JP5063551B2 - パターンマッチング方法、及び画像処理装置 - Google Patents
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Description
(1)パターンを構成する部位が複数の層(高さ)に存在するパターンが表示された画像に対し、パターン上部が選択的に表現された第1のテンプレートを用いて、第1のパターンマッチングを行い、当該第1のテンプレートによって特定されたパターンを含む領域の画像から、パターン上部の情報を差し引く、或いはパターン下部が表現された第2のテンプレートを用いて第2のパターンマッチングを行うことを特徴とするパターンマッチング法。
(2)上記第2のパターンマッチングを行う際に、第1のテンプレートに表現されたパターンの情報を差し引いた第2のテンプレートを用いるパターンマッチング法。
(3)上記第1のテンプレートを、予備帯電走査が行われていないSEM画像から取得するパターンマッチング法。
(4)第2のテンプレートを、予備帯電走査が行われたSEM画像から取得するパターンマッチング法。
(5)上記第1のパターンマッチングを行う際に、予備帯電走査が行わない状態にてSEM画像を取得するパターンマッチング法。
(6)上記第2のパターンマッチングを行う際に、予備帯電走査が行われた状態にてSEM画像を取得するパターンマッチング法。
(7)パターンを構成する部位が複数の層(高さ)に存在するパターンの上部と下部の重なりの程度に応じて、測定の実施の可否を決定するパターンマッチング法。
(8)パターンを構成する部位が複数の層(高さ)に存在するパターンの上部と下部の重なりの程度に応じて、その後の測定手法等を設定するパターンマッチング法。
402 制御部
403 画像処理部B
404 撮像制御部
405 ステージ制御部
406 真空制御部
407 ホスト
408 画像処理部A
409 画面表示装置
410 マウス
Claims (10)
- 荷電粒子線装置にて得られる画像上のパターンと、登録されたテンプレートとの間でパターンマッチングを行うパターンマッチング方法において、複数層からなるパターンが表現された画像情報と、当該複数層の内、パターンの上層が選択的に表現されたテンプレートとの間で、第1のパターンマッチングを行い、当該複数層からなるパターンの位置を特定することを特徴とするパターンマッチング方法。
- 請求項1において、
前記位置特定に基づいて得られた画像情報から、前記上層に関する情報を差し引くことを特徴とするパターンマッチング方法。 - 請求項1において、
前記位置特定に基づいて得られた画像情報と、前記複数層の内、パターンの下層が選択的に表現されたテンプレートとの間で、第2のパターンマッチングを行い、当該下層のパターン位置を特定することを特徴とするパターンマッチング方法。 - 請求項3において、
前記第2のパターンマッチングに供されるテンプレートは、前記試料に対する電子ビームの予備走査によって、前記試料上が正に帯電したときに取得された画像に基づいて形成されることを特徴とするパターンマッチング方法。 - 請求項1において、
前記複数層からなるパターンが表現された画像情報は、前記試料に対する電子ビームの予備走査によって、前記試料上が正に帯電したときに取得された画像に基づいて形成されることを特徴とするパターンマッチング方法。 - 荷電粒子線装置にて得られる画像上のパターンと、登録されたテンプレートとの間でパターンマッチングを行う画像処理装置において、
複数層からなるパターンが表現された画像情報と、当該複数層の内、パターンの上層が選択的に表現されたテンプレートとの間で、第1のパターンマッチングを行い、当該複数層からなるパターンの位置を特定することを特徴とする画像処理装置。 - 請求項6において、
前記位置特定に基づいて得られた画像情報から、前記上層に関する情報を差し引くことを特徴とする画像処理装置。 - 請求項6において、
前記位置特定に基づいて得られた画像情報と、前記複数層の内、パターンの下層が選択的に表現されたテンプレートとの間で、第2のパターンマッチングを行い、当該下層のパターン位置を特定することを特徴とする画像処理装置。 - 請求項8において、
前記第2のパターンマッチングに供されるテンプレートは、前記試料に対する電子ビームの予備走査によって、前記試料上が正に帯電したときに取得された画像に基づいて形成されることを特徴とする画像処理装置。 - 請求項6において、
前記複数層からなるパターンが表現された画像情報は、前記試料に対する電子ビームの予備走査によって、前記試料上が正に帯電したときに取得された画像に基づいて形成されることを特徴とする画像処理装置。
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