JP5025106B2 - 偏心測定方法、偏心測定装置及び非球面単レンズの製造方法 - Google Patents
偏心測定方法、偏心測定装置及び非球面単レンズの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5025106B2 JP5025106B2 JP2005219693A JP2005219693A JP5025106B2 JP 5025106 B2 JP5025106 B2 JP 5025106B2 JP 2005219693 A JP2005219693 A JP 2005219693A JP 2005219693 A JP2005219693 A JP 2005219693A JP 5025106 B2 JP5025106 B2 JP 5025106B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- single lens
- coma aberration
- aspherical single
- inter
- light beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Description
光源と参照平面と参照球面とを備える偏心測定装置を用いて少なくとも一方が非球面である第1面及び第2面の光学機能面を有する非球面単レンズの第1面と第2面との間の偏心を測定する偏心測定方法であって、光源から照射された光束を偏心測定装置に設けられた参照平面に入射させ、当該光束の一部を参照平面を透過させるとともに残りの光束を参照平面により反射させ、参照平面を透過した光束を非球面単レンズ、または、非球面単レンズ及び補正レンズからなる光学系を透過させ、参照球面の曲率中心で収束させ、参照球面に入射させ、参照球面により反射させた光束を光学系及び参照平面を透過させ、フィゾー干渉計を用いて光学系及び参照平面を透過した光束と参照平面により反射された光束との干渉からコマ収差を測定し、測定されたコマ収差の値に基づいて第1面と第2面との間の相互の面間ティルト量及び/又は面間シフト量を得ることを特徴とするものである。
〔構成1〕を有する偏心測定方法において、コマ収差の値として、3次コマ収差及び/又は5次コマ収差の成分を用いることを特徴とするものである。
〔構成1〕、または、〔構成2〕を有する偏心測定方法において、コマ収差の測定は、干渉法を用いて行うことを特徴とするものである。
少なくとも一方が非球面である第1面及び第2面の光学機能面を有する非球面単レンズの第1面と第2面との間の偏心を測定する偏心測定装置であって、光源と、光源から照射された光束が入射され当該光束の一部を透過するとともに残りを反射する参照平面部と、参照平面部を透過し非球面単レンズ、または、非球面単レンズ及び補正レンズからなる光学系を透過した光束の収束点を曲率中心として配置され当該光束が入射され当該光束を反射する参照球面と、参照球面により反射され光学系及び参照平面を透過した光束と参照平面により反射された光束との干渉から光学系のコマ収差を測定するフィゾー干渉計と、フィゾー干渉計により測定されたコマ収差の値に基づいて第1面と第2面との間の相互の面間シフト量及び/又は面間ティルト量を求める演算手段とを備えたことを特徴とするものである。
〔構成4〕を有する偏心測定装置において、演算手段は、コマ収差の値として、3次コマ収差及び/又は5次コマ収差の成分を用いることを特徴とするものである。
少なくとも一方が非球面形状に加工された一対の成形面を有する成形型を用いて加熱し軟化させた成形素材を成形型により押圧して非球面単レンズを成形する工程と、成形型によって成形された非球面単レンズについて〔構成1〕乃至〔構成3〕のいずれか一を有する偏心測定方法によって偏心測定を行い得られた面間ティルト量及び/又は面間シフト量が所定範囲内にあるか否かを判別して該非球面単レンズを選別する工程とを含むことを特徴とするものである。
図1は、本発明の第1の実施例において被検レンズとなる非球面単レンズの形状を示す側面図である。
光学ピックアップ装置や光通信機器などの光学機器に用いられる非球面単レンズは、非球面形状を有することにより、収差の発生量を極めて小さく抑えることができる。そのため、干渉計を用いて干渉縞を測定、解析することにより、この非球面単レンズにおいて発生する収差量を測定することができる。
本発明に係る偏心測定装置は、前述のような非球面単レンズ1、または、非球面単レンズ1及び補正レンズ2からなる光学系のコマ収差を測定するコマ収差測定手段と、このコマ収差測定手段により測定されたコマ収差の値に基づいて第1面R1と第2面R2との間の相互の面間シフト量及び/又は面間ティルト量を求める演算手段とを備えて構成される。
本発明に係る非球面単レンズの製造方法は、少なくとも一方が非球面形状に加工された一対の成形面を有する成形型を用いて、加熱し軟化させた成形素材を前記成形型により押圧して非球面単レンズを成形するモールドプレス工程を有する。この押圧成形に際しては、公知のプレス成形装置を適用することができる。
本発明に係る偏心測定方法によって偏心測定をなされた非球面単レンズは、少なくとも一方が非球面形状に加工された一対の成形面を有する成形型により成形された非球面単レンズであり、偏心測定により得られた面間ティルト量及び/又は面間シフト量が所定範囲内にあるか否かにより選別されたものである。
被写体の像を結像させるレンズ系と、このレンズ系の結像面に配置された撮像素子とを備えた光学機器を、レンズ系を構成するレンズのうちの少なくとも1枚を、本発明に係る偏心測定方法によって偏心測定をなされた非球面単レンズとして、構成することができる。
tiltβ=0
shiftx=5
shifty=0
これらを前述の〔数3〕に代入し、面間ティルト量及び面間シフト量を求めた。すなわち、面間ティルト量は、1′〔分〕、面間シフト量は、5μmであった。
tiltβ=−0.707316
shiftx=3.353567
shifty=3.553575
これらを前述の〔数3〕に代入し、面間ティルト量及び面間シフト量を求めた。すなわち、面間ティルト量は、1′〔分〕、面間シフト量は、4.9μmであった。
2 補正レンズ
R1 第1面
R2 第2面
Claims (6)
- 光源と、参照平面と、参照球面とを備える偏心測定装置を用いて、少なくとも一方が非球面である第1面及び第2面の光学機能面を有する非球面単レンズの前記第1面と前記第2面との間の偏心を測定する偏心測定方法であって、
前記光源から照射された光束を前記偏心測定装置に設けられた前記参照平面に入射させ、当該光束の一部を前記参照平面を透過させるとともに、残りの光束を前記参照平面により反射させ、前記参照平面を透過した光束を前記非球面単レンズ、または、前記非球面単レンズ及び補正レンズからなる光学系を透過させ、前記参照球面の曲率中心で収束させ、前記参照球面に入射させ、前記参照球面により反射させた光束を前記光学系及び前記参照平面を透過させ、
フィゾー干渉計を用いて、前記光学系及び前記参照平面を透過した光束と前記参照平面により反射された光束との干渉からコマ収差を測定し、
測定された前記コマ収差の値に基づいて、前記第1面と前記第2面との間の相互の面間ティルト量及び/又は面間シフト量を得る
ことを特徴とする偏心測定方法。 - 前記コマ収差の値として、3次コマ収差及び/又は5次コマ収差の成分を用いる
ことを特徴とする請求項1記載の偏心測定方法。 - 前記コマ収差の測定は、干渉法を用いて行う
ことを特徴とする請求項1、または、請求項2記載の偏心測定方法。 - 少なくとも一方が非球面である第1面及び第2面の光学機能面を有する非球面単レンズの前記第1面と前記第2面との間の偏心を測定する偏心測定装置であって、
光源と、
前記光源から照射された光束が入射され、当該光束の一部を透過するとともに残りを反射する参照平面部と、
前記参照平面部を透過し、前記非球面単レンズ、または、前記非球面単レンズ及び補正レンズからなる光学系を透過した光束の収束点を曲率中心として配置され、当該光束が入射され、当該光束を反射する参照球面と、
前記参照球面により反射され前記光学系及び前記参照平面を透過した光束と前記参照平面により反射された光束との干渉から、前記光学系のコマ収差を測定するフィゾー干渉計と、
前記フィゾー干渉計により測定された前記コマ収差の値に基づいて、前記第1面と前記第2面との間の相互の面間シフト量及び/又は面間ティルト量を求める演算手段と
を備えたことを特徴とする偏心測定装置。 - 前記演算手段は、前記コマ収差の値として、3次コマ収差及び/又は5次コマ収差の成分を用いる
ことを特徴とする請求項4記載の偏心測定装置。 - 少なくとも一方が非球面形状に加工された一対の成形面を有する成形型を用いて、加熱し軟化させた成形素材を前記成形型により押圧して非球面単レンズを成形する工程と、
前記成形型によって成形された非球面単レンズについて、請求項1乃至請求項3のいずれか一に記載の偏心測定方法によって偏心測定を行い、得られた面間ティルト量及び/又は面間シフト量が所定範囲内にあるか否かを判別して該非球面単レンズを選別する工程と
を含むことを特徴とする非球面単レンズの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005219693A JP5025106B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | 偏心測定方法、偏心測定装置及び非球面単レンズの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005219693A JP5025106B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | 偏心測定方法、偏心測定装置及び非球面単レンズの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007033343A JP2007033343A (ja) | 2007-02-08 |
JP5025106B2 true JP5025106B2 (ja) | 2012-09-12 |
Family
ID=37792783
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005219693A Expired - Fee Related JP5025106B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | 偏心測定方法、偏心測定装置及び非球面単レンズの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5025106B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4880513B2 (ja) * | 2007-03-29 | 2012-02-22 | 富士フイルム株式会社 | 非球面レンズの面ずれ測定方法および装置 |
JP2009145081A (ja) * | 2007-12-11 | 2009-07-02 | Fujinon Corp | 回転非対称収差の発生要因誤差量測定方法および装置 |
JP2010281792A (ja) * | 2009-06-08 | 2010-12-16 | Fujifilm Corp | 非球面体測定方法および装置 |
JP5399304B2 (ja) | 2010-03-23 | 2014-01-29 | 富士フイルム株式会社 | 非球面体測定方法および装置 |
CN102221449B (zh) * | 2010-04-19 | 2015-01-21 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 测量偏心量辅助装置 |
JP2013242337A (ja) * | 2010-09-08 | 2013-12-05 | Panasonic Corp | 対物レンズ、光ヘッド装置、光情報装置、及び光情報システム |
JP2014115077A (ja) * | 2011-03-31 | 2014-06-26 | Fujifilm Corp | レンズの面ズレ・面倒れを測定するレンズ測定方法及び装置 |
WO2016002272A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2016-01-07 | オリンパス株式会社 | 偏心量計測方法及び偏心量計測装置 |
DE102019204578A1 (de) * | 2019-04-01 | 2020-10-01 | Carl Zeiss Meditec Ag | Prüfvorrichtung und Verfahren zur Vermessung der Homogenität eines optischen Elements |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3127003B2 (ja) * | 1991-06-14 | 2001-01-22 | オリンパス光学工業株式会社 | 非球面レンズ偏心測定方法 |
JPH05223690A (ja) * | 1992-02-12 | 1993-08-31 | Konica Corp | レンズの透過性能測定装置 |
JPH07167738A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-07-04 | Asahi Optical Co Ltd | 非球面測定方法 |
JP2000121491A (ja) * | 1998-10-20 | 2000-04-28 | Nikon Corp | 光学系の評価方法 |
JP2005024504A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Olympus Corp | 偏心測定方法、偏心測定装置、及びこれらにより測定された物 |
JP2005201703A (ja) * | 2004-01-14 | 2005-07-28 | Konica Minolta Opto Inc | 干渉測定方法及び干渉測定システム |
-
2005
- 2005-07-28 JP JP2005219693A patent/JP5025106B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007033343A (ja) | 2007-02-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5025106B2 (ja) | 偏心測定方法、偏心測定装置及び非球面単レンズの製造方法 | |
US8508725B2 (en) | Refractive index distribution measuring method and apparatus using position measurement and a reference object | |
KR101245607B1 (ko) | 굴절률 분포 계측방법 및 굴절률 분포 계측장치 | |
JP5008763B2 (ja) | 屈折率分布計測方法、屈折率分布計測装置および光学素子の製造方法 | |
EP1869401B1 (en) | Method for accurate high-resolution measurements of aspheric surfaces | |
JP5399304B2 (ja) | 非球面体測定方法および装置 | |
JP4968965B2 (ja) | 屈折率分布の計測方法および計測装置 | |
US9279667B2 (en) | Aspheric surface measuring method, aspheric surface measuring apparatus, optical element producing apparatus and optical element | |
US8947676B2 (en) | Aspheric surface measuring method, aspheric surface measuring apparatus, optical element producing apparatus and optical element | |
JP5868142B2 (ja) | 屈折率分布測定方法および屈折率分布測定装置 | |
JP2010281792A (ja) | 非球面体測定方法および装置 | |
JP2009162539A (ja) | 光波干渉測定装置 | |
JPH1163946A (ja) | 形状測定方法及び高精度レンズ製造方法 | |
KR20110065365A (ko) | 비구면체 측정 방법 및 장치 | |
JP2007085914A (ja) | 非球面レンズの測定方法、非球面レンズの測定装置、非球面レンズの測定プログラム、非球面レンズの製造方法及び非球面レンズ | |
JP5625310B2 (ja) | 波面収差測定方法及び波面収差測定機 | |
JP2016200461A (ja) | 屈折率計測方法、屈折率計測装置、光学素子の製造方法 | |
JP5356757B2 (ja) | 非球面レンズの形状評価方法 | |
JP6821407B2 (ja) | 計測方法、計測装置、光学機器の製造方法および光学機器の製造装置 | |
US20160003611A1 (en) | Aspherical surface measurement method, aspherical surface measurement apparatus, non-transitory computer-readable storage medium, processing apparatus of optical element, and optical element | |
JP6135127B2 (ja) | 光学系、および面形状測定装置 | |
JPH11311600A (ja) | 屈折率分布測定方法及び測定装置 | |
US6788423B2 (en) | Conic constant measurement methods for refractive microlenses | |
Petz et al. | Three-dimensional shape measurement of aspheric refractive optics by pattern transmission photogrammetry | |
JP2015210241A (ja) | 波面計測方法、波面計測装置、及び光学素子の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080728 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110207 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110215 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110413 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110927 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120403 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120530 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120619 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120619 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150629 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |