JP5037551B2 - 基板交換機構及び基板交換方法 - Google Patents
基板交換機構及び基板交換方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5037551B2 JP5037551B2 JP2009072116A JP2009072116A JP5037551B2 JP 5037551 B2 JP5037551 B2 JP 5037551B2 JP 2009072116 A JP2009072116 A JP 2009072116A JP 2009072116 A JP2009072116 A JP 2009072116A JP 5037551 B2 JP5037551 B2 JP 5037551B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- transport
- support member
- load lock
- lock chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 359
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 42
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 158
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 88
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 148
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 13
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 13
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67276—Production flow monitoring, e.g. for increasing throughput
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67745—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterized by movements or sequence of movements of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/139—Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Robotics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
(実施の形態)
最初に、図1を参照し、本発明の実施の形態に係る基板交換機構を備える基板処理装置について説明する。
(a1)基板処理室3と搬送装置40との間での基板の交換:Tx×2
(a2)基板処理室3方向からロードロック室6方向への搬送装置40の回転:TR
(a3)ロードロック室6と搬送装置40との間での基板の交換:Tx
(a4)合計所要時間:Tx×3+TR
となる。特に、ロードロック室6と搬送装置40との間での基板の交換の際は、第1及び第2の搬送部材41、42を同時に伸縮させ、ロードロック室6に進出した状態と退却した状態とを切換えることができるため、Txの時間で行うことができる。
(b1)基板処理室103と搬送装置140との間での基板の交換:Tx×2+TR´
(b2)基板処理室103方向からロードロック室106方向への搬送装置140の回転:TR
(b3)ロードロック室106と搬送装置140との間での基板の交換:Tx×2+TR´
(b4)合計所要時間:Tx×4+TR´×2+TR
となる。特に、ロードロック室106と搬送装置140との間での基板の交換の際は、第1及び第2の搬送部材141、142の一方をロードロック室106に向けて伸縮させて一枚の基板の交換を行った後、搬送部材を反転させて第1及び第2の搬送部材141、142の他方をロードロック室106に向けて伸縮させてもう一枚の基板の交換を行うため、Tx×2+TR´の時間を要する。
(実施の形態の変形例)
次に、図9から図11を参照し、本発明の実施の形態の変形例について説明する。
5 搬送室
6、7 ロードロック室
8 搬入出室
9〜11 ポート
15 アライメントチャンバ
16 搬送装置
17 ピック
18 レール
20 プロセスコントローラ
21 ユーザインターフェース
22 記憶部
30 基板交換機構
31 第1の支持部材
32 第2の支持部材
33、35、38 載置部
34、36 部材
37 第3の支持部材
40 搬送装置
41 第1の搬送部材
42 第2の搬送部材
43 第1の回転・伸縮部
44 第2の回転・伸縮部
45 回転部
50 基板処理装置
F フープ
W、W1、W2、W3 ウェハ
Claims (7)
- 基板処理装置のロードロック室と、前記基板処理装置の搬送装置との間で基板の交換を行う基板交換機構において、
前記ロードロック室内に固定して設けられ、第1の基板を支持する第1の支持部材と、
前記ロードロック室内に上下動可能に設けられ、第2の基板を支持する第2の支持部材と、
前記搬送装置に設けられ、前記第1及び第2の基板のそれぞれを前記第1及び第2の支持部材のそれぞれとの間で受け渡しする第1及び第2の搬送部材と
を有し、
前記ロードロック室内に進出した前記第1及び第2の搬送部材が一体的に上方又は下方に第1の距離だけ移動するとともに、前記第2の支持部材が前記第1及び第2の搬送部材の移動方向と同じ方向に前記第1の距離よりも大きな第2の距離だけ移動し、
前記第1及び第2の搬送部材の一方の搬送部材が基板を受けるとともに、他方の搬送部材が基板を渡すことを特徴とする基板交換機構。 - 前記第2の支持部材が移動する速度は、前記第1及び第2の搬送部材が移動する速度よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の基板交換機構。
- 前記第1及び第2の搬送部材を上下方向に駆動する搬送部材駆動部と、
前記第2の支持部材を上下方向に駆動する支持部材駆動部と
を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の基板交換機構。 - 基板処理装置のロードロック室内に固定して設けられ、第1の基板を支持する第1の支持部材と、前記ロードロック室内に上下動可能に設けられ、第2の基板を支持する第2の支持部材と、前記基板処理装置の搬送装置に設けられ、前記第1及び第2の基板のそれぞれを、前記第1及び第2の支持部材のそれぞれとの間で受け渡しする第1及び第2の搬送部材とを用い、前記ロードロック室と前記搬送装置との間で基板の交換を行う基板交換方法であって、
前記ロードロック室内に進出させた前記第1及び第2の搬送部材を一体的に上方又は下方に第1の距離だけ移動させる搬送部材移動工程と、
前記第2の支持部材を前記第1及び第2の搬送部材の移動方向と同じ方向に前記第1の距離よりも大きな第2の距離だけ移動させる支持部材移動工程と
を含み、
前記搬送部材移動工程を行うとともに、前記支持部材移動工程を行い、
前記第1及び第2の搬送部材の一方の搬送部材が基板を受けるとともに、他方の搬送部材が基板を渡すことを特徴とする基板交換方法。 - 前記第2の支持部材を移動させる速度は、前記第1及び第2の搬送部材を移動させる速度よりも大きいことを特徴とする請求項4に記載の基板交換方法。
- 前記第1の基板が前記第1の搬送部材に支持され、前記第2の基板が前記第2の支持部材に支持されている場合において、
前記搬送部材移動工程の前に、前記第1の搬送部材が前記第1の支持部材の上方に配置され、前記第2の搬送部材が前記第2の支持部材の下方に配置されるように、前記第1及び第2の搬送部材を前記ロードロック室内に進出させる進出工程を含み、
前記搬送部材移動工程において、前記第1及び第2の搬送部材を一体的に下方に移動させ、
前記第2の搬送部材が、前記第2の基板を前記第2の支持部材から受けるとともに、前記第1の搬送部材が、前記第1の基板を前記第1の支持部材に渡すことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の基板交換方法。 - 前記第1の基板が前記第1の支持部材に支持され、前記第2の基板が前記第2の搬送部材に支持されている場合において、
前記搬送部材移動工程の前に、前記第1の搬送部材が前記第1の支持部材の下方に配置され、前記第2の搬送部材が前記第2の支持部材の上方に配置されるように、前記第1及び第2の搬送部材を前記ロードロック室内に進出させる進出工程を含み、
前記搬送部材移動工程において、前記第1及び第2の搬送部材を一体的に上方に移動させ、
前記第1の搬送部材が、前記第1の基板を前記第1の支持部材から受けるとともに、前記第2の搬送部材が、前記第2の基板を前記第2の支持部材に渡すことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の基板交換方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009072116A JP5037551B2 (ja) | 2009-03-24 | 2009-03-24 | 基板交換機構及び基板交換方法 |
KR1020100004618A KR101186545B1 (ko) | 2009-03-24 | 2010-01-19 | 기판 교환 기구 및 기판 교환 방법 |
US12/729,286 US20100247274A1 (en) | 2009-03-24 | 2010-03-23 | Substrate exchanging mechanism and method of exchanging substrates |
TW099108435A TW201108345A (en) | 2009-03-24 | 2010-03-23 | Substrate exchanging mechanism and method of exchanging substrates |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009072116A JP5037551B2 (ja) | 2009-03-24 | 2009-03-24 | 基板交換機構及び基板交換方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010225895A JP2010225895A (ja) | 2010-10-07 |
JP5037551B2 true JP5037551B2 (ja) | 2012-09-26 |
Family
ID=42784459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009072116A Expired - Fee Related JP5037551B2 (ja) | 2009-03-24 | 2009-03-24 | 基板交換機構及び基板交換方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100247274A1 (ja) |
JP (1) | JP5037551B2 (ja) |
KR (1) | KR101186545B1 (ja) |
TW (1) | TW201108345A (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6257455B2 (ja) | 2014-06-17 | 2018-01-10 | 住友重機械イオンテクノロジー株式会社 | イオン注入装置及びイオン注入装置の制御方法 |
JP6086254B2 (ja) * | 2014-09-19 | 2017-03-01 | 日新イオン機器株式会社 | 基板処理装置 |
JP6559976B2 (ja) * | 2015-03-03 | 2019-08-14 | 川崎重工業株式会社 | 基板搬送ロボットおよび基板処理システム |
JP6545519B2 (ja) * | 2015-04-27 | 2019-07-17 | 川崎重工業株式会社 | 基板搬送ロボットおよび基板検出方法 |
TWI743512B (zh) * | 2018-07-06 | 2021-10-21 | 日商川崎重工業股份有限公司 | 基板搬送機器人及其控制方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW318258B (ja) * | 1995-12-12 | 1997-10-21 | Tokyo Electron Co Ltd | |
JP4227623B2 (ja) * | 1995-12-12 | 2009-02-18 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体処理装置 |
JP3554534B2 (ja) | 1995-12-12 | 2004-08-18 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体処理装置の基板支持機構及び基板交換方法、並びに半導体処理装置及び基板搬送装置 |
US6949143B1 (en) * | 1999-12-15 | 2005-09-27 | Applied Materials, Inc. | Dual substrate loadlock process equipment |
US6918731B2 (en) * | 2001-07-02 | 2005-07-19 | Brooks Automation, Incorporated | Fast swap dual substrate transport for load lock |
US6663333B2 (en) * | 2001-07-13 | 2003-12-16 | Axcelis Technologies, Inc. | Wafer transport apparatus |
US6719517B2 (en) * | 2001-12-04 | 2004-04-13 | Brooks Automation | Substrate processing apparatus with independently configurable integral load locks |
KR101120497B1 (ko) * | 2002-11-15 | 2012-02-29 | 외를리콘 솔라 아게, 트뤼프바흐 | 2차원 확장 기판의 진공처리용 장치 및 그기판의 제조방법 |
US20040141832A1 (en) * | 2003-01-10 | 2004-07-22 | Jang Geun-Ha | Cluster device having dual structure |
SG115631A1 (en) * | 2003-03-11 | 2005-10-28 | Asml Netherlands Bv | Lithographic projection assembly, load lock and method for transferring objects |
CN1618716B (zh) * | 2003-11-12 | 2011-03-16 | 周星工程股份有限公司 | 装载锁及使用其的装载锁腔室 |
US7665951B2 (en) * | 2006-06-02 | 2010-02-23 | Applied Materials, Inc. | Multiple slot load lock chamber and method of operation |
US7949425B2 (en) * | 2006-12-06 | 2011-05-24 | Axcelis Technologies, Inc. | High throughput wafer notch aligner |
JP4744427B2 (ja) * | 2006-12-27 | 2011-08-10 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
US8317449B2 (en) * | 2007-03-05 | 2012-11-27 | Applied Materials, Inc. | Multiple substrate transfer robot |
US8272825B2 (en) * | 2007-05-18 | 2012-09-25 | Brooks Automation, Inc. | Load lock fast pump vent |
-
2009
- 2009-03-24 JP JP2009072116A patent/JP5037551B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-01-19 KR KR1020100004618A patent/KR101186545B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2010-03-23 US US12/729,286 patent/US20100247274A1/en not_active Abandoned
- 2010-03-23 TW TW099108435A patent/TW201108345A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100247274A1 (en) | 2010-09-30 |
JP2010225895A (ja) | 2010-10-07 |
KR20100106906A (ko) | 2010-10-04 |
TW201108345A (en) | 2011-03-01 |
KR101186545B1 (ko) | 2012-10-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5108557B2 (ja) | ロードロック装置および基板冷却方法 | |
KR101161296B1 (ko) | 프로세스 모듈, 기판 처리 장치 및, 기판 반송 방법 | |
JP5976709B2 (ja) | エンドエフェクタを備えたロボット及びその運転方法 | |
US8016542B2 (en) | Methods and apparatus for extending the reach of a dual scara robot linkage | |
JP4767641B2 (ja) | 基板処理装置および基板搬送方法 | |
JP5037551B2 (ja) | 基板交換機構及び基板交換方法 | |
US20060291988A1 (en) | Transfer apparatus for target object | |
JP4707749B2 (ja) | 基板交換方法及び基板処理装置 | |
US20110135427A1 (en) | Method for transferring target object and apparatus for processing target object | |
JP2010147207A (ja) | 真空処理装置及び真空搬送装置 | |
JP7183635B2 (ja) | 基板搬送機構、基板処理装置及び基板搬送方法 | |
JP2009049232A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2013065895A (ja) | 基板搬送システム、基板処理システムおよび基板搬送ロボット | |
JP5518550B2 (ja) | 被処理体処理装置 | |
JP2024120941A (ja) | 基板搬送装置、基板搬送方法、および基板処理システム | |
JP2020027936A (ja) | 搬送システムおよび搬送方法 | |
JP5496837B2 (ja) | 被処理体の冷却方法、冷却装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 | |
JP2013069874A (ja) | 基板処理システム、基板搬送方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 | |
US20110142579A1 (en) | Transfer device and target object processing apparatus including same | |
JP5239845B2 (ja) | 基板搬送ロボット、基板搬送装置および半導体製造装置 | |
JP4597810B2 (ja) | 基板処理装置および基板搬送方法 | |
JP4356480B2 (ja) | 搬送装置と半導体製造装置 | |
JP2005333076A (ja) | ロードロック装置、処理システム及びその使用方法 | |
JP2008251627A (ja) | 処理装置、処理方法、および記憶媒体 | |
JP2013055363A (ja) | プロセスモジュール、基板処理装置、および基板搬送方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110426 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110428 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111206 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120612 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120704 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |