JP5007191B2 - 図面検証ツール - Google Patents
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Description
GD&T形体制御フレームに含まれる不正な公差変更子を識別し(たとえば後述するプロセス150、ステップ160において説明するように)、
輪郭形体制御フレーム内で不正に使用されているか又は不適切に配置されている公差変更子及びデータム変更子を識別し(たとえば後述するプロセス150、ステップ172及び174において説明するように)、
GD&T形体制御フレームが形体ではなくサイズ形体(feature of size)(「FOS」)にリンクされていることを検証し(たとえば後述するプロセス200、ステップ202において説明するように)、
それがFOS又は形体であることを検証し(たとえば後述するプロセス200、ステップ208において説明するように)、
形体に対し不正なデータム変更子が指定されているか否かを検証し(たとえば後述するプロセス200、ステップ210において説明するように)、
FOSに対し不正なデータム変更子が指定されているか否かを検証し(たとえば後述するプロセス200、ステップ212において説明するように)、
公差を含む形体の基準とされるデータムに対する真の位置を確立するために基本寸法が使用されているか否かを検証し(たとえば後述するプロセス200、ステップ214において説明するように)、
データム基準が使用されている場合、公差を含む形体を指定されたデータムに関連付けるために基本寸法が使用されていることを検証し(たとえば後述するプロセス150、ステップ168において説明するように)、
平面度GD&T形体制御フレームに含まれる公差が他のGD&T形体制御フレームに対する微調整又は位置交差若しくはサイズ公差に対する微調整であることを検証し(たとえば後述するプロセス250、ステップ260において説明するように)、
GD&T形体制御フレームを形体/サイズ形体に接続するために使用される方法が正し
いことを検証し(たとえば後述する第64段落において説明するように)、
図面の形体制御フレームで利用されているデータムのすべてが、図面内の部品に実際に適用されていること、及び、図面内で定義されているデータムのすべてがGD&T制御フレームで利用されていることを検証する(たとえば後述する第64段落において説明するように)。
広く説明するために使用する。その使用は特別なものではなく、用語の一般的な定義と一致するものである。たとえば、Microsoft Computer Dictionary(第4版)によって定義されるように、文書作成プログラムにおける不正な文字は、プログラムが認識することができない文字であり、不正な動作は、プログラム又はシステムが組込み制約のために実行することができない可能性がある。このため、この用語は、当業者が解釈するように解釈されるべきである。
、モデル化された部品は、同じ部品に対応する複数の図を含むことができる(たとえば、平面図、正面図、等角図等)。したがって、所与の部品に対し、1つの図に適用されるGD&Tは、他の図においても理にかなっていなければならない。
ス80のステップ94(図2)中に検証ツールによって実行される。プロセスは、表面輪郭制御が適用される表面(たとえば、図面上の表面輪郭記号によって指示されるように)が共面であるか、真の輪郭であるか、又は平面であるかを判定することによって開始する(ステップ154)。平面の表面は、単一の、連続した平坦な表面である。共面の表面は、同じ平面上にある2つ以上の表面か、又は同じ平面上で複数の表面を接合する想像線である。真の輪郭の表面は、基本寸法(上述)を用いて画定される円形又は多面の表面である。
5及び図16に関してさらに詳細に説明する)。次に、検証ツールは、いくつかの公差変更子が表面輪郭の仕様に関連するか否かを検査する(ステップ160)。実施形態によっては、不正な公差変更子には、径、最大実体状態、最小実体状態、突出公差域及び接線が含まれる。それらの公差変更子が使用される場合、輪郭制御の不正な仕様を識別する(ステップ158)。それらの公差変更子が使用されない場合、検証ツールは、輪郭制御の正当な仕様を識別し(ステップ162)、プロセス150は終了する。
ステップ180)。たとえば、実施形態によっては、平面の表面(すなわち、表面輪郭記号が添付される平面の表面)に他の幾何公差を適用してもよい。こうした実施形態では、輪郭制御は、他の幾何公差値に対する微調整であるべきであり、微調整は、他の幾何公差の70%以下であるべきである。したがって、輪郭公差が別の幾何公差の微調整でない場合、検証ツールは、不正な表面輪郭制御を識別する(ステップ158)。他の実施形態では、プロセス150には微調整要件(ステップ180)が含まれない。
自由状態変更子及び統計的公差変更子のみが振れ制御を変更するように許可されている。振れ制御が無効な表面に適用されているか、又は他の公差変更子が含まれている場合、検証ツールは、振れコールアウトの不正な仕様を識別する(ステップ304)。プロセスの次のステップは、データム変更子が含まれていないことを検証することである(ステップ312)。実施形態によっては、いずれのデータム変更子も許容されていない。したがって、制御フレームにいずれかのデータム変更子が含まれている場合、検証ツールは振れコールアウトの不正な仕様を識別する(ステップ304)。次に、検証ツールは、制御フレームにおいて指定されている公差値がサイズ公差未満であることを検証する(ステップ314)。たとえば、所与の部品に対するサイズ公差が(24.6〜24.2)である場合、公差値はサイズ公差寸法を下回っていなければならない(すなわち0.4未満)。公差値がサイズ公差未満である場合、検証ツールは、正当に指定された振れコールアウトを識別する(ステップ316)。公差値がサイズ公差を上回っている場合、検証ツールは振れコールアウトの正当な仕様を識別する(ステップ304)。
っては、その真円度制御微調整は、幾何公差値の70%未満でなければならない。他の実施形態では、代替の微調整標準を使用してもよい(たとえば60%未満)。有効な真円度制御微調整が使用されている場合、検証ツールは、真円度制御の正当な仕様を示す(ステップ414)。
)。突出公差記号及び接線公差記号が含まれている場合、検証ツールは、FOSに適用されている真直度制御の不正な仕様を示す(ステップ504)。最後に、検証ツールは、(上述したように)FOSに対する真直度公差値が公差を含むFOSの真直度を制御する別の寸法公差(含まれる場合)の微調整であることを検証する(ステップ514)。たとえば、実施形態によっては、真直度公差は、位置、全振れ、表面輪郭及び円筒度を含む寸法公差が制御された要素に適用されている場合、それらの寸法公差の70%未満でなければならない。有効な微調整が含まれている場合、検証ツールは、FOSに対する真直度制御の仕様が正当であることを示す(ステップ516)。
、平行度制御の不正な仕様を識別する(ステップ656)。次に、検証ツールは、平行度制御が表面又はFOSに適用されているか否かを検査する(ステップ658)。平行度制御がFOSに適用されている場合、検証ツールは、接線変更子等の不正な公差変更子がないか検査する(ステップ660)。別法として、平行度制御が形体(たとえば表面)に適用されている場合、検証ツールは、最大実体状態、最小実体状態、接線、径及び突出公差を含む不正な公差変更子がないか検査する(ステップ662)。不正な公差変更子のいずれかが指定されている場合、検証ツールは、平行度制御の不正な仕様を識別する(ステップ656)。そして、検証ツールは、不正なデータム変更子がないか検査する(ステップ664)。実施形態によっては、不正なデータム変更子には、自由状態、統計的公差、接線、突出公差及び径の変更子がある。不正なデータム変更子が含まれている場合、検証ツールは、平行度制御の不正な仕様を識別する(ステップ656)。
態では、不正指標700を、異なるように表示してもよい(たとえば、異なる形状で囲まれるエラー番号、色付きエラー番号、別の指標記号等)。不正指標700は、ユーザに対し、GD&T記号、寸法及び/又はデータムが図面120において不正に適用されたことを通知する(図2に示すプロセス80のステップ96)。不正指標700は、検証ツールが実行された後に図面120に追加される。したがって、各不正指標700は、満足されなかったプロセス(図4〜図14参照)のうちの1つにおけるステップ又は状況を示す。
ド情報を提供する。たとえば、実施形態によっては、プロセスの各ステップ(図4〜図14参照)にエラー番号が割り当てられる。検証ツールは、プロセスのステップを完了しながらエラーを識別する場合、そのステップに割り当てられたエラー番号を識別されたエラーに関連付ける。したがって、エラー番号は、ユーザに対し、検証ツールが不正であるものとして識別した検証ツールプロセスにおける厳密なステップを提供する。さらに、仕様フィールド780は、エラーコードの短い説明を提供する。たとえば、プロセス150のステップ154に関連するエラーコードにフラグが立てられている場合、仕様フィールドは、輪郭のタイプ(たとえば、平面、共面、真の輪郭)が既知ではなかったことを示す。
Claims (12)
- コンピュータに実装された図面検証ツールであって、
ソフトウェア命令が格納されたコンピュータ可読記憶媒体と、
前記ソフトウェア命令を実行するためのプロセッサと、
を備え、前記ソフトウェア命令が、
幾何寸法表示規則及び公差表示規則のセットを用いて幾何寸法表示及び公差表示の仕様を検証するプロセスモジュールと、
幾何寸法表示及び公差表示の不正な仕様を識別する識別モジュールであって、該不正な仕様は前記規則のセットを満足しない幾何寸法表示及び公差表示を含む、識別モジュールと、
幾何寸法表示及び公差表示の前記不正な仕様に関する情報を含む報告書を生成する報告書モジュールと、
を含み、
幾何寸法表示及び公差表示の前記不正な仕様に関する補正命令を電子ユーザマニュアルモジュールが提供し、前記報告書が生成されるときに前記補正命令が参照され、
前記報告書は幾何寸法表示及び公差表示の前記不正な仕様に関するエラーコード情報を提供し、前記報告書は前記エラーコードの記述を含む、図面検証ツール。 - 前記プロセスモジュールは、輪郭制御、TOP制御、平面度制御、振れコールアウト、同心度制御、真円度制御、真直度制御、円筒度制御、対称度制御、平行度制御、直角度制御及び傾斜度制御のうちの少なくとも1つの仕様を検証するプロセスを含む、請求項1に記載の図面検証ツール。
- データムモジュールであって、図面におけるデータムを該図面の形体制御フレームに含まれるデータムと比較する、データムモジュールをさらに具備する、請求項1に記載の図面検証ツール。
- 変更子モジュールであって、前記幾何寸法表示規則及び公差表示規則の前記仕様に関連するデータム変更子及び公差変更子のうちの少なくとも一方を評価する、変更子モジュールをさらに具備する、請求項1に記載の図面検証ツール。
- 微調整モジュールであって、前記データム変更子及び公差変更子のうちの少なくとも一方が別の幾何公差の70%を下回る微調整公差であることを検証する、微調整モジュールをさらに具備する、請求項4に記載の図面検証ツール。
- コンピュータに実装された図面検証システムであって、
ソフトウェア命令が格納されたコンピュータ可読記憶媒体と、
前記ソフトウェア命令を実行するためのプロセッサと、
を備えたコンピュータと、
表示装置上に生成された画像を操作するために、ユーザによって操作される入力装置と、
前記ソフトウェア命令を含む図面検証ツールであって、
幾何寸法表示規則及び公差表示規則のセットを用いて幾何寸法表示及び公差表示の仕様を検証する少なくとも1つのプロセスを含むプロセスモジュールと、
幾何寸法表示及び公差表示の不正な仕様を識別する識別モジュールであって、該不正な仕様は前記規則のセットを満足しない幾何寸法表示及び公差表示を含む、識別モジュールと、
幾何寸法表示及び公差表示の前記不正な仕様に関する情報を含む報告書を生成する報告書モジュールと
を含む図面検証ツールと、
を備え、
幾何寸法表示及び公差表示の前記不正な仕様に関する補正命令を電子ユーザマニュアルモジュールが提供し、前記報告書が生成されるときに前記補正命令が参照され、
前記報告書は幾何寸法表示及び公差表示の前記不正な仕様に関するエラーコード情報を提供し、前記報告書は前記エラーコードの記述を含む、図面検証システム。 - 前記プロセスモジュールは、輪郭制御、TOP制御、平面度制御、振れコールアウト、同心度制御、真円度制御、真直度制御、円筒度制御、対称度制御、平行度制御、直角度制御及び傾斜度制御のうちの少なくとも1つの仕様を検証するプロセスを含む、請求項6に記載の図面検証システム。
- データムモジュールであって、図面におけるデータムを該図面の形体制御フレームに含まれるデータムと比較する、データムモジュールをさらに具備する、請求項6に記載の図面検証システム。
- 変更子モジュールであって、前記幾何寸法表示規則及び公差表示規則の前記仕様に関連するデータム変更子及び公差変更子のうちの少なくとも一方を評価する、変更子モジュールをさらに具備する、請求項6に記載の図面検証システム。
- 微調整モジュールであって、前記データム変更子及び公差変更子のうちの少なくとも一方が別の幾何公差の70%を下回る微調整公差であることを検証する、微調整モジュールをさらに具備する、請求項9に記載の図面検証システム。
- 前記補正命令は、1つ以上の図面例を含む、請求項6に記載の図面検証システム。
- 前記図面検証ツールは、自動的に初期化される、請求項6に記載の図面検証システム。
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US20180268614A1 (en) * | 2017-03-16 | 2018-09-20 | General Electric Company | Systems and methods for aligning pmi object on a model |
CN112330659B (zh) * | 2020-11-24 | 2023-04-07 | 成都信息工程大学 | 结合lsd直线检测和连通域标记法的几何公差符号分割方法 |
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CA1284383C (en) * | 1986-08-04 | 1991-05-21 | Fmc Corporation | Computer integrated gaging system |
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JP3270274B2 (ja) * | 1994-12-27 | 2002-04-02 | 株式会社東芝 | 評価支援システム |
JPH08286955A (ja) * | 1995-04-13 | 1996-11-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | エラー処理装置 |
NZ503517A (en) | 1997-10-06 | 2003-03-28 | Megg Associates | Single-document active user interface system |
US6232985B1 (en) | 1998-06-15 | 2001-05-15 | Autodesk, Inc. | Interactive, dynamic, automatic dimension arrangement generator for computer-aided drafting programs |
US6725184B1 (en) | 1999-06-30 | 2004-04-20 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Assembly and disassembly sequences of components in computerized multicomponent assembly models |
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US6879933B2 (en) | 2001-11-16 | 2005-04-12 | Faro Technologies, Inc. | Method and system for assisting a user taking measurements using a coordinate measurement machine |
KR100442697B1 (ko) * | 2002-03-11 | 2004-08-02 | 삼성전자주식회사 | 자동 와이어 본딩 공정을 위한 통합 관리 시스템 |
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JP2005352678A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Canon Inc | 情報処理装置及びその制御方法、並びにプログラム及び記憶媒体 |
US7590497B2 (en) * | 2004-10-05 | 2009-09-15 | Dassault Systemes Solidworks Corporation | Automatic generation of tolerance schemes |
US8041103B2 (en) * | 2005-11-18 | 2011-10-18 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for determining a position of inspection data in design data space |
US7676077B2 (en) * | 2005-11-18 | 2010-03-09 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for utilizing design data in combination with inspection data |
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