JPH10311868A - 回路基板の検査装置 - Google Patents
回路基板の検査装置Info
- Publication number
- JPH10311868A JPH10311868A JP9122053A JP12205397A JPH10311868A JP H10311868 A JPH10311868 A JP H10311868A JP 9122053 A JP9122053 A JP 9122053A JP 12205397 A JP12205397 A JP 12205397A JP H10311868 A JPH10311868 A JP H10311868A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- gear mechanism
- probe
- height
- inspection apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ベース部に保持したスプリングプローブを回
路基板の導体回路に接触させて導通検査を行う回路基板
の検査装置であって、検査時に回路基板又はベース部を
加圧してプローブと導体回路を接触させた際の接触圧力
を適正な圧力にすることが容易にできる回路基板の検査
装置を提供する。 【解決手段】 ベース部１に保持したスプリングプロー
ブ２のプローブ３を回路基板１０の導体回路１１に接触
させて導通検査を行う回路基板の検査装置であって、ベ
ース部１の高さを任意の高さに制御できる歯車機構を備
えていることを特徴とする。また、スプリングプローブ
２を保持しているベース部１を複数備えていて、各ベー
ス部１の高さを独立して任意の高さに制御できるように
各ベース部毎に前記歯車機構を備えていることを特徴と
する。また、歯車機構がラック４とピニオン５からなる
歯車機構であることを特徴とする。
路基板の導体回路に接触させて導通検査を行う回路基板
の検査装置であって、検査時に回路基板又はベース部を
加圧してプローブと導体回路を接触させた際の接触圧力
を適正な圧力にすることが容易にできる回路基板の検査
装置を提供する。 【解決手段】 ベース部１に保持したスプリングプロー
ブ２のプローブ３を回路基板１０の導体回路１１に接触
させて導通検査を行う回路基板の検査装置であって、ベ
ース部１の高さを任意の高さに制御できる歯車機構を備
えていることを特徴とする。また、スプリングプローブ
２を保持しているベース部１を複数備えていて、各ベー
ス部１の高さを独立して任意の高さに制御できるように
各ベース部毎に前記歯車機構を備えていることを特徴と
する。また、歯車機構がラック４とピニオン５からなる
歯車機構であることを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、スプリングプロー
ブを回路基板の導体回路に接触させて導通検査を行う回
路基板の検査装置に関する。
ブを回路基板の導体回路に接触させて導通検査を行う回
路基板の検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】回路基板の導体回路にスプリングプロー
ブのプローブを接触させて導通検査を行う回路基板の検
査装置が従来から使用されている。従来の検査装置は図
３に示す側面図のように、ベース部１に保持したスプリ
ングプローブ２のプローブ３を回路基板の導体回路に接
触させて導通検査を行う。図３に示すような検査装置で
は、検査時のプローブ３が外部に出ている長さ（プロー
ブ長）を適正長さにすると、プローブ３と導体回路が適
正な圧力で接触して、良好な検査ができるが、プローブ
長が適正長さの範囲外になると、誤判定を生じたり、プ
ローブ３にかかる圧力が強すぎてスプリングプローブ２
が破損する等の問題が発生したりする。そして、図４は
スプリングプローブ２のモデル的な断面図を示している
が、図４で明らかなように、スプリングプローブ２はソ
ケット６の内部にスプリング７を内蔵していて、プロー
ブ３にかかる圧力をこのスプリング７で受けて、スプリ
ング７が伸縮することにより、プローブ３が外部に出て
いる長さ（プローブ長）が変化する構造になっている。
また、プローブ３はワイヤー８により外部と接続されて
いる。
ブのプローブを接触させて導通検査を行う回路基板の検
査装置が従来から使用されている。従来の検査装置は図
３に示す側面図のように、ベース部１に保持したスプリ
ングプローブ２のプローブ３を回路基板の導体回路に接
触させて導通検査を行う。図３に示すような検査装置で
は、検査時のプローブ３が外部に出ている長さ（プロー
ブ長）を適正長さにすると、プローブ３と導体回路が適
正な圧力で接触して、良好な検査ができるが、プローブ
長が適正長さの範囲外になると、誤判定を生じたり、プ
ローブ３にかかる圧力が強すぎてスプリングプローブ２
が破損する等の問題が発生したりする。そして、図４は
スプリングプローブ２のモデル的な断面図を示している
が、図４で明らかなように、スプリングプローブ２はソ
ケット６の内部にスプリング７を内蔵していて、プロー
ブ３にかかる圧力をこのスプリング７で受けて、スプリ
ング７が伸縮することにより、プローブ３が外部に出て
いる長さ（プローブ長）が変化する構造になっている。
また、プローブ３はワイヤー８により外部と接続されて
いる。
【０００３】このような検査装置を用いて導通検査を行
う場合に、回路基板の導体回路とプローブ３との接触圧
力が適正でないと、誤判定を生じたり、スプリングプロ
ーブ２を破損する等の問題が発生したりするため、この
ようなトラブルの生じない検査装置が求められている。
また、回路基板の導体回路を構成する材料が場所によっ
て異なり導体回路に硬度差があるときなどの場合には、
プローブ３にかかる圧力が検査しようとする場所によっ
て異なることが望ましい場合があり、プローブ３にかか
る圧力を制御できるような検査装置も求められている。
う場合に、回路基板の導体回路とプローブ３との接触圧
力が適正でないと、誤判定を生じたり、スプリングプロ
ーブ２を破損する等の問題が発生したりするため、この
ようなトラブルの生じない検査装置が求められている。
また、回路基板の導体回路を構成する材料が場所によっ
て異なり導体回路に硬度差があるときなどの場合には、
プローブ３にかかる圧力が検査しようとする場所によっ
て異なることが望ましい場合があり、プローブ３にかか
る圧力を制御できるような検査装置も求められている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記のような
事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするとこ
ろは、ベース部に保持したスプリングプローブを回路基
板の導体回路に接触させて導通検査を行う回路基板の検
査装置であって、検査時に回路基板又はベース部を加圧
してプローブと導体回路を接触させた際の接触圧力を適
正な圧力にすることが容易にできる回路基板の検査装置
を提供することにある。
事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするとこ
ろは、ベース部に保持したスプリングプローブを回路基
板の導体回路に接触させて導通検査を行う回路基板の検
査装置であって、検査時に回路基板又はベース部を加圧
してプローブと導体回路を接触させた際の接触圧力を適
正な圧力にすることが容易にできる回路基板の検査装置
を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１に係る発明の回
路基板の検査装置は、ベース部に保持したスプリングプ
ローブのプローブを回路基板の導体回路に接触させて導
通検査を行う回路基板の検査装置であって、ベース部の
高さを任意の高さに制御できる歯車機構を備えているこ
とを特徴とする。
路基板の検査装置は、ベース部に保持したスプリングプ
ローブのプローブを回路基板の導体回路に接触させて導
通検査を行う回路基板の検査装置であって、ベース部の
高さを任意の高さに制御できる歯車機構を備えているこ
とを特徴とする。
【０００６】請求項２に係る発明の回路基板の検査装置
は、請求項１記載の回路基板の検査装置において、スプ
リングプローブを保持しているベース部を複数備えてい
て、各ベース部の高さを独立して任意の高さに制御でき
るように各ベース部毎に前記歯車機構を備えていること
を特徴とする。
は、請求項１記載の回路基板の検査装置において、スプ
リングプローブを保持しているベース部を複数備えてい
て、各ベース部の高さを独立して任意の高さに制御でき
るように各ベース部毎に前記歯車機構を備えていること
を特徴とする。
【０００７】請求項３に係る発明の回路基板の検査装置
は、請求項１又は請求項２記載の回路基板の検査装置に
おいて、歯車機構がラックとピニオンからなる歯車機構
であることを特徴とする。
は、請求項１又は請求項２記載の回路基板の検査装置に
おいて、歯車機構がラックとピニオンからなる歯車機構
であることを特徴とする。
【０００８】請求項４に係る発明の回路基板の検査装置
は、請求項１から請求項３までの何れかに記載の回路基
板の検査装置において、歯車機構の歯車の送り及び／又
は歯止めがラチェット式であることを特徴とする。
は、請求項１から請求項３までの何れかに記載の回路基
板の検査装置において、歯車機構の歯車の送り及び／又
は歯止めがラチェット式であることを特徴とする。
【０００９】本発明で、ベース部の高さを任意の高さに
制御できる歯車機構を備えていることは、検査時のプロ
ーブと導体回路の接触圧力を適正圧力に調整する必要が
生じた場合に、ベース部の高さを制御することにより容
易に調整することを可能にする。
制御できる歯車機構を備えていることは、検査時のプロ
ーブと導体回路の接触圧力を適正圧力に調整する必要が
生じた場合に、ベース部の高さを制御することにより容
易に調整することを可能にする。
【００１０】また、スプリングプローブを保持している
ベース部を複数備えていて、各ベース部の高さを独立し
て任意の高さに制御できるように各ベース部毎に前記歯
車機構を備えるようにすると、検査しようとする場所に
よってプローブにかかる圧力を制御することが可能にな
る。
ベース部を複数備えていて、各ベース部の高さを独立し
て任意の高さに制御できるように各ベース部毎に前記歯
車機構を備えるようにすると、検査しようとする場所に
よってプローブにかかる圧力を制御することが可能にな
る。
【００１１】また、歯車機構の歯車の送り及び／又は歯
止めがラチェット式であると、ベース部の高さを規則的
な高さだけ調整することができるので、ベース部の高さ
の調整が容易であるという利点がある。
止めがラチェット式であると、ベース部の高さを規則的
な高さだけ調整することができるので、ベース部の高さ
の調整が容易であるという利点がある。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して説明する。図１は第１の実施の形態を示す側面図で
あり、図２は第２の実施の形態を示す側面図である。
して説明する。図１は第１の実施の形態を示す側面図で
あり、図２は第２の実施の形態を示す側面図である。
【００１３】図１に示すように、第１の実施の形態の回
路基板の検査装置は、ベース部１に保持したスプリング
プローブ２のプローブ３を回路基板１０の導体回路１１
に接触させて導通検査を行う回路基板の検査装置であっ
て、ベース部１の高さを任意の高さに制御できるラック
４とピニオン５からなる歯車機構を備えている。このラ
ック４は例えば直棒に歯を切ったものであり、ピニオン
５（歯車）とかみあって、ピニオン５を回転させること
により、上昇・下降する。従って、この歯車機構によっ
て、ベース部１の高さは任意の高さに制御することがで
きる。そのため、検査時にプローブ３と導体回路１１の
接触圧力を適正圧力に調整する必要が生じた場合には、
ベース部の高さを歯車機構を用いて制御することによ
り、容易に調整することが可能である。すなわち、第１
の実施の形態の回路基板の検査装置によれば、プローブ
と導体回路を接触させた際の接触圧力を適正な圧力にす
ることが容易に達成できる。適正な圧力でスプリングプ
ローブ２を使用できると、スプリングプローブ２が故障
しにくく、長寿命となるという効果も達成することがで
きる。なお、この実施の形態ではラック４とピニオン５
からなる歯車機構を示したが、歯車機構としてはラック
とピニオン以外の機構、例えばウオーム歯車等であって
もよい。そして、歯車機構の歯車の送り及び／又は歯止
めが、爪とかみあって間欠的な回転運動をおこなった
り、歯止めされたりするラチェット式であると、ベース
部の高さを規則的な高さだけ調整することができるの
で、ベース部の高さの調整が容易であり好ましい。
路基板の検査装置は、ベース部１に保持したスプリング
プローブ２のプローブ３を回路基板１０の導体回路１１
に接触させて導通検査を行う回路基板の検査装置であっ
て、ベース部１の高さを任意の高さに制御できるラック
４とピニオン５からなる歯車機構を備えている。このラ
ック４は例えば直棒に歯を切ったものであり、ピニオン
５（歯車）とかみあって、ピニオン５を回転させること
により、上昇・下降する。従って、この歯車機構によっ
て、ベース部１の高さは任意の高さに制御することがで
きる。そのため、検査時にプローブ３と導体回路１１の
接触圧力を適正圧力に調整する必要が生じた場合には、
ベース部の高さを歯車機構を用いて制御することによ
り、容易に調整することが可能である。すなわち、第１
の実施の形態の回路基板の検査装置によれば、プローブ
と導体回路を接触させた際の接触圧力を適正な圧力にす
ることが容易に達成できる。適正な圧力でスプリングプ
ローブ２を使用できると、スプリングプローブ２が故障
しにくく、長寿命となるという効果も達成することがで
きる。なお、この実施の形態ではラック４とピニオン５
からなる歯車機構を示したが、歯車機構としてはラック
とピニオン以外の機構、例えばウオーム歯車等であって
もよい。そして、歯車機構の歯車の送り及び／又は歯止
めが、爪とかみあって間欠的な回転運動をおこなった
り、歯止めされたりするラチェット式であると、ベース
部の高さを規則的な高さだけ調整することができるの
で、ベース部の高さの調整が容易であり好ましい。
【００１４】図２は第２の実施の形態を示していて、ス
プリングプローブ２を保持しているベース部（１ａ、１
ｂ、１ｃ）を複数備えていて、各ベース部（１ａ、１
ｂ、１ｃ）の高さを独立して任意の高さに制御できるよ
うに各ベース部（１ａ、１ｂ、１ｃ）毎にラック４とピ
ニオン５からなる歯車機構を備えている。従って、第２
の実施の形態の検査装置によれば、回路基板１０の導体
回路１１を構成する材料が場所によって異なり導体回路
１１に硬度差があるときなどの場合には、各ベース部
（１ａ、１ｂ、１ｃ）の高さを異なる高さにすることに
よって、プローブ３にかかる圧力が検査しようとする場
所によって異なるように制御することが可能になる。す
なわち、導体回路１１の性質によってプローブの接触圧
力を変えて測定したい場合に対応することができる。
プリングプローブ２を保持しているベース部（１ａ、１
ｂ、１ｃ）を複数備えていて、各ベース部（１ａ、１
ｂ、１ｃ）の高さを独立して任意の高さに制御できるよ
うに各ベース部（１ａ、１ｂ、１ｃ）毎にラック４とピ
ニオン５からなる歯車機構を備えている。従って、第２
の実施の形態の検査装置によれば、回路基板１０の導体
回路１１を構成する材料が場所によって異なり導体回路
１１に硬度差があるときなどの場合には、各ベース部
（１ａ、１ｂ、１ｃ）の高さを異なる高さにすることに
よって、プローブ３にかかる圧力が検査しようとする場
所によって異なるように制御することが可能になる。す
なわち、導体回路１１の性質によってプローブの接触圧
力を変えて測定したい場合に対応することができる。
【００１５】
【発明の効果】請求項１〜請求項４に係る発明の回路基
板の検査装置は、ベース部の高さを任意の高さに制御で
きる歯車機構を備えているので、検査時に回路基板又は
ベース部を加圧してプローブと導体回路を接触させた際
の接触圧力を適正な圧力に調整することが容易であり、
従って、本発明の回路基板の検査装置によれば、適正な
接触圧力で検査することが容易に達成できる。
板の検査装置は、ベース部の高さを任意の高さに制御で
きる歯車機構を備えているので、検査時に回路基板又は
ベース部を加圧してプローブと導体回路を接触させた際
の接触圧力を適正な圧力に調整することが容易であり、
従って、本発明の回路基板の検査装置によれば、適正な
接触圧力で検査することが容易に達成できる。
【００１６】また、請求項２に係る発明の回路基板の検
査装置は、スプリングプローブを保持しているベース部
を複数備えていて、各ベース部の高さを独立して任意の
高さに制御できるように各ベース部毎に前記歯車機構を
備えているので、上記の効果を達成すると共に、検査し
ようとする場所によってプローブにかかる圧力を制御す
ることが可能であるという効果も達成する。
査装置は、スプリングプローブを保持しているベース部
を複数備えていて、各ベース部の高さを独立して任意の
高さに制御できるように各ベース部毎に前記歯車機構を
備えているので、上記の効果を達成すると共に、検査し
ようとする場所によってプローブにかかる圧力を制御す
ることが可能であるという効果も達成する。
【００１７】また、歯車機構の駆動方式がラチェット方
式である請求項４に係る発明の回路基板の検査装置は、
ベース部の高さの調整が容易であるという効果も達成す
る。
式である請求項４に係る発明の回路基板の検査装置は、
ベース部の高さの調整が容易であるという効果も達成す
る。
【図１】本発明の第１の実施の形態を説明するための側
面図である。
面図である。
【図２】本発明の第２の実施の形態を説明するための側
面図である。
面図である。
【図３】従来の技術を説明するための側面図である。
【図４】スプリングプローブを説明するためのモデル的
な断面図である。
な断面図である。
１ ベース部 ２ スプリングプローブ ３ プローブ ４ ラック ５ ピニオン ６ ソケット ７ スプリング ８ ワイヤー １０ 回路基板 １１ 導体回路
Claims (4)
- 【請求項１】 ベース部（１）に保持したスプリングプ
ローブ（２）のプローブ（３）を回路基板（１０）の導
体回路（１１）に接触させて導通検査を行う回路基板の
検査装置であって、ベース部（１）の高さを任意の高さ
に制御できる歯車機構を備えていることを特徴とする回
路基板の検査装置。 - 【請求項２】 スプリングプローブ（２）を保持してい
るベース部（１）を複数備えていて、各ベース部（１
ａ、１ｂ・・・）の高さを独立して任意の高さに制御で
きるように各ベース部（１ａ、１ｂ・・・）毎に前記歯
車機構を備えていることを特徴とする請求項１記載の回
路基板の検査装置。 - 【請求項３】 歯車機構がラック（４）とピニオン
（５）からなる歯車機構であることを特徴とする請求項
１又は請求項２記載の回路基板の検査装置。 - 【請求項４】 歯車機構の歯車の送り及び／又は歯止め
がラチェット式であることを特徴とする請求項１から請
求項３までの何れかに記載の回路基板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9122053A JPH10311868A (ja) | 1997-05-13 | 1997-05-13 | 回路基板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9122053A JPH10311868A (ja) | 1997-05-13 | 1997-05-13 | 回路基板の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10311868A true JPH10311868A (ja) | 1998-11-24 |
Family
ID=14826455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9122053A Pending JPH10311868A (ja) | 1997-05-13 | 1997-05-13 | 回路基板の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10311868A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007024699A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Hioki Ee Corp | プローブピンおよびコンタクトプローブ |
| KR101443326B1 (ko) * | 2013-06-27 | 2014-09-30 | 서일대학교산학협력단 | 탐침기구 |
| CN111308313A (zh) * | 2019-11-18 | 2020-06-19 | 深圳市凯合达智能设备有限公司 | 一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器 |
| CN114089143A (zh) * | 2022-01-21 | 2022-02-25 | 江苏吉泰科电气有限责任公司 | 一种电机控制器绝缘耐压测试装置及其实施方法 |
| KR20220042579A (ko) * | 2020-09-28 | 2022-04-05 | 주식회사 제네드 | 교체 가능한 프로브 핀 |
-
1997
- 1997-05-13 JP JP9122053A patent/JPH10311868A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007024699A (ja) * | 2005-07-19 | 2007-02-01 | Hioki Ee Corp | プローブピンおよびコンタクトプローブ |
| KR101443326B1 (ko) * | 2013-06-27 | 2014-09-30 | 서일대학교산학협력단 | 탐침기구 |
| CN111308313A (zh) * | 2019-11-18 | 2020-06-19 | 深圳市凯合达智能设备有限公司 | 一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器 |
| KR20220042579A (ko) * | 2020-09-28 | 2022-04-05 | 주식회사 제네드 | 교체 가능한 프로브 핀 |
| CN114089143A (zh) * | 2022-01-21 | 2022-02-25 | 江苏吉泰科电气有限责任公司 | 一种电机控制器绝缘耐压测试装置及其实施方法 |
| CN114089143B (zh) * | 2022-01-21 | 2022-04-05 | 江苏吉泰科电气有限责任公司 | 一种电机控制器绝缘耐压测试装置及其实施方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3206509B2 (ja) | 表示パネル用プローブ装置 | |
| KR20010012353A (ko) | 접속 장치 및 프로빙 시스템 | |
| JPH08504504A (ja) | フォイル・アダプタを有するプリント回路基板テスト装置 | |
| JP2007304008A (ja) | 基板検査用接触子、基板検査用治具及び基板検査装置 | |
| JP2008032666A (ja) | 基板検査用治具および基板検査治具の製造方法 | |
| JPH10311868A (ja) | 回路基板の検査装置 | |
| JPH11513202A (ja) | 画面および画面の画素の制御回路アセンブリ | |
| JP2009139161A (ja) | プローブ | |
| JP2006202734A (ja) | 半導体装置用接続装置、半導体装置キャリア、半導体装置用ソケット、および、プローブカード | |
| JP2007165598A (ja) | プローバ、プローブ接触方法及びそのためのプログラム | |
| JP2617080B2 (ja) | 多ピン接触子およびその製造方法 | |
| JP6915940B2 (ja) | テストポイントを有する印刷回路基板の製造方法およびこれにより製造される印刷回路基板 | |
| JP2000266810A (ja) | Ｉｃハンドラ | |
| JPH09211048A (ja) | 液晶表示パネル検査装置 | |
| JPH06242145A (ja) | プローブピン及びその形成方法 | |
| JP2005241426A (ja) | 電子部品検査装置 | |
| JP2006071486A (ja) | 接続装置、半導体チップ検査装置および半導体装置の製造方法 | |
| JPH05119336A (ja) | 液晶表示パネルの表示試験装置 | |
| JP2000241512A (ja) | 回路基板検査装置 | |
| JPH02130477A (ja) | プローピング方式 | |
| JPH08179010A (ja) | 電子部品の電気検査装置 | |
| JPH07142523A (ja) | 半導体製造装置及び半導体製造方法 | |
| JP2001124832A (ja) | プリント板試験用接続治具圧接装置 | |
| JPH068512Y2 (ja) | コンタクトピン自動保持力チエツク装置 | |
| JPH0427134A (ja) | 半導体ｄｃパラメータ測定装置 |