JP5077542B2 - 電子部品パッケージの位置調整ユニット - Google Patents
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Description
前記高密度電極用ソケットの嵌合凹部に嵌合された前記電子部品パッケージを前記嵌合凹部の底面に向けて押圧するプレス手段と、
前記嵌合凹部の底面の四つのコーナーのうち少なくとも三つのコーナーに配備されたニードル状コンタクトと当該ニードル状コンタクトの各々に対応する電極との導通状態を確認するための導通検出器と、
前記可動枠を前記ベース部材の表面に沿って縦横に移動させる可動枠送り手段と、
前記プレス手段および可動枠送り手段を駆動制御する制御部とを備え、
前記制御部には、
前記プレス手段を駆動制御して前記電子部品パッケージを前記嵌合凹部の底面に向けて予圧する予圧制御手段と、
前記導通検出器からの検出信号を確認しながら前記可動枠送り手段を駆動制御して前記可動枠を前記ベース部材の表面に沿って前記ニードル状コンタクトの第一の並び方向に移動させ、導通状態の確認対象とされているニードル状コンタクトと電極との組み合わせにおいて、全ての組み合わせで導通状態が確認され、かつ、導通状態が最適となるときの第一の並び方向における可動枠の位置を求める第一位置成分特定手段と、
前記導通検出器からの検出信号を確認しながら前記可動枠送り手段を駆動制御して前記可動枠を前記ベース部材の表面に沿って前記第一の並び方向と交差する第二の並び方向に移動させ、導通状態の確認対象とされているニードル状コンタクトと電極との組み合わせにおいて、全ての組み合わせで導通状態が確認され、かつ、導通状態が最適となるときの第二の並び方向における可動枠の位置を求める第二位置成分特定手段と、
前記可動枠送り手段を駆動制御し、前記第一位置成分特定手段および第二位置成分特定手段によって特定された位置に可動枠を位置決めする可動枠位置決め手段と、
前記可動枠位置決め手段による可動枠の位置決め制御完了後に前記プレス手段を駆動制御して前記電子部品パッケージを前記嵌合凹部の底面に向けてパッケージ取付荷重で加圧することで当該電子部品パッケージを前記可動枠に圧入する圧入制御手段とが設けられていることを特徴とした構成を有する。
例えば、設計上では図1に示されるようにLGA102の外形からAの距離に最初の電極105が配置されるようになっているにも関わらず、実際にはLGA102の外形からA’の距離に最初の電極105が配置されており、加工上の公差や誤差その他のイレギュラーを考慮してもLGA102の外形からA’の距離を越えて最初の電極105が配置されることが有り得ないとするなら、|A−A’|の値がLGA102の外形を基準とする各電極105の配設位置の最大位置ずれ量であり、少なくとも、LGA102の外形よりも嵌合凹部13の内形を|A−A’|相当分だけ大きく構成する必要がある。当然、設計上の基準位置を挟んで其の前後に|A−A’|の位置ずれが発生する可能性があるとすれば、最大位置ずれ量は2・|A−A’|ということになる。
仮に、嵌合凹部13の四つのコーナーに配備されたニードル状コンタクト2のニードル108aの長さと他のニードル状コンタクト2のニードル108bの長さとが同一であったとすれば、全てのニードル状コンタクト2がLGA102の下面に同時に当接することになり、例えば、ニードル状コンタクト2の総数が500本であるとすれば、ニードル状コンタクト2とLGA102の間で全体として250Nもの力が作用することなり、LGA102に送りを掛けることは著しく困難であり、また、これを解消するために1本当たりのニードル状コンタクト2に作用させる力を小さくすれば、ニードル状コンタクト2と其の各々に対応するLGA102側の電極105の位置が完全に合致しても導通状態が不十分となって、ニードル状コンタクト2の位置と電極105の位置が合ったことを導通検出器14で的確に確認すること自体が難しくなるといった弊害が生じる。
つまり、この実施例において嵌合凹部13の四つのコーナーに配備されたニードル状コンタクト2のニードル108aの長さのみを他のニードル状コンタクト2のニードル108bよりも長くしているのは、LGA102の送りの円滑化とニードル状コンタクト2に対する電極105の位置決めの検出の高精度化が目的である。
例えば、設計上では図5(a)に示されるようにLGA102の外形からAの距離に最初の電極105が配置されるようになっているにも関わらず、実際にはLGA102の外形からA’の距離に最初の電極105が配置されており、加工上の公差や誤差その他のイレギュラーを考慮してもLGA102の外形からA’の距離を越えて最初の電極105が配置されることが有り得ないとするなら、|A−A’|の値がLGA102の外形を基準とする各電極105の配設位置の最大位置ずれ量であり、少なくとも、可動枠19はベース部材18に沿って|A−A’|相当分の距離だけ縦横に移動自在とされる必要がある。設計上の基準位置を挟んで其の前後に|A−A’|の位置ずれが発生する可能性があるとすれば、最大位置ずれ量は2・|A−A’|である。
1’ LGAソケット(高密度電極用ソケット)
1” LGAソケット(高密度電極用ソケット)
2 ニードル状コンタクト
3,4,5,6 壁面
7,8,9,10 パッケージ位置調整ネジ(装着位置調整手段の一部)
11 装着位置調整手段
12 装着位置固定手段
13 嵌合凹部(装着位置調整手段の一部)
14 導通検出器
15 横送り用の調整ネジ回転駆動手段
16 縦送り用の調整ネジ回転駆動手段
17 電子部品パッケージの位置調整ユニット
18 ベース部材(装着位置調整手段の一部)
19 可動枠(装着位置調整手段の一部,装着位置固定手段の一部)
20 突起
21 段付き穴
22 プッシャーアーム(プレス手段)
23 可動枠送り手段
24 横送り用可動枠送り手段(可動枠送り手段の一部)
25 横送り用可動枠送り手段(可動枠送り手段の一部)
26 縦送り用可動枠送り手段(可動枠送り手段の一部)
27 縦送り用可動枠送り手段(可動枠送り手段の一部)
28 ステー
29 送りネジ
30 ソケット
31,32 タイミングベルト
33 ソケット
34 送りネジ
35,36 タイミングベルト
37,38 送りネジ
38 制御部
39 マイクロプロセッサ(予圧制御手段,第一位置成分特定手段,第二位置成分特定手段,可動枠位置決め手段,圧入制御手段)
40 ROM
41 RAM
42 不揮発性メモリ
43 入出力回路
44 手動操作盤
45 表示器
46,47,48,49 ドライバ
50,51,52,53 A/D変換器
101 LGAソケット(高密度電極用ソケット)
102 LGA(電子部品パッケージ)
103 嵌合凹部
104 底面
105 電極
106 ニードル状コンタクト
107 スリーブ
108 ニードル
108a ニードル(長)
108b ニードル(短)
109 基板側コンタクト
110 配線基板
111 配線基板側の電極
112 内層配線
113 位置決めピン
114 位置決め穴
115 電極面
116 位置決めピン
117 ソケット
118 穴
119 検査用ソケット
120 小型カメラ
121 半導体装置
122 画像認識部
123 出力部
124 クロステーブル
Q0 予圧力
Q1 パッケージ取付荷重
M1 モータ(横送り用の調整ネジ回転駆動手段の一部)
M2 モータ(横送り用の調整ネジ回転駆動手段の一部)
M3 モータ(縦送り用の調整ネジ回転駆動手段の一部)
M4 モータ(縦送り用の調整ネジ回転駆動手段の一部)
Mx 横送り用サーボモータ
My 縦送り用サーボモータ
Mz 昇降用サーボモータ
Px パルスコーダ
Py パルスコーダ
Pz パルスコーダ
Claims (1)
- 電子部品パッケージの一面に密接配備された複数の電極の各々と個別に接触する複数のニードル状コンタクトを、前記電子部品パッケージを着脱可能に装着する矩形状の嵌合凹部の底面から、前記電子部品パッケージの前記一面に向けて独立的に付勢して突出させた状態で前記底面に固設した高密度電極用ソケットのうち、前記電子部品パッケージの装着位置を前記ニードル状コンタクトの並び方向に沿って調整するための装着位置調整手段と、調整された電子部品パッケージの装着位置を保持する装着位置固定手段とを備え、前記装着位置調整手段が、前記嵌合凹部の底面を構成するベース部材と、前記嵌合凹部を包囲する可動枠とによって構成され、前記可動枠の内周が前記電子部品パッケージの外形に合わせて形成されると共に、前記可動枠は、前記ベース部材に対して接離不能、かつ、少なくとも、前記電子部品パッケージの外形を基準とする前記各電極の配設位置の最大位置ずれ量に匹敵する距離だけ前記ベース部材の表面に沿って縦横に移動自在とされ、前記装着位置固定手段は、前記電子部品パッケージの侵入を圧入状態で許容する前記可動枠の内周と、前記電極の各々と接触して縮退する前記複数のニードル状コンタクトとによって構成されている高密度電極用ソケットとの組み合わせで使用される電子部品パッケージの位置調整ユニットであって、
前記高密度電極用ソケットの嵌合凹部に嵌合された前記電子部品パッケージを前記嵌合凹部の底面に向けて押圧するプレス手段と、
前記嵌合凹部の底面の四つのコーナーのうち少なくとも三つのコーナーに配備されたニードル状コンタクトと当該ニードル状コンタクトの各々に対応する電極との導通状態を確認するための導通検出器と、
前記可動枠を前記ベース部材の表面に沿って縦横に移動させる可動枠送り手段と、
前記プレス手段および可動枠送り手段を駆動制御する制御部とを備え、
前記制御部には、
前記プレス手段を駆動制御して前記電子部品パッケージを前記嵌合凹部の底面に向けて予圧する予圧制御手段と、
前記導通検出器からの検出信号を確認しながら前記可動枠送り手段を駆動制御して前記可動枠を前記ベース部材の表面に沿って前記ニードル状コンタクトの第一の並び方向に移動させ、導通状態の確認対象とされているニードル状コンタクトと電極との組み合わせにおいて、全ての組み合わせで導通状態が確認され、かつ、導通状態が最適となるときの第一の並び方向における可動枠の位置を求める第一位置成分特定手段と、
前記導通検出器からの検出信号を確認しながら前記可動枠送り手段を駆動制御して前記可動枠を前記ベース部材の表面に沿って前記第一の並び方向と交差する第二の並び方向に移動させ、導通状態の確認対象とされているニードル状コンタクトと電極との組み合わせにおいて、全ての組み合わせで導通状態が確認され、かつ、導通状態が最適となるときの第二の並び方向における可動枠の位置を求める第二位置成分特定手段と、
前記可動枠送り手段を駆動制御し、前記第一位置成分特定手段および第二位置成分特定手段によって特定された位置に可動枠を位置決めする可動枠位置決め手段と、
前記可動枠位置決め手段による可動枠の位置決め制御完了後に前記プレス手段を駆動制御して前記電子部品パッケージを前記嵌合凹部の底面に向けてパッケージ取付荷重で加圧することで当該電子部品パッケージを前記可動枠に圧入する圧入制御手段とが設けられていることを特徴とした電子部品パッケージの位置調整ユニット。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007231859A JP5077542B2 (ja) | 2007-09-06 | 2007-09-06 | 電子部品パッケージの位置調整ユニット |
US12/216,957 US7896658B2 (en) | 2007-09-06 | 2008-07-14 | Apparatus and method for adjusting position of electronic component |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007231859A JP5077542B2 (ja) | 2007-09-06 | 2007-09-06 | 電子部品パッケージの位置調整ユニット |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012152137A Division JP5333631B2 (ja) | 2012-07-06 | 2012-07-06 | 高密度電極用ソケットを用いた電子部品パッケージの装着方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009064677A JP2009064677A (ja) | 2009-03-26 |
JP5077542B2 true JP5077542B2 (ja) | 2012-11-21 |
Family
ID=40432336
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007231859A Expired - Fee Related JP5077542B2 (ja) | 2007-09-06 | 2007-09-06 | 電子部品パッケージの位置調整ユニット |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7896658B2 (ja) |
JP (1) | JP5077542B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120060299A (ko) * | 2010-12-02 | 2012-06-12 | 삼성전자주식회사 | 테스트 소켓 |
FR3022638B1 (fr) * | 2014-06-24 | 2016-07-22 | Commissariat Energie Atomique | Procede de caracterisation d'un dispositif de connexion electrique destine a etre hybride a un dispositif electronique |
CN111624465A (zh) * | 2020-05-19 | 2020-09-04 | 彩迅工业(中山)有限公司 | 一种同步整流检测系统 |
US11862887B2 (en) * | 2021-03-09 | 2024-01-02 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Laterally removable pin cover to protect socket connector pins |
CN116068323B (zh) * | 2023-03-13 | 2023-06-06 | 深圳市华科精密组件有限公司 | 一种金属端子连接器及连接器测试组件 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4927382A (en) * | 1987-11-03 | 1990-05-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Electrical function group for a vehicle |
JPH01132076U (ja) * | 1988-03-04 | 1989-09-07 | ||
JPH0750762B2 (ja) * | 1992-12-18 | 1995-05-31 | 山一電機株式会社 | Icキャリア |
CA2120280C (en) * | 1994-03-30 | 1998-08-18 | Chris J. Stratas | Method and apparatus for retention of a fragile conductive trace with a protective clamp |
JP3596702B2 (ja) * | 1996-04-08 | 2004-12-02 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ嵌合検知構造 |
CH691561A5 (fr) * | 1997-05-30 | 2001-08-15 | Ultra Prec Holding Sa | Adapteur pour composants électroniques. |
JP3386343B2 (ja) * | 1997-06-30 | 2003-03-17 | 住友電装株式会社 | コネクタ |
JP3570478B2 (ja) * | 1998-02-16 | 2004-09-29 | 住友電装株式会社 | コネクタ |
JP2002164136A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-07 | Nec Ibaraki Ltd | Bga用icソケット |
US6724095B2 (en) * | 2001-07-25 | 2004-04-20 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus for aligning an integrated circuit package with an interface |
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TWM250353U (en) * | 2003-08-06 | 2004-11-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
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JP2006023166A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Renesas Technology Corp | 検査用ソケットおよびそれを用いた半導体装置の製造方法 |
US7129730B2 (en) * | 2004-12-15 | 2006-10-31 | Chipmos Technologies (Bermuda) Ltd. | Probe card assembly |
JP2007121222A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Sharp Corp | 半導体チップテストソケット |
-
2007
- 2007-09-06 JP JP2007231859A patent/JP5077542B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-07-14 US US12/216,957 patent/US7896658B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7896658B2 (en) | 2011-03-01 |
US20090068861A1 (en) | 2009-03-12 |
JP2009064677A (ja) | 2009-03-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100804 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120706 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120801 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120814 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5077542 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |