JP5049574B2 - 光学フィルム、偏光板、画像表示装置、及び光学フィルムの製造方法 - Google Patents
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Description
要するに、従来提案されている光学フィルムでは、光学フィルムとして通常求められる性能を維持しつつ、十分に防塵性を向上させることはできていなかったのが現状である。
すなわち、本発明は、以下の各構成からなるものである。
[1]
支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダー及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する光学フィルムの製造方法であって、
帯電防止層形成用塗布組成物が少なくとも、導電性粒子と、芳香族基を有するバインダー形成化合物及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子とを含有し、隣接層形成用塗布組成物が硬化性バインダー形成化合物を含有し、
導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子の平均粒子径が0.1〜100nmであり、かつ導電性粒子の平均粒子サイズの60%以下であり、
芳香族基を有するバインダー形成化合物の分子量が150以上2500以下であり、
支持体上に、帯電防止層形成用塗布組成物と隣接層形成用塗布組成物とを隣接させて塗工する工程を有し、
帯電防止層と隣設層とを形成するに際して、先んじて塗設した層の重合性官能基の反応率が0%以上50%以下になるよう硬化させる、光学フィルムの製造方法。
[2]
支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダー及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する光学フィルムの製造方法であって、
帯電防止層形成用塗布組成物が少なくとも、導電性粒子と、芳香族基を有するバインダー形成化合物及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子とを含有し、
導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子の平均粒子径が0.1〜100nmであり、かつ導電性粒子の平均粒子サイズの60%以下であり、
芳香族基を有するバインダー形成化合物の分子量が150以上2500以下であり、
支持体上に、帯電防止層形成用塗布組成物と隣接層形成用塗布組成物とを隣接させて塗工する工程を有し、
帯電防止層形成用塗布組成物と隣接層形成用塗布組成物とを同時に塗布する、光学フィルムの製造方法。
[3]
芳香族基を有するバインダー形成化合物の導電性粒子に対する使用量が、導電性粒子100質量部に対して3〜100質量部である[1]又は[2]に記載の光学フィルムの製造方法。
[4]
導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子の導電性粒子に対する使用量が、導電性粒子100質量部に対して3〜100質量部である[1]〜[3]のいずれか一項に記載の光学フィルムの製造方法。
[5]
上記層領域は、上記帯電防止層と上記隣設層との界面で、両層を形成する重合性化合物及び/又は無機微粒子の組成が徐々に変化して形成されている[1]〜[4]のいずれか一項に記載の光学フィルムの製造方法。
[6]
芳香族基を有するバインダー形成化合物が、重合性官能基を少なくとも1つ有する含硫黄芳香族化合物である[1]〜[5]のいずれか一項に記載の光学フィルムの製造方法。
[7]
支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダー及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を含有し、[1]〜[6]のいずれか一項に記載の製造方法により得られた光学フィルム。
[8]
前記光学フィルムが更に低屈折率層を有する[7]に記載の光学フィルム。
[9]
偏光膜と、該偏光膜の両側に設けられた保護フィルムとを有する偏光板であって、該保護フィルムの少なくとも一方が、[7]又は[8]に記載の光学フィルムである偏光板。
[10]
[7]又は[8]に記載の光学フィルム、又は[9]に記載の偏光板を有する画像表示装置。
本発明は上記[1]〜[10]に関するものであるが、以下、その他の事項についても参考のために記載した。
2. 支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が導電性粒子とは別の屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する光学フィルム(以下、この発明を「第2発明」という)。
3. 支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に上記帯電防止層の構成成分と上記隣設層の構成成分とが混合されて形成された層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダーを含有する光学フィルム(以下、この発明を「第3発明」という)。
4. 支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に上記帯電防止層の構成成分と上記隣設層の構成成分とが混合されて形成された層領域が存在し、該層領域が導電性粒子とは別の屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する光学フィルム(以下、この発明を「第4発明」という)。
5. 上記層領域は、上記帯電防止層と上記隣設層との界面で、両層を形成する重合性化合物及び/又は無機微粒子の組成が徐々に変化して形成されている1〜4のいずれかに記載の光学フィルム。
6. 上記層領域は、上記帯電防止層と上記隣設層とが、それらの界面で更に別の界面混合層を形成することにより形成されている1〜4のいずれかに記載の光学フィルム。
7. 上記層領域は、上記帯電防止層と上記隣設層とが、それらの界面で、両層の成分が海島構造又は共連続相を形成して形成されている1〜4のいずれかに記載の光学フィルム。
8. 芳香族基を有するバインダーが、重合性官能基を少なくとも1つ有する含硫黄芳香族化合物から形成されている請求項1、3、5〜7の何れかに記載の光学フィルム。
9. 前記光学フィルムが更に低屈折率層を有する1〜8の何れかに記載の光学フィルム。
10. 偏光膜と、該偏光膜の両側に設けられた保護フィルムとを有する偏光板であって、該保護フィルムの少なくとも一方が、1〜9のいずれかに記載の光学フィルムである偏光板。
11. 1〜9に記載の光学フィルム、又は10に記載の偏光板を有する画像表示装置。
12. 支持体上に、帯電防止層とそれに隣設された少なくとも1層の隣設層とを有する光学フィルムの製造方法であって、帯電防止層が芳香族基を有するバインダーを含有し、帯電防止層と隣設層とを形成するに際して、先んじて塗設した層の重合性官能基の反応率が0%以上50%以下になるよう硬化させる光学フィルムの製造方法。
13. 支持体上に、帯電防止層とそれに隣設された少なくとも1層の隣設層とを有する光学フィルムの製造方法であって、帯電防止層が導電性粒子とは別の屈折率が1.55よりも大きな無機微粒子を含有し、帯電防止層と隣設層とを形成するに際して、先んじて塗設した層の重合性官能基の反応率が0%以上50%以下になるよう硬化させる光学フィルムの製造方法。
る光学フィルムが提供される。
第1発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダーを含有する。
第2発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が導電性粒子とは別の屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する。
第3発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に上記帯電防止層の構成成分と上記隣設層の構成成分とが混合されて形成された層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダーを含有する。
第4発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に上記帯電防止層の構成成分と上記隣設層の構成成分とが混合されて形成された層領域が存在し、該層領域が導電性粒子とは別の屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する。
まず、第1発明の光学フィルムについて説明する。
第1発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダーを含有する。
好ましい態様は、上記層領域が、上記帯電防止層の構成成分と上記隣設層の構成成分とが混合されて形成されており、更に該領域が導電性粒子とは別の屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する態様である。すなわち、本発明における最も好ましい態様は、第1発明〜第4発明の全てを満足する態様である。以下の第1発明の説明においては、この最も好ましい態様に基づいて説明する。
本発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層(以後「AS層」と記す)とそれに隣設した隣設層(以後「N層」と記す)を少なくとも1層有し、更に両層の間に中間の屈折率の層領域を有し、該層領域に芳香族基を有するバインダーが含有されている。また、好ましくは更に導電性粒子とは別の屈折率が1.55よりも大きい無機微粒子が含有されている。
本発明において、AS層とN層の間に形成される上記層領域は、AS層とN層とを同時に両者の形成用塗布組成物を塗布して形成する方法や、何れか一方の層の形成用塗布組成物を塗布し重合率が低いまま他方の層の形成用塗布組成物を塗布する方法を用いて、隣設層に相互の成分を拡散させることにより製造することが好ましい。詳細については、後述する製造方法の欄で詳述する。
本発明の光学フィルムにおいて、AS層とN層と支持体との位置関係は、本発明の目的である、帯電防止性、ムラの低減、密着性の向上が達成される範囲においては、特に制限
はない。帯電防止性能の向上の点からは、支持体、N層、AS層の順で層が形成されるのが好ましい。
本発明の光学フィルムにおいては、AS層側の表面の表面抵抗値が、1×1013Ω/□以下であることが好ましく、1×1012Ω/□以下であることが更に好ましく、特に好ましくは1×1011Ω/□以下で1×107Ω/□以上である。光学フィルムの表面抵抗は、25℃60%下で円電極法により測定することができる。
すなわち、「中間の屈折率」とは、N(n)とN(as)との平均値のみではなく、平均値の±0〜0.45×△Nの範囲の屈折率も含む意味である。ここで△N=|N(as)−N(n)|である。
また、屈折率は、反射率を測定して、屈折率と膜厚を光学薄膜干渉のシミュレーションにより算出することができる。しかしながら以下の態様で述べるように、一定の屈折率の層が一定膜厚で形成されていない場合もあるため、本発明においては、各層を構成する塗膜中の構成成分の組成を分析し、その分析組成の塗工液を作製し該塗工液を塗布硬化させた塗膜の屈折率を、各層の塗膜の屈折率とすることもできる。塗膜内の構成成分の分析は、超薄斜め切片を作製し、TOFSIMS(Time of flight secondary ion mass spectrometry;例えば、ION TOF社製のTOF−SIMS IV(製品名))を用いることで可能である。
該態様において、層領域の厚みは0.03μm〜3μmが好ましく、更に好ましくは0.05μm〜1.5μmである。AS層成分単独の屈折率とN層成分単独の屈折率とが0.05以上異なる場合には、層領域の厚みは0.05μm〜1μmであることが特に好ましい。そして本態様において層領域とは、その上端から下端の間で、組成がバルクのAS層の組成からバルクの隣設層(N層)の組成に徐々に変化する層である。
詳細には、AS層、N層及び層領域の構成は、図1に示す形態と同じであるが、層領域がAS層形成用の塗料組成物とN層形成用の塗料組成物とが浸透して混合されているのではなく、両塗料組成物由来の成分が均一に混合されて形成されている形態である。
第2の態様においては、層領域である界面混合層の厚みは、0.05μm〜1μmが好ましく、更に好ましくは0.05μm〜0.5μmである。
図2及び図3は、それぞれ本発明の光学フィルムの1形態における層領域の構造を示す模式図であり、図2は、海島構造を示し、図3は、共連続相構造を示す。
具体的には、図2に示すように、本実施形態の海島構造の層領域3は、AS層形成用の塗布組成物により形成された海部分3bとN層形成用の塗布組成物により形成された島部分3aとにより形成されている。AS層形成用の塗布組成物により島部分を形成し、N層形成用の塗布組成物により海部分を形成してもよい。更に、それぞれ両者が異なる割合で混合された混合物により海部分及び島部分が形成されてもよい。
第3の態様においては、島構造部分の球相当直径は、0.01μm〜1μmが好ましく、0.02〜0.3μmが更に好ましく、最も好ましくは0.02〜0.15μmである。また、層領域の厚みは、0.03〜3.0μmとするのが好ましく、0.05〜1.5μmとするのが更に好ましい。
本発明において、AS層とN層に加えて、公知の光学機能層を加えた層構成をとることもできる。好ましくは、光学干渉によって反射率が減少するように、屈折率、膜厚、層の数、層順等を考慮して一層以上の反射防止層が積層された構成が好ましい。
本発明の光学フィルムの好ましい層構成の例を下記に示すが本発明はこれらに限定されない。下記構成において基材フィルムは、支持体を意味する。
・基材フィルム/N層/AS層
・基材フィルム/N層/AS層/低屈折率層
・基材フィルム/N層/AS層/低屈折率層/防汚層
・基材フィルム/N層/AS層/高屈折率層/低屈折率層
・基材フィルム/N層/AS層/低屈折率層/高屈折率層/低屈折率層
・基材フィルム/AS層/N層
・基材フィルム/AS層/N層/低屈折率層
・基材フィルム/ハードコート層/N層/AS層
・基材フィルム/ハードコート層/N層/AS層/低屈折率層
・基材フィルム/ハードコート層/N層/AS層/低屈折率層/高屈折率層/低屈折率層
・基材フィルム/防眩層/N層/AS層
・基材フィルム/防眩層/N層/AS層/低屈折率層
・基材フィルム/光拡散層/N層/AS層
・基材フィルム/光拡散層/N層/AS層/低屈折率層
以下、各層について説明する。
AS層は、導電性粒子と芳香族基を有するバインダー形成化合物とを主成分とする塗布組成物を塗工して形成される層である。
AS層に用いられる上記導電性粒子としては、カーボン系微粒子、金属系微粒子、金属酸化物系微粒子、導電被覆系微粒子等が挙げられる。
カーボン系微粒子としては、カーボンブラック、ケッチェンブラック、アセチレンブラック等のカーボン粉末、PAN系炭素繊維、ピッチ系炭素繊維等のカーボン繊維、膨張化黒鉛粉砕品のカーボンフレーク等が挙げられる。
金属系微粒子としては、アルミニウム、銅、金、銀、ニッケル、クロム、鉄、モリブデン、チタン、タングステン、タンタル等の金属、及び、それらの金属を含有する合金の粉末や、金属フレーク、鉄、銅、ステンレス、銀メッキ銅、黄銅等の金属繊維等が挙げられる。
金属酸化物系微粒子としては、酸化錫、アンチモンをドープした酸化錫(ATO)、酸化インジウム、スズをドープした酸化インジウム(ITO)、酸化亜鉛、アルミニウムをドープした酸化亜鉛、酸化アンチモンなどが挙げられる。
屈折率が低い導電性粒子として、多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子に酸化アンチモンが被覆されてなる粒子を挙げることができる。具体的な調製方法は特開2005−119909号公報に記載されている。
ましくは1〜150nm、さらに好ましくは1〜100nm、特に好ましくは1〜80nmである。導電性粒子の平均粒径は、光散乱法や電子顕微鏡写真により測定できる。また、分散された状態の2次粒子の質量平均粒子径は、1〜200nmであることが好ましく、好ましくは5〜150nmであり、さらに好ましくは10〜100nm、特に好ましくは10〜80nmである。導電性粒子を200nm以下に微細化することで透明性を損なわない帯電防止層を作製できる。
これら導電性粒子をバインダーに分散して帯電防止層を形成するには、帯電防止層の総構成成分に対して(AS層の固形分中)該導電性粒子の使用量は、5〜95質量%が好ましく、更に好ましくは、10〜90質量%、最も好ましくは30〜90%である。上記範囲だと導電性に優れ、膜強度の低下やヘイズの上昇などの弊害が少なく好ましい。
導電性粒子は、分散機を用いて分散することが好ましい。分散機の例には、サンドグラインダーミル(例えば、ピン付きビーズミル)、ダイノミル、高速インペラーミル、ペッブルミル、ローラーミル、アトライター及びコロイドミルなどが含まれる。サンドグラインダーミル、ダイノミルなどのメディア分散機が特に好ましい。また、予備分散処理を実施してもよい。予備分散処理に用いる分散機の例には、ボールミル、三本ロールミル、ニーダー及びエクストルーダーが含まれる。
AS層に用いられる上記芳香族基を有するバインダーとしては、芳香族基を含有するポリマーであれば特に制限無く用いることができるが、バインダーの屈折率を高くするためには、分子内に芳香族基に加えて、フッ素を除くハロゲン原子、イオウ原子などを含むことが好ましい。また、バインダー形成化合物は、分子内に重合性官能基を有することが好ましく、重合性官能基としては、エポキシ基、水酸基、シラノール基、ビニル基、アクリロイル基、メタクリロイル基などの官能基を挙げることができる。なかでも、アクリロイル基又はメタクリロイル基を用いると、硬化して形成されるAS層が高硬度になり好ましい。すなわち、このような重合性官能基を有するバインダー形成化合物を用いた場合には、塗布組成物において低い分子量の化合物が、最終的な製品としての光学フィルムにおいては、重合反応により高分子量の重合体が形成され、高硬度の塗膜(AS層)が形成される。
(B)1分子内に2つの(メタ)アクリロイル基を有する含硫黄芳香族化合物
(C)1分子内に2つの(メタ)アクリロイルオキシ基を有する含硫黄芳香族化合物
(D)1分子内に1つの(メタ)アクリロイル基を含有する含硫黄芳香族化合物
(A)1分子内に2つのビニル基を有する含硫黄芳香族化合物
好ましい1つの態様として、下記一般式(I)で表される化合物が挙げられる。
好ましい1つの態様として、下記一般式(II)で表される化合物が挙げられる。
好ましい1つの態様として、下記一般式(III)で表されるビスチオフェノールスルフィドのアルキレンオキシド変性ジ(メタ)アクリレート系化合物が挙げられる。
好ましくは、一般式(IV)及び一般式(V)で示される化合物が挙げられる。
上記以外にも、高屈折率の光重合性樹脂して知られている、例えば特許第3218480号公報、特許第3363990号公報、特許第3397448号公報、特許第3441425号公報、特開平7−48424号公報、及び特開平9−111189号公報に記載の重合性芳香族化合物を用いることができる。
また、上記AS層には実質導電性を有さない屈折率1.55以上の無機微粒子を含有するのが好ましい。実質導電性を有さないとは、体積抵抗が5000Ω/cm以上の無機粒子であることを意味し、チタン、ジルコニウム、インジウム、亜鉛、錫、アンチモン、ケイ素、アルミニウムのうちより選ばれる少なくとも1種の金属の酸化物を含有することができる。該高屈折微粒子の平均粒子径は0.1〜100nmであることが好ましく、更に好ましくは0.5〜50nmであり、最も好ましくは1〜30nmである。
粒子の平均粒子サイズの60%以下であると更に好ましい。無機微粒子の表面は、有機基により表面処理され無機粒子間の凝集性が低下していることで、無機微粒子同士の凝集による拡散性の低下が少なくなり好ましい。
無機微粒子の導電性粒子に対する使用量は、導電性粒子100質量部に対して3〜100質量部の範囲であることが好ましく、3〜60質量部の範囲であることがより好ましく、6〜30質量部であることが最も好ましい。
塗布組成物において導電性粒子は、分散剤の存在下で分散媒体中に分散することが好ましい。分散剤を用いて分散することにより、導電性粒子は極めて微細に分散することができ、透明な帯電防止層の作製を可能にする。
本発明に用いられる導電性粒子の分散には、アニオン性基を有する分散剤を用いることが好ましい。アニオン性基としては、カルボキシル基、スルホン酸基(スルホ基)、リン酸基(ホスホノ基)、スルホンアミド基等の酸性プロトンを有する基、又はその塩が有効であり、特にカルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基又はその塩が好ましく、カルボキシル基、リン酸基が特に好ましい。
同様に分散剤を用いて分散することができ、アニオン性基を有する分散剤が好ましい。また、無機粒子表面に強く相互作用するAl、Ti、Zrなどの原子を含むカップリング剤やオルガノシラン化合物で無機粒子の表面を処理し疎水的にすることが特に好ましい。これら処理剤を使用することで導電性粒子に比較して、塗布時の隣設層への粒子の拡散が容易となり本発明のムラ低減の効果が発現されやすい。Al、Ti、Zr系のカップリング剤は、特開2003−96400号公報の[0039]〜[0040]、特開2000−47004号公報の[0050]に記載の化合物が好ましい。オルガノシラン化合物は、例えば特開2005−307158号公報の[0025]〜[0031]、[0037]〜[0039]に記載の化合物や、特開平11−43319号公報の[0052]〜[0056]に記載の化合物が好ましい。
分散媒体は、沸点が60〜170℃の液体を用いることが好ましい。分散媒体の例には、水、アルコール類(例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ベンジルアルコール)、ケトン類(例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン)、エステル類(例えば、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、蟻酸メチル、蟻酸エチル、蟻酸プロピル、蟻酸ブチル)、脂肪族炭化水素(例えば、ヘキサン、シクロヘキサン)、ハロゲン化炭化水素(例えば、メチレンクロライド、クロロホルム、四塩化炭素)、芳香族炭化水素(例えば、ベンゼン、トルエン、キシレン)、アミド(例えば、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、n−メチルピロリドン)、エーテル(例えば、ジエチルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロフラン)、エーテルアルコール(例えば、1−メトキシ−2−プロパノール)が含まれる。その他、プロピレングリコールモノアルキルエーテル(炭素数1〜4のアルキル基)、又は、プロピレングリコールモノアルキルエーテルエステル(炭素数1〜4のアルキル基)が分散性に優れ好ましい。この中でも、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、ブタノール及びプロピレングリコールモノエチルエーテルが好ましい。
特に好ましい分散媒体は、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、プロピレングリコールモノエチルエーテルである。
AS層には、上記の芳香族基を有するバインダー以外に他のバインダーを用いることもできる。該他のバインダー形成用化合物としては、非硬化系の熱可塑性樹脂、又は熱硬化性樹脂、電離放射線硬化性樹脂のような硬化系樹脂等を用いることができる。塗膜の硬度上昇の点からは硬化性樹脂を用いることが好ましく、特に好ましくはラジカル重合性基を有する電離放射線硬化モノマー又はカチオン重合性モノマーである。
ラジカル重合性基としては、(メタ)アクリロイル基、ビニルオキシ基、スチリル基、アリル基等のエチレン性不飽和基等が挙げられ、中でも、(メタ)アクリロイル基が好ましい。またラジカル重合性基には、分子内に2個以上のラジカル重合性基を有する多官能モノマーを含有することが好ましい。ラジカル重合性基を有する多官能モノマーは、二種類以上を併用してもよい。
特に高屈折率モノマーの例としては、ビス(4−メタクリロイルチオフェニル)スルフィド、ビニルナフタレン、ビニルフェニルスルフィド、4−メタクリロキシフェニル−4’−メトキシフェニルチオエーテル等を用いることができる。
上記化合物は、3官能以上のアクリレートと併用することで、低カールで耐擦傷性に優れる塗膜を形成することができる。
カチオン重合性モノマーとしては、1分子中のカチオン重合性基の数は2〜10個が好ましく、特に好ましくは2〜5個である。該化合物の分子量は3000以下であることが好ましく、より好ましくは200〜2000の範囲、特に好ましくは400〜1500の範囲である。この範囲であれば、皮膜形成過程での揮発が問題となることなく、バインダー形成用化合物との相溶性の点でも問題なく、好ましい。
カチオン重合性モノマーの1つであるエポキシ化合物としては脂肪族エポキシ化合物及び芳香族エポキシ化合物が挙げられる。
が好ましい。
また、上記の他のバインダーの使用量は、導電性粒子100質量部に対して10〜70質量部とするのが好ましく、15〜40質量部とするのが更に好ましい。
AS層の屈折率は、汎用の導電性粒子を使用して導電性を付加するという観点からは、1.53〜2.10とするのが好ましく、1.58〜1.80とするのが更に好ましい。
また、AS層の帯電防止性能を示すAS層の上に塗布層がない場合の表面抵抗値は、光学フイルムの電荷漏洩を速め、防塵性を付与する観点から、1×105Ω/□〜1×1012Ω/□とするのが好ましく、1×106Ω/□〜1×1011Ω/□とするのが更に好ましい。
AS層には、電離放射線又は熱をトリガーとした重合開始剤を含有することができる。
光ラジカル重合開始剤としては、アセトフェノン類、ベンゾイン類、ベンゾフェノン類、ホスフィンオキシド類、ケタール類、アントラキノン類、チオキサントン類、アゾ化合物、過酸化物類(特開2001−139663号等)、2,3−ジアルキルジオン化合物類、ジスルフィド化合物類、フルオロアミン化合物類、芳香族スルホニウム類、ロフィンダイマー類、オニウム塩類、ボレート塩類、活性エステル類、活性ハロゲン類、無機錯体、クマリン類などが挙げられる。
「最新UV硬化技術」,(株)技術情報協会,1991年,p.159、及び、「紫外線硬化システム」 加藤清視著、平成元年、総合技術センター発行、p.65〜148にも種々の例が記載されており本発明に有用である。
熱ラジカル開始剤としては、有機あるいは無機過酸化物、有機アゾ及びジアゾ化合物等を用いることができる。
具体的には、有機過酸化物として過酸化ベンゾイル、過酸化ハロゲンベンゾイル、過酸化ラウロイル、過酸化アセチル、過酸化ジブチル、クメンヒドロぺルオキシド、ブチルヒドロぺルオキシド、無機過酸化物として、過酸化水素、過硫酸アンモニウム、過硫酸カリウム等、アゾ化合物として2,2'−アゾビス(イソブチロニトリル)、2,2'−アゾビ
ス(プロピオニトリル)、1,1'−アゾビス(シクロヘキサンカルボニトリル)等、ジアゾ化合物としてジアゾアミノベンゼン、p−ニトロベンゼンジアゾニウム等が挙げられる。
光酸発生剤としては、例えば、(1)ヨードニウム塩、スルホニウム塩、ホスホニウム塩、ジアゾニウム塩、アンモニウム塩、ピリジニウム塩等の各種オニウム塩;(2)β−ケトエステル、β−スルホニルスルホンとこれらのα−ジアゾ化合物等のスルホン化合物;(3)アルキルスルホン酸エステル、ハロアルキルスルホン酸エステル、アリールスルホン酸エステル、イミノスルホネート等のスルホン酸エステル類;(4)スルホンイミド化合物類;(5)ジアゾメタン化合物類;その他を挙げることができ、適宜使用することができる。
その他、具体的な化合物や使用法として、例えば特開2005−43876号記載の内容などを用いることができる。
支持体上のいずれかの層を作製するのに用いる塗布液には、面状故障(塗布ムラ、乾燥ムラ、点欠陥など)を改良するために、フッ素系及びシリコーン系の少なくともいずれかの面状改良剤を添加することが好ましい。
本発明のAS層を形成するための塗布組成物に用いられる溶剤としては、各成分を溶解または分散可能であること、塗布工程、乾燥工程において均一な面状となり易いこと、液保存性が確保できること、適度な飽和蒸気圧を有すること、等の観点で選ばれる各種の溶剤が使用できる。
溶媒は2種類以上のものを混合して用いることができる。特に、乾燥負荷の観点から、常圧室温における沸点が100℃以下の溶剤を主成分とし、乾燥速度の調整のために沸点が100℃以上の溶剤を少量含有することが好ましい。
次に、N層について説明する。
N層は、上記AS層に隣設される、導電性がなく、更には硬化性バインダー形成化合物から形成される高硬度の層である。N層は光学フイルムの鉛筆硬度を上げるために、ハードコート層を兼ねることも好ましい。N層の硬化性バインダー形成化合物はAS層の(他のバインダー)の項で述べたものを用いることができる。特にN層においては、上記の他のバインダー形成化合物の好ましい分子量は、バインダー形成化合物に分子量が高い成分を共存させることでAS層からの必要以上の成分の拡散を抑制することができることから、300〜5000、更に好ましくは350〜5000、最も好ましくは400〜3000である。
また、N層の構成成分としては、AS層で述べた、重合開始剤、面状改良剤、希釈溶媒、無機・有機・有機無機ハイブリッドの粒子等を本発明の所望の効果を損なわない範囲で用いることができる。
また、N層の導電性能を示す表面抵抗は、N層自身を30μm厚でトリアセチルセルロースフイルムに塗布・硬化させて膜で測定し、1×1013Ω/□以上である。
次に層領域について説明する。
層領域は、好ましくは上述のように第1〜第3の形態の何れかの形態の層であって、AS層の構成成分とN層の構成成分とが混合されて形成されている層である。導電性粒子に対する芳香族基を有するバインダーの質量比(AR/P)をAS層形成用塗布液自身と層領域で比較することにより、層領域中に芳香族基含有バインダー形成用化合物が導電性粒子よりも優先して拡散してきている程度を見積もることができる。AS層塗布液の(AR/P)に対する層領域中の(AR/P)は、1.10以上が好ましく、2.0以上100
0以下が更に好ましい。
また、層領域の屈折率は、干渉ムラ低減の観点から、N(n)+0.05△N 〜 N(n)+0.95△Nとするのが好ましく、N(n)+0.30△N 〜 N(n)+0.70△Nとするのが更に好ましい。
3−1.(ハードコート層)
本発明の光学フィルムには、フィルムの物理的強度を付与するために、好ましくは支持体の一方の面にハードコート層を設けることができる。ハードコート層は、二層以上の積層から構成されてもよい。
また、ハードコート層の強度は、鉛筆硬度試験で、H以上であることが好ましく、2H以上であることがさらに好ましく、3H以上であることが最も好ましい。
さらに、JIS K5400に従うテーバー試験で、試験前後の試験片の摩耗量が少ないほど好ましい。
電離放射線硬化性の多官能モノマーや多官能オリゴマーの官能基としては、光、電子線、放射線重合性のものが好ましく、中でも光重合性官能基が好ましい。
光重合性官能基としては、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基等の不飽和の重合性官能基等が挙げられ、中でも、(メタ)アクリロイル基が好ましい。また、光重合性官能基を有する多官能モノマーやオリゴマーを用いる場合には、後述する光ラジカル重合開始剤を併用するのが好ましい。
画像の鮮明性を維持し、表面の反射率を抑えて、ハードコート層の内部及び表面にて光散乱機能を付与しない場合は、ヘイズ値は低い程良く、具体的には10%以下が好ましく、更に好ましくは5%以下であり、最も好ましくは2%以下である。
本発明の光学フィルムには、高屈折率層、中屈折率層を設け、後述の低屈折率層とともに光学干渉を利用すると反射防止性を高めることができる。
以下の本明細書では、この高屈折率層と中屈折率層を高屈折率層と総称して呼ぶことがある。なお、本発明において、高屈折率層、中屈折率層、低屈折率層の「高」、「中」、「低」とは層相互の相対的な屈折率の大小関係を表す。また、透明支持体との関係で言えば屈性率は、透明支持体>低屈折率層、高屈折率層>透明支持体の関係を満たすことが好ましい。
また、本明細書では高屈折率層、中屈折率層、低屈折率層を総称して反射防止層と総称して呼ぶことがある。
高屈折率層の上に低屈折率層を有する場合、高屈折率層の屈折率は透明支持体の屈折率より高いことが好ましい。
高屈折率層に、芳香環を含む電離放射線硬化性化合物、フッ素以外のハロゲン化元素(例えば、Br,I,Cl等)を含む電離放射線硬化性化合物、S,N,P等の原子を含む電離放射線硬化性化合物などの架橋又は重合反応で得られるバインダーも好ましく用いることができる。
本発明の光学フィルムにおいては、光学フィルムの反射率を低減するため、低屈折率層を設けることが好ましい。
低屈折率層の屈折率は、1.20〜1.46であることが好ましく、1.25〜1.46であることがより好ましく、1.30〜1.40であることが特に好ましい。
低屈折率層の厚さは、50〜200nmであることが好ましく、70〜100nmであることがさらに好ましい。低屈折率層のヘイズは、3%以下であることが好ましく、2%以下であることがさらに好ましく、1%以下であることが最も好ましい。具体的な低屈折率層の強度は、500g荷重の鉛筆硬度試験でH以上であることが好ましく、2H以上であることがさらに好ましく、3H以上であることが最も好ましい。
また、光学フィルムの防汚性能を改良するために、表面の水に対する接触角が90度以上であることが好ましい。更に好ましくは95度以上であり、特に好ましくは100度以上である。
好ましい硬化物組成の態様としては、(1)架橋性若しくは重合性の官能基を有する含フッ素ポリマーを含有する組成物、(2)含フッ素のオルガノシラン材料の加水分解縮合物を主成分とする組成物、(3)2個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーと中空構造を有する無機微粒子を含有する組成物、が挙げられる。
架橋性若しくは重合性の官能基を有する含フッ素ポリマーとしては、含フッ素モノマーと架橋性または重合性の官能基を有するモノマーの共重合体を挙げることができる。含フッ素モノマーとしては、例えばフルオロオレフィン類(例えばフルオロエチレン、ビニリデンフルオライド、テトラフルオロエチレン、ヘキサフルオロエチレン、ヘキサフルオロプロピレン、パーフルオロ−2,2−ジメチル−1,3−ジオキソール等)、(メタ)アクリル酸の部分または完全フッ素化アルキルエステル誘導体類(例えばビスコート6FM(大阪有機化学製)やM−2020(ダイキン製)等)、完全または部分フッ素化ビニルエーテル類等である。
主鎖へのポリシロキサン部分構造導入方法は、例えば特開平6−93100号公報に記載のアゾ基含有ポリシロキサンアミド(市販のものではVPS-0501、1001(商品名;和光純薬工業(株)社製))等のポリマー型開始剤を用いる方法が挙げられる。また、側鎖に導入する方法は、例えばJ.Appl.Polym.Sci.2000,78,1955、特開昭56−28219号公報等に記載のごとく、反応性基を片末端に有するポリシロキサン(例えばサイラプレーンシリーズ(チッソ株式会社製)など)を高分子反応によって導入する方法、ポリシロキサン含有シリコンマクロマーを重合させる方法によって合成することができ、どちらの方法も好ましく用いることができる。
これら化合物は、特にポリマー本体に重合性不飽和基を有する化合物を用いた場合に耐擦傷性改良に対する併用効果が大きく好ましい。
含フッ素のオルガノシラン化合物の加水分解縮合物を主成分とする組成物も屈折率が低く、塗膜表面の硬度が高く好ましい。フッ素化アルキル基に対して片末端又は両末端に加水分解性のシラノールを含有する化合物とテトラアルコキシシランの縮合物が好ましい。具体的組成物は、特開2002−265866号公報、317152号公報に記載されている。
更に別の好ましい態様として、低屈折率の粒子とバインダーからなる低屈折率層が挙げられる。低屈折率粒子としては、有機でも無機でも良いが、内部に空孔を有する粒子が好ましい。中空粒子の具体例は、特開2002−79616号公報に記載のシリカ系粒子に記載されている。粒子屈折率は1.15〜1.40が好ましく、1.20〜1.30が更に好ましい。バインダーとしては、上記ハードコート層の頁で述べた二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーを挙げることができる。
本発明の光学フィルムの支持体としては、透明樹脂フィルム、透明樹脂板、透明樹脂シートや透明ガラスなど、特に限定は無い。透明樹脂フィルムとしては、セルロースアシレートフィルム(例えば、セルローストリアセテートフィルム(屈折率1.48)、セルロースジアセテートフィルム、セルロースアセテートブチレートフィルム、セルロースアセテートプロピオネートフィルム)、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエーテルスルホンフィルム、ポリアクリル系樹脂フィルム、ポリウレタン系樹脂フィルム、ポリエステルフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリスルホンフィルム、ポリエーテルフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリエーテルケトンフィルム、(メタ)アクリルニトリルフィルムポリオレフィン、脂環式構造を有するポリマー(ノルボルネン系樹脂(アートン:商品名、JSR社製(屈折率1.51))、非晶質ポリオレフィン(ゼオネックス:商品名、日本ゼオン社製)(屈折率1.53)、)、などが挙げられる。このうちトリアセチルセルロース、ポリエチレンテレフタレート、脂環式構造を有するポリマーが好ましく、特にトリアセチルセルロースが好ましい。
支持体の厚さは通常25μm〜1000μm程度のものを用いることができるが、好ましくは25μm〜250μmであり、30μm〜90μmであることがより好ましい。
支持体の巾は任意のものを使うことができるが、ハンドリング、得率、生産性の点から通常は100〜5000mmのものが用いられ、800〜3000mmであることが好ましく、1000〜2000mmであることがさらに好ましい。支持体はロール形態の長尺で取り扱うことができ、通常100m〜5000m、好ましくは500m〜3000mのものである。
支持体の表面は平滑であることが好ましく、平均粗さRaの値が1μm以下であることが好ましく、0.0001〜0.5μmであることが好ましく、0.001〜0.1μmであることがさらに好ましい。
上記各種フィルムの中でも、透明性が高く、光学的に複屈折が少なく、製造が容易であり、偏光板の保護フィルムとして一般に用いられているセルロースアシレートフィルムが好ましい。
セルロースアシレートフィルムについては力学特性、透明性、平面性などを改良する目的のため、種々の改良技術が知られており、公開技報2001−1745に記載された技術は公知のものとして本発明のフィルムに用いることができる。
以下、第2〜4発明について説明するが、第2〜4発明における層構成や構成成分、更には最も好ましい態様は上述の第1発明と同様であるので、上述した第1発明と異なる点について詳述する。
第2発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が導電性粒子とは別の屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する。
すなわち、第2発明においては、芳香族基を有するバインダーが任意成分である代わりに無機微粒子が必須の構成成分である点において第1発明と異なる。
第3発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に上記帯電防止層の構成成分と上記隣設層の構成成分とが混合されて形成された層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダーを含有する。
すなわち、第3発明においては、層領域が特定の屈折率を有する代わりに特定の構成成分からなる点において第1発明と異なる。
第4発明の光学フィルムは、支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に上記帯電防止層の構成成分と上記隣設層の構成成分とが混合されて形成された層領域が存在し、該層領域が導電性粒子とは別の屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する。
すなわち、第4発明においては、層領域が特定の屈折率を有する代わりに特定の構成成分からなる点及び芳香族基を有するバインダーが任意成分である代わりに無機微粒子が必須の構成成分である点において第1発明と異なる。
次に、本発明の光学フィルムの製造方法について説明する。
本発明の光学フィルムにおいて、AS層と「AS層とN層の間に中間の屈折率をもつ層領域」とに芳香族基を有するバインダー及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を含有せしめる方法としては、芳香族基を有するバインダー形成化合物及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を含有するAS層形成塗布組成物を調製し、AS層形成用塗布組成物とN層形成用塗布組成物とを隣接させて塗工し、乾燥、必要に応じて硬化させることにより、光学フィルムを形成し、芳香族基を有するバインダー形成化合物及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を拡散せしめることにより達成することができる。
第2層を塗設し、その後に更に硬化を進め、これにより本発明の光学フィルムの上記層領域が形成される。
第2層を塗設する前の第1層の重合性化合物の重合率は0〜50%であり、最も好ましくは10〜30%である。上記範囲に重合率を調節することで、界面混合をコントロールでき、ムラ防止、界面密着強化が達成できる。重合率は、高分子分析ハンドブック(日本分析化学会高分子分析懇談会編)に記載されている方法を用いて算出することができる。具体的には、例えば(メタ)アクロイルオキシ基による重合反応の場合には、塗布済みのハードコート層中バインダーの(メタ)アクロイルオキシ基の炭素−炭素二重結合(C=C)起因の810cm-1付近の赤外吸収ピーク面積Aとアシル基(C=O)起因の1720cm-1付近の赤外吸収ピーク面積Bを重合反応前後で測定し、[(重合後のA/B)/(重合前のA/B)]×100により二重結合の消失度を算出し、これを重合率(%)とする。
本発明の製造方法を実施するには、塗布液の物性により塗布可能な上限の速度が大きく影響を受けるため、塗布する瞬間の塗布液物性、特に粘度及び表面張力を制御することが好ましい。粘度については0.5〜10.0[mPa・sec]以下であることが好ましく、更に好ましくは0.5〜6.0[mPa・sec]である。塗布液によってはせん断速度により粘度が変化するものもあるため、上記の値は塗布される瞬間のせん断速度における粘度を示している。塗布液にチキソトロピー剤を添加して、高せん断のかかる塗布時は粘度が低く、塗布液にせん断が殆どかからない乾燥時は粘度が高くなると乾燥時のムラが発生しにくくなり、好ましい。
本発明の光学フィルムの製造方法において各層を形成する際の塗布組成物の塗布方法は、特に制限されないが、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ローラーコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法やエクストルージョンコート法(ダイコート法)(米国特許2681294号明細書参照)、マイクログラビアコート法等の公知の方法が用いられ、その中でもマイクログラビアコート法、ダイコート法が好ましい。
4−3−1.(硬化条件)
本発明の光学フィルムは溶剤の乾燥の後に、ウェブで電離放射線及び/又は熱により各塗膜を硬化させるゾーンを通過させ、塗膜を硬化することで最終的に得られる。
る。特に高生産性のため製造速度をあげた場合には、硬化反応に必要な電離放射線のエネルギーを確保するために複数回の電離放射線照射が必要となる。これにより、塗膜面内の硬化進行の均一性が保たれ、面状故障を減らすのに有効である。
本発明において、AS層形成用の塗布組成物やN層形成用の塗布組成物に含まれる重合性化合物における重合性官能基の反応率を制御する方法としては、以下に示す感光波長の異なる2種以上の重合開始剤を用いる方法をとることができる。本発明の光学フィルムの製造方法においては、「感光波長域での長波長側の吸収末端が異なる2種類以上の重合開始剤を含んでなる先に塗設して形成された第1塗布層を、該重合開始剤の少なくとも1種(a)が実質的に感光せず、且つ該重合開始剤の少なくとも1種(b)が感光する波長の電離放射線照射し硬化させ(工程1)、その後、該第1塗布層の上に、少なくとも1種の重合開始剤(c)を含む第2塗布層形成用の塗布液を塗布して、重合開始剤(a)及び(c)が感光する波長の電離放射線照射を行い(工程2)、第1層と第2層を硬化させる塗布・製造方法」を採用することが好ましい。すなわち、本発明の光学フィルムにおいては、AS層形成用の塗布組成物及びN層形成用の塗布組成物のうち製造段階で先に塗設する方の塗布組成物が感光波長域での長波長側の吸収末端が異なる2種類以上の重合開始剤を含有し、また、次いで塗設する方の塗布組成物が少なくとも一種の重合開始剤を含有するのが好ましい。
実際の好ましい態様の一つとして、例えば、工程1としてN層を第1塗布層として、N層形成用の塗布組成物に、近紫外線に感光領域のある重合開始剤(a)と主として紫外線に感光領域のある重合開始剤(b)とを併用し、該第1塗布層に近紫外線を照射し、次に、工程2として、近紫外線に感光領域のある重合開始剤と紫外線にのみ感光領域のある重合開始剤(c)を含む第2塗布層としてAS層を塗布し、近紫外線と紫外線を照射し、この2つの工程により、硬化させる方法が挙げられる。ここで、重合開始剤(c)は、重合開始剤(b)と同じものを用いることができる。
第1塗布層の重合開始剤(a)と(b)の絶対量及び割合を調節することで、工程1での第1塗布層の重合率及び工程2まで終了した後の重合率を制御することができる。例えば、層領域を本発明の所望の効果が奏される厚み等とするためには重合開始剤(a)100質量部に対して、重合開始剤(b)を100〜300質量部とするのが好ましい。
ジフェニルホスフィンオキシド{“DAROCUR TPO”(商品名);チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}、フェニレンビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−ホスフィンオキシド{“IRGACURE 819”(商品名);チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製};ビス(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチル−ペンチルホスフィンオキシドなどのホスフィンオキシド類、2,4−ジエチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、1−クロロ−4−プロポキシチオキサントンなどのチオキサントン、N−メチルアクリドン、ビス(ジメチルアミノフェニル)ケトン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタン−1−オン{“IRGACURE 369”(商品名);チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}などのケトン類、1,2−オクタンジオン−1−[4−(フェニルチオ)−2,2−(O−ベンゾイルオキシム)]などのオキシム類などの、400nm付近まで吸収末端がある化合物が好ましい。ホスフィンオキシド類が、作製したフィルムの着色を少なく、照射後の消色が大きいため、特に好ましい。
本発明の偏光板は、偏光膜と、該偏光膜の両側に設けられた保護フィルムとを有する偏光板であって、該保護フィルムの少なくとも一方が本発明の光学フィルムである。
また、偏光膜を本発明の光学フィルムとそれ以外の他の保護フィルムで狭持してなる構成とすることもできる。
他の保護フィルムとしては、通常のセルロースアセテートフィルムを用いてもよいが、溶液製膜法で製造され、且つ10〜100%の延伸倍率でロールフィルム形態における巾方向に延伸したセルロースアセテートフィルムを用いても良い。
更には、本発明の偏光板において、片面が本発明の光学フィルムであるのに対して他の保護フィルムが液晶性化合物からなる光学異方性層を有する光学補償フィルムであっても良い。
また、本発明の偏光板において、片面が本発明の光学フィルムであるのに対して他の保護フィルムがReが0〜10nm、Rthが−20〜20nmであるフィルム(たとえば、特開2005−301227号公報段落番号[0095]参照)であっても良い。
光学補償フィルムとしては、公知のものを用いることができるが、視野角を広げるという点では、特開2001−100042号公報に記載されている光学補償フィルムが好ましい。
本発明の画像表示装置は、上記の本発明の光学フィルム又は上記の本発明の偏光板を有する。
すなわち、本発明の光学フィルム、偏光板は、液晶表示装置等の画像表示装置に有利に用いることができ、ディスプレイの最表層に用いることが好ましい。
画像表示装置は、通常、液晶セルおよびその両側に配置された二枚の偏光板を有し、液晶セルは、二枚の電極基板の間に液晶を担持している。さらに、光学異方性層が、液晶セルと一方の偏光板との間に一枚配置されるか、あるいは液晶セルと双方の偏光板との間に二枚配置されることもある。ここで、本発明の偏光板が視認側にのみ設置されているのが好ましい。
TNモードの液晶セルでは、電圧無印加時に棒状液晶性分子が実質的に水平配向し、さらに60〜120゜にねじれ配向している。
TNモードの液晶セルは、カラーTFT液晶表示装置として最も多く利用されており、多数の文献に記載がある。
VAモードの液晶セルでは、電圧無印加時に棒状液晶性分子が実質的に垂直に配向している。
VAモードの液晶セルには、(1)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直に配向させ、電圧印加時に実質的に水平に配向させる狭義のVAモードの液晶セル(特開平2−176625号公報記載)に加えて、(2)視野角拡大のため、VAモードをマルチドメイン化した(MVAモードの)液晶セル(SID97、Digest of Tech. Papers(予稿集)28(1997)845記載)、(3)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直配向させ、電圧印加時にねじれマルチドメイン配向させるモード(n−ASMモード)の液晶セル(日本液晶討論会の予稿集58〜59(1998)記載)および(4)SURVAIVALモードの液晶セル(LCDインターナショナル98で発表)が含まれる。
OCBモードの液晶セルは、棒状液晶性分子を液晶セルの上部と下部とで実質的に逆の方向に(対称的に)配向させるベンド配向モードの液晶セルであり、米国特許第4583825号、同5410422号の各明細書に開示されている。棒状液晶性分子が液晶セルの上部と下部とで対称的に配向しているため、ベンド配向モードの液晶セルは、自己光学補償機能を有する。そのため、この液晶モードは、OCB(Optically Compensatory Bend)液晶モードと呼ばれる。ベンド配向モードの液晶表示装置は、応答速度が速いとの利点がある。
IPSモードの液晶セルは、ネマチック液晶に横電界をかけてスイッチングする方式であり、詳しくはProc.IDRC(Asia Display ’95),p.577−580及び同p.707−710に記載されている。
ECBモードの液晶セルは、電圧無印加時に棒状液晶性分子が実質的に水平配向している。ECBモードは、最も単純な構造を有する液晶表示モードの一つであって、例えば特開平5−203946号公報に詳細が記載されている。
本発明の光学フィルムは、特開平5−127822号公報、特開2002−48913号公報等に記載されるタッチパネルなどに応用することができる。
本発明の光学フィルムは、有機EL素子等の基板(基材フィルム)や保護フィルムとして用いることができる。
本発明の光学フィルムを有機EL素子等に用いる場合には、特開平11−335661号、特開平11−335368号、特開2001−192651号、特開2001−192652号、特開2001−192653号、特開2001−335776号、特開2001−247859号、特開2001−181616号、特開2001−181617号、特開2002−181816号、特開2002−181617号、特開2002−056976号等の各公報記載の内容を応用することができる。また、特開2001−148291号、特開2001−221916号、特開2001−231443号の各公報記載の内容と併せて用いることが好ましい。
(実施例1)
下記表に示すN層用塗布液(NL−1)〜(NL−3)、及びAS層用塗布液(ASL−1)〜(ASL−9)を調製した。
N層用塗布液(NL−1)の組成
───────────────────────────────────
PET−30 47.0g
DPHA 50.0g
イルガキュア184 2.0g
イルガキュア369 1.0g
SP−13 0.01g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 70.0g
ブタノール 10.0g
MEK 20.0g
───────────────────────────────────
N層用塗布液(NL−2)の組成
───────────────────────────────────
PET−30 17.0g
DPHA 50.0g
M−215 30.0g
イルガキュア184 2.0g
イルガキュア369 1.0g
SP−13 0.01g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 49.0g
ブタノール 7.0g
MEK 14.0g
───────────────────────────────────
N層用塗布液(NL−3)の組成
───────────────────────────────────
DPHA 50.0g
M−215 47.0g
イルガキュア184 2.0g
イルガキュア369 1.0g
SP−13 0.01g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 20.0g
MEK 10.0g
───────────────────────────────────
それぞれ使用した化合物を以下に示す。
・ DPHA:ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物[日本化薬(株)製]
・ PET−30:ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレートの混合物[日本化薬(株)製]
・ M−215:イソシアヌル酸エトキシ変性ジアクリレート[東亜合成(株)製、アロニックスM−215]
・ イルガキュア184:重合開始剤[チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製]
・ イルガキュア369:重合開始剤[チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製]
・ SP−13フッ素系表面改質剤
帯電防止層用塗布液(ASL−1)の調製
市販の導電性微粒子ATO「アンチモンドープ酸化錫T−1」{比表面積80m2/g、三菱マテリアル(株)製}30.0部に、アニオン性基とメタアクリロイル基を有する下記の分散剤(B−1)4.0部、プロピレングリコールモノエチルエーテル67部を添加して撹拌した。
ASL−1の組成を以下に示す。
AS層用塗布液(ASL−1)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 15.0g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 19.0g
───────────────────────────────────
AS層用塗布液(ASL−2)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 8.0g
DPSM 7.0g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 19.0g
───────────────────────────────────
AS層用塗布液(ASL−3)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 8.0g
ZrO2(平均粒子サイズ12nm) 7.0g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 19.0g
───────────────────────────────────
AS層用塗布液(ASL−4)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 8.0g
ZrO2(平均粒子サイズ7nm) 7.0g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 19.0g
───────────────────────────────────
AS層用塗布液(ASL−5)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 8.0g
ZrO2(平均粒子サイズ20nm) 7.0g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 19.0g
───────────────────────────────────
AS層用塗布液(ASL−6)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 8.0g
DPSM 3.5g
PTM 3.5g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 19.0g
───────────────────────────────────
AS層用塗布液(ASL−7)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 8.0g
DPSM 3.5g
ZrO2(平均粒子サイズ12nm) 3.5g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 19.0g
───────────────────────────────────
AS層用塗布液(ASL−8)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 8.0g
ZrO2(平均粒子サイズ12nm) 7.0g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 5.0g
───────────────────────────────────
AS層用塗布液(ASL−9)の組成
───────────────────────────────────
ATO(T−1) 30.0g
分散剤(B−1) 4.0g
DPHA 8.0g
DPSM 3.5g
ZrO2(平均粒子サイズ12nm) 3.5g
イルガキュア184 0.7g
イルガキュア369 0.3g
SP−13 0.03g
プロピレングリコールモノエチルエーテル 67.0g
MEK 4.0g
───────────────────────────────────
・ DPSM:ビス(4−メタクリロキシエトキシフェニル)スルフィド
・ PTM:フェニルチオエチルメタクリレート
・ ZrO2(平均12nm):(ZrO2のMEK分散液 住友大阪セメント製に対してAl系カップリング剤プレーンアクトAL−M(味の素株式会社製)を3質量%(対ZrO2)添加、ZrO2 粒子の屈折率2.2)
・ ZrO2(平均8nm):(上記ZrO2の粒子サイズ違い)
・ ZrO2(平均20nm):(上記ZrO2の粒子サイズ違い)
ベース巻き出し/第1コーター/第1乾燥/第1UV照射/第2コーター/第2乾燥/第2UV照射/巻取りが連続してできる装置を使用して、180mm幅のロール状に加工した膜厚80μmのトリアセチルセルロースフィルム“TAC−TD80U”{富士フイルム(株)製}上に150mmの塗布幅で以下の条件で光学フィルムを作成した。
第1コーター:1スロット押し出しコーター
第1層塗布液:NL−1
第1乾燥:80℃90秒
第1UV照射:40mJ/cm2、窒素パージし酸素濃度0.1%以下
第2コーター:1スロット押し出しコーター
第2層塗布液:ASL−1
第2乾燥:80℃90秒
第2UV照射:120mJ/cm2、窒素パージし酸素濃度0.1%以下
光学フィルム101の作製において、塗布液種、乾燥硬化膜厚、UV照射量を表1に示す様に変更した試料102〜124を作製した。
得られた光学フイルム101〜124に対して、以下の評価を行った。
第2塗布層を塗布する前の乾燥・硬化後の第1塗布層を用いて、本文に記載の方法で第1塗布層の重合率を測定した。
各試料の50nmの厚さの切片を作製し透過型電子顕微鏡で15万倍で写真を撮影し、導電性粒子や無機微粒子の界面での状態を観察した。また、各試料を支持体の水平面に対して5°の角度で斜め切削して、TOF−SIMSにより切削界面を観察し、芳香族基を有するバインダーに固有のシグナルの分布を観察し、界面での混合状態を観察した。界面の評価は以下の6つに分類して行った。
・ クリア:界面はクリアで、導電性粒子、導電性粒子とは別の屈折率≧1.55の粒子や芳香族基を含有したバインダーの拡散はほとんど認められない。
・ 徐変:界面付近で、導電性粒子とは別の屈折率≧1.55の粒子及び/又は芳香族基含有バインダーの濃度がN層又はAS層と異なる層が認められる。(本発明の態様1)
・ 乱混合:界面付近で、導電性粒子の濃度の異なる層が認められ、かつ層の厚さが一定せず乱れている。
・ 界面混合層:界面付近で、AS層でもN層でもない、別の組成の組成が膜厚方向に変化することのない層が形成されている。(本発明の態様2)
・ 海島構造:界面付近で導電性粒子とは別の屈折率≧1.55の粒子及び芳香族基含有バインダーを含む相が分散状態で存在し、海島構造になっている。(本発明の態様3)
・ 観察されず:界面は観察されない。
また、徐変、界面混合層及び乱混合については、導電性粒子とは別の屈折率≧1.55の粒子や芳香族基を含有したバインダーの濃度が変化している層の厚さを見積もった。界面混合層が形成された場合には、層の厚みを見積もった。海島構造については、分散された相の直径を見積もった。
表面抵抗値を本文に記載の円電極法で測定した。
干渉ムラの指標として以下のうねり振幅を用いた。測定サンプルは裏面反射の影響をなくすために、測定面(AS層を設けた側の面)の反対側の表面(裏面)をサンドペーパーで粗面化した後、波長400〜600nmの可視光線平均透過率が5%以下となるように黒色マジックインキにて着色した。分光光度計“V−550”[日本分光(株)製]にアダプター”ARV−474”を装着して、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における出射角−5゜の鏡面反射率を測定した。反射スペクトルの400nm〜650nmにおける反射率カーブのうねりの山頂部分を結んだ線(山頂線)とうねりの谷底部分を結んだ線(谷底線)について550nmにおける”(山頂線−谷底線)”を求めうねり振幅を算出した。
光学フィルム上に塗設された層の膜厚のムラにより干渉波長がずれると、うねり振幅が大きい試料は特定波長の反射率が大きく変化し、特に光源が輝線を有する蛍光灯光源下ではムラが目立ちやすい。うねり振幅は1.5%以下が好ましく、更に好ましくは1.0%以下である。
ラビングテスターを用いて、以下の条件でこすりテストを行った。
評価環境条件:25℃、60%RH
こすり材:試料と接触するテスターのこすり先端部(1cm×1cm)にスチールウール((株)日本スチールウール製、No.0000)を巻いて、動かないようバンド固定し
た。その上で下記条件の往復こすり運動を与えた。
移動距離(片道):13cm、こすり速度:13cm/秒、
荷重:500g/cm3、先端部接触面積:1cm×1cm、
こすり回数:10往復。
こすり終えた試料の裏側に油性黒インキを塗り、反射光で目視観察して、こすり部分の傷を、以下の基準で評価した。
○:非常に注意深く見ても、全く傷が見えない。
○△:非常に注意深く見ると僅かに弱い傷が見える。
△:弱い傷が見える。
△×:中程度の傷が見える。
×:一目見ただけで分かる傷がある。
25℃、60%RHに24時間以上保管した試料を用い、JIS K−5400に準拠した碁盤目試験を行った。具体的には、各試料のAS層を塗設した側の面に1mm間隔で縦、横に11本の切れ目を入れ、1mm角の碁盤目を100個作り、この上にセロハン粘着テープを貼り付け、90°で素早く剥がす行為を5回繰り返した。剥がれずに残った碁盤目の数をカウントした。この数が80以上のものが実用可である。
評価結果を表1に合わせて示す。
表1に示す結果より以下のことが明らかである。
AS層に芳香族基を有するバインダーや、屈折率≧1.55の実質的に非導電性の粒子を含有し、第1層のN層の重合率を50%以下にしたものは、AS層の成分がN層側に拡散して、中間の屈折率の領域を有し、表面抵抗の低下が少なく、干渉ムラ、クロスカット密着、SW耐擦傷性が改善できることが分かる(試料101、104〜106、107と試料102、103の比較)。
また、芳香族基を有するバインダーを2種併用したり、芳香族基を有するバインダーと屈折率1.55以上の粒子を併用すると、干渉ムラが低減した(試料102と109、110の比較、)。また、第1層を硬化することなく、第2層を塗布する場合には、第1層のNL層のバインダーに高分子量の化合物を用いることにより、表面抵抗の上昇が少なく干渉ムラの改良の可能となった(試料112、113と114,115の比較)。
また、AS層に芳香族基を有するバインダーや屈折率≧1.55の無機微粒子を含有しない試料は、未硬化状態でN層とAS層を塗り重ねると界面の混合が大きく、特にAS層の膜厚の薄い場合には、ある程度干渉ムラは低減するものの、表面抵抗の目減りが大きくなる(試料111、118、122)。それに比較して、AS層に芳香族基を有するバインダーや屈折率≧1.55の無機微粒子を含有させN層に拡散せしめた本発明の試料は、干渉ムラ改良効果が大きく、表面抵抗の目減りも少ないことが分かる(試料112〜115、119、123)。
(光学フィルム(201)の作製)
膜厚80μmのトリアセチルセルロースフィルム“TAC−TD80U”{富士フイル
ム(株)製}をロール形態で巻き出して、図4に示すスロットダイを有するギーサーを用いて、N層用塗布液(NL−2)を31a、AS層用塗布液(ASL−8)を31bから塗出し、搬送速度15m/分の条件で塗布し、80℃で90秒乾燥の後、さらに窒素パージ下で空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照射量240mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させ巻き取った。N層及びAS層の硬化後の膜厚がそれぞれ3.0μmおよび1.0μmになるように塗布量を調整した。
上流側、中流側リップランドとウェブWの隙間を、下流側リップランドとウェブWの隙間よりも50μm長くし(以下、オーバーバイト長さ50μmと称する)、下流側リップランドとウェブWとの隙間GLを50μmに設定した。
表2によれば、AS層に芳香族基を有するバインダー又は屈折率1.55以上の実質的に非導電性の粒子を含有し、両層を同時に塗布した試料は、AS層の成分がN層側に拡散して、中間の屈折率の領域を有し、表面抵抗の低下が少なく、干渉ムラ、クロスカット密着、SW耐擦傷性が改善できることが分かる。また、芳香族基を有するバインダーと屈折率1.55以上の粒子を共に含有するAS層をN層と隣接させ同時に塗設すると、中間の屈折率領域が海島構造になることが解った。
以下に示す低屈折率層用塗布液(LnL−1)〜(LnL−4)を調製した。
熱架橋性含フッ素ポリマー(特開平11−189621公報実施例1に記載の含フッ素含シリコーン熱硬化ポリマー)4.52g、硬化剤(サイメル303;商品名、日本サイテックインダストリーズ(株)製)1.13g、硬化触媒(キャタリスト4050;商品名、日本サイテックインダストリーズ(株)製)0.11g、コロイダルシリカ分散液(MEK−ST−L;商品名、日産化学(株)、固形分濃度30%、平均粒子サイズ約50nm)1.5g、シリカ分散液B(中空シリカのシクロヘキサノン分散液、シリカに対して重合性官能基含有表面処理剤15%使用、固形分濃度23%)15.0g、ゾル液a2.5g、光重合開始剤(PM980M、分子量527、和光純薬製)0.60g、およびメチルエチルケトン114gを添加、攪拌の後、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して、低屈折率層用塗布液(LnL−1)を調製した。この低屈折率層用塗布液を硬化させた膜の屈折率は1.36であった。
ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(DPHA、日本化薬(株)製)2.65g、シリカ分散液B(中空シリカ分散液、シリカに対して重合性官能基含有表面処理剤15%使用、固形分濃度23%)30.0g、ゾル液a2.93g、反応性シリコーンX−22−164C(商品名;信越化学工業社製)0.15g、含フッ素化合物F3035(商品名;日本油脂株式会社製、固形分濃度30%)0.15g、光重合開始剤(イルガキュア369(商品名)、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製、分子量367)0.20gおよびメチルエチルケトン103g、シクロヘキサノン3.5gを添加、攪拌の後、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して、低屈折率層用塗布液(LnL−2)を調製した。この低屈折率層用塗布液を硬化させた膜の屈折率は1.42であった。
ラジカル重合性含フッ素ポリマー(特開2003−222702号公報に記載の含フッ素含シリコーンラジカル重合性ポリマーP9)5.22g、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(DPHA、日本化薬(株)製)0.50g、シリカ分散液B(中空シリカ分散液、固形分濃度23%)15.0g、ゾル液a4.4g、反応性シリコーンRMS−033(商品名;Gelest社製)0.15g、光重合開始剤イルガキュア369(チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製、分子量367)0.17gおよびメチルエチルケトン114g、シクロヘキサノン3.5gを添加、攪拌の後、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して、低屈折率層用塗布液(LnL−3)を調製した。この低屈折率層用塗布液を硬化させた膜の屈折率は1.36であった。
コルコートN103(オルガノオルガノシロキサンオリゴマ−(平均分子量950、コルコート社製)(2%)245質量部、オプスターJTA105(含フッ素オルガノシロキサンオリゴマー(5%)、ポリエチレングリコール、ヘキサメチロールメラミン、酸発生剤含有、JSR社製)100質量部、オプスタ−JTA105A(硬化剤(5%)、JSR社製)1質量部、中空シリカ分散液A(30%)23質量部、酢酸ブチル365質量部を混合し、低屈折率層用塗布液(LnL−4)を調製した。この低屈折率層用塗布液を硬化させた膜の屈折率は1.36であった。
中空シリカ分散液A:中空シリカ微粒子ゾル、平均粒子径65nm、シェル厚み8nm、シリカ粒子の屈折率1.28、特開2002−79616の調製例4に準じサイズを変更して作成、IPA分散液、固形分30%とした。
中空シリカ分散液B:中空シリカ分散液A中のシリカに対して、表面処理剤として3−アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン15質量部で表面修飾し、修飾後シクロヘキサノンに溶媒置換し固形分濃度を23%とした。
90℃で150秒乾燥の後、110℃で10分の熱硬化を行った。その後に窒素パージ(酸素濃度0.05%以下)しながら、照射エネルギー量240mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させた。
90℃で150秒乾燥の後、窒素パージ(酸素濃度0.05%以下)しながら、照射エネルギー量240mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させた。
(評価7)鏡面反射率
干渉ムラの評価と同様に裏面を処理し裏面反射の影響をなくした試料を用い、分光光度計”V−550”[日本分光(株)製]にアダプター”ARV−474”を装着して、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における出射角−5゜の鏡面反射率を測定した。この波長領域での平均反射率を本発明の鏡面反射率とした。
評価結果を表3に合わせて示す。
環状オレフィン系樹脂フィルム(日本ゼオン社製、商品名:ZEONOR、厚み40μ)の一方の面にコロナ処理を施し、実施例3の層構成の試料を作成した。実施例3に準じた評価を行った結果、本発明に従えば、導電性に優れ、干渉ムラの発生が抑えられた試料が得られた。
[光学フィルムの鹸化処理]
実施例3の試料の裏面を以下に示す条件で鹸化処理を行った。
アルカリ浴:1.5mol/dm3水酸化ナトリウム水溶液、55℃−120秒。
第1水洗浴:水道水、60秒。
中和浴:0.05mol/dm3硫酸、30℃−20秒。
第2水洗浴:水道水、60秒。
乾燥:120℃、60秒
延伸したポリビニルアルコールフィルムに、ヨウ素を吸着させて偏光膜を作製した。実施例3の鹸化処理済みの反射防止フィルムに、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて、該反射防止フィルムの支持体(トリアセチルセルロース)側が偏光膜側となるように偏光膜の片側に貼り付けた。光学補償層を有する視野角拡大フィルム「ワイドビューフィルムSA12B」{富士フイルム(株)製}を鹸化処理し、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて、偏光膜のもう一方の側に貼り付けた。このようにして偏光板を作製した。
作製した本発明の偏光板を装着したTNモードの透過型液晶表示装置を評価した結果、視認性、防塵性、耐擦傷性に優れた表示装置が作製できることが確認された。
実施例3の光学フィルムを、有機EL表示装置の表面のガラス板に粘着剤を介して貼り合わせたところ、干渉ムラが小さく、導電性に優れ、ガラス表面での反射が抑えられた、視認性の高い表示装置が得られた。
2 帯電防止層
3 層領域
4 隣設層
W ウェブ
31a 上流側リップランド
31b 下流側リップランド
33 スロット
LU 上流側リップランドのランド長さ
LM 中流側リップランドのランド長さ
LD 下流側リップランドのランド長さ
Claims (10)
- 支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダー及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する光学フィルムの製造方法であって、
帯電防止層形成用塗布組成物が少なくとも、導電性粒子と、芳香族基を有するバインダー形成化合物及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子とを含有し、隣接層形成用塗布組成物が硬化性バインダー形成化合物を含有し、
導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子の平均粒子径が0.1〜100nmであり、かつ導電性粒子の平均粒子サイズの60%以下であり、
芳香族基を有するバインダー形成化合物の分子量が150以上2500以下であり、
支持体上に、帯電防止層形成用塗布組成物と隣接層形成用塗布組成物とを隣接させて塗工する工程を有し、
帯電防止層と隣設層とを形成するに際して、先んじて塗設した層の重合性官能基の反応率が0%以上50%以下になるよう硬化させる、光学フィルムの製造方法。 - 支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダー及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を含有する光学フィルムの製造方法であって、
帯電防止層形成用塗布組成物が少なくとも、導電性粒子と、芳香族基を有するバインダー形成化合物及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子とを含有し、
導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子の平均粒子径が0.1〜100nmであり、かつ導電性粒子の平均粒子サイズの60%以下であり、
芳香族基を有するバインダー形成化合物の分子量が150以上2500以下であり、
支持体上に、帯電防止層形成用塗布組成物と隣接層形成用塗布組成物とを隣接させて塗工する工程を有し、
帯電防止層形成用塗布組成物と隣接層形成用塗布組成物とを同時に塗布する、光学フィルムの製造方法。 - 芳香族基を有するバインダー形成化合物の導電性粒子に対する使用量が、導電性粒子100質量部に対して3〜100質量部である請求項1又は2に記載の光学フィルムの製造方法。
- 導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子の導電性粒子に対する使用量が、導電性粒子100質量部に対して3〜100質量部である請求項1〜3のいずれか一項に記載の光学フィルムの製造方法。
- 上記層領域は、上記帯電防止層と上記隣設層との界面で、両層を形成する重合性化合物及び/又は無機微粒子の組成が徐々に変化して形成されている請求項1〜4のいずれか一項に記載の光学フィルムの製造方法。
- 芳香族基を有するバインダー形成化合物が、重合性官能基を少なくとも1つ有する含硫黄芳香族化合物である請求項1〜5のいずれか一項に記載の光学フィルムの製造方法。
- 支持体上に、導電性粒子を含有する帯電防止層と、該帯電防止層に隣設された少なくとも1層の隣設層とを有し、両層の間に両層の屈折率の中間の屈折率をもつ層領域が存在し、該層領域が芳香族基を有するバインダー及び/又は導電性粒子とは異なる屈折率1.55以上の無機微粒子を含有し、請求項1〜6のいずれか一項に記載の製造方法により得られた光学フィルム。
- 前記光学フィルムが更に低屈折率層を有する請求項7に記載の光学フィルム。
- 偏光膜と、該偏光膜の両側に設けられた保護フィルムとを有する偏光板であって、該保護フィルムの少なくとも一方が、請求項7又は8に記載の光学フィルムである偏光板。
- 請求項7又は8に記載の光学フィルム、又は請求項9に記載の偏光板を有する画像表示装置。
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