカウンタの値を更新する必要がある。一方、本実施例の場合、基準信号の周期は、各測定部の観測周期の最小公倍数である20nsという低速の基準信号のみをすべてのタイミング同定部に分配することで正確にタイミングを復元できるため、高速なクロック信号が不要であるという利点がある。
(論理回路への適用)
図26は、本発明の第5の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。図26において、図1と同一の符号は、同一物を表す。タイミング同定部12a、12bは、図1のタイミング同定部12と同一物である。また、信号合成部13a、13bは、図1の信号合成部13と同一物である。論理回路18は、動作クロック信号CK2で動作する論理回路であって、測定結果信号MSを出力する。タイミング同定部12bは、駆動クロック信号CK2の一方のエッジ、例えば立ち上がりに同期する構成とされ、動作クロック信号CK2の立ち上がりごとに同定信号Aを出力する。
タイミング同定部12bは、論理回路の駆動クロック信号CK2の一方のエッジ、例えば立ち上がりに同期する構成とされ、駆動クロック信号CK2の立ち上がりごとに同定信号を出力する。これにより、記憶部15に格納した後に動作タイミングを復元可能にする。タイミング同定部12bの構成としては、タイミング同定部12aと同一の構造にしてもよい。あるいは、ロジック動作クロックの立ち上がりごとに異なる値になる信号、たとえばプログラムカウンタ、などを用いてもよい。
(因果関係の特定への適用)
図27は、本発明の第6の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。図27において、図1と同一の符号は、同一物を表す。タイミング同定部12a、12cは、図1のタイミング同定部12と同一物である。さらに、本実施例では、ある現象を現象発生部19で発生させ、発生した現象によって誘起される別の現象Xcを測定部11で測定して、現象間の因果関係を特定する。たとえば、現象発生部19の状態を同定信号Aによって決定することで、現象発生部19で発生させた現象と、この現象で誘起され測定部11で測定された現象Xcとの時間関係を特定することができる。
(測定データ値の時間関係を波形復元部で復元し、リアルタイム波形に復元する方法)
図28は、本発明の第7の実施例に係る信号測定装置の構成を示すブロック図である。図28において、図1と同一の符号は、同一物を表す。信号測定装置は、波形復元部30を備える。波形復元部30は、入力された測定結果信号を一時的に格納するFIFO15aと、同定信号の値から出力タイミングに変換するタイミング生成部31と、ディジタルデータをアナログ値に変換するDA変換器32とを備える。合成信号CSは、波形復元部30内のFIFO15aに順次格納される。タイミング生成部31は、FIFO15aに格納された合成信号のうち、最も古い合成信号を取り出し、DA変換器32によってアナログ信号に変換し、変換されたアナログ信号を出力信号OUTとして出力する。DA変換器32を動作させる同期信号(クロック)は、タイミング生成部31で生成される。
測定部11の測定結果信号MSを、測定部11とは異なる周波数で動作するバスやチップインタフェース回路を経由してチップ外に取り出す場合、測定結果信号の動作タイミングと測定結果信号がチップ外に出力されるタイミングとは、一致しなくなる。さらに、このように測定されたディジタルデータは、オシロスコープなど、アナログ波形を測定する測定器では直接観測することができない。この解決策として、図28に示すように、同定信号Aを付加した測定結果信号MSを波形復元部30によって復元し、アナログ波形を出力する。
同定信号Aを付加した測定結果信号MSは、図1と同様の方法で生成される。DA変換器32を動作させる同期信号(クロック)は、タイミング生成部31で生成され、同期信号のクロック周期をTsに設定すれば、現象X0と同一の時間で波形を再現することができる。本手法の利点としては、波形復元部30に合成信号が入力される間隔が正確にTsごとでなくても、波形復元部30内のFIFO15a内に、アナログ電圧に変換していないデータ上に1つ以上ストックされている状態になるように制御されていれば、復元されたアナログ電圧が出力される間隔は、常に一定(Ts)となることにある。
また、DA変換器32を動作させる周期をTsよりも遅い周期Tdで動作させることで、図29に示すように、周期Tsごとに測定した現象が、波形復元部30の出力では周期Tdに伸長されて出力される。この利点としては、測定器の帯域(観測可能な信号周波数の最大値)が低い測定器を用いても、チップ内で高速変動する現象を観測することができる。また、DA変換器32の動作速度がTdまで低くできるため、動作帯域の低いDA変換器でも波形復元が可能となる。
さらに、駆動クロック信号CKの周期を変動させる場合に、図6で示した同定信号Aを付加することにより、同定信号Aを基に正しい周期に復元されたアナログ電圧を出力することができる。異なる同定信号Aが付加された測定信号が入ってきたとき、その直前の同定信号の値を有する測定データの測定時間が確定する。たとえば、同定信号1の測定信号がメモリに格納されていた場合、同定信号2を有する測定信号が入力されたときに、同定信号1の測定信号の数をNとすると、同定信号1の測定信号の発生時間は、Ts*((同定信号の値)+(m/N))(m=0、1、2、・・・N−1)であることが推測される。そこで、タイミング生成部31により、Ts*((同定信号の値)/N)の周期で動作するクロック信号を発生させ、発生したクロック信号を用いて同定信号1を有する測定データをアナログ信号に復元する。次に、同定信号3を有する測定信号が入力されたときに、同定信号2の測定信号の数をMとすると、同定信号2の測定信号の発生時間は、Ts*((同定信号の値)+(m/M))(m=0、1、2、・・・M−1)であることが推測される。そこで、タイミング生成部31により、Ts*((同定信号の値)/M)の周期で動作するクロック信号を発生させ、発生したクロック信号を用いて同定信号2を有する測定データをアナログ信号に復元する。これを繰り返すことにより、周期が変動した場合であっても、現象を観測したタイミングと同一の波形周期を有するアナログ波形を再現することができる。
以上本発明を上記実施例に即して説明したが、本発明は、上記実施例にのみ限定されるものではなく、本願特許請求の範囲の各請求項の発明の範囲内で当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
本発明の全開示(請求の範囲を含む)の枠内において、さらにその基本的技術思想に基づいて、実施形態ないし実施例の変更・調整が可能である。また、本発明の請求の範囲の枠内において種々の開示要素の多様な組み合わせないし選択が可能である。

Claims (17)

  1. 測定用の駆動クロック信号に同期して測定対象を測定し、測定結果を第1のデータとして出力する測定部と、
    測定の開始指示に従って、前記駆動クロック信号よりも低速で所定の周期を有する基準信号に同期して周期毎に異なる値を第2のデータとして出力するタイミング同定部と、
    を一組として1または複数組備え、
    前記駆動クロック信号に同期し、前記第1のデータと前記第2のデータとを一組として纏めて順次記憶する記憶部と、
    を備え
    前記タイミング同定部は、
    測定の開始指示に従ってリセットされ、前記基準信号の一周期ごとに値が1ずつ増加または減少して前記第2のデータ中の一構成要素を出力する第1のリセットつきカウンタと、
    前記測定の開始指示が入力された時あるいは前記基準信号の一方のエッジが入力された時に、リセットされ、前記駆動クロック信号の一周期ごとに1増加または減少して前記第2のデータ中の他の構成要素を出力する第2のリセットつきカウンタと、
    を備えることを特徴とする信号測定装置。
  2. 前記基準信号は、前記駆動クロック信号の整数倍の周期を有することを特徴とする請求項に記載の信号測定装置。
  3. 前記第2のリセットつきカウンタは、前記駆動クロック信号の周期が最も短いときの周期に対して何倍であるかを示す測定周波数情報信号を入力し、1増加または減少する代わりに前記測定周波数情報信号に基づいてカウントの増分を切り替えることを特徴とする請求項記載の信号測定装置。
  4. 前記タイミング同定部は、
    前記基準クロック信号の一方のエッジが入力される直前の前記第2のリセットつきカウンタの出力を保持するレジスタをさらに備え、
    前記第2のデータは、前記レジスタの出力データをさらに構成要素として含むことを特徴とする請求項または記載の信号測定装置。
  5. 前記第1のデータが所定の範囲内にあるか否かを判定する比較器と、
    前記第1のデータが所定の範囲内にない場合に、所定の範囲内にない前記第1のデータと所定の範囲内にない前記第1のデータに対応する前記第2のデータとを一組として前記記憶部に順次記憶するように制御する出力制御部と、
    を、前記測定部と前記タイミング同定部との1または複数組み中の少なくとも一組に対して備えることを特徴とする請求項1記載の信号測定装置。
  6. 前記複数組におけるそれぞれの前記基準信号は、共通とされることを特徴とした請求項1記載の信号測定装置。
  7. 前記共通とされる基準信号は、前記複数組におけるそれぞれの前記駆動クロック信号の周期の最小公倍数の整数倍の周期を有することを特徴とした請求項記載の信号測定装置。
  8. 前記記憶部に記憶された時間的に古い順に前記第1のデータを順次読み出してアナログ値に変換するディジタルアナログ変換器と、
    前記ディジタルアナログ変換器を所定の周期で動作させるタイミング生成部と、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の信号測定装置。
  9. 前記所定の周期は、前記記憶部から前記第1のデータと共に読み出した前記第2のデータに対応して変化することを特徴とする請求項記載の信号測定装置。
  10. 請求項1〜のいずれか一に記載の信号測定装置を含む半導体集積回路装置。
  11. 測定用の駆動クロック信号に同期して測定対象を測定し、測定結果を第1のデータとして出力するステップと、
    測定の開始指示に従って、前記駆動クロック信号よりも低速で所定の周期を有する基準信号に同期して周期毎に異なる値を第2のデータとして出力するステップと、
    前記駆動クロック信号に同期し、前記第1のデータと前記第2のデータとを一組のデータとして纏めて順次記憶するステップと、
    を含み、
    前記第2のデータとして出力するステップにおいて、
    測定の開始指示に従ってリセットされ、前記基準信号の一周期ごとに値が1ずつ増加または減少して前記第2のデータ中の一構成要素を出力するステップと、
    前記測定の開始指示が入力された時あるいは前記基準信号の一方のエッジが入力された時に、リセットされ、前記駆動クロック信号の一周期ごとに1増加または減少して前記第2のデータ中の他の構成要素を出力するステップと、
    を含むことを特徴とする信号測定方法。
  12. 前記基準信号は、前記駆動クロック信号の整数倍の周期を有することを特徴とする請求項11に記載の信号測定方法。
  13. 前記第2のデータ中の他の構成要素を出力するステップにおいて、
    前記駆動クロック信号の周期が最も短いときの周期に対して何倍であるかを示す測定周波数情報信号を入力し、1増加または減少する代わりに前記測定周波数情報信号に基づいてカウントの増分を切り替えることを特徴とする請求項11記載の信号測定方法。
  14. 前記第2のデータとして出力するステップにおいて、
    前記基準クロック信号の一方のエッジが入力される直前の前記第2のデータ中の他の構成要素を保持するステップをさらに含み、
    前記第2のデータは、前記保持された他の構成要素をさらに構成要素として含むことを特徴とする請求項11または13記載の信号測定方法。
  15. 前記順次記憶するステップにおいて、
    前記第1のデータが所定の範囲内にあるか否かを判定するステップと、
    前記第1のデータが所定の範囲内にない場合に、所定の範囲内にない前記第1のデータと所定の範囲内にない前記第1のデータに対応する前記第2のデータとを一組として順次記憶するステップと、
    を、含むことを特徴とする請求項11記載の信号測定方法。
  16. 前記記憶された時間的に古い順に前記第1のデータを順次読み出すステップと、
    読み出した前記第1のデータをアナログ値に変換して出力するステップと、
    をさらに含むことを特徴とする請求項11記載の信号測定方法。
  17. 前記アナログ値に変換して出力するステップにおいて、前記第1のデータと共に読み出した前記第2のデータに対応してアナログ値に変換する周期を変化させることを特徴とする請求項16記載の信号測定方法。
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