JP5167891B2 - 結果予測装置、及び、これを用いた製品品質予測方法 - Google Patents
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- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Description
xr=[x1 r,x2 r,…,xM r]T …(1)
で表記する。ここで、Tは行列の転置を表わす。
Y=b+a1・X1+a2・X2+…+aM・XM …(2)
とし、この回帰式のパラメータ:b,a1,a2,…,aMを最小2乗法により求める。
α=[a1,a2,…,aM]T …(3)
を、次に説明する距離計算に用いる影響係数とする。
Y=b+a1X1+a2X2 …(2´)
で表わされるとすると、同図(B)に示すように、影響係数a1、a2を用いて軸をX1/|a1|、X2/|a2|に変換し、この軸変換された空間におけるxとxrとの距離Lを計算していることになる。因みに、正規化ユークリッド距離の場合は、各変数に対応する条件軸をそれぞれのデータ分布の標準偏差で割っているが、ここでは係数で割っている。
Ln=L(xn,xr,α) …(5)
ここで、xn=[x1 n,x2 n,…,xM n]T
n=1,2,…,N
から求めることができる。又、1〜N番目の観測データについて計算された要求条件からの各距離をまとめて次式
l=[L1,L2,…,LN]T …(6)
のように表記する。
W(L,p,l)=exp{−(L/(p・σ(l)))2} …(7)
ここで、σ(l):正規化に使用するlの標準偏差
p:調整パラメータ(初期値:1.5)
のように定義する。
Wn=W(Ln,p,l) …(8)
(n=1,2,…,N)
から求めることができる。又、ここでは、1〜N番目の観測データの要求条件からの条件空間類似度を求めて次式
w=[W1,W2,…,WN]T …(9)
のように表記する。
Sn=λ(N-n),n=1,2,…,N …(10)
s=[S1,S2,…,SN]T …(11)
Y=b+a1・X1+a2・X2+…+aM・XM …(12)
とする。この式が、結果を予測するために使用する最終的な予測式である。
u=[b,a1,a2,…,aM]T …(13)
J=eTVe
=[y−Qu]TV[y−Qu] …(14)
ここで、
y=[y1,y2,…,yN]T …(15)
V=diag[W1,W2,…,WN]+diag[S1,S2,…,SN] …(16)
Q=[q1T,q2T,…,qNT]T …(17)
qn=[1,x1 n,x2 n,…,xM N] …(18)
y=Qu+e …(19)
u=[QTVQ]-1QTVy …(20)
4…スラブ
6…圧延機
8…鋼板
10…実績データベース
12…プロセスコンピュータ
16…局所回帰モデル(予測モデル)
18…セットアップ計算部
22…影響係数計算部
24…距離計算部
26…条件空間類似度計算部
28…時間空間類似度計算部
30…予測式作成部
32…予測計算部
Claims (2)
- 過去の条件の値と、その条件によって得られた結果とを保存した実績データベースと、
該実績データベースに保存されている条件により規定される条件空間において、結果を予測したい要求条件の近傍における各条件の結果に対する影響係数を計算する手段と、
得られた影響係数に基づいて条件空間の軸を変換し、変換された条件空間において、前記実績データベースに保存されている過去の条件の値と前記要求条件との距離を計算する手段と、
得られた距離に基づいて、各条件の値と前記要求条件との条件空間類似度を計算する手段と、
前記実績データベースに保存されている実績データの観測時刻に基づいて、時間空間類似度を計算する手段と、
得られた条件空間類似度及び時間空間類似度に基づいて、前記要求条件近傍の予測式を作成する手段と、
得られた予測式に基づいて、要求条件に対する結果を計算する手段と、
を備えたことを特徴とする結果予測装置。 - 鋳造した素材を加熱、圧延、冷却、熱処理して製品を造るプロセスで、請求項1に記載の結果予測装置により、製品品質を予測することを特徴とする製品品質予測方法。
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