JP5176517B2 - タイヤ踏面測定装置 - Google Patents

タイヤ踏面測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5176517B2
JP5176517B2 JP2007316978A JP2007316978A JP5176517B2 JP 5176517 B2 JP5176517 B2 JP 5176517B2 JP 2007316978 A JP2007316978 A JP 2007316978A JP 2007316978 A JP2007316978 A JP 2007316978A JP 5176517 B2 JP5176517 B2 JP 5176517B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tire
tread
dimensional data
data
state
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007316978A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009139268A (ja
Inventor
洋 飯塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokohama Rubber Co Ltd
Original Assignee
Yokohama Rubber Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokohama Rubber Co Ltd filed Critical Yokohama Rubber Co Ltd
Priority to JP2007316978A priority Critical patent/JP5176517B2/ja
Publication of JP2009139268A publication Critical patent/JP2009139268A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5176517B2 publication Critical patent/JP5176517B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Tires In General (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、タイヤが接地したときのタイヤ踏面の変形状態を測定するタイヤ踏面測定装置に関する。
現在、バスやトラック等に装着される重荷重用タイヤにおいて、タイヤトレッド部表面やタイヤトレッド溝にクラックが発生し、タイヤの寿命を短くする場合がある。このクラックの発生は、タイヤが地面に接地したときの踏面内で発生する歪みが要因として挙げられる。したがって、タイヤが地面に接地したときのタイヤ踏面内の歪みを知ることは重要である。
下記特許文献1には、タイヤ踏面の接地部測定装置が記載されている。当該公報に記載される装置は、試験タイヤとは反対側から試験タイヤの表面を撮影可能とする透明部を備えた撮影部と、試験タイヤの接地表面のテクスチャを撮影部を介して撮影する手段と、撮影した画像を記憶する記憶手段と、撮影した画像を表示する画像表示手段と、画像表示手段に表示された画像に対応させてパターンマッチングに用いる測定位置を指示する指示手段と、指示された測定位置に基づいて、接地表面の変位をパターンマッチングにより抽出する抽出手段とを有する。
特許文献1では、上記構成により、タイヤ表面の滑りを高精度でかつ効率的に計測することができる。
しかし、特許文献1に記載の接地部測定装置は、撮影部により、踏面の変位を2次元で撮影し解析するものであるが、画像から得られる情報は、2次元で撮影されたトレッド部の、透明部と直接接する(当接する)部分についてであり、トレッド溝については含まれない。このため、トレッド溝内部や側面について変形形状の情報を得ることができない。
特開2005−214860号公報
そこで、本発明は、上記問題点を解決するために、タイヤが接地したときのタイヤ踏面の変形状態を測定するタイヤ踏面測定装置であって、直接接地するトレッド部のみならず、トレッド溝についても変形状態を効率よく測定できる装置を提供することを目的とする。
本発明は、タイヤが接地したときのタイヤ踏面の変形状態を測定するタイヤ踏面測定装置であって、タイヤが接地する透明性を有する接地用板材と、前記接地用板材を挟んでタイヤと反対側に設けられ、前記接地用板材を介して、タイヤ踏面にレーザ光を照射するとともに、タイヤ踏面の画像を撮影し、これによって、接地変形状態にあるタイヤ踏面のトレッド部及びトレッド溝の変形形状を表す3次元データを取得する測定ユニットと、取得した前記3次元データを用いて、トレッド部及びトレッド溝を含む踏面の変形状態を解析する解析ユニットと、を有し、前記解析ユニットは、前記接地用板材の光学特性による前記3次元データの歪みを補正するための補正テーブルを有し、前記補正テーブルは、前記タイヤの替わりに配置した、3次元形状あるいは表面に描かれたマークの位置が既知の調整用部材を測定対象として、前記測定ユニットを用いて測定することにより得られる3次元データと、前記調整用部材の前記3次元形状の対応データあるいは前記マークの位置の対応データとの対応関係を用いて作成されたものであることを特徴とするタイヤ踏面測定装置を提供するものである
ここで、前記タイヤのトレッド部の表面には、識別可能なマークが描かれており、前記解析ユニットは、前記タイヤが前記接地用板材に対して非接地状態にあるときのトレッド部表面の前記マークの位置のデータを3次元データとして予め取得しておき、前記タイヤが前記接地用板材に対して接地状態にあるとき、前記解析ユニットは、トレッド部表面の前記マークの位置のデータを3次元データとして取得し、取得した前記接地状態の3次元データと、予め取得した前記非接地状態の3次元データとを用いて、前記タイヤのトレッド部表面の接地によって生じる歪みを算出することが好ましい。
その際、前記マークは前記タイヤのトレッド部表面に複数設けられ、前記解析ユニットは、複数のマークの1つを基準マークとして、接地状態の3次元データと、予め取得した前記タイヤが非接地状態の3次元データとの位置合わせを行い、この位置合わせした前記接地状態の3次元データと前記非接地状態の3次元データとに基づいて前記タイヤのトレッド部表面の接地によって生じる歪みを算出することが好ましい。
さらに、前記タイヤを予備転動させて転動中の接地状態を再現するための予備転動路面が、前記接地用板材で作られる路面と面一に設けられ、この予備転動路面は、前記タイヤの外周の長さ以上の転動距離を備えることが好ましい。
さらに、前記タイヤにキャンバー角、スリップ角、制動力、及び駆動力の1つを付与可能な機構を備えることが好ましい。
前記接地用板材近傍には、タイヤ踏面を照明する光源が設けられていることが好ましい。
本発明では、接地用板材を介して、タイヤ踏面にレーザ光を照射するとともに、タイヤ踏面の画像を撮影し、これによって、接地変形状態にあるタイヤ踏面のトレッド部及びトレッド溝の変形形状を表す3次元データを取得するので、直接接地するトレッド部のみならず、トレッド溝についても変形状態を効率よく測定できる。
また、接地用板材の光学特性による3次元データの歪みを補正する補正テーブルを備えるので、精度の高い3次元データを取得することができる。
以下、添付の図面に示す実施形態に基づいて、本発明のタイヤ踏面測定装置を詳細に説明する。
図1(a),(b)は、本発明におけるタイヤ踏面測定装置の実施形態を表す概略構成図である。図1(a)は正面図であり、図1(b)は、図1(a)中のA−A’矢視断面図である。
図1(a),(b)に示すタイヤ踏面測定装置(以降、単に装置という)10は、重荷重用タイヤTを転動した状態で、タイヤ踏面の変形状態を測定する装置である。変形状態の測定とは、トレッド部が接地面と直接接地するときのトレッド部の滑り量、トレッド部の歪み、トレッド溝の変形形状、あるいはトレッド溝底や溝側面の歪みを測定すること含む。
装置10は、主に、予備転動路面12と、踏面測定路面14と、3次元形状測定ユニット16と、解析ユニット18と、タイヤスタンド22と、を有して構成される。
予備転動路面12は、タイヤTを所定の測定条件(負荷荷重、内圧、キャンバー角、スリップ角、制駆動力)の下にタイヤTを転動させ、踏面測定路面14による測定前に、転動するタイヤを定常状態とするための路面である。予備転動路面12は、踏面測定路面14の面と面一に設けられ、タイヤTの外周の長さ以上の転動距離を備えている。タイヤTを、少なくともタイヤ外周程度の距離を転動させれば、タイヤTを接地させて転動させた場合でも、タイヤ踏面を定常状態とすることができる。
踏面測定路面14は、予備転動路面12のタイヤTの転がる方向の延長部分に設けられた路面で、路面は、タイヤTが転動し接地する透明性を有する接地用板材24で構成されている。タイヤTの転動状態におけるタイヤ踏面の変形状態を、接地用板材24を介して測定するために接地用板材24は透明性を有する。接地用板材24は、例えば、アクリル板や負荷荷重に耐えるガラス板等が用いられる。
タイヤTの転動方向と直交する方向の、踏面測定路面14における接地用板材24の両側の側面には、接地したタイヤTの踏面が照明されるように、反射板28に周りを覆われた照明光源26が設けられている。照明光源26を接地用板材24の両側の側面に設けることで、トレッド部が接地した部分から光が漏出して、トレッド部の接地部分近傍の非接地部分を明るく照らす。これにより、接地及び非接地の領域を明確にした画像を撮影することができる。
また、前記特殊観察用励起光源が、前記補助光源も兼ねており、前記前記特殊観察用励起光源と前記補助光源とが一つの光源であることが好ましい。
3次元形状測定ユニット16は、測定空間内に位置するタイヤTの転動中のタイヤ踏面の変形形状を測定する装置である。
図2は、3次元形状測定ユニット16の構成を説明する図である。
3次元形状測定ユニット(以下、単に測定ユニットともいう)16は、CPU31、ドライバー回路32、レーザダイオード33、ガルバノミラー34、光学系35,36、CCD素子37、AD変換器38、FIFO39,信号処理プロセッサ(DSP)40、及びフレームメモリ41を有する。
測定ユニット16では、コンピュータ50からの測定開始指示に応じて、CPU31は測定開始のトリガー信号を生成し、図示されないクロックジェネレータを起動してクロック信号を生成する。このクロック信号はCCD素子37、AD変換器38、FIFO39、信号処理プロセッサ40に供給される。一方、トリガー信号の生成により、ドライバー回路32はレーザ光照射の信号を生成し、レーザダイオード33に供給する。レーザダイオード33は、これによりレーザ光を照射し、レーザ光をスリット光とし、このレーザ光の照射の信号に合わせて駆動を開始したガルバノミラー34を振らして、光学系35を介して照射されるスリット状のレーザ光をタイヤTのタイヤ踏面上でスキャンさせる。
測定ユニット16は、CCD素子37で、画像も取得するが、この画像は転動するタイヤのタイヤ踏面を動画として取得する。
一方、光学系36を介して集束したレーザ光の反射光をCCD素子37にて受光し、生成された画像信号をAD変換器38によりデジタル信号とし、FIFO39を介して画像信号を順番に信号処理プロセッサ40に供給する。信号処理プロセッサ40は、光切断方法を用いた周知のアルゴリズムを実行する回路が組み込まれており、供給された画像信号から、タイヤ踏面の変形形状の3次元データを生成する部分である。このデータは、転動するタイヤの踏面の時系列の3次元データがフレームメモリ41に逐次書き込まれ、必要に応じて呼び出される。画像信号から3次元データを生成する処理方法は、周知の光切断法を用いたアルゴリズムである。光切断法は、スリット光を測定対象物に照射し、測定対象物の曲がった帯状の反射光をCCD素子等のカメラで撮影し、画像における結像位置から3次元データを求める方法である。このときの演算は三角測量の原理に基づいて行われる。
すなわち、3次元形状測定ユニット16、接地用板材24を挟んでタイヤTと反対側に設けられ、接地用板材24を介して、タイヤ踏面にレーザ光を照射するとともに、タイヤ踏面の画像を撮影し、これによって、接地変形状態にあるタイヤ踏面のトレッド部及びトレッド溝の変形形状のデータを取得する。
生成された3次元データは、コンピュータ50に供給される。
3次元形状測定ユニット16は、以上の作用を行うように構成された装置である。
このようなユニットとして、例えば光切断方法を用いた非接触3次元デジタイザVIVID9i((株)コニカ ミノルタ社製)が例示される。
タイヤスタンド22は、タイヤTにキャンバー角、スリップ角、制動力、及び駆動力等の測定条件の1つを付与可能な機構を備える部分であり、公知の装置が用いられる。キャンバー角、スリップ角の付与によってタイヤ踏面の変形状態は大きく変わる他、制動力及び駆動力によってもタイヤ踏面の変形状態は大きく変わる。このような変形状態を、測定条件を変えて、測定する。
解析ユニット18は、コンピュータ50と、ディスプレイ52と、マウス・キーボード54とを有する。
コンピュータ50は、3次元形状測定ユニット30に接続されて設けられている。コンピュータ50には、ディスプレイ52及びマウス・キーボード54が接続されている。
コンピュータ50は、3次元データを用いて、トレッド部及びトレッド溝を含む踏面の変形状態を解析する部分である。また、コンピュータ50は、接地用板材24の光学特性(屈折率、減衰係数)による3次元データの歪みを補正するための補正テーブルがコンピュータ50のメモリに記憶されており、タイヤ踏面の3次元データを、この補正テーブルを用いて補正する機能を有する。接地用板材24の屈折率によって、光路は折れ曲がり、得られる3次元データも歪む。
なお、補正テーブルは、タイヤTの替わりに配置した、表面に描かれたマークの位置が既知の調整用部材56(図3参照)を測定対象として、3次元形状測定ユニット16を用いて測定することにより得られた3次元位置データと調整用部材56の3次元位置の対応データとの対応関係を用いて作成されたものである。
図3は、調整用部材56の一例が示されている。調整用部材56は、平板状の黒色の板材の表面に一定間隔の白色のライン58,60によって構成された格子状のパターンが描かれたものである。なお、図3では、調整用部材56の表面は白色、ライン58,60は、黒色に反転して描かれている。
この格子状のパターンの交点は、調整用部材56の中心位置を基準として、既知の位置にあるので、この中心位置を、接地用板材24に設けられた所定の位置に来るように調整用部材56を配置することで、格子状のパターンの交点の位置は既知となる。また、調整用部材56を接地用板材24の表面から一定距離離間して配置することにより、図1(b)中の高さ方向Zが既知となり、交点の3次元位置情報が既知となる。接地用板材24の表面から一定距離離間して配置するには、接地用板材24と調整用部材56との間に、厚さが既知の部材を挟むとよい。
このようにして、調整用部材56を接地用板材24の表面から徐々に離して、3次元形状測定ユニット16により、調整用部材56の3次元データを取得し、この3次元データは、コンピュータ50のメモリに記憶される。さらに、得られた3次元データを画像化してディスプレイ52上で表示される、調整用部材56の格子状のパターンの画像をオペレータが見ながら、この格子状のパターンの交点を、マウス・キーボード54でクリックして指示することで、交点の3次元データが取得される。交点の3次元データの取得は、この他に、画像を2値化して自動的に交点を抽出して交点の3次元データを取得することもできる。この交点の3次元データは、接地用板材24を介して得られたデータであるので、接地用板材24の光学特性によってデータが歪んでいる。
一方、上述したように調整用部材56上の交点の位置は既知であり、測定した調整用板材56における接地用板材24の表面からの高さは既知となっているので、これらの情報から、交点の真の3次元位置は特定できる。コンピュータ50は、この交点の真の3次元位置のデータは予めメモリに記憶されている。
補正用テーブルは、上述した接地用板材24の光学特性によって3次元位置が歪んでいる、取得した3次元位置データと、メモリに記憶されている交点の真の3次元位置のデータとの対応関係を定め、この対応関係を補正テーブルとして作成する。
コンピュータ50は、このような作成した補正テーブルを予め取得し、メモリに記憶し、タイヤ踏面の3次元データの補正のために用いる。補正では、補正テーブルにある3次元データと真の3次元位置のデータとは代表点であるので、これらの代表点を用いた補間処理によって補正される。
なお、本発明においては、補正テーブルの作成のために用いる調整用部材は、表面に格子状のパターンが描かれた調整用部材56の他に、3次元形状が既知の調整用部材を用いることもできる。
コンピュータ50は、補正された3次元データを用いて、トレッド部及びトレッド溝を含む踏面の変形状態を解析する。
具体的には、タイヤTのトレッド部が接地用部材24と当接する部分の滑り量を求める。
図4は、タイヤTのトレッド部表面に白いマークを描いたときのタイヤ踏面の様子を示す図である。図中、符号1〜10まで、符号毎に3点ずつマークが付されている。コンピュータ50では、ディスプレイ52に表示された画像からマークの位置をマウス・キーボード54でクリックして指定すると、この後、動画として得られた画像の中で、マークの位置をビデオトラッキング手法により追跡することにより、時系列の3次元データの中から、マークの位置データを取り出し、マークの移動距離を求める。
図5(a)は、スリップ角1度、キャンバー角1度の条件下の、符号10(図4参照)におけるマークの幅方向の変位量(mm)を示すグラフである。図5(b)は、この変位量から求められる幅方向滑り量(mm)を示すグラフであり、図5(c)は、周方向滑り量(mm)を示すグラフである。幅方向とは、タイヤの回転軸に平行な方向をいい、周方向とは、タイヤの転動して進む進行方向をいう。
なお、図5(a)〜(c)の横軸は、タイヤ踏込前端からの周方向の位置を示す。
さらに、コンピュータ50は、タイヤ溝の3次元変形形状から、溝底の歪み、溝側面の歪みを算出する。図6(a)は、補正されたタイヤ踏面の3次元データを画像化した図である。図6(b)は、3次元データから求められる溝底の歪みの分布を示す分布図である。測定位置は、図6(c)に示す位置である。測定位置は、接地形状の中心位置である。
このように、本発明では、タイヤ溝の溝内の歪みも測定することができる。この場合、タイヤの非接地状態のタイヤ溝の3次元データを予め取得しておき、この非接地状態の3次元データと接地状態の3次元データとを用いて溝底の歪み、溝側面の歪みを算出する。
さらに、コンピュータ50は、タイヤのトレッド部表面の接地によって生じる歪みを算出する。
具体的には、タイヤTのトレッド部表面に、識別可能なマークを描く。例えば、一定の間隔の格子パターンで作られる交点(マーク)を描く。
コンピュータ50は、タイヤTが接地用板材に対して非接地状態にあるときのトレッド部表面のマークの位置データを、3次元形状測定ユニット16を用いて、3次元情報として予め取得し、コンピュータのメモリに記憶しておく。
次に、タイヤTが接地用板材24に対して接地状態にあるとき、3次元形状測定ユニット16は、トレッド部表面のマークの位置データを3次元情報として取得し、取得した接地状態の3次元情報と、予め取得した非接地状態の3次元情報とを用いて、タイヤのトレッド部表面の接地によって生じる歪みを算出する。例えば、格子状パターンの複数の交点に注目し、コンピュータ50は、複数の交点の1つを基準マークとし、接地状態の3次元情報と、予め取得したタイヤが非接地状態の3次元情報との位置合わせを行う。この位置合わせした接地状態の3次元情報と非接地状態の3次元情報とに基づいてタイヤのトレッド部表面の接地によって生じる歪みを算出する。交点は、例えば、画像を2値化して、自動的に抽出し、その後、タイヤTの転動によって変化する交点の位置をビデオトラッキング手法により追跡することで、交点の3次元情報を求めることができる。
図7(a)には、非接地状態のトレッド部表面の状態(無変形状態)を、図7(b)は、接地状態のトレッド部表面の変形状態を示す図である。図7(a),(b)では、例えば、交点P4を基準マークとする。
このように、装置10は、3次元形状測定ユニット16を用いてタイヤ踏面の変形状態を測定するので、直接接地するトレッド部のみならず、トレッド溝についても変形状態を効率よく測定できる。特に、透明性を有する接地用部材24の光学特性によるデータの歪みを補正できるので、精度良く変形状態を測定できる。
このような装置10では、測定対象のタイヤTがタイヤスタンド22に取り付けられ、設定された測定条件(キャンバー角、スリップ角、負荷荷重、制動力、駆動力)が与えられ、設定された負荷荷重で予備転動路面12上に接地される。この状態で、予備転動路面12を動かして、タイヤTを転動させる。このとき、設定した条件に応じて、タイヤTに制動力あるいは駆動力を与える。予備転動路面12は、タイヤTの外周の長さ以上の転動距離を備えるので、タイヤTのタイヤ踏面の変形形状は定常状態となっている。
この状態で、踏面測定路面14上にタイヤTが来る。タイヤTが踏面測定路面14上に来ると、図示されない検知センサによってトリガー信号が生成され、3次元形状測定ユニット16による測定が開始される。
3次元形状測定ユニット16で得られた3次元データは、コンピュータ50に供給され、上述したように、補正テーブルを用いて補正された後、トレッド部の滑り量、トレッド溝の変形形状、及びトレッド部の歪みのいずれか1つが算出される。
なお、本実施形態では、タイヤTの予備走行路面12及び踏面測定路面14が移動し、タイヤT及び3次元形状測定ユニット16が静止した構成であるが、タイヤTの予備走行路面12及び踏面測定路面14が静止し、タイヤT及び3次元形状測定ユニット16が移動する構成としてもよい。
以上、本発明のタイヤ踏面測定装置について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
(a),(b)は、本発明におけるタイヤ踏面測定装置の一実施形態を表す概略構成図である。 本発明のタイヤ踏面測定装置に用いる測定ユニットの一例を示す構成図である。 本発明タイヤ踏面測定装置に用いる調整用部材の一例を示す図である。 本発明のタイヤ踏面測定装置に用いるマークを説明する図である。 (a)〜(c)は、本発明のタイヤ踏面測定装置で得られるデータの一例を示す図である。 (a)〜(c)は、本発明のタイヤ踏面測定装置で得られるデータの一例を示す図である。 (a)及び(b)本発明のタイヤ踏面測定装置で得られるデータの他の例を示す図である。
符号の説明
10 タイヤ踏面測定装置
12 予備転動路面
14 踏面測定路面
16 3次元形状測定ユニット
18 解析ユニット
22 タイヤスタンド
24 接地用板材
26 反射板
28 光源
31 CPU
32 ドライバー
33 レーザダイオード
34 ガルバノミラー
35,36 光学系
37 CCD素子
38 AD変換回路
39 FIFO
40 信号処理プロセッサ
50 コンピュータ
52 ディスプレイ
54 マウス・キーボード

Claims (6)

  1. タイヤが接地したときのタイヤ踏面の変形状態を測定するタイヤ踏面測定装置であって、
    タイヤが接地する透明性を有する接地用板材と、
    前記接地用板材を挟んでタイヤと反対側に設けられ、前記接地用板材を介して、タイヤ踏面にレーザ光を照射するとともに、タイヤ踏面の画像を撮影し、これによって、接地変形状態にあるタイヤ踏面のトレッド部及びトレッド溝の変形形状を表す3次元データを取得する測定ユニットと、
    取得した前記3次元データを用いて、トレッド部及びトレッド溝を含む踏面の変形状態を解析する解析ユニットと、を有し、
    前記解析ユニットは、前記接地用板材の光学特性による前記3次元データの歪みを補正するための補正テーブルを有し、
    前記補正テーブルは、前記タイヤの替わりに配置した、3次元形状あるいは表面に描かれたマークの位置が既知の調整用部材を測定対象として、前記測定ユニットを用いて測定することにより得られる3次元データと、前記調整用部材の3次元形状の対応データあるいは前記マークの位置の対応データとの対応関係を用いて作成されたものであることを特徴とするタイヤ踏面測定装置。
  2. 前記タイヤのトレッド部の表面には、識別可能なマークが描かれており、
    前記解析ユニットは、前記タイヤが前記接地用板材に対して非接地状態にあるときのトレッド部表面の前記マークの位置のデータを3次元データとして予め取得しておき、
    前記タイヤが前記接地用板材に対して接地状態にあるとき、前記解析ユニットは、トレッド部表面の前記マークの位置のデータを3次元データとして取得し、取得した前記接地状態の3次元データと、予め取得した前記非接地状態の3次元データとを用いて、前記タイヤのトレッド部表面の接地によって生じる歪みを算出する請求項に記載のタイヤ踏面測定装置。
  3. 前記マークは前記タイヤのトレッド部表面に複数設けられ、
    前記解析ユニットは、複数のマークの1つを基準マークとして、接地状態の3次元データと、予め取得した前記タイヤが非接地状態の3次元データとの位置合わせを行い、この位置合わせした前記接地状態の3次元データと前記非接地状態の3次元データとに基づいて前記タイヤのトレッド部表面の接地によって生じる歪みを算出する請求項に記載のタイヤ踏面測定装置。
  4. さらに、前記タイヤを予備転動させて転動中の接地状態を再現するための予備転動路面が、前記接地用板材で作られる路面と面一に設けられ、この予備転動路面は、前記タイヤの外周の長さ以上の転動距離を備える請求項1〜のいずれか1項に記載のタイヤ踏面測定装置。
  5. さらに、前記タイヤにキャンバー角、スリップ角、制動力、及び駆動力の1つを付与可能な機構を備える請求項1〜のいずれか1項に記載のタイヤ踏面測定装置。
  6. 前記接地用板材近傍には、タイヤ踏面を照明する光源が設けられている請求項1〜のいずれか1項に記載のタイヤ踏面測定装置。
JP2007316978A 2007-12-07 2007-12-07 タイヤ踏面測定装置 Expired - Fee Related JP5176517B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007316978A JP5176517B2 (ja) 2007-12-07 2007-12-07 タイヤ踏面測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007316978A JP5176517B2 (ja) 2007-12-07 2007-12-07 タイヤ踏面測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009139268A JP2009139268A (ja) 2009-06-25
JP5176517B2 true JP5176517B2 (ja) 2013-04-03

Family

ID=40870013

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007316978A Expired - Fee Related JP5176517B2 (ja) 2007-12-07 2007-12-07 タイヤ踏面測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5176517B2 (ja)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5387202B2 (ja) * 2009-07-23 2014-01-15 横浜ゴム株式会社 タイヤ解析システムおよびタイヤ解析方法
JP2013113672A (ja) * 2011-11-28 2013-06-10 Toyo Tire & Rubber Co Ltd ゴム摩擦試験方法及びゴム摩擦試験装置
GB201318824D0 (en) 2013-10-24 2013-12-11 Wheelright Ltd Tyre condition analysis
KR101530440B1 (ko) * 2013-11-21 2015-06-19 한국타이어 주식회사 트레드 블록 변형의 가시화 방법
JP6364921B2 (ja) * 2014-04-23 2018-08-01 横浜ゴム株式会社 タイヤ形状解析装置およびタイヤ形状解析方法
JP6386304B2 (ja) * 2014-08-29 2018-09-05 東洋ゴム工業株式会社 タイヤ踏面の接地面挙動測定装置、及びタイヤ踏面の接地面挙動測定方法
KR101575158B1 (ko) * 2014-10-16 2015-12-08 한국타이어 주식회사 타이어의 고속 동접지 특성 시험기
JP6544018B2 (ja) * 2015-04-21 2019-07-17 横浜ゴム株式会社 タイヤ解析装置及びタイヤ解析方法
JP6536230B2 (ja) * 2015-07-06 2019-07-03 横浜ゴム株式会社 タイヤ形状解析装置、タイヤ形状解析方法
JP6514620B2 (ja) * 2015-10-01 2019-05-15 Toyo Tire株式会社 タイヤ接地面測定方法
JP6789292B2 (ja) 2015-12-16 2020-11-25 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを検査する方法および装置
JP7074670B2 (ja) 2015-12-16 2022-05-24 ピレリ・タイヤ・ソチエタ・ペル・アツィオーニ タイヤを分析するためのデバイス及び方法
BR112018012692B1 (pt) 2015-12-28 2022-09-20 Pirelli Tyre S.P.A Aparelho e método para verificar um pneu
WO2017141094A1 (en) 2015-12-28 2017-08-24 Pirelli Tyre S.P.A. Apparatus for checking tyres
CN106767434B (zh) * 2016-12-24 2023-03-28 安徽佳通乘用子午线轮胎有限公司 一种滚动轮胎胎面滑移测量系统及胎面滑移测量方法
JP7057206B2 (ja) * 2018-05-07 2022-04-19 Toyo Tire株式会社 タイヤ歪検出方法
CN110658004A (zh) * 2018-06-29 2020-01-07 卡尔蔡司光电科技有限责任公司 用于测试轮胎的方法
JP6467104B1 (ja) * 2018-09-21 2019-02-06 株式会社エー・アンド・デイ タイヤ試験装置
WO2020075768A1 (ja) 2018-10-10 2020-04-16 株式会社Preferred Networks 三次元走査装置、三次元モデルの生成方法、訓練用データ、及び機械学習モデル
KR20210044632A (ko) * 2019-10-15 2021-04-23 현대자동차주식회사 간접방식 tpms의 기준압력 설정 장치 및 그 방법
KR102258385B1 (ko) * 2019-10-17 2021-05-31 금호타이어 주식회사 완제품 타이어의 트레드 블록 마찰에너지 측정방법
JP7364883B2 (ja) * 2019-11-15 2023-10-19 横浜ゴム株式会社 タイヤ接地形状解析装置およびタイヤ接地形状解析方法
CN112945125B (zh) * 2021-03-26 2023-08-11 中国人民解放军火箭军工程大学 一种非接触式的轮胎滚动变形特性测试方法
CN115338673B (zh) * 2022-07-27 2023-11-21 湘潭大学 车轮踏面加工方法及镟轮机

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04104035A (ja) * 1990-08-24 1992-04-06 Yokohama Rubber Co Ltd:The タイヤの踏面接地部測定装置
JP3406643B2 (ja) * 1993-06-30 2003-05-12 株式会社ブリヂストン タイヤ踏面の接地部測定装置及びタイヤ踏面の接地部測定方法
JPH11351836A (ja) * 1998-06-08 1999-12-24 Hitachi Ltd 立体形状検出装置及びその方法
JP2002116119A (ja) * 2000-10-06 2002-04-19 Bridgestone Corp タイヤ踏面の接地部測定装置及びタイヤ踏面の接地部測定方法
JP4198610B2 (ja) * 2004-01-30 2008-12-17 株式会社ブリヂストン タイヤ踏面の接地部測定装置、及びタイヤ踏面の接地部測定方法
JP4150351B2 (ja) * 2004-03-22 2008-09-17 株式会社ブリヂストン タイヤ踏面の接地部測定方法
JP2007132807A (ja) * 2005-11-10 2007-05-31 Yokohama Rubber Co Ltd:The 3次元形状測定装置及び3次元形状測定方法
JP2007263611A (ja) * 2006-03-27 2007-10-11 Yokohama Rubber Co Ltd:The 歪測定装置および歪測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009139268A (ja) 2009-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5176517B2 (ja) タイヤ踏面測定装置
JP3946499B2 (ja) 被観察体の姿勢検出方法およびこれを用いた装置
JP5632650B2 (ja) マルチイメージフェーズシフト解析を用いた検査システム及び方法
JP5515432B2 (ja) 三次元形状計測装置
JP2012521005A (ja) 光学式ゲージ及び3次元表面プロファイル測定方法
JP4760358B2 (ja) 路面形状測定方法および測定システム
JP5418176B2 (ja) パンタグラフ高さ測定装置及びそのキャリブレーション方法
JP5923054B2 (ja) 形状検査装置
JP2007132807A (ja) 3次元形状測定装置及び3次元形状測定方法
JPH1038533A (ja) タイヤの形状測定装置とその方法
JP4133753B2 (ja) 迂曲面の光波干渉測定方法および迂曲面測定用の干渉計装置
JP3454088B2 (ja) 3次元形状計測方法及びその装置
JP2011033428A (ja) パンタグラフ高さ測定装置
JP3324809B2 (ja) 三次元測定用測定点指示具
JP2017053671A (ja) 形状測定方法
JP2024518920A (ja) 指紋及び手形の非接触記録装置及び方法
JP5786999B2 (ja) 三次元形状計測装置、三次元形状計測装置のキャリブレーション方法
JP6108383B2 (ja) 配管位置計測システム及び配管位置計測方法
JP2009174933A (ja) タイヤ形状の測定方法
US20050226533A1 (en) Method for measuring the location of an object by phase detection
JP2006003168A (ja) 表面形状の測定方法およびその装置
JP7518372B2 (ja) タイヤ形状解析システムおよびタイヤ形状解析方法
JP2004347531A (ja) 光波干渉寸法測定方法及びその装置
US20240187565A1 (en) Provision of real world and image sensor correspondence points for use in calibration of an imaging system for three dimensional imaging based on light triangulation
JP2006145231A (ja) 表面形状測定方法及び表面形状測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101105

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120824

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120828

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121026

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121211

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121224

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees