JP5028299B2 - スパークプラグ - Google Patents

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Description

本発明は、スパークプラグに関するものである。
従来のスパークプラグとして、中心電極の先端に貴金属チップ(以下では、「中心電極チップ」とも呼ぶ。)が設けられているものがある。通常の中心電極チップの形状は円柱状であり、その断面は円形である。そして、接地電極の端面が、中心電極チップの曲面状の側面に対向して配置される。このようなスパークプラグでは、放電が行なわれる中心電極チップの表面が曲面状になっているため、スパークプラグの使用に伴って曲面状の部分が損耗してゆき、この結果、放電電圧がかなり急速に上昇してしまうという問題があった。
従来、スパークプラグの放電電圧の上昇を抑えるための電極の形状に関する技術としては、中心電極の側面に平面を形成し、その平面に貴金属チップを溶接するものがあった(例えば、特許文献1参照。)。
特開平6−310256号公報 特許第3254760号公報 特許第3277263号公報 特開平6−325855号公報
しかし、この技術では、中心電極の側面に溶接された貴金属チップが剥離することがあるため、耐久性に問題があった。
本発明は、上述した従来の課題を解決するためになされたものであり、電極の耐久性を向上させつつ、放電電圧の上昇を抑えることのできる技術を提供することを目的とする。
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するために、以下の形態または適用例を取ることが可能である。
[形態1]
スパークプラグであって、
前記スパークプラグの軸線方向に延在する中心電極と、
前記中心電極の先端部に接合された中心電極用貴金属チップと、
前記中心電極用貴金属チップの側面と対向する端面を有する接地電極と、
を備え、
前記接地電極の端面と対向する前記中心電極用貴金属チップの側面には、前記軸線方向に平行な略平面状の平面状側面部が形成されており、
前記接地電極の端面の面積をSaとし、
前記接地電極の端面から前記中心電極用貴金属チップの前記平面状側面部までの最短距離をGとし、
前記接地電極の端面からの距離が1.05Gであり前記接地電極の端面と平行である仮想的な平面と、前記中心電極用貴金属チップと、が交わって規定される交差面を、前記接地電極の端面に投影し、前記接地電極の端面と前記交差面とが重なった部分の面積をSbとした場合において、
Sb/Sa≧0.75
の関係式を満たす、スパークプラグ。
[適用例1]
スパークプラグであって、
前記スパークプラグの軸線方向に延在する中心電極と、
前記中心電極の先端部に接合された中心電極用貴金属チップと、
前記中心電極用貴金属チップの側面と対向する端面を有する接地電極と、
を備え、
前記接地電極の端面の面積をSaとし、
前記接地電極の端面から前記中心電極用貴金属チップの側面までの最短距離をGとし、
前記接地電極の端面からの距離が1.05Gであり前記接地電極の端面と平行である仮想的な平面と、前記中心電極用貴金属チップと、が交わって規定される交差面を、前記接地電極の端面に投影し、前記接地電極の端面と前記交差面とが重なった部分の面積をSbとした場合において、
Sb/Sa≧0.75
の関係式を満たす、スパークプラグ。
適用例1のスパークプラグによれば、電極の耐久性を向上させつつ、放電電圧の上昇を抑えることができる。
[適用例2]
適用例1記載のスパークプラグであって、
Sb/Sa≧0.80
の関係式を満たす、スパークプラグ。
適用例2のスパークプラグによれば、電極の耐久性を向上させつつ、さらに放電電圧の上昇を抑えることができる。
[適用例3]
適用例1または2記載のスパークプラグであって、
前記中心電極用貴金属チップは、前記軸線方向に垂直な断面の形状が前記中心電極用貴金属チップの端面と同一である先端部分と、当該先端部分よりも大きな断面形状を有する後方部分とを有し、
前記先端部分と前記後方部分の間の境界から前記中心電極用貴金属チップの端面までを結ぶ前記軸線方向の距離をBとし、
前記接地電極の端面の前記軸線方向の長さをAとし、
前記接地電極の端面と、前記中心電極用貴金属チップの前記後方部分とを結ぶ最短距離をHとした場合において、
B≧A、かつ、H≧1.1G
の関係式を満たす、スパークプラグ。
適用例3のスパークプラグによれば、接地電極の端面と中心電極用貴金属チップの後方部分との間での放電の発生を抑制することができる。また、適用例3のスパークプラグによれば、電極の耐久性を向上させつつ、放電電圧の上昇を抑えることができる。
[適用例4]
適用例3記載のスパークプラグであって、
H≧1.2G
の関係式を満たす、スパークプラグ。
適用例4のスパークプラグによれば、接地電極の端面と中心電極用貴金属チップの後方部分との間での放電の発生をさらに抑制することができる。また、適用例4のスパークプラグによれば、電極の耐久性を向上させつつ、放電電圧の上昇を抑えることができる。
[適用例5]
適用例1ないし4のいずれかに記載のスパークプラグであって、
前記接地電極の端面から前記中心電極用貴金属チップの側面までの最長距離と最短距離との差を平行度Xとし、
前記中心電極用貴金属チップの前記軸線方向と垂直な断面の形状を近似する円の直径の長さをDとした場合において、
X≦D/6
の関係式を満たす、スパークプラグ。
適用例5のスパークプラグによれば、中心電極用貴金属チップの消耗を抑えることができ、電極の耐久性を向上させることが可能となる。また、適用例5のスパークプラグによれば、電極の耐久性を向上させつつ、放電電圧の上昇を抑えることができる。さらに、適用例3の構成を備える適用例5のスパークプラグによれば、接地電極の端面と中心電極用貴金属チップの後方部分との間での放電の発生を抑制することができる。
[適用例6]
適用例1ないし5のいずれかに記載のスパークプラグであって、さらに、
前記接地電極の端部に設けられ、前記中心電極用貴金属チップの側面と対向する端面を有する接地電極用貴金属チップを備え、
前記接地電極用貴金属チップの端面が前記接地電極の端面となる、スパークプラグ。
適用例6のスパークプラグによれば、接地電極にも貴金属チップを接合するので、スパークプラグの耐久性を向上させることができる。また、適用例6のスパークプラグによれば、電極の耐久性を向上させつつ、放電電圧の上昇を抑えることができる。さらに、適用例3の構成を備える適用例6のスパークプラグによれば、接地電極用貴金属チップの端面と中心電極用貴金属チップの後方部分との間での放電の発生を抑制することができる。さらに、適用例5の構成を備える適用例6のスパークプラグによれば、中心電極用貴金属チップの消耗を抑えることができ、電極の耐久性を向上させることが可能となる。
[適用例7]
適用例6記載のスパークプラグであって、さらに、
前記中心電極と前記中心電極用貴金属チップとの間と、前記接地電極と前記接地電極用貴金属チップとの間と、のうちの少なくとも一方に、前記電極と前記貴金属チップとの中間的な融点と中間的な線膨張係数とのうちの少なくとも一方を有する中間部材が設けられている、スパークプラグ。
適用例7のスパークプラグによれば、中間部材により、中心電極に生じる熱応力と中心電極用貴金属チップに生じる熱応力との差異が緩和されるので、中心電極用貴金属チップが中心電極から剥離することを抑制することができる。同様に、接地電極用貴金属チップが接地電極から剥離することを抑制することができる。
なお、本発明は、種々の態様で実現することが可能である。例えば、スパークプラグの製造方法等の形態で実現することができる。
次に、本発明の一態様であるスパークプラグの実施の形態を、以下の順序で説明する。
A.スパークプラグの構造:
B.各部の形状及び寸法:
C.対向面積率Srに関する実験例:
D.クリアランスHに関する実験例:
E.平行度Xに関する実験例:
F.中心電極チップ90の他の実施形態:
G.接地電極の他の実施形態:
A.スパークプラグの構造:
図1は、本発明の一実施形態としてのスパークプラグ100の部分断面図である。なお、図1において、スパークプラグ100の軸線方向ODを図面における上下方向とし、下側をスパークプラグ100の先端側、上側を後端側として説明する。
スパークプラグ100は、絶縁碍子10と、主体金具50と、中心電極20と、接地電極30と、端子金具40とを備えている。中心電極20は、絶縁碍子10内に軸線方向ODに延びた状態で保持されている。絶縁碍子10は、絶縁体として機能しており、主体金具50は、この絶縁碍子10を保持している。端子金具40は、絶縁碍子10の後端部に設けられている。なお、中心電極20と接地電極30の構成については、図2において詳述する。
絶縁碍子10は、アルミナ等を焼成して形成され、軸中心に軸線方向ODへ延びる軸孔12が形成された筒形状を有する。軸線方向ODの略中央には外径が最も大きな鍔部19が形成されており、それより後端側(図1における上側)には後端側胴部18が形成されている。鍔部19より先端側(図1における下側)には、後端側胴部18よりも外径の小さな先端側胴部17が形成され、さらにその先端側胴部17よりも先端側に、先端側胴部17よりも外径の小さな脚長部13が形成されている。脚長部13は先端側ほど縮径され、スパークプラグ100が内燃機関のエンジンヘッド200に取り付けられた際には、その燃焼室に曝される。脚長部13と先端側胴部17との間には段部15が形成されている。
主体金具50は、低炭素鋼材より形成された円筒状の金具であり、スパークプラグ100を内燃機関のエンジンヘッド200に固定する。そして、主体金具50は、絶縁碍子10を内部に保持しており、絶縁碍子10は、その後端側胴部18の一部から脚長部13にかけての部位を主体金具50によって取り囲まれている。
また、主体金具50は、工具係合部51と、取付ねじ部52とを備えている。工具係合部51は、スパークプラグレンチ(図示せず)が嵌合する部位である。主体金具50の取付ねじ部52は、ねじ山が形成された部位であり、内燃機関の上部に設けられたエンジンヘッド200の取付ねじ孔201に螺合する。
主体金具50の工具係合部51と取付ねじ部52との間には、鍔状のシール部54が形成されている。取付ねじ部52とシール部54との間のねじ首59には、板体を折り曲げて形成した環状のガスケット5が嵌挿されている。ガスケット5は、スパークプラグ100をエンジンヘッド200に取り付けた際に、シール部54の座面55と取付ねじ孔201の開口周縁部205との間で押し潰されて変形する。このガスケット5の変形により、スパークプラグ100とエンジンヘッド200間が封止され、取付ねじ孔201を介したエンジン内の気密漏れが防止される。
主体金具50の工具係合部51より後端側には、薄肉の加締部53が設けられている。また、シール部54と工具係合部51との間には、加締部53と同様に、薄肉の座屈部58が設けられている。主体金具50の工具係合部51から加締部53にかけての内周面と、絶縁碍子10の後端側胴部18の外周面との間には、円環状のリング部材6,7が介在されている。さらに両リング部材6,7間にタルク(滑石)9の粉末が充填されている。加締部53を内側に折り曲げるようにして加締めると、絶縁碍子10は、リング部材6,7およびタルク9を介して主体金具50内の先端側に向け押圧される。これにより、絶縁碍子10の段部15は、主体金具50の内周に形成された段部56に支持され、主体金具50と絶縁碍子10とは、一体となる。このとき、主体金具50と絶縁碍子10との間の気密性は、絶縁碍子10の段部15と主体金具50の段部56との間に介在された環状の板パッキン8によって保持され、燃焼ガスの流出が防止される。座屈部58は、加締めの際に、圧縮力の付加に伴い外向きに撓み変形するように構成されており、タルク9の圧縮ストロークを稼いで主体金具50内の気密性を高めている。なお、主体金具50の段部56よりも先端側と絶縁碍子10との間には、所定寸法のクリアランスCが設けられている。
図2は、スパークプラグ100の中心電極20の先端部22付近の拡大図である。中心電極20は、電極母材21の内部に芯材25を埋設した構造を有する棒状の電極である。電極母材21は、インコネル(商標名)600または601等のニッケルまたはニッケルを主成分とする合金から形成されている。芯材25は、電極母材21よりも熱伝導性に優れる銅または銅を主成分とする合金から形成されている。通常、中心電極20は、有底筒状に形成された電極母材21の内部に芯材25を詰め、底側から押出成形を行って引き延ばすことで作製される。芯材25は、胴部分においては略一定の外径をなすものの、先端側においては先細り形状に形成される。また、中心電極20は、軸孔12内を後端側に向けて延設され、シール体4およびセラミック抵抗3(図1)を経由して、端子金具40(図1)に電気的に接続されている。端子金具40には、高圧ケーブル(図示せず)がプラグキャップ(図示せず)を介して接続され、高電圧が印加される。
中心電極20の先端部22は、絶縁碍子10の先端部11よりも突出している。中心電極20の先端部22の先端には、中間部材91を介して、中心電極チップ90が接合されている。中心電極チップ90は、軸線方向ODに伸びた略円柱形状を有しており、耐火花消耗性を向上するため、高融点の貴金属によって形成されている。中心電極チップ90は、例えば、イリジウム(Ir)や、Irを主成分として、白金(Pt)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(Ru)、パラジウム(Pd)、レニウム(Re)のうち、1種類あるいは2種類以上を添加したIr合金によって形成される。
中心電極チップ90の側面には、軸線方向ODに平行な略平面状の平面状側面部92が設けられている。平面状側面部92は、完全な平面であってもよく、中心電極チップ90の曲面状の側面よりも曲率半径の大きな緩やかな曲面状となっていてもよい。この平面状側面部92は、中心電極チップ90の側面の一部を切削して切り落とすことによって形成すること、研作して(削りだして)形成すること、等の機械加工によって、形成することができる。平面状側面部92の形成は、中心電極チップ90を中間部材91に接合する前であっても、接合する後であってもよい。なお、平面状側面部92を形成するために側面から切り落とされる部分の厚みは、平面状側面部92の強度を保つため、中心電極チップ90の直径の半分を超えないことが好ましい。
中間部材91は、台座形状をなしており、電極母材21と中心電極チップ90の中間的な融点又は線膨張係数を有する材料によって形成されている。このため、このスパークプラグ100では、中間部材91により、中心電極20の電極母材21に生じる熱応力と中心電極チップ90に生じる熱応力との差異が緩和される。したがって、中間部材91自体に歪が生じ難く、中心電極20の電極母材21と中間部材91との間や、中間部材91と中心電極チップ90との間に剥離が生じ難い。中間部材91は、例えば、耐熱性、耐蝕性の優れた13重量%以上のCrを含んだNi合金によって形成されていることが好ましいが、その他にも、熱伝導性の良好な純NiあるいはSi、Mn、Cr、Al等の総添加量が10%以下のNi合金によって形成されていることとしてもよい。中間部材91と中心電極チップ90との接合は、レーザ溶接によって行なうことができる。また、中間部材91と中心電極20との接合は、抵抗溶接によって行なうことができる。なお、中間部材91は省略してもよい。
接地電極30は、耐腐食性の高い金属から形成され、例えば、インコネル(商標名)600または601等のニッケル合金から形成されている。この接地電極30の基部32は、溶接によって、主体金具50の先端部57に接合されている。また、接地電極30は屈曲しており、接地電極30の先端部33は、中心電極チップ90の平面状側面部92と対向している。
さらに、接地電極30の先端部33には、接地電極チップ95が接合されている。接地電極チップ95は、軸線方向ODに略垂直な略円柱形状を有しており、接地電極チップ95の端面96は、中心電極チップ90の平面状側面部92と対向している。なお、接地電極チップ95は、中心電極チップ90と同様の材料で形成することができる。また、接地電極30と接地電極チップ95との間には、中間部材91を設けることとしてもよい。
B.各部の形状及び寸法:
図3(A)は、中心電極チップ90と接地電極チップ95との関係を示す斜視図である。図3(B)は、中心電極チップ90及び接地電極チップ95を、軸線方向ODから見た図であり、図3(C)は、中心電極チップ90及び接地電極チップ95を、軸線方向ODに対して垂直な方向から見た図である。図3(B)のギャップG(mm)は、中心電極チップ90の平面状側面部92と、接地電極チップ95の端面96との間の最短距離である。ここで、「最短距離」と表現する理由は、平面状側面部92が曲率半径の大きな曲面状である場合や、平面状側面部92の表面に小さな凹凸がある場合には、平面状側面部92と接地電極チップ95の端面96との間の距離は、平面状側面部92の位置によって異なる場合があるからである。図3(A),(B)には、中心電極チップ90の軸線方向ODに沿った有効断面を規定するための仮想的な平面301が描かれている。この平面301は、接地電極チップ95の端面96からの距離が1.05Gであり、かつ、接地電極チップ95の端面96と平行な平面である。この平面301と、中心電極チップ90との交差部分である交差面302は、平面状側面部92よりもやや大きな面積を有する。図3(C)において斜線を付した部分は、交差面302を、接地電極チップ95の端面96に投影したときに、交差面302と端面96とが重なる部分である。この部分の面積を、以下では「対向面積Sb」と呼ぶ。また、接地電極チップ95の端面96の面積Saに対する対向面積Sbの占める割合を、対向面積率Sr(=100×Sb/Sa)(%)と呼ぶ。
対向面積率Srが小さい場合には、中心電極チップ90の平面状側面部92において放電による消耗が早く進行し、ギャップGの増加も早く進行する。ギャップGの増加は、放電電圧の上昇を招く。したがって、放電電圧の上昇を抑制するために、対向面積率Srは、なるべく大きい方が好ましい。
ここで、平面301から接地電極チップ95の端面96までの距離を1.05Gとして規定する理由について説明する。中心電極用貴金属チップ90の平面状側面部92は、スパークプラグ100の使用に伴って徐々に損耗してゆき、スパークプラグ100の寿命中にギャップGは10%以上増大する。また、平面状側面部92は、スパークプラグ100を使用する前の初期状態では、接地電極チップ95の端面96に対して傾いていたり、曲面状になっていたりしても、使用による損耗の結果、端面96に平行な平面に近い状態となる。従って、接地電極チップ95に対向する中心電極チップ90の有効な側面面積としては、使用前の平面状側面部92の面積を採用するよりも、やや損耗した状態の面積を採用することがより現実的である。そこで、本実施形態では、中心電極用貴金属チップ90の有効な側面面積を規定する平面として、ギャップGの1.05倍の位置にある仮想的な平面301を用いるものとしている。
ここで、接地電極チップ95の端面96の面積Saと、対向面積Sbとの関係は、以下の関係式(1)を満足するように規定することが好ましい。
Sb/Sa≧0.75 …(1)
さらに、面積Saと対向面積Sbとの関係は、以下の関係式(2)を満足するように規定することが特に好ましい。
Sb/Sa≧0.80 …(2)
このように規定する根拠については、後述する。
図4は、接地電極チップ95のクリアランスHを示す説明図である。クリアランスH(mm)は、中心電極チップ90の凸部94と接地電極チップ95の端面96とを結んだ最短距離である。凸部94は、平面状側面部92を形成するために中心電極チップ90を切削した後に残った部分である。また、凸部94は、中心電極チップ90の先端部分よりも大きな断面形状を有する後方部分と呼ぶこともできる。長さA(mm)は、接地電極チップ95の軸線方向ODの長さである。長さB(mm)は、中心電極チップ90の先端面93から凸部94までの軸線方向ODの長さである。また、上述したように、ギャップG(mm)は、中心電極チップ90の平面状側面部92と、接地電極チップ95の端面96との間の最短距離である。
ギャップGに対してクリアランスHが小さい場合には、接地電極チップ95の端面96と、中心電極チップ90の平面状側面部92との間で正規の放電が発生する以外に、中心電極チップ90の凸部94と、接地電極チップ95の端面96との間で放電(以下では、「飛火」と呼ぶ。)が発生することがある。飛火が頻繁に発生すると、放電距離が大きくなるため、放電電圧の上昇を招く。また、凸部94が著しく消耗する。したがって、この飛火の発生を抑制するために、クリアランスHはギャップGに対して大きくなるように規定することが好ましい。
ここで、クリアランスHとギャップGとの関係は、以下の関係式(3)を満足するように規定することが好ましい。
H≧1.1G …(3)
さらに、クリアランスHとギャップGとの関係は、以下の関係式(4)を満足するように規定することが特に好ましい。
H≧1.2G …(4)
このように規定する根拠については、後述する。
なお、長さBは、長さAよりも長くなるように規定することが好ましい。この理由は、長さBが長さAよりも短くなれば、必然的にギャップGよりもクリアランスHの方が小さくなってしまい、中心電極チップ90の凸部94と、接地電極チップ95の端面96との間で飛火が発生してしまうためである。
図5は、中心電極チップ90の平行度Xについての説明図である。この図5は、中心電極チップ90と接地電極チップ95とを軸線方向ODから見た図である。平行度X(mm)は、距離Xa(mm)から距離Xb(mm)を減算した長さである。ここで、距離Xa(mm)は、接地電極チップ95の端面96から中心電極チップ90の平面状側面部92の最も離れている部分までの距離であり、距離Xb(mm)は、接地電極チップ95の端面96から中心電極チップ90の平面状側面部92の最も接近している部分までの距離である。直径D(mm)は、中心電極チップ90の直径である。
平行度Xが大きいほど、すなわち、平面状側面部92の傾きが大きいほど、中心電極チップ90は、接地電極チップ95の端面96に最も近い角部99から消耗し、ギャップGが増加する。ギャップGの増加は、放電電圧の上昇を招く。したがって、放電電圧の上昇を抑制するために、平行度Xは、なるべく小さい方が好ましい。
ここで、平行度Xと直径Dとの関係は、以下の関係式(5)を満足するように規定することが好ましい。
X≦D/6 …(5)
このように規定する根拠については、後述する。
C.対向面積率Srに関する実験例:
対向面積率Srと放電電圧の変化との相関を調べるため、対向面積率Srの異なる8つのサンプルE1〜E8を用いて、机上火花試験の耐久試験を行なった。ここで、「机上火花試験」とは、スパークプラグ100を試験機にかけ、長時間に渡って放電を繰り返すことによって、スパークプラグ100の性能や電極の損耗の状態を評価する試験である。本実験例では、圧力0.4MPaの大気雰囲気中において、周波数100Hzで放電を繰り返した。
図6は、本実験例で用意した対向面積率Srの異なる複数のサンプルの形状を示す説明図である。この図6は、中心電極チップ90と接地電極チップ95とを軸線方向ODから見た図である。図6(A)〜図6(G)は、中心電極チップ90の平面状側面部92が平面であるサンプルE1〜E7を示している。図6(H)は、中心電極チップ90の平面状側面部92の形状が曲面となっているサンプルE8を示している。サンプルE8の平面状側面部92は、中心電極チップ90の半径よりも大きな曲率半径の曲面で構成されており、この例では、中心電極チップ90の半径は0.4mmであり、平面状側面部92の曲率半径は1.5mmである。なお、サンプルE1〜E8の対向面積率Srは、57%から100%の範囲に含まれる。なお、サンプルE1〜E8のギャップGは同一の値にして試験を行なった。
図7は、机上火花耐久試験における各サンプルE1〜E8の放電電圧の変化を示すグラフである。図7の横軸は、耐久試験の経過時間(hr)を示しており、縦軸は、放電電圧(kV)を示している。この図7には、図6で示した8つのサンプルE1〜E8の試験結果が示されている。本実験例の耐久試験では、放電電圧の限界値(以下では、「限界電圧値VL」とも呼ぶ。)を30kVと定めた。そして、各サンプルが限界電圧値VLを超えずに放電が可能な目標時間を250hrとした。図7には、各サンプルE1〜E8が限界電圧値VLに達した時間T1〜T8が示されている。
対向面積率Srが57%〜73%のサンプルE1〜E3は、目標とした放電時間の250hrを経過する前に、放電電圧が限界電圧値VLを超えてしまった。しかし、対向面積率Srが77%以上のサンプルE4〜E8は、放電電圧の上昇は緩やかであり、目標とした放電時間の250hrを超えることができた。なお、対向面積率Srが57%のサンプルE1は、平面状側面部92を有しておらず、完全な円柱状である。
図8は、対向面積率Srと限界電圧値VLに達するまでの時間Tとの関係を示すグラフである。目標とした放電時間の250hrを超えるためには、対向面積率Srは75%以上であることが好ましく、対向面積率Srが80%以上であることがさらに好ましいことが理解できる。
なお、図7および図8には、図6(H)で示した曲率半径を変更したサンプルE8についての試験結果も示されている。サンプルE8の対向面積率Srは80%である。このサンプルE8の試験結果は、サンプルE5の試験結果とほぼ同じであった。サンプルE5は、平面状側面部92が平面であり、対向面積率Srは80%である。この結果から、限界電圧値VLに達するまでの放電時間は、平面状側面部92の形状に依存せず、対向面積率Srに依存することがわかった。そのため、中心電極チップ90の平面状側面部92は、中心電極チップ90の半径よりも大きな曲率半径の曲面で構成されてもよいことが理解できる。
以上のように、接地電極チップ95の端面96の面積Saと、対向面積Sbとの関係が、上記関係式(1)または(2)を満足するように規定すれば、放電電圧の上昇を抑えることができる。また、中心電極チップ90の側面に平面状側面部92を形成するため、特許文献1記載の従来技術のように、中心電極20の側面に溶接された貴金属チップが剥離することもないので、電極の耐久性を向上させることが可能となる。
D.クリアランスHに関する実験例:
クリアランスHと飛火の発生率(以下では、「飛火率」とも呼ぶ。)との関係を調べるために、クリアランスHの異なる7つのサンプルE11〜E17を用いて、机上火花試験を行なった。本実験例では、圧力0.8MPaの大気雰囲気中において、周波数60Hzで放電を繰り返した。
図9は、本実験例で用意したクリアランスHの異なるサンプルE11,E17の寸法を示す説明図である。この図9は、中心電極チップ90と接地電極チップ95とを軸線方向ODに対して垂直な方向から見た図である。図9(A)に示すサンプルE11は、ギャップGとクリアランスHが等しくなっている。図9(B)に示すサンプルE17のクリアランスHは、ギャップGの1.20倍となっている。なお、本実験例では、ギャップGを一定値としたまま、中心電極チップ90の平面状側面部92の軸線方向ODの長さを変えることによって、クリアランスHを変更した。
図10は、クリアランスHと飛火率との関係を示すグラフである。図10の横軸は、クリアランスHを示しており、縦軸は、飛火率(%)を示している。この図10によれば、クリアランスHが1.1G以上である場合には、飛火率は20%を下回ることがわかった。したがって、飛火率が20%を下回るためには、クリアランスHは1.1G以上であることが好ましい。さらに、この図10によれば、クリアランスHが1.18G以上である場合には、飛火率が0%となる、すなわち、中心電極チップ90の凸部94と、接地電極チップ95の端面96との間で放電が発生しないことがわかった。したがって、クリアランスHは1.2G以上であることがさらに好ましい。
以上のように、クリアランスHとギャップGとの関係が、上記関係式(3)または(4)を満足するように規定すれば、中心電極チップ90の凸部94と、接地電極チップ95の端面96との間での放電の発生を抑制することが可能となる。換言すれば、中心電極チップ90の平面状側面部92と、接地電極チップ95の端面96との間以外の部分での放電を抑制することができる。
E.平行度Xに関する実験例:
平行度Xと試験後のギャップGの増加量との関係を調べるため、平行度Xの異なる4つのサンプルE21〜E24を用いて、机上火花試験を行なった。本実験例では、圧力0.4MPaの大気雰囲気中において、周波数100Hzで放電を繰り返した。
図11は、本実験例で用意した平行度Xの異なる複数のサンプルを示す説明図である。この図11は、中心電極チップ90と接地電極チップ95とを軸線方向ODから見た図である。本実験例では、平行度XがD/3,D/6,D/9,D/12である4つのサンプルE21〜E24を用意した。なお、図11(A)には、参考として、平行度X=0のサンプルも示してある。
図12は、平行度Xと試験後のギャップGの増加量との関係を示すグラフである。図12の横軸は、平行度Xを示しており、縦軸は、机上火花試験を250hr行なった後のギャップGの増加量(mm)を示している。この図12によれば、平行度Xが小さくなるほど、すなわち平面状側面部92の傾きが小さいほど、試験後のギャップGの増加が小さいことがわかる。さらに、この図12によれば、平行度Xは、試験後のギャップGの増加量の曲線が緩やかとなるD/6以下であることが好ましいことが理解できる。
以上のように、平行度Xと直径Dとの関係が、上記関係式(5)を満足するように規定すれば、中心電極チップ90と接地電極チップ95との最短距離であるギャップGの増加を抑えることができ、電極の耐久性を向上させることが可能となる。
F.中心電極チップ90の他の実施形態:
図13は、中心電極チップ90の他の形態を示す説明図である。図13(A)〜図13(E)のそれぞれには、中心電極チップ90を軸線方向ODに対して垂直な方向から見た図と、軸線方向ODから見た図とが記載されている。図13(A)で示すように、中心電極チップ90の平面状側面部92と中間部材91との間は、斜めに切り落とされて斜面97を形成してもよい。また、図13(B)で示すように、中心電極チップ90の平面状側面部92は、中間部材91との接合部分まで垂直に切断されていてもよい。この場合、クリアランスHは、中間部材91の角部401と、接地電極チップ95の端面96との距離となる。なお、角部401は、中心電極チップ90の先端部分よりも大きな断面形状を有する中心電極チップ90の後方部分に相当する。さらに、図13(C)で示すように、平面状側面部92の代わりに、曲面状の曲面状側面部92aとしてもよい。この場合にも、曲面状側面部92aと中間部材91との間は、斜めに切り落とされて斜面97を形成してもよい。また、図13(D)で示すように、平面状側面部92の反対側にも平面状側面部92を設けることとしてもよい。さらに、図13(E)で示すように、中心電極チップ90は、角柱状であってもよい。なお、図13(C)で示すように、中心電極用貴金属チップ90の側面が曲面状であっても(曲面状側面部92a)、接地電極チップ95の端面96の面積Sa(図3)と、対向面積Sb(図3)との関係は、上記関係式(1)または(2)を満たすことが好ましい。
G.接地電極の他の実施形態:
図14は、接地電極30および接地電極チップ95の他の形態を示す説明図である。図14(A)〜図14(E)のそれぞれには、中心電極チップ90等を軸線方向ODに対して垂直な方向から見た図と、軸線方向ODから見た図とが記載されている。図14(A)で示すように、接地電極チップ95は省略することも可能である。この場合、ギャップGは、中心電極チップ90の平面状側面部92と接地電極30の先端部33の端面との距離となる。また、図14(B)で示すように、接地電極チップ95と接地電極30との間に、中間部材403を設けることも可能である。さらに、図14(C)で示すように、接地電極30の先端付近は、先細り形状部404(テーパーカット)としてもよい。また、図14(D)で示すように、接地電極チップ95の形状は、角柱状としてもよい。さらに、図14(E)で示すように、接地電極30の先端付近には、段差部405を設けることとしてもよい。
なお、対向面積率Sr,クリアランスH,平行度Xに関する好ましい条件は、それぞれ単独に適用してもよい。ただし、対向面積率Sr,クリアランスH,平行度Xが全ての条件を満たすのが最良である。
スパークプラグの部分断面図である。 スパークプラグの中心電極の先端部付近の拡大図である。 対向面積Sbを示す説明図である。 接地電極チップのクリアランスHを示す説明図である。 中心電極チップの平行度Xについての説明図である。 本実験例で用意した対向面積率Srの異なる複数のサンプルの形状を示す説明図である。 机上火花耐久試験における各サンプルの放電電圧の変化を示すグラフである。 対向面積率Srと限界電圧値VLに達するまでの時間との関係を示すグラフである。 クリアランスHの異なるサンプルの寸法を示す説明図である。 クリアランスHと飛火率との関係を示すグラフである。 平行度Xの異なる複数のサンプルを示す説明図である。 平行度Xと試験後のギャップGの増加量との関係を示すグラフである。 中心電極チップの他の形態を示す説明図である。 接地電極の他の形態を示す説明図である。
符号の説明
3…セラミック抵抗
4…シール体
5…ガスケット
6…リング部材
7…リング部材
8…板パッキン
9…タルク
10…絶縁碍子
11…先端部
12…軸孔
13…脚長部
15…段部
17…先端側胴部
18…後端側胴部
19…鍔部
20…中心電極
21…電極母材
22…先端部
25…芯材
30…接地電極
32…基部
33…先端部
40…端子金具
50…主体金具
51…工具係合部
52…取付ねじ部
53…加締部
54…シール部
55…座面
56…段部
57…先端部
58…座屈部
59…ねじ首
90…中心電極チップ
91…中間部材
92…平面状側面部
92a…曲面状側面部
93…先端面
94…凸部
95…接地電極チップ
96…端面
97…斜面
99…角部
100…スパークプラグ
200…エンジンヘッド
201…取付ねじ孔
205…開口周縁部
301…平面
302…平面
401…角部
403…中間部材
404…先細り形状部
405…段差部

Claims (7)

  1. スパークプラグであって、
    前記スパークプラグの軸線方向に延在する中心電極と、
    前記中心電極の先端部に接合された中心電極用貴金属チップと、
    前記中心電極用貴金属チップの側面と対向する端面を有する接地電極と、
    を備え、
    前記接地電極の端面と対向する前記中心電極用貴金属チップの側面には、前記軸線方向に平行な略平面状の平面状側面部が形成されており、
    前記接地電極の端面の面積をSaとし、
    前記接地電極の端面から前記中心電極用貴金属チップの前記平面状側面部までの最短距離をGとし、
    前記接地電極の端面からの距離が1.05Gであり前記接地電極の端面と平行である仮想的な平面と、前記中心電極用貴金属チップと、が交わって規定される交差面を、前記接地電極の端面に投影し、前記接地電極の端面と前記交差面とが重なった部分の面積をSbとした場合において、
    Sb/Sa≧0.75
    の関係式を満たす、スパークプラグ。
  2. 請求項1記載のスパークプラグであって、
    Sb/Sa≧0.80
    の関係式を満たす、スパークプラグ。
  3. 請求項1または2記載のスパークプラグであって、
    前記中心電極用貴金属チップは、前記軸線方向に垂直な断面の形状が前記中心電極用貴金属チップの端面と同一である先端部分と、当該先端部分よりも大きな断面形状を有する後方部分とを有し、
    前記先端部分と前記後方部分の間の境界から前記中心電極用貴金属チップの端面までを結ぶ前記軸線方向の距離をBとし、
    前記接地電極の端面の前記軸線方向の長さをAとし、
    前記接地電極の端面と、前記中心電極用貴金属チップの前記後方部分とを結ぶ最短距離をHとした場合において、
    B≧A、かつ、H≧1.1G
    の関係式を満たす、スパークプラグ。
  4. 請求項3記載のスパークプラグであって、
    H≧1.2G
    の関係式を満たす、スパークプラグ。
  5. 請求項1ないし4のいずれかに記載のスパークプラグであって、
    前記接地電極の端面から前記中心電極用貴金属チップの前記平面状側面部までの最長距離と最短距離との差を平行度Xとし、
    前記中心電極用貴金属チップの前記軸線方向と垂直な断面の形状を近似する円の直径の長さをDとした場合において、
    X≦D/6
    の関係式を満たす、スパークプラグ。
  6. 請求項1ないし5のいずれかに記載のスパークプラグであって、さらに、
    前記接地電極の端部に設けられ、前記中心電極用貴金属チップの前記平面状側面部と対向する端面を有する接地電極用貴金属チップを備え、
    前記接地電極用貴金属チップの端面が前記接地電極の端面となる、スパークプラグ。
  7. 請求項6記載のスパークプラグであって、さらに、
    前記中心電極と前記中心電極用貴金属チップとの間と、前記接地電極と前記接地電極用貴金属チップとの間と、のうちの少なくとも一方に、前記電極と前記貴金属チップとの中間的な融点と中間的な線膨張係数とのうちの少なくとも一方を有する中間部材が設けられている、スパークプラグ。
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