JP5103878B2 - 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤製造用スルホニウム化合物 - Google Patents

化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤製造用スルホニウム化合物 Download PDF

Info

Publication number
JP5103878B2
JP5103878B2 JP2006316703A JP2006316703A JP5103878B2 JP 5103878 B2 JP5103878 B2 JP 5103878B2 JP 2006316703 A JP2006316703 A JP 2006316703A JP 2006316703 A JP2006316703 A JP 2006316703A JP 5103878 B2 JP5103878 B2 JP 5103878B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
formula
carbon atoms
alkyl group
represented
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006316703A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008127367A (ja
Inventor
宏 坂本
由香子 原田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Chemical Co Ltd filed Critical Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority to JP2006316703A priority Critical patent/JP5103878B2/ja
Priority to GB0715038A priority patent/GB2441032B/en
Priority to TW096129162A priority patent/TWI399365B/zh
Priority to US11/889,352 priority patent/US7612217B2/en
Priority to CN2007101400779A priority patent/CN101125824B/zh
Priority to KR1020070082265A priority patent/KR101416006B1/ko
Priority to BE2007/0393A priority patent/BE1017885A5/fr
Publication of JP2008127367A publication Critical patent/JP2008127367A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5103878B2 publication Critical patent/JP5103878B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤の合成中間体として用いられる、新規なスルホニウム化合物に関する。
リソグラフィ技術を用いた半導体の微細加工に用いられる化学増幅型レジスト組成物は、露光により酸を発生する化合物からなる酸発生剤を含有してなる。
最近、トリフェニルスルホニウム 1−アダマンタンメトキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(塩)及びp−トリルジフェニルスルホニウム パーフルオロオクタンスルホネート(塩)を酸発生剤として含有してなる化学増幅型レジスト組成物が提案されているが、さらに高い解像度及び広い露光マージンを示す化学増幅型レジスト組成物を与える酸発生剤が求められており(例えば、特許文献1参照)、それらのカルボニルジフルオロメタンスルホナート型の分子構造をもつ酸発生剤を簡便に合成しうる中間体化合物が求められている。
特開2004−4561号公報
本発明の目的は、カルボニルジフルオロメタンスルホナート型の分子構造をもつ酸発生剤を簡便に製造できる合成中間体となる新規なスルホニウム化合物を提供することにある。
そこで本発明者らは、上記課題を解決するために、カルボニルジフルオロメタンスルホナート型の分子構造をもつ酸発生剤の合成中間体として用いられる化合物について鋭意検討した結果、カルボキシル基を含む特定のスルホニウム化合物が該酸発生剤の合成中間体として好適であり、また該化合物より酸発生剤を簡便な方法で製造できることを見出し、本発明を完成させるに至った。
すなわち本発明は、式(I)で示されるスルホニウム化合物を提供する。
Figure 0005103878
(式(I)中、Q1、Q2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。A+は有機対イオンを表す。)
また本発明は、式(V)で示される塩と式(VI)で示される化合物とを反応させることを特徴とする式(I)で示されるスルホニウム化合物の製造方法を提供する。
Figure 0005103878
(式(V)中、Q1、Q2は前記と同じ意味を表し、Mは、Li、Na、K又はAgを表す。)
Figure 0005103878
(式(VI)中、A+は、前記と同じ意味を表し、LはF、Cl、Br、I、BF4、AsF6、SbF6、PF6又はClO4を表す。)
また本発明は、式(I)で示されるスルホニウム化合物と式(VII)で示される化合物とを反応させることを特徴とする、式(VIII)で示される酸発生剤の製造方法を提供する。
Figure 0005103878
(式(VII)中、Xは炭素数1〜30の置換されていてもよい炭化水素基を表す。)
Figure 0005103878
(式(VIII)中、A+、Q1、Q2およびXは、前記と同じ意味を表す。)
本発明のスルホニウム化合物を酸発生剤の中間体として用いることにより、カルボニルジフルオロメタンスルホナート型の分子構造をもつ酸発生剤を簡便に製造することができ、得られた酸発生剤は、高い解像度及び広い露光マージンを示す化学増幅型レジスト組成物を与えるので、本発明は工業的に極めて有用である。
本発明のスルホニウム化合物は、式(I)で示されることを特徴とする。
Figure 0005103878
(式(I)中、Q1、Q2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。A+は有機対イオンを表す。)
1、Q2としてはそれぞれ独立にフッ素原子または−CF3である場合が好ましい。
式(I)で示されるスルホニウム化合物において、A+は、有機対イオンを表し、具体的には、式(IIa)、式(IIb)、式(IIc)又は式(IId)のいずれかで示されるカチオンからなる群から選ばれる少なくとも1種のカチオンが挙げられる。
ここで、式(IIa)は、下記式である。
Figure 0005103878
式(IIa)中、P1〜P3は、互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜30のアルキル基又は炭素数3〜30の環式炭化水素基を表す。P1〜P3がアルキル基である場合には水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P1〜P3が環式炭化水素基である場合には水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。
該アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基などが挙げられ、アルコキシ基の例としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ヘキシルオキシ基、オクチルオキシ基、2−エチルヘキシルオキシ基などが挙げられる。
該環式炭化水素基の具体例としては、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基、フェニル基、ナフチル基、フルオレニル基などが挙げられる。
式(IIb)は、下記式である。
Figure 0005103878
式(IIb)中、P4、P5は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表し、該アルキル基及び該アルコキシ基は、直鎖でも分岐していてもよい。該アルキル基及び該アルコキシ基は、式(IIa)のアルキル基及びアルコキシ基と同じ意味を表す。
式(IIc)は、下記式である。
Figure 0005103878
式(IIc)中、P6、P7は、互いに独立に、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数3〜12のシクロアルキル基を表し、該アルキル基は、直鎖でも分岐していてもよい。該アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基などが挙げられる。該シクロアルキル基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロデシル基などが挙げられる。また、P6とP7とが結合してアルキレン基などの炭素数3〜12の2価の炭化水素基を表していてもよい。P8が水素原子を表し、P9が炭素数1〜12のアルキル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基もしくは置換されていてもよい芳香環基を表すか、またはP8とP9が結合して炭素数3〜12の2価の炭化水素基を表す。P9がアルキル基の場合、該アルキル基は、直鎖でも分岐していてもよい。該アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基などが挙げられる。P9がシクロアルキル基の場合、該シクロアルキル基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロデシル基などが挙げられる。ここで、2価の炭化水素基に含まれる炭素原子は、任意に、カルボニル基、酸素原子、硫黄原子に置換されていてもよい。
式(IId)は、下記式である。
Figure 0005103878
式(IId)中、P10〜P21は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表し、該アルキル基及び該アルコキシ基は、直鎖でも分岐していてもよい。Bは、硫黄原子又は酸素原子を表す。kは、0又は1を表す。
式(IIa)で示されるカチオンA+の具体例としては、下記式で示されるカチオンが挙げられる。
Figure 0005103878

Figure 0005103878
Figure 0005103878
式(IIb)で示されるカチオンA+の具体例としては、下記式で示されるカチオンが挙げられる。
Figure 0005103878
式(IIc)で示されるカチオンA+の具体例としては、下記式で示されるカチオンが挙げられる。
Figure 0005103878
Figure 0005103878
Figure 0005103878
式(IId)で示されるカチオンA+の具体例としては、下記式で示されるカチオンが挙げられる。
Figure 0005103878
Figure 0005103878
Figure 0005103878
+としては、式(IIIa)、式(IIIb)または式(IIIc)で示されるカチオンである場合が好ましい。
Figure 0005103878
式(IIIa)〜(IIIc)中、P22〜P24は互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜20のアルキル基、又はフェニル基以外の炭素数3〜30の環式炭化水素基を表す。P22〜P24がアルキル基である場合には水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P22〜P24が環式炭化水素基である場合には水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。式中のP25〜P30は、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、m、n、o、p、qは、互いに独立に0〜5の整数を表す。
式(I)で示されるスルホニウム化合物としては、中でも式(IV)で示されるスルホニウム化合物が優れた中間体となることから好ましい。
Figure 0005103878

式(IV)中のP25〜P27は、互いに独立に、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、mおよびnは、互いに独立に0〜5の整数を表す。
式(I)で示されるスルホニウム化合物の製造方法としては、例えば、式(V)で示される塩と式(VI)で示される化合物とを反応させることにより製造することができる。

Figure 0005103878
(式(V)中、Q1、Q2は前記と同じ意味を表し、Mは、Li、Na、K又はAgを表す。)
Figure 0005103878
(式(VI)中、A+は、前記と同じ意味を表し、LはF、Cl、Br、I、BF4、AsF6、SbF6、PF6又はClO4を表す。)
反応においては、例えば、水、アセトニトリル、クロロホルム、塩化メチレン等の不活性溶媒中、0℃〜100℃程度の温度範囲、好ましくは0℃〜60℃程度の温度範囲にて攪拌して式(V)で示される塩と式(VI)で示される化合物とを反応させる方法などが挙げられる。
式(VI)で示される化合物の使用量としては、通常、式(V)で示される塩1モルに対して、0.5〜2モル程度である。式(I)で示されるスルホニウム化合物は、結晶で取り出してもよいし、溶媒に溶解させたままでもよい。
このようにして得られた式(I)で示されるスルホニウム化合物と、式(VII)で示される化合物とを反応させることにより、
Figure 0005103878
(式(VII)中、Xは炭素数1〜30の置換されていてもよい炭化水素基を表す。)
式(VIII)で示される酸発生剤を製造することができる。
Figure 0005103878
(式(VIII)中、A+、Q1、Q2およびXは、前記と同じ意味を表す。)
前記エステル化反応は、例えば、クロロホルム、塩化メチレン、ジクロロエタン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、モノクロロベンゼン、アセトニトリル、N,N−ジメチルホルムアミド等の非プロトン性溶媒中にて、20℃〜200℃程度の温度範囲、好ましくは、50℃〜150℃程度の温度範囲で攪拌して行えばよい。エステル化反応においては、酸触媒としてp−トルエンスルホン酸などの有機酸及び/又は硫酸等の無機酸を添加して行ってもよいし、あるいは脱水剤として1,1’−カルボニルジイミダゾール、N,N’−ジシクロヘキシルカルボジイミド等を添加して行ってもよい。
酸触媒を用いたエステル化反応は、ディーンスターク装置を用いるなどして、水を分離しながら実施すると、反応時間が短縮化される傾向があることから好ましく、さらに脱水剤としてモレキュラーシーブス、塩化カルシウム等を使用してもよい。
エステル化反応における式(I)で示されるスルホニウム化合物(同時にカルボン酸でもある。)の使用量としては、式(VII)で示されるアルコール1モルに対して、0.2〜3モル程度、好ましくは0.5〜2モル程度である。エステル化反応における酸触媒は式(VII)で示されるアルコール1モルに対して、触媒量でも溶媒に相当する量でもよく、通常、0.001モル程度〜5モル程度である。エステル化反応における脱水剤は式(VII)で示されるアルコール1モルに対して、0.2〜5モル程度、好ましくは0.5〜3モル程度である。
前記反応における式(VII)で示されるアルコールの使用量としては、式(VI)で示される化合物1モルに対して、0.2〜3モル程度、好ましくは0.5〜2モル程度である。
Xが含む炭素数が1〜30の炭化水素は、直鎖または分岐のアルキル基、単環または多環式炭化水素でもよく、二重結合を含んでいても芳香環でもよい。Xが含む炭素数が1〜30の環式炭化水素としては、シクロペンタン骨格、シクロヘキサン骨格、アダマンタン骨格、ノルボルナン骨格、ベンゼン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、フェナントレン骨格、フルオレン骨格を含むものが挙げられる。
Xに含まれる炭素原子は酸素原子により置換されていてもよく、カルボニル基を形成していてもよく、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜4のペルフルオロアルキル基、炭素数1〜6のヒドロキシアルキル基、水酸基またはシアノ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。
Xの具体例としては、下記式で示される基が挙げられる。
Figure 0005103878
Figure 0005103878
次に実施例を挙げて、本発明をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例によってなんら限定されるものではない。
実施例および比較例中、含有量ないし使用量を表す%及び部は、特記ないかぎり重量基準である。また、化合物の構造はNMR(日本電子製EX−270型)、質量分析(LCはAgilent製1100型、MASSはAgilent製LC/MSD型またはLC/MSD TOF型)で確認した。
合成例1:トリフェニルスルホニウム ヒドロキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(B1)の合成
14.2%トリフェニルスルホニウム クロライド水溶液573.7部に18.0%ジフルオロスルホ酢酸 ナトリウム塩水溶液300.0部を加えて25℃で約20時間攪拌した。析出した白色固体をろ別、イオン交換水100部で洗浄した後、乾燥してトリフェニルスルホニウム ヒドロキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(B1)を88.4部得た。
Figure 0005103878
1H−NMR(ジメチルスルホキシド−d6、内部標準物質テトラメチルシラン):δ(ppm)7.77−7.88(m,15H);13.90(br,1H)
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.2(C1815+=263.09)
MS(ESI(−)Spectrum):M− 175.0(C2HF25-=174.95)
酸発生剤合成例1:トリフェニルスルホニウム メトキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(酸発生剤B2)の合成
還流液の脱水が可能なように、還流ラインにモレキュラーシーブス3Aの充填塔を備えた反応容器にトリフェニルスルホニウム ヒドロキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート250.0部をメタノール750.0部に溶解した。硫酸5.56部を加えて還流するまで昇温し、還流下で12時間反応した。溶媒のメタノールを留去した後、クロロホルム854.4部およびイオン交換水213.6部を加えて攪拌後分液した。さらにクロロホルム層をイオン交換水213.6部で中性となるまで水洗を繰り返した。得られたクロロホルム層をろ過、濃縮し、さらにアセトニトリル160.8部を加えて濃縮した後、tert−ブチルメチルエーテル655.6部を加えて攪拌した。析出した白色固体をろ別、乾燥してトリフェニルスルホニウム メトキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(B2)を225.0部得た。
Figure 0005103878
1H−NMR(ジメチルスルホキシド−d6、内部標準物質テトラメチルシラン):δ(ppm)3.76(s,3H);7.75−7.90(m,15H)
酸発生剤合成例2:トリフェニルスルホニウム 4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(酸発生剤B3)の合成
還流液の脱水が可能なように、還流ラインにモレキュラーシーブス3Aの充填塔を備えた反応容器にトリフェニルスルホニウム ヒドロキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート18.3部、5−ヒドロキシ−2−アダマンタノン6.9部およびモノクロルベンゼン120.0部を仕込み攪拌した。そこへ硫酸0.8部を加えて還流するまで昇温し、還流下で15時間反応した。冷却後クロロホルム100.0部およびイオン交換水50部を加えて攪拌後分液した。クロロホルム層をイオン交換水50部で水洗を繰り返した。得られたクロロホルム層を濃縮し、さらにアセトニトリル60部を加えて濃縮した後、酢酸エチル170部を加えて攪拌した。析出した白色固体をろ別、酢酸エチル20部で洗浄後、乾燥してトリフェニルスルホニウム 4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(B3)を17.8部得た。
Figure 0005103878
1H−NMR(ジメチルスルホキシド−d6、内部標準物質テトラメチルシラン):δ(ppm)1.83(d,2H,J=12.7Hz);2.00(d,2H,J=12.0Hz);2.29−2.32(m,7H);2.53(s,2H);7.75−7.91(m,15H)
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.2(C1815+=263.09)
MS(ESI(−)Spectrum):M− 323.0(C121326-=323.04)
本発明のスルホニウム化合物は、化学増幅型ポジ型レジスト組成物用の酸発生剤の合成中間体として好適に用いられ、本発明のスルホニウム化合物を中間体として製造された酸発生剤は、中でも、ArFやKrFなどのエキシマレーザーリソグラフィならびにArF液浸露光リソグラフィに好適な化学増幅型ポジ型レジスト組成物用の酸発生剤となる。

Claims (7)

  1. 式(I)で示されることを特徴とする
    Figure 0005103878
    (式(I)中、Q1、Q2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。A+は有機対イオンを表す。)
  2. 1、Q2がそれぞれ独立にフッ素原子または−CF3である請求項1に記載の
  3. +が、式(IIa)、式(IIb)、式(IIc)又は式(IId)のいずれかで示されるカチオンからなる群から選ばれる少なくとも1種のカチオンである請求項1又は2に記載の
    Figure 0005103878
    (式(IIa)中、P1〜P3は、互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜30のアルキル基又は炭素数3〜30の環式炭化水素基を表す。P1〜P3がアルキル基である場合には水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P1〜P3が環式炭化水素基である場合には水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。該アルキル基及び該アルコキシ基は、直鎖でも分岐していてもよい。)
    Figure 0005103878
    (式(IIb)中、P4、P5は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表し、該アルキル基及び該アルコキシ基は、直鎖でも分岐していてもよい。)
    Figure 0005103878
    (式(IIc)中、P6、P7は、互いに独立に、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数3〜12のシクロアルキル基を表し、該アルキル基は、直鎖でも分岐していてもよい。又はP6とP7とが結合して炭素数3〜12の2価の炭化水素基を表す。P8は水素原子を表し、P9は炭素数1〜12のアルキル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基もしくは置換されていてもよい芳香環基を表すか、又はP8とP9が結合して炭素数3〜12の2価の炭化水素基を表す。ここで、2価の炭化水素基に含まれる炭素原子は、任意に、カルボニル基、酸素原子又は硫黄原子に置換されていてもよい。)
    Figure 0005103878
    (式(IId)中、P10〜P21は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表し、該アルキル基及び該アルコキシ基は、直鎖でも分岐していてもよい。Bは、硫黄原子又は酸素原子を表す。kは、0又は1を表す。)
  4. +が、式(IIIa)、式(IIIb)または式(IIIc)のいずれかで示されるカチオンである請求項1〜3のいずれかに記載の塩。
    Figure 0005103878
    (式(IIIa)〜(IIIc)中、P22〜P24は互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜20のアルキル基、又はフェニル基以外の炭素数3〜30の環式炭化水素基を表す。P22〜P24がアルキル基である場合には水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P22〜P24が環式炭化水素基である場合には水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。式中のP25〜P30は、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、m、n、o、p、qは、互いに独立に0〜5の整数を表す。)
  5. 式(I)で示されるが式(IV)で示される塩である請求項1〜4のいずれかに記載の塩。
    Figure 0005103878
    (式(IV)中のP25〜P27は、互いに独立に、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、m、nは、互いに独立に0〜5の整数を表す。)
  6. 式(V)で示される塩と式(VI)で示される化合物とを反応させることを特徴とする式(I)で示されるの製造方法。
    Figure 0005103878
    (式(V)中、Q1、Q2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Mは、Li、Na、K又はAgを表す。)
    Figure 0005103878
    (式(VI)中、A+は、有機対イオンを表し、LはF、Cl、Br、I、BF4、AsF6、SbF6、PF6又はClO4を表す。)
    Figure 0005103878
    (式(I)中、Q1、Q2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。A+は有機対イオンを表す。)
  7. 式(I)で示されると式(VII)で示される化合物とを反応させることを特徴とする式(VIII)で示される酸発生剤の製造方法。
    Figure 0005103878
    (式(VII)中、Xは炭素数1〜30の置換されていてもよい炭化水素基を表す。)
    Figure 0005103878
    (式(VIII)中、A+は有機対イオンを表す。Q1及びQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。Xは炭素数1〜30の置換されていてもよい炭化水素基をを表す。)
    Figure 0005103878
    (式(I)中、Q1、Q2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。A+は有機対イオンを表す。)
JP2006316703A 2006-08-18 2006-11-24 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤製造用スルホニウム化合物 Active JP5103878B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006316703A JP5103878B2 (ja) 2006-11-24 2006-11-24 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤製造用スルホニウム化合物
GB0715038A GB2441032B (en) 2006-08-18 2007-08-02 Salts of perfluorinated sulfoacetic acids
TW096129162A TWI399365B (zh) 2006-08-18 2007-08-08 化合物
US11/889,352 US7612217B2 (en) 2006-08-18 2007-08-10 Sulfonium compound
CN2007101400779A CN101125824B (zh) 2006-08-18 2007-08-14 锍化合物
KR1020070082265A KR101416006B1 (ko) 2006-08-18 2007-08-16 설포늄 화합물
BE2007/0393A BE1017885A5 (fr) 2006-08-18 2007-08-16 Compose de sulfonium.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006316703A JP5103878B2 (ja) 2006-11-24 2006-11-24 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤製造用スルホニウム化合物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008127367A JP2008127367A (ja) 2008-06-05
JP5103878B2 true JP5103878B2 (ja) 2012-12-19

Family

ID=39553560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006316703A Active JP5103878B2 (ja) 2006-08-18 2006-11-24 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤製造用スルホニウム化合物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5103878B2 (ja)

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5033471B2 (ja) * 2007-05-09 2012-09-26 住友化学株式会社 有機化合物の結晶およびその製造方法
JP2010222327A (ja) * 2009-03-25 2010-10-07 Sumitomo Chemical Co Ltd 塩の製造方法
KR101777260B1 (ko) * 2009-06-12 2017-09-26 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 염 및 이를 함유하는 포토레지스트 조성물
TWI513678B (zh) 2010-06-29 2015-12-21 Sumitomo Chemical Co 鹽、酸產生劑及光阻組成物
US9063414B2 (en) 2010-07-28 2015-06-23 Sumitomo Chemical Company, Limited Photoresist composition
JP5879834B2 (ja) 2010-11-15 2016-03-08 住友化学株式会社 塩、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5947053B2 (ja) 2011-02-25 2016-07-06 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6034026B2 (ja) 2011-02-25 2016-11-30 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6022788B2 (ja) 2011-04-07 2016-11-09 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6005964B2 (ja) 2011-04-07 2016-10-12 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5934536B2 (ja) 2011-04-07 2016-06-15 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5852490B2 (ja) 2011-04-07 2016-02-03 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6011082B2 (ja) * 2011-07-14 2016-10-19 住友化学株式会社 塩及びレジスト組成物
JP5977593B2 (ja) 2011-07-19 2016-08-24 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6189020B2 (ja) 2011-07-19 2017-08-30 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5996944B2 (ja) 2011-07-19 2016-09-21 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6130631B2 (ja) 2011-07-19 2017-05-17 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5990041B2 (ja) 2011-07-19 2016-09-07 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6013799B2 (ja) 2011-07-19 2016-10-25 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6130630B2 (ja) 2011-07-19 2017-05-17 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5977595B2 (ja) 2011-07-19 2016-08-24 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5985898B2 (ja) 2011-07-19 2016-09-06 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6013797B2 (ja) 2011-07-19 2016-10-25 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5912912B2 (ja) 2011-07-19 2016-04-27 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5886696B2 (ja) 2011-07-19 2016-03-16 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6013798B2 (ja) 2011-07-19 2016-10-25 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP5439441B2 (ja) * 2011-07-20 2014-03-12 富士フイルム株式会社 感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、これを用いた感活性光線性又は感放射線性膜、及び、パターン形成方法
JP6585477B2 (ja) 2014-11-26 2019-10-02 住友化学株式会社 塩、樹脂、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP6637740B2 (ja) 2014-11-28 2020-01-29 住友化学株式会社 レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP7269093B2 (ja) 2018-05-29 2023-05-08 住友化学株式会社 塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP2020029451A (ja) 2018-08-17 2020-02-27 住友化学株式会社 塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP2022075556A (ja) 2020-11-06 2022-05-18 住友化学株式会社 塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
JP2022077982A (ja) 2020-11-12 2022-05-24 住友化学株式会社 塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004004561A (ja) * 2002-02-19 2004-01-08 Sumitomo Chem Co Ltd ポジ型レジスト組成物

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008127367A (ja) 2008-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5103878B2 (ja) 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤製造用スルホニウム化合物
KR101416006B1 (ko) 설포늄 화합물
CN101125824A (zh) 锍化合物
JP2008063314A (ja) 環境調和型超原子価ヨウ素試剤
JP2002275169A (ja) エポキシ化合物の製造方法
JP5728916B2 (ja) スルホンアミドオニウム塩の製造方法
JP7052612B2 (ja) (メタ)アクリル酸エステルおよびその製造方法
JP5502401B2 (ja) 化合物及びその製造方法並びに該化合物を含むレジスト組成物
CN102030687B (zh) 制备锍盐的方法及由此方法制备的锍盐
JP2022061763A (ja) 新規なポリチオール化合物
JP2003146979A (ja) ラクトン類の製造方法
US6509481B2 (en) Tetrahydrofuran compounds having alicyclic structure
JP4275456B2 (ja) アダマンタン誘導体及びその製造方法
JP2004210745A (ja) (メタ)アクリル酸エステルの製造方法
JP7124541B2 (ja) (メタ)アクリル酸エステル、および(メタ)アクリル酸エステルの製造方法
JP7000279B2 (ja) 1,3-ビス(4-メチルベンゾイルオキシ)ベンゼン及びその製造方法
JP7007999B2 (ja) ジエステル化合物およびその製造方法
JP5564966B2 (ja) 塩の製造方法
JP4271461B2 (ja) ハロゲノアセトキシアダマンタン誘導体及びその製造方法
CN115947657A (zh) 一种含氟光刻胶树脂单体及其制备方法
JP2009256306A (ja) 重合性不飽和基を有するアダマンタン誘導体とその製造法
JP2001199920A (ja) ビスシクロヘキシルアルカン類とその製造方法
JPH01233259A (ja) 極性基を有するアリールオキシアレン化合物ならびにその製法
JP4548557B2 (ja) 脂環式ビニルエーテル化合物及びその製造方法
JP4093433B2 (ja) シクロヘキシルチオ化合物及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20080516

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091002

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120410

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120410

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120510

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120703

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120719

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120904

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120917

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5103878

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151012

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350