JP5083950B2 - TiCl4製造方法 - Google Patents

TiCl4製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5083950B2
JP5083950B2 JP2007174346A JP2007174346A JP5083950B2 JP 5083950 B2 JP5083950 B2 JP 5083950B2 JP 2007174346 A JP2007174346 A JP 2007174346A JP 2007174346 A JP2007174346 A JP 2007174346A JP 5083950 B2 JP5083950 B2 JP 5083950B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ticl
ticl4
rectification
adsorption
adsorbent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007174346A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009012993A (ja
Inventor
勝行 山崎
美則 博多
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Osaka Titanium Technologies Co Ltd
Original Assignee
Osaka Titanium Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Osaka Titanium Technologies Co Ltd filed Critical Osaka Titanium Technologies Co Ltd
Priority to JP2007174346A priority Critical patent/JP5083950B2/ja
Publication of JP2009012993A publication Critical patent/JP2009012993A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5083950B2 publication Critical patent/JP5083950B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Catalysts (AREA)

Description

本発明は、触媒材料、顔料製造材料等に適したTiCl4 の製造方法に関する。
金属Tiの製造原料であるTiCl4 は、通常、流動層反応による塩化法により製造した粗TiCl4 ガスから製造される。より詳しくは、流動層反応による塩化法により得られた粗TiCl4 ガスを、冷却液化した後、精留工程で精留処理して、粗TiCl4 液中の不純物を減じることにより、精留TiCl4 を得る。精留工程では、多段式蒸留塔や充填塔によってTiCl4 液中の不純物を除去することにより、純度が高められる。
金属Tiの主用途は展伸材であるが、展伸材の他にも最近では半導体装置配線用材料としても使用されている。半導体装置配線用金属Tiの製造には、更に高い純度のTiCl4 が必要とされる。このため、この高純度TiCl4 は、精留工程で処理した後の精留TiCl4 を、再度精留工程により精留処理することにより製造される(特許文献1)。以下に説明では、1回目の精留工程を一次精留工程と使用し、2回目の精留工程を二次精留工程と称する。
特許第3672492号公報
ところで、TiCl4 は、金属Tiの製造原料だけでなく、高分子反応の触媒材料や顔料製造材料としても使用されている。触媒材料や顔料製造材料用のTiCl4 に要求されるスペックは、基本的に展伸材製造用TiCl4 に要求されるスペックと同じであるが、唯一、V(バナジウム)濃度だけが要求スペックに達しない。これは、V塩化物の沸点がTiCl4 の沸点に近く、精留法ではV濃度が十分に低下しないためである。
TiCl4 中のVを低減する方法としては、一次精留工程の前の粗TiCl4 にアスファルト等の添加剤を加える方法が特許文献2により提示されている。この方法では、精留前の粗TiCl4 中のV塩化物を、沸点がTiCl4 から離れた塩化物に変成させて一次精留を行うことにより、粗TiCl4 中のV塩化物を除去する。しかしながら、この方法は、添加剤の使用により、一方で粗TiCl4 中の不純物量を増加させることになるため、効率的な方法とは言えない。また、Vの低減効果も十分とは言えない。更に、添加剤によっては、健康面への問題等も危惧される。これらのために、この方法は、触媒材料用や顔料製造材料用のTiCl4 の製造には好ましくない。
特公昭47−23792号公報
このような事情のため、触媒材料用や顔料製造材料用のTiCl4 には、二次精留まで行った半導体装置配線材料用の高純度TiCl4 が転用されている。しかし、二次精留TiCl4 は、2回の精留工程を経由するため、多大のエネルギーコストを必要とし、非常に高価である。半導体装置配線材料用の場合は、全ての不純物濃度を低く抑える必要があるために、そのコストアップは致し方ないものであるが、触媒材料用や顔料製造材料用の場合、品質はV濃度以外は必要以上に不純物が低減されたオーバースペックとなり、対効果を考えた場合、その所要コストは不当に高いものとなる。
このようなことから、V濃度の低いTiCl4 、特に、触媒材料や顔料製造材料に要求されるレベルに、V濃度を含む全不純物濃度がバランスよく低減された低コストのTiCl4 の製造方法の開発が待たれている。
本発明の目的は、V濃度を含む全不純物濃度を、触媒材料や顔料製造材料の要求レベルまで、バランスよく、しかも経済的に低減できるTiCl4 製造方法を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明者らは各種ガス、液体の不純物除去に使用されている吸着処理に着目し、TiCl4 の精留における吸着剤の効能、種類、使用法等について詳細に調査した。その結果、以下の事実が判明した。
一次精留処理を終えた一次精留TiCl4 、特にガス状の一次精留TiCl4 に、活性炭による吸着処理を行うと、一次精留TiCl4 中の不純物のうちのVが選択的かつ効率的に除去され、その結果、Vを含む全不純物の濃度が、触媒材料や顔料製造材料の要求濃度に、バランスよく低減されたTiCl4 が、1回の精留工程により得られる。吸着処理は、精留処理と比べてエネルギーを要せず、設備も簡単なので、そのコストは非常に低い。
吸着処理後のTiCl4 を二次精留工程にて精留処理すれば、従来の半導体装置配線材料用TiCl4 よりも更に高品質の二次精留TiCl4 が、従来と殆ど変わらないコストで得られる。
吸着剤としては、一般的な椰子殻活性炭を使用したところ、その寿命は意外に短かった。吸着処理は精留処理より格段に安価とは言え、吸着剤の頻繁な交換はその経済性を阻害する。そこで、当該用途における活性炭の種類と寿命との関係について調査した。その結果、寿命延長に適正な比表面積の範囲が存在することが判明した。
本発明のTiCl4 製造方法は、かかる知見に基づいてなされたものであり、流動層反応による塩化工程で生成された粗TiCl4 を、精留工程で処理した後にガス状で吸着工程へ導入して処理するものである。
本発明のTiCl4 製造方法においては、精留工程で処理されたTiCl4 がガス状で吸着処理されることにより、TiCl4 中のVが選択的かつ効果的に除去される。その結果、触媒材料や顔料製造材料に適した精留TiCl4 が従来より格段に低コストで製造される。
吸着工程で処理した後の精留TiCl4 を、再度精留工程で処理すれば、従来の半導体装置配線材料用TiCl4 よりも更に高品質の二次精留TiCl4 が、従来と殆ど変わらないコストで得られる。
吸着工程においては、十分な吸着作用を得るためには、ガス状のTiCl4 を吸着工程へ導入する。そのため、一次精留工程における蒸留塔や充填塔からTiCl4 をガス状で抜き取って吸着工程の吸着剤に直接的に接触させるのがよく、エネルギー面からも合理的な方法である。
吸着工程で使用する吸着剤に関しては、寿命延長効果の点から比表面積が重要であり、その比表面積は大きいほどよい。具体的には、吸着剤の比表面積は900m2 /g以上が好ましい。ただし、比表面積の大きい吸着剤は製造コストが増大する。この点を考慮して、その比表面積は1100〜1600m2 /gが更に好ましく、1300〜1450m2 /gが特に好ましい。
本発明のTiCl4 製造方法は、精留工程と吸着工程との組合せにより、TiCl4 中のV濃度を経済的、効率的に低減でき、高品質な触媒材料用TiCl4 や顔料製造材料用TiCl4 を従来の二次精留TiCl4 と比べて格段に低コストで製造できる。
以下に本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は本発明の一実施形態を示すTiCl4 製造設備の概略構成図である。
本実施形態で使用されるTiCl4 製造設備は、多段式蒸留塔1と、これに配管2により連結された吸着剤槽3とを備えている。流動層反応による塩化法で製造された粗TiCl4 は、図示されない凝縮器で冷却液化された後、多段式蒸留塔1に導入される。多段式蒸留塔1では、導入された粗TiCl4 液が加熱され、沸点の違いを利用してTiCl4 中の不純物が除去される。
多段式蒸留塔1で一次精留処理を受けた一次精留TiCl4 は、ガス状態で多段式蒸留塔1から導出され、ガス状態のまま、斜め上方に傾斜した配管2を通して吸着剤槽3に導入される。配管2により多段式蒸留塔1に直結された吸着剤槽3は、活性炭等の吸着剤が充填されており、当該槽内を下から上へ通過する一次精留TiCl4 ガスから主にV塩化物を吸着除去する。吸着剤槽3から排出される吸着処理TiCl4 ガスは、図示されない凝縮器により液化される。
こうして製造されたTiCl4 液は、触媒材料や顔料製造材料に使用される。その品質は、V濃度を含む全不純物濃度が触媒材料や顔料製造材料の要求レベルを満たするものである。製造コストは、一次精留品と大差なく、従来の二次精留品を使用していた場合と比べて、大幅なコスト低減が可能となる。
製造されたTiCl4 液は、展伸材用材料としても使用できる。従来の同種材料と比べてV濃度が低く、高品質である。製造された吸着処理TiCl4 をガス状のまま、或いは液化、ガス化後に二次精留工程に送って再度、多段式蒸留塔1で二次精留処理すれば、半導体装置配線用材料が製造される。この半導体向け二次精留TiCl4 は、従来のものと比べてV濃度が低く高品質であり、経済性については吸着処理に伴うコストが加わるだけであるので、すこぶる良好である。
吸着処理でVが選択的に除去される理由は、現段階では不明である。
図1に示すTiCl4 製造設備において、吸着剤槽3内に収容する吸着剤の種類を種々変更して、その比表面積、V除去効果及び寿命を調査した。結果を表1に示す。
一次精留TiCl4 に対して、吸着剤による吸着処理を行わない場合は、そのTiCl4 中のV濃度が許容値を超え、触媒材料や顔料製造材料としての使用は不可である(従来例)。一次精留TiCl4 に吸着剤による吸着処理を行うことにより、そのTiCl4 中のV濃度が許容値を下回り、触媒材料や顔料製造材料としての使用が可能となる(実施例1〜8)。
吸着剤としては、木炭の使用も可能であるが、その使用寿命は短い(実施例1)。これに比べて、活性炭の使用寿命は長い。ただし、比表面積が1000m2 /g程度の活性炭だと、寿命延長効果は少ない。使用寿命を延長し、交換頻度を小さくするためには、比表面積を大きくする必要がある。(実施例2〜8)。
ただし、同じ比表面積でも、石炭系活性炭より椰子殻活性炭の方が長寿命である(実施例2〜5)。椰子殻活性炭は比表面積を相当に大きくでき、これに応じて寿命を延長できるが、比表面積の増大に応じてコスト高となり、極端に大きい比表面積は、寿命延長効果を相殺し、逆に経済性を低下させる(実施例6〜8)。
本発明の一実施形態を示すTiCl4 製造設備の概略構成図である。
符号の説明
1 多段式蒸留塔
2 配管
3 吸着剤槽

Claims (5)

  1. 流動層反応による塩化工程で生成された粗TiCl4 を、精留工程で処理した後にガス状で吸着工程へ導入して処理することを特徴とするTiCl4 製造方法。
  2. 請求項1に記載のTiCl4 製造方法において、前記精留工程からガス状で導出されたTiCl4 を、ガス状のまま前記吸着工程へ導入するTiCl4 製造方法。
  3. 請求項1又は2に記載のTiCl4 製造方法において、前記吸着工程で処理した後の精留TiCl4 を、再度精留工程で処理するTiCl4 製造方法。
  4. 請求項1〜3の何れかに記載のTiCl4 製造方法において、吸着工程で使用する吸着剤の比表面積が900m2 /g以上であるTiCl4 製造方法。
  5. 請求項に記載のTiCl4 製造方法において、吸着剤は比表面積が1100〜1600m2 /gの活性炭であるTiCl4 製造方法。
JP2007174346A 2007-07-02 2007-07-02 TiCl4製造方法 Active JP5083950B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007174346A JP5083950B2 (ja) 2007-07-02 2007-07-02 TiCl4製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007174346A JP5083950B2 (ja) 2007-07-02 2007-07-02 TiCl4製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009012993A JP2009012993A (ja) 2009-01-22
JP5083950B2 true JP5083950B2 (ja) 2012-11-28

Family

ID=40354350

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007174346A Active JP5083950B2 (ja) 2007-07-02 2007-07-02 TiCl4製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5083950B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130280149A1 (en) * 2012-04-20 2013-10-24 Cristal Usa Inc. Purification of Titanium Tetrachloride
CN103818952B (zh) * 2014-03-03 2015-07-08 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 除去粗四氯化钛中钒杂质的方法及精制粗四氯化钛的方法
CN103936062B (zh) * 2014-04-21 2015-04-15 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 一种有机物除钒精制塔及粗四氯化钛有机物除钒的方法
KR102178384B1 (ko) * 2019-01-29 2020-11-12 호서대학교 산학협력단 2단 증류탑을 이용한 사염화 티타늄(TiCl4) 정제증류장치
JP7261701B2 (ja) * 2019-08-29 2023-04-20 東邦チタニウム株式会社 使用後活性炭の処理方法、及び四塩化チタンの製造方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57197023A (en) * 1981-05-28 1982-12-03 Toho Titanium Co Ltd Treatment of waste gas from chlorinating furnace
JPH09286618A (ja) * 1996-04-23 1997-11-04 Ishihara Sangyo Kaisha Ltd 四塩化チタンの精製方法
JP3672492B2 (ja) * 2000-12-20 2005-07-20 住友チタニウム株式会社 TiCl4の精製方法
US20060051267A1 (en) * 2003-01-09 2006-03-09 Cronin James T Purification of titanium tetrachloride
JP2007223877A (ja) * 2006-02-27 2007-09-06 Showa Denko Kk 高純度四塩化チタンの製造方法およびそれから得られうる高純度四塩化チタン

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009012993A (ja) 2009-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5083950B2 (ja) TiCl4製造方法
CN107848796B (zh) 氢气回收系统及氢气的分离回收方法
EP1912720B1 (en) Process for removing carbon and/or phosphorus impurities from a silicon production facility
CN102249187B (zh) 多晶硅尾气处理回收纯氢和液态hcl的系统及其工艺
CN108534463B (zh) 多晶硅还原尾气深度净化方法及系统
CN105531229B (zh) 多晶硅的制造方法
JP5824318B2 (ja) 圧力スイング吸着処理による精製水素ガスの製造装置および方法
JP5374783B2 (ja) 塩酸の精製方法
CN102145251A (zh) 氯化石蜡生产过程中的脱氯装置及工艺
EP1867604B1 (en) Method for purification of disilicon hexachloride and high purity disilicon hexachloride
JP5344114B2 (ja) 水素精製回収方法および水素精製回収設備
CN104030293A (zh) 一种四氯化硅提纯工艺及系统
CN215101986U (zh) 一种高纯电子级氯气纯化生产装置
CN113321184B (zh) 一种高纯电子级氯气纯化生产装置及其工艺
JP5344113B2 (ja) 水素分離回収方法および水素分離回収設備
CN109833638A (zh) 一种精馏法制备高纯气体的方法和系统
JP3756018B2 (ja) 多結晶シリコン製造プロセスでの排ガス処理方法
CN106044710A (zh) 一种电子级氯化氢的提纯方法
CN111004088A (zh) 一种纯化八氟环丁烷气体的方法和装置
JP2017508712A (ja) アンモニアを精製するためのシステム及び方法
CN204022481U (zh) 一种四氯化硅提纯系统
JPH06345410A (ja) 高純度塩酸の製造方法
CN116715242B (zh) 一种还原工艺用氢气中碳杂质含量控制方法及系统
JP5232059B2 (ja) 排水の回収方法および排水の回収装置
TWI457285B (zh) Method for producing high purity chlorine

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100318

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120302

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120831

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120831

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5083950

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150914

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250