JP5151996B2 - 半導体集積回路及びデバッグ・トレース回路 - Google Patents
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Description
連続的な所定の動作を実行し、前記動作に伴うイベントを連続的に発生させる主機能構成部と、
対象イベントの発生を検出するための検出条件指示情報と、前記検出条件指示情報と前記主機能構成部で発生するイベントとの比較の結果に応じた動作を指定する動作指示情報と、の対からなるエントリを、観測が要求される事象を一連のイベントで特定するように複数連ねた制御情報リストを予め記憶しており、前記主機能構成部で発生するイベントと前記制御情報リストのいずれか1つのエントリの検出条件指示情報とを比較し、前記比較の結果に応じて、前記検出条件指示情報と対をなす前記動作指示情報に指定された動作を実行することを、前記制御情報リストに従って連続的に行い、前記事象を特定するデバッグ・トレース回路と、を有している。
対象イベントの発生を検出するための検出条件指示情報と、前記検出条件指示情報と前記主機能構成部で発生するイベントとの比較の結果に応じた動作を指定する動作指示情報と、の対からなるエントリを、観測が要求される事象を一連のイベントで特定するように複数連ねた制御情報リストを予め記憶する制御情報リスト保持部と、
前記主機能構成部で発生するイベントと前記制御情報リストのいずれか1つのエントリの検出条件指示情報とを比較することを、前記制御情報リストに従って連続的に実行するイベント検出部と、
前記イベント検出部による前記比較の結果に応じて、前記検出条件指示情報と対をなす前記動作指示情報に指定された動作を実行する制御部と、を有している。
対象イベントの発生を検出するための検出条件指示情報と、前記検出条件指示情報と前記主機能構成部で発生するイベントとの比較の結果に応じた動作を指定する動作指示情報と、の対からなるエントリを、観測が要求される事象を一連のイベントで特定するように複数連ねた制御情報リストを予め記憶しておき、
前記主機能構成部で発生するイベントと前記制御情報リストのいずれか1つのエントリの検出条件指示情報とを比較し、前記比較の結果に応じて、前記検出条件指示情報と対をなす前記動作指示情報に指定された動作を実行することを、前記制御情報リストに従って連続的に行い、前記事象を特定して観測を行なう。
図2は、本発明の第1の実施形態によるデバッグ・トレースシステムの全体構成を示すブロック図である。図2を参照すると、システムLSI1は、観測対象である主機能構成部2と、デバッグ・トレース回路3とを含んでいる。ここでいうシステムLSIは、SiP(System in Package)、MCP(Multi Chip Module)、PoP(Package on Package)などのように複数のチップを集積する形態のものを含む。また、システムLSIの内部の通信の容量はLSI外部との通信の容量と比べて十分大きい一般的な構造であるとする。主機能構成部2は、システムLSI1の本来の所望機能を実現する回路であり、一般的な例としてMPUコア21および周辺回路22から構成されている。デバッグ・トレース回路3は、イベント検出部31、制御部32、および制御情報リスト保持部33を有している。制御情報リスト保持部33は制御情報リスト4を保持する。
次に、本発明の第2の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
図8は、本発明の第3の実施形態によるデバッグ・トレースシステムの全体構成を示すブロック図である。図8を参照すると、本実施形態のシステムLSIは、図2に示した第1の実施形態に加え、性能測定部35を有している。性能測定部35は、入力された指示情報に従って、イベントの発生頻度、バストラフィック量、遅延値などの性能を測定する。
次に、上述した実施形態の具体的な実施例について説明する。
「終了」は、そこで測定を終了することを示している。したがって、エントリ413のイベントにヒットすると、そこで測定が終了することになる。
「出力せず」は、イベントデータを出力しないことを示している。したがって、例えばエントリ411のイベントにヒットしなかったとき、そのままエントリ411のイベントの監視を継続し、またイベントデータを出力しないことになる。同様に、エントリ412のイベントにヒットしなかったとき、そのままエントリ412のイベントの監視を継続し、またイベントデータを出力しない。エントリ413のイベントにヒットしなかったとき、そのままエントリ413のイベントの監視を継続し、またイベントデータを出力しない。
第2の実施例のイベント検出部31および制御部32の具体的構成は図11に示した第1の実施例のものと同様である。
Claims (2)
- デバッグ用の機能を備えた半導体集積回路であって、
連続的な所定の動作を実行し、前記動作に伴うイベントを連続的に発生させる主機能構成部と、
対象イベントの発生を検出するための検出条件指示情報と、前記検出条件指示情報と前記主機能構成部で発生するイベントとの比較の結果に応じた動作を指定する動作指示情報と、の対からなるエントリを、確認したい前記連続的な所定の動作に対応させて複数連ねた制御情報リストを予め記憶しており、前記主機能構成部で発生するイベントと前記制御情報リストのいずれか1つのエントリの検出条件指示情報とを比較し、前記比較の結果に応じて、前記検出条件指示情報と対をなす前記動作指示情報に指定された、前記検出条件指示情報が比較されるエントリの変更動作を実行することを、前記制御情報リストに従って連続的に行い、前記連続的な所定の動作を確認するデバッグ・トレース回路と、を有し、
前記動作指示情報は、前記検出条件指示情報に該当するイベントが発生したときの動作を指定するヒット時動作指示情報と、前記検出条件指示情報に該当しないイベントが発生したときの動作を指定するミス時動作指示情報と、を含んでいる、半導体集積回路。 - 連続的な所定の動作を実行し、前記動作に伴うイベントを連続的に発生させる主機能構成部を備えた半導体集積回路に組み込まれるデバッグ・トレース回路であって、
対象イベントの発生を検出するための検出条件指示情報と、前記検出条件指示情報と前記主機能構成部で発生するイベントとの比較の結果に応じた動作を指定する動作指示情報と、の対からなるエントリを、確認したい前記連続的な所定の動作に対応させて複数連ねた制御情報リストを予め記憶する制御情報リスト保持部と、
前記主機能構成部で発生するイベントと前記制御情報リストのいずれか1つのエントリの検出条件指示情報とを比較することを、前記制御情報リストに従って連続的に実行するイベント検出部と、
前記イベント検出部による前記比較の結果に応じて、前記検出条件指示情報と対をなす前記動作指示情報に指定された、前記検出条件指示情報が比較されるエントリの変更動作を実行する制御部と、を有し、
前記動作指示情報は、前記検出条件指示情報に該当するイベントが発生したときの動作を指定するヒット時動作指示情報と、前記検出条件指示情報に該当しないイベントが発生したときの動作を指定するミス時動作指示情報と、を含んでいる、デバッグ・トレース回路。
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JP5528536B2 (ja) * | 2010-03-05 | 2014-06-25 | 三菱電機株式会社 | プログラムトレース装置 |
WO2011136212A1 (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-03 | 日本電気株式会社 | 論理回路エミュレータ及び論理回路エミュレータの制御方法 |
JP6052847B2 (ja) * | 2012-02-24 | 2016-12-27 | Necプラットフォームズ株式会社 | トランザクション処理装置及び不正トランザクション検出方法 |
US9377507B2 (en) * | 2012-05-07 | 2016-06-28 | Microchip Technology Incorporated | Processor device with instruction trace capabilities |
JP2016025649A (ja) * | 2014-07-24 | 2016-02-08 | 富士通株式会社 | 電子装置及び機器検知方法 |
KR102522154B1 (ko) * | 2016-03-15 | 2023-04-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치의 컨트롤러 및 이의 동작 방법 |
US20210173004A1 (en) * | 2019-12-09 | 2021-06-10 | Advanced Micro Devices, Inc. | Debug state machine triggered extended performance monitor counter |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09305443A (ja) * | 1996-05-13 | 1997-11-28 | Omron Corp | プロセス監視装置およびプロセス監視方法 |
JP2001147836A (ja) * | 1999-10-01 | 2001-05-29 | Stmicroelectronics Inc | マイクロコンピュータデバッグアーキテクチャ及び方法 |
JP2006012017A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Denso Corp | 状態にアクションを割り当てた対応情報に基づいてプログラムを生成するプログラム生成プログラム、プログラム生成装置、およびプログラム生成方法,ならびに、この対応情報の生成プログラム、対応情報生成装置、および対応情報生成方法 |
JP2006338305A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Toshiba Corp | 監視装置及び監視プログラム |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01288931A (ja) | 1988-05-16 | 1989-11-21 | Nec Corp | Pl/iプログラムのデバック方式 |
JPH05100891A (ja) | 1991-10-09 | 1993-04-23 | Kobe Nippon Denki Software Kk | プログラムデバツグ装置 |
JP4212224B2 (ja) | 2000-07-10 | 2009-01-21 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
JP3913470B2 (ja) * | 2000-12-28 | 2007-05-09 | 株式会社東芝 | システムlsi |
JP2003263340A (ja) | 2002-03-11 | 2003-09-19 | Ricoh Co Ltd | デバッグ装置 |
US7149926B2 (en) * | 2003-05-22 | 2006-12-12 | Infineon Technologies Ag | Configurable real-time trace port for embedded processors |
JP2006336305A (ja) | 2005-06-02 | 2006-12-14 | Shin Caterpillar Mitsubishi Ltd | 作業機械 |
JP4523508B2 (ja) | 2005-07-28 | 2010-08-11 | 長野計器株式会社 | 測定器及びその製造方法 |
JP5067111B2 (ja) * | 2007-10-18 | 2012-11-07 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体集積回路及びデバッグモード決定方法 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09305443A (ja) * | 1996-05-13 | 1997-11-28 | Omron Corp | プロセス監視装置およびプロセス監視方法 |
JP2001147836A (ja) * | 1999-10-01 | 2001-05-29 | Stmicroelectronics Inc | マイクロコンピュータデバッグアーキテクチャ及び方法 |
JP2006012017A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Denso Corp | 状態にアクションを割り当てた対応情報に基づいてプログラムを生成するプログラム生成プログラム、プログラム生成装置、およびプログラム生成方法,ならびに、この対応情報の生成プログラム、対応情報生成装置、および対応情報生成方法 |
JP2006338305A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Toshiba Corp | 監視装置及び監視プログラム |
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