JP4994727B2 - 有機トランジスタアクティブ基板とその製造方法および該有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイ - Google Patents

有機トランジスタアクティブ基板とその製造方法および該有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイ Download PDF

Info

Publication number
JP4994727B2
JP4994727B2 JP2006190067A JP2006190067A JP4994727B2 JP 4994727 B2 JP4994727 B2 JP 4994727B2 JP 2006190067 A JP2006190067 A JP 2006190067A JP 2006190067 A JP2006190067 A JP 2006190067A JP 4994727 B2 JP4994727 B2 JP 4994727B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
insulating film
organic transistor
substrate
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006190067A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007103913A (ja
Inventor
善一 秋山
匠 山賀
隆徳 田野
英紀 友野
明繁 村上
均 有田
麻由佳 荒海
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2006190067A priority Critical patent/JP4994727B2/ja
Priority to US11/517,737 priority patent/US8071432B2/en
Publication of JP2007103913A publication Critical patent/JP2007103913A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4994727B2 publication Critical patent/JP4994727B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K19/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic element specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, covered by group H10K10/00
    • H10K19/10Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic element specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, covered by group H10K10/00 comprising field-effect transistors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/60Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • H10K71/135Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing using ink-jet printing
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/60Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
    • H10K71/611Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes using printing deposition, e.g. ink jet printing

Description

本発明は、有機トランジスタを用いたアクティブ基板技術に係り、特に簡単な方法で製造でき、かつ、低コスト化が可能な有機トランジスタアクティブ基板とその製造方法および該有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイに関する。
従来、マトリクス方式のディスプレイとして、互いに直交した走査電極とデータ電極を用いて駆動するパッシブ型のディスプレイと、トランジスタなどのスイッチング素子と記憶素子を用いて点灯画素を選択するアクティブ型のディスプレイが知られている。
アクティブ型のディスプレイとしては、例えば特開2003−255857号公報「有機ELディスプレイ」(特許文献1)、特開2003−318196号公報「能動素子及びそれを有する表示装置」(特許文献2)、特開2004−241527号公報「有機能動素子及びそれを有する表示素子」(特許文献3)、特開2005−64122号公報「有機半導体形成用インク、有機半導体パターン形成方法、電子素子および電子素子アレイ」(特許文献4)などに開示されたものがある。アクティブ型のディスプレイは、単純マトリックス駆動の構造に加えて、画素の一つ一つにアクティブ素子(スイッチング素子)を付けたものである。このような構成によって、目的の画素をオンオフすることができ、高い画質と速い応答速度が要求される動画の表示に用いられている。
特開2003−255857号公報(特許文献1)に開示されたものは、基板上にマトリクス配列して形成された各画素が、1以上の有機EL(Electro Luminescence)素子とそれを駆動する2以上の有機薄膜トランジスタからなり、各有機薄膜トランジスタが、ゲート電極、ゲート絶縁膜、該ゲート絶縁膜上に形成した有機半導体層、ソース電極、ドレイン電極を備え、ゲート絶縁膜が、ゲート電極の表面を陽極酸化して形成された金属酸化膜を含むようにした有機ELディスプレイ用アクティブ基板である。これにより、閾値電圧が低くまた動作電圧が低い有機TFTを低いプロセス温度で形成することを可能にしている。
また、特開2003−318196号公報(特許文献2)、特開2004−241527号公報(特許文献3)には、有機半導体能動素子(トランジスタ)や該能動素子を利用した電気泳動表示装置が開示されている。
さらに、特開2005−64122号公報(特許文献4)には、有機半導体形成用として有用なインク、該インクを用いてインクジェット印刷技法により電極を形成した電子素子や電子アレイが開示されている。
特開2003−255857号公報 特開2003−318196号公報 特開2004−241527号公報 特開2005−64122号公報
上述したように、従来から有機半導体材料を用いたトランジスタをアレイ上に配置してアクティブ基板を作製し、そのアクティブ基板上に表示素子を積層してなる表示パネルの試みがなされていた。図4はその構成例であり、同図において、アクティブ基板の電極と透明電極10の間に電気泳動のマイクロカプセル9が設けられている。11は支持基板である。
また、表示パネルの他の構成として、図7に示すように、アクティブ基板上に隔壁層を介して支持基板を接合してなる空間(同図中13)に電気泳動分散液13を設けたものでもよい。
アクティブ基板上に表示素子を積層するに当たり、図1に示す如き基板1、ゲート電極2、ゲート絶縁膜3、ソース・ドレイン電極4、活性層5から構成される有機薄膜トランジスタ(以下、有機TFT(Thin Film Transistor)という)上に、図2に示すように、層間絶縁膜6を介し画素電極(個別電極8)を配置した構造を形成する必要があり、特に、層間絶縁膜6の形成やその後のスルーホール7の形成による有機TFT特性劣化が問題になっていた。
層間絶縁膜6の形成に要求される条件としては、(1)低温成膜(基板にプラスチックを用いる場合、プロセス温度は200℃以下)、(2)ダメージフリー(膜堆積によりトランジスタ性能が劣化しないこと)、(3)簡便プロセス(低コスト化実現:真空成膜は装置コストが高い、環境負荷が大きい(電力など))などがある。
次に、従来における層間絶縁膜6の形成方法とその問題点を示す。
a)無機系絶縁膜の真空成膜
a1)シランガスを用いたプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition;化学気相成長)法
簡便プロセスでない、プラズマダメージがある
a2)スパッタリング法
簡便プロセスでない、プラズマダメージがある
a3)SOG(Spin On Glass;スピン オン ガラス)による成膜
200℃以上の熱処理が必要
b)有機絶縁膜
b1)各種絶縁性高分子のキャスト成膜
上記例よりb)の有機絶縁膜を用いることが望ましいと考えられる。
次に、層間絶縁膜の形成方法とその問題点についてさらに詳細に説明する。
まず、a)の無機系絶縁膜の形成方法とその問題点について検討する。
上記a1)の真空チャンバーに試料を配置させチャンバーを減圧にするCVD(Chemical Vapor Deposition: 化学気相成長法)は、原料となるシランガスと酸化反応を促進させる反応ガスをチャンバー内に導入し、原料ガスの基板表面での吸着・熱分解反応から目的とする酸化シリコン膜を得るようにしたものである。この時、RF(Radio Frequency)放電により反応をアシストするプラズマCVDは低温成膜に有利であり、一般に300℃ほどの基板温度で実行される。
次に、プラズマCVD法と同様に真空成膜法の一種である上記a2)のスパッタリング法について説明する。
スパッタリング法は、先述のRF放電によりアルゴンガスのプラズマを形成し、成膜すべき材料からなるターゲットを基板に対向させ、スパッタリング現象によりターゲット材を基板に堆積させるようにしたものである。このときの成膜温度は得られる膜質にも依存するが室温成膜が可能である。
ところで、これら成膜法での欠点としては、
(1)真空装置を用いることによる非簡便性
(2)プラス電荷、マイナス電荷が存在する雰囲気に試料が暴露され、その電気的な損傷(一般にプラズマダメージと呼ばれる)を受ける。特にトランジスタ上に層間絶縁膜を形成する場合、トランジスタの閾値電圧のドリフトや、ゲート絶縁膜の絶縁抵抗抵抗値の低下、などの不具合を発生させる、
などがあげられる。
次に、a3)のSOG法における問題点について説明する。
テトラエトキシシランを主成分とする溶液をスピンコート法などの手法により塗膜して、その後の熱処理により酸化シリコン膜を得るいわゆるSOG法の場合、スピンコーティング装置など真空を用いない簡素な装置で成膜できる。しかし、テトラエトキシシランの加水分解・重縮合・脱水反応を経て形成される本成膜法では200℃以上の熱処理(赤外線分光分析から残留水酸基の離脱には400℃の処理)が必要で、プラスチック基板など熱処理温度に制約を与える基板では採用することはできない。
このように、a)の無機系絶縁膜の場合は上述した如き様々な問題点を有しており、有機絶縁膜を用いることが望ましいが、有機絶縁膜を成膜した場合、次にトランジスタの対電極の一方と、画素電極との導通をとるためのスルーホール開孔が必要となる。
一般に、スルーホールはフォトリソグラフィー・エッチングにより開孔されるが、有機絶縁膜を用いた場合、フォトレジストに含まれる有機溶剤により、下地絶縁膜が溶出する不具合が生じ、また、エッチング終了後のフォトレジスト除去の際に用いられる有機溶剤により同様の不具合を生じる。
また、エッチングをドライプロセスで行った場合、プラズマダメージをTFTに与える。その理由を説明すると、RFプラズマ放電が可能な真空チャンバーのアース電極側に試料を配置し、フッ素化合物を含む反応ガスを導入し、プラズマを生成する。アース側では電子と正孔の移動度が異なるので、自己整合的にバイアス電界が生じる。ドライエッチングはこのバイアスで加速されたフッ素イオンを試料に照射し揮発性物質に化学反応させ、除去する方法である。バイアス電界により先述同様にトランジスタ性能のドリフトやゲート絶縁膜の絶縁破壊耐圧の劣化すなわちプラズマダメージを招く。従って、有機絶縁膜のキャスト成膜であっても、形成方法としては不十分である。
かかる不具合に対し、あらかじめスルーホール部以外の領域のみに有機絶縁膜を形成する技術があり、スクリーン印刷によるスルーホールを有する層間絶縁膜形成を採用する。
次に、スクリーン印刷の原理、性能、課題について説明する。
a)スクリーン印刷の原理
ステンレスメッシュに所望する開口部を持つ乳剤を配置し(スクリーン版)、スキージにより印刷インクを版開口部から被印刷体にインクを転写する。転写インクのレベリングにより均一な印刷物が形成される(図5参照)。
b)印刷パターンとインク要求性能
印刷パターンAでの説明
インクを遮蔽する乳剤はその逆パターンで配置される。乳剤開口部にもステンレスメッシュが存在し、これがインク通過を阻害するため、スキージ直後の被印刷体へのインクは島状に転写される。島状インクは時間の経過とともにレベリングし、平坦な連続膜へと形態変化することでパターンが得られる。このレベリングはパターンの寸法再現性において悪い効果を与える。元の乳剤開孔寸法に対しレベリング作用により大きな印刷パターンになる。
印刷パターンBでの説明
同様な原理で、スルーホール寸法は小さくなる。
一般に、印刷パターンAをポジ型、パターンBをネガ型と区別し、従来のスクリーン印刷ではネガ型パターン印刷はあまり行われていない。
スクリーン印刷による構造物(厚膜パターン)形成はプラズマディスプレイのリブ材や多層セラミックス配線基板の電極印刷、積層セラミックコンデンサー部品の内部電極印刷などに用いられている。これらはいずれもポジ型パターンである。
実装回路基板の保護膜としてネガ型印刷を行う場合があり、このときの寸法はミリメートルオーダーの開口部が形成されている。ポジ型パターンは量産レベルで30〜50μm、研究段階では10〜30μmである。一方、ネガ型パターンの加工限界値は200〜300μmといわれている。
有機TFTアレイ基板に設計されるスルーホール寸法は、画素集積度にも依存するが、おおむね150〜5μm程で加工限界かそれ以下の寸法である。従って、スクリーン印刷による層間絶縁膜印刷は工程の簡便性があるにもかかわらず、従来は実施されてこなかった。
c)有機TFT応用時の問題
さらに、図2に示すように、有機半導体(図1の活性層5)層上に、層間絶縁膜6が直接積層されるため、層間膜インク(以下、単にペーストと記す)に含まれる有機溶剤が有機半導体層を溶解または膨潤させ、結果として半導体特性を劣化させることがある。このような問題を解決し、簡便な工程で素子の作製を実現させることが要望される。
次に、アモルファスSiアクティブ基板の製造例と有機半導体(ペンタセン)アクティブ基板の製造例について説明する。
Si系半導体材料を用いたフラットパネルディスプレイ用アクティブ基板と比較して、有機半導体材料を用いた場合は、簡便プロセスによる製造コストの低減、簡便な製造装置による作製、これによる製品コストの低減など、様々な利点があり、現在、有機半導体材料を用いたフラットパネルディスプレイ用アクティブ基板は開発に注力されている。
<アモルファスSiアクティブ基板の製造例>
1.基板
2.ゲート電極(第1の電極)形成
クロム真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチング
3.ゲート絶縁膜(第1の絶縁膜)形成
SiO2真空成膜(スパッタリング成膜)
4.活性層形成
水素化アモルファスSiのプラズマCVD(化学気相堆積)法による成膜とフォトリソグラフィー・エッチング
5.ソース・ドレイン電極(第2の対電極)形成
アルミニウム真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチング
6.層間絶縁膜(第2の絶縁膜)形成
SiO2真空成膜(スパッタリング成膜)
7.コンタクトホール開孔
フォトリソグラフィー・エッチング
8.個別電極(第3の電極)形成
アルミニウム真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチング
<有機半導体(ペンタセン)アクティブ基板の製造例>
1.基板
2.ゲート電極(第1の電極)形成
クロム真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチング
3.ゲート絶縁膜(第1の絶縁膜)形成
SiO2真空成膜(スパッタリング成膜)
4.ソース・ドレイン電極(第2の対電極)形成
アルミニウム真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチング
5.活性層形成
ペンタセンの真空蒸着法による成膜とフォトリソグラフィー・エッチング
6.層間絶縁膜(第2の絶縁膜)形成
SiO2真空成膜(スパッタリング成膜)
7.コンタクトホール開孔
フォトリソグラフィー・エッチング
8.個別電極(第3の電極)形成
アルミニウム真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチング
アモルファスSiアクティブ基板と有機半導体(ペンタセン)アクティブ基板の違いは「活性層」の形成方法にあり、水素化アモルファスSiはプラズマCVDにより形成され、この時、高品質な半導体を得ようとした場合、基板温度250〜350℃の高温が要求されるため、アクティブ基板としてはガラスなどが用いられる。
一方、ペンタセン半導体は室温成膜が可能であるため、プラスチック基板などの使用が可能になる。
製造装置的にはプラズマCVDが真空蒸着装置に代わるので、装置コストの低減、ランニングコストの低減は言うまでもない。
また、最近、プリンティングエレクトロニクスという分野が急速に発展している。これは従来の金属配線を導電性高分子やナノメタルインクを用い、インクジェット法や、その他印刷法にて形成する技術や、ペンタセンとは異なる他の有機半導体材料、この場合、高分子材料を溶媒に溶かし、インク化したもので、真空成膜を行わずに機能性膜をパターン形成する技術である。
その例として、有機半導体材料ではポリチオフェンや、フルオレンチオフェン共重合体を用いた例がある。
前述の有機半導体(ペンタセン)アクティブ基板の製造例においてフルオレンチオフェン共重合体(F8T2)をインクジェット法にて形成した場合、工程5は真空蒸着法やその後のフォトリソグラフィー・エッチング工程がなくなり、さらに簡便プロセスが達成される。導電性高分子としてポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)をインク化し、配線に用いること、ナノ銀インクをIJ塗工し200℃の熱処理により配線化することも可能になっている。
このようなプリンティングエレクトロニクス技術の採用で、第1、第2、第3の電極材形成では真空成膜・フォトリソグラフィー・エッチングを代替でき、工程省略、製造装置の簡便さが大幅に加速される。
インクジェット法による配線材のパターン形成は、噴出インクの体積、着弾精度からパターン寸法が制約され、現状では100ミクロンの配線可能ができているものの、更なる微細化には課題を有している。
我々はインクジェット塗工によるトランジスタの第2の電極層形成において、下地の表面エネルギーを変化させ、インクになじみやすい表面、なじみにくい表面を光処理することで簡便に形成し、塗布インクの自己排除機構により、5ミクロン間隔のパターン化に成功している(特許文献3参照)。トランジスタの第2の電極において、微小間隔の形成はトランジスタ性能向上の点で非常に重要である。また、特許文献4においてインクジェット法による配線化技術を出願している。
本発明に係る有機トランジスタアクティブ基板とは、図1に示す如き構造の有機トランジスタ上に、図2に示す如きスルーホール7、層間絶縁膜6、個別電極8を2次元配置した基板であり、スルーホール7を介して有機トランジスタのソース電極から個別電極(画素電極8)に画像信号を伝達させるための基板である。
図3は、有機トランジスタアクティブ基板の上面図であり、同図において、302はゲート電極、304はドレイン電極、305はソース電極、308は信号線、309は走査線、310は画素電極(図2の個別電極に相当)である。
また、本発明に係る電気泳動表示ディスプレイとは、図4に示したように、この個別電極8と支持基板11に支持された透明電極10との間に電気泳動マイクロカプセルを封入した構成を有し、有機トランジスタの個別電極8に加えられた画像信号により白・黒表示するものである。なお、図4は1画素分の構成を示している。
図1に示す如き有機トランジスタの従来技術による印刷技術を利用した作製工程は、以下のように記され、飛躍的な工程の簡素化が実現できる。
1.基板
2.ゲート電極(第1の電極)形成
クロム真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチング
→ナノ銀インク−IJ(インクジェット)法による形成
(真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチングを使わない)
3.ゲート絶縁膜(第1の絶縁膜)形成
SiO2真空成膜(スパッタリング成膜)
→ポリイミドのスピンコート法による形成
(真空成膜を使わない)
4.ソース・ドレイン電極(第2の対電極)形成
アルミニウム真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチング
→光照射によるポリイミドの部分的表面改質+ナノ銀インク−IJ法による形成(真空成膜、フォトリソグラフィー(による加工用レジストパターンの形成)・エッチングを使わない)
5.活性層形成
ペンタセンの真空蒸着法による成膜とフォトリソグラフィー・エッチング
→高分子有機半導体材料のIJ法による形成
(真空成膜、フォトリソグラフィー・エッチングを使わない)
により形成でき、飛躍的な低コスト化が実現できる。
しかし、次工程における図2に示す層間絶縁膜(第2の絶縁膜)6の形成、コンタクトホール7の開孔、個別電極8の形成に対しては従来法と代わることなく、真の低コストプロセスは達成できない。
有機TFTからなるアクティブ基板を製造するのに好適な印刷法について説明する。
第1の電極層(ゲート電極)は100μm以下のパターンが印刷できる方法が選択され、これにはインクジェット、凹版、凸版印刷があげられる。この電極層形成に要求される第2の特徴として電極膜の薄膜化がある。
トランジスタは機能性膜を積層してなるため、積層されるパターンが下地段差により段切れする故障を防ぐために必要である。凹版印刷は線幅20μmほどの印刷が可能であり解像度の面では問題がない一方、薄膜化において不向きである(凹版印刷による膜厚は2ないし3μmの厚さになってしまう)。
次の要求性能として、印刷インクに制約を与えない印刷法が要求される。電極を印刷で行う場合、ナノメタルインクを印刷し、その後の熱処理により導電性を付与する。ナノメタルインクの特性をそこなわない凹版材料の開発はまだ途上の段階である。一方、インクジェット法は粘度、表面張力のマッチングのみ行えばよく、この点からインク種に制約を与えない。後述のソース・ドレイン電極形成で同じ製造装置を用いることで、製造装置、工程管理の煩雑さ、高額設備投資などの不具合を解消できうるので好適である。
第2の電極層(ソース・ドレイン電極)形成として印刷法に要求される特性は20μm以下のスペースを解像できる印刷法、ならびに下地パターンに対し3μm以下の位置ずれが要求される。先述の凹版印刷、凸版印刷は位置合わせの面で要求を満たさない。我々は、ポリイミド材料の光照射による濡れ性制御技術(特開2006-060079号公報)によりIJ印刷を提案している。
インク材料に影響しないIJ法は有機半導体材料の印刷においても好適である。また製造装置の共有化の面でも好ましい。
層間絶縁膜に要求される印刷は、その上部に画素電極を配置する構造上、電気的に十分な絶縁性を発現させるほかに、誘電的に十分孤立させなければならない。これは画素電極に電位が与えられた場合、層間絶縁膜が誘電膜として下地有機半導体層に誘電電界を与え、トランジスタの動作点をシフトさせてしまうからである。このような不具合を解消する為に、層間絶縁膜は数μm以上の厚膜として形成する必要がある。
また数μmの層間絶縁膜に下地電極との電気的接続を行う為のスルーホール加工が必要となるが、あらかじめ電気的接続部を除く部位のみに層間絶縁膜を印刷することが要求される。凹版印刷では厚膜形成できるものの、下地パターンに対する印刷位置合わせの面で不十分であり、一方、スクリーン印刷ではこれらが可能になる。
画素電極形成ではスルーホール部での断線が生じないように、印刷下地の凹凸に相当する膜厚を印刷することで断線を回避する。従って、位置合わせ制度が高く、厚膜形成できる印刷法が要求され、スクリーン印刷が選ばれる。これは層間絶縁膜形成と同じ印刷法であるため、装置の共有化、工程管理の面において好適である。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、簡便な製法が可能で、かつ低コスト化が可能な有機TFTからなるアクディブ基板の製造方法と該方法で製造されたアクティブ基板および電気泳動型ディスプレイを提供することを目的としている。
本発明は、上記目的を達成するために、次の如き構成を有する。以下、請求項毎の構成を記す。
a)請求項1記載の発明は、基板上に、第1の電極を形成し、該第1の電極上に第1の絶縁膜を形成し、該第1の絶縁膜上に第2の対電極を形成し、該第2の対電極上に有機半導体材料からなる活性層を形成することにより有機トランジスタを構成させ、該有機トランジスタ上に第2の絶縁膜を堆積し、前記第2の対電極の一方と前記第2の絶縁膜に設けられたスルーホールを介して電気的導通がとられた第3の電極を積層するようにした有機トランジスタアクティブ基板の製造方法であって、前記第1の電極および前記第2の対電極層が、インクジェット法により形成され、前記第1の絶縁膜がコーティングにより形成され、前記活性層がインクジェット法により形成され、前記第2の絶縁膜がスクリーン印刷法により形成され、前記第3の電極がスクリーン印刷法により形成されてなることを特徴としている。
b)請求項2記載の発明は、第1の絶縁膜がポリイミド膜であることを特徴としている。
c)請求項3記載の発明は、活性層がトリアリールアミンを含むパイ共役高分子材料を主成分とすることを特徴とし、請求項4記載の発明は、第2の絶縁膜がポリビニルブチラール樹脂を主成分とし、少なくともエーテル結合を持つアルコール溶媒で溶解して得たペーストをスクリーン印刷法にて塗工し、形成されることを特徴とし、請求項5記載の発明は、第3の電極が銀を主成分とすることを特徴としている。
d)請求項6記載の発明は、基板上に、第1の電極を形成し、該第1の電極上に第1の絶縁膜を形成し、該第1の絶縁膜上に第2の対電極を形成し、該第2の対電極上に有機半導体材料からなる活性層を形成することにより有機トランジスタを構成させ、該有機トランジスタ上に第2の絶縁膜を堆積し、前記第2の対電極の一方と前記第2の絶縁膜に設けられたスルーホールを介して電気的導通がとられた第3の電極を積層するようにした有機トランジスタアクティブ基板の製造方法であって、前記第2の絶縁膜は、樹脂を少なくともブトキシエタノールを含む溶剤で溶解しインク(ペースト)から生成されたものであることを特徴としている。
e)請求項7記載の発明は、請求項1〜6のいずれか1項に記載の製造方法により製造された有機トランジスタアクティブ基板上に、電気泳動表示素子を積層してなる電気泳動ディスプレイであって、前記電気泳動表示素子が、電界により白黒表示可能な媒体をカプセル化し、前記第3の電極上に配置されてなるものであることを特徴としている。
f)請求項8記載の発明は、請求項1〜6のいずれか1項に記載の製造方法により製造された有機トランジスタアクティブ基板上に、電気泳動表示素子を積層してなる電気泳動ディスプレイであって、前記電気泳動表示素子が、前記有機トランジスタアクティブ基板と、透明電極を持つ支持基板と隔壁層を介して形成される空間に、電界により白黒表示可能な媒体を、充填してなるものであることを特徴としている。
本発明によれば、全てが印刷工程で製造できる有機TFTからなるアクディブ基板の作製が可能となり、製造コスト、製造装置の低コスト化が達成できる。また、電気泳動型ディスプレイの製造が低コストで達成できる。
また本願発明によれば、印刷法を用いることで、真空成膜装置などの高額設備が不要になるこのとほかに、従来行われてきたエッチングによるパターン形成工程が不要になる(製造工程数の減少)、工程数の減少により歩留りの向上がある。更に、必要な部位のみに材料堆積を行うので材料の利用効率が上がり、結果として従来の製造コストの1/10で素子作製が可能になる。
(発明の概要)
本発明は、ポリビニルブチラール樹脂などの樹脂を少なくとも、エーテル結合を持つアルコール溶媒で溶解したペーストを用い、スクリーン印刷法によって第2の絶縁膜を形成することを特徴とする。第3の電極(個別電極,画素電極)もスクリーン印刷法によって形成する。
エーテル結合を持つアルコール溶媒とはセロソルブ系溶剤であり、有機半導体からなる活性層上に形成されることより、活性層材料に対し溶解性の乏しい溶媒が選定される。
またペースト化に対しては有機溶剤の持つ蒸気圧特性も考慮し、本発明においては特にブトキシエタノールが好ましい。
本発明は、絶縁性ポリマーを少なくともブトキシエタノールを含む溶剤を用いてペースト化し、スクリーン印刷による膜形成を行うことで、コンタクトホール開孔処理なしに、第2の絶縁膜を形成することができる。引き続き、銀微粒子を含むペーストを用いスクリーン印刷することでトランジスタの第2の電極の片方と電気的導通を図る。
以下、本発明の実施例を説明する。
<実施例1>
(1)有機トランジスタの形成
ガラス基板に市販のナノ銀インクを用い、リコープリンティングシステムズ社製のインクジェット装置を用い、所望するパターンに印刷後、200℃で熱処理し、第1の電極を形成した。
次に、第1の絶縁膜として熱重合型ポリイミドをスピンコートにより塗布し、280℃で熱処理したのち、フォトマスクを介して、所望する部位(後述、第2の電極形成部位)に紫外線照射を行い、表面改質を実施した。第1の電極パターンに対しフォトマスクの重ね合わせ精度を求めたところ、トータルピッチ200mmに対し±10μmのずれ範囲内で重ね合わせができた。
次に、第1の電極形成と同様にナノ銀インクを用いIJ法にて第2の電極を形成した。露光部位はCCD観察ではパターン認識ができない。従って、第1のパターンに対し、基板整合させ、印刷データに基づくIJ印刷を実施した。このようにして得られて積層パターンの重ね合わせ精度を求めたところ、トータルピッチ200mmに対し±10μmのずれ範囲内で重ね合わせができた。これは濡れ性制御面に対するインク再現性はほぼ100%の割合でパターン再現ができ、±10μmのずれはフォトマスク露光時の重ね合わせずれに起因していた。
活性層として、以下に示す(化1)の構造を有するトリアリールアミン骨格を有する有機半導体材料をキシレンに溶解し、インク化した。インク濃度は1wt%、粘度約5mPa秒、表面張力:約30mN/mであった。その後、IJ法にて所望する部位に膜形成することで、有機トランジスタを得た。
Figure 0004994727
(2)第2の絶縁膜形成
積水化学社製ポリビニルブチラール樹脂をテルピネオール、ブトキシエタノールに溶解し、印刷適正粘度(6万〜20万mPas)に調整すべく、絶縁性フィラーを添加し、三本ロールミルにて混練してスクリーン印刷用ペーストを調整した。
絶縁性フィラーとして均一な粒が容易に得られやすい材料として、堺化学社製水熱合成チタン酸バリウム(平均粒径0.1ミクロン)を添加した。具体的な処方はポリビニルブチラール濃度:5wt%(テルピネオール+ブトキシエタノール)バインダーに対し、70wt%のチタン酸バリウムフィラーを添加した。
このように調整したペーストを用い、スクリーン印刷(カレンダーメッシュ:500番、乳厚5ミクロンのスクリーン版)を行い、120℃で乾燥することで、第2の絶縁膜を形成した。この第2の絶縁膜の試料は、図6に示すように約100μm×100μmのスルーホールが形成できていることが確認できた。
(3)第3の電極形成
大研化学社製銀ペーストを、同様な版条件でスクリーン印刷し、120℃で乾燥することで、第3の電極(個別電極,画素電極)を形成した。
上記実施例ではトランジスタチャネル長5ミクロン、チャネル幅1000ミクロン、ゲート絶縁膜の比誘電率3.6、膜厚400ナノメートルのトランジスタを作製し、トランジスタ性能を半導体パラメータアナライザにて評価した。
測定条件:VDS=−20V、VG=−20V下でのオン電流は6×10−7A、VDS=−20V、VG=0V下でのオフ電流は3×10−9A、閾値電圧は−0.3Vとなり、p型動作する有機半導体素子が得られた。この値は層間絶縁膜形成前のトランジスタと同等の値であり、本プロセスによる素子劣化は認められなかった。
さらに詳細に説明すると、層間絶縁膜形成用に用いる印刷ペースト(インク)は主ポリマー(ポリビニルブチラール樹脂)粘度調整用フィラー、有機溶剤からなる。有機溶剤の選定は下地に配置した有機半導体膜を溶解する能力があった場合、トランジスタ不良が生じてしまう。本発明の印刷ペーストがトランジスタ性能に影響を与えないかを確認するために、層間絶縁膜形成前後のトランジスタ性能評価を行った。有機半導体膜を形成して作製した有機TFTのオン電流は6×10−6A、オフ電流は3×10−9A、閾値電圧は−0.3Vであった。一方、層間絶縁膜形成後のトランジスタ性能は、オン電流:6×10−6A、オフ電流:3×10−9A 、閾値電圧は−0.3Vであり、特性変化は認められなかった。
<実施例2>
本発明に係る電気泳動ディスプレイは、図4に示すように、透明電極(ITO ;Indium Tin Oxide)10を共通電極として配置した支持基板11と、実施例1記載の製法で作成した有機トランジスタアクティブ基板の第3の電極(個別電極,画素電極)間に、白黒表示する電気泳動マイクロカプセルを挟み画素を形成した。走査線に−20V、(画素)信号線に±20Vを印加し、画素の白黒変化を確認することができた。電気泳動マイクロカプセルは、白黒表示可能な媒体で、白色粒子、黒色粒子、絶縁性溶媒をカプセル内に含有したものである。
以下、上記電気泳動ディスプレイの製法をさらに具体的に説明する。
酸化チタン:20重量部、酸ポリマー:1重量部、シリコーンポリマーグラフトカーボンブラックMX3-GRX-001(日本触媒製):2重量部、シリコーンオイルKF96L-1cs(信越化学製):77重量部(合計:100重量部)
これらの各配合組成物を混合した分散液を作製し、超音波で1時間分散して白黒粒子分散液を作製。
分散液をゼラチン−アラビアゴム コンプレックスコアセルベーション法によりマイクロカプセル化した。平均カプセル径は約60μmであった。
このマイクロカプセルをウレタン樹脂溶媒に分散させ、ワイヤーブレード法にて透明電極膜付きフィルム基板上に展開し、均一なマイクロカプセルシートを形成した。これを有機TFT基板に接合し、図4に示す電気泳動表示画素を形成した。
次に、隔壁層を介して前記分散液を封止した図7に示す電気泳動表示画素の製法を説明する。
東京応化社製厚膜フォトレジストTMMR S2000をガラス基板に膜厚40μmをスピンコート成膜して、隔壁幅20μm、開口部180μmのハニカムパターンを露光・現像により形成した後、ガラス基板からこのレジストパターンを剥離し、隔壁層を得た。
有機トランジスタアクティブ基板上にこの隔壁層を積層し、前記分散液を滴下後、透明電極膜付き支持基板をローラー加圧により接合し、図7に示す電気泳動表示画素を形成した。
本発明の基本となる基板上に形成した有機トランジスタの構成図である。 本発明に係る、有機トランジスに層間絶縁膜、スルーホールを介しトランジスタの片方の電極(ソース)と電気的に導通した電極(個別電極)を有するタアクティブ基板の構成図である。 本発明に係る、有機トランジスタアクティブ基板の上面図である。 電気泳動表示画素の構成図である。 印刷パターンを説明するための図である。 本発明により作成したスルーホール(TH)を有する層間絶縁膜の印刷試料の写真である。 本発明に係る電気泳動表示画素の別の構成図である。
符号の説明
1:基板
2:ゲート電極(第1の電極)
3:ゲート絶縁膜(第1の絶縁膜)
4:ソース・ドレイン電極(第2の対電極)
5:活性層(有機半導体材料)
6:層間絶縁膜
7:スルーホール
8:個別電極(第3の電極、画素電極)
9:電気泳動のマイクロカプセル
10:透明電極
11:支持基板
12:隔壁
13:電気泳動分散液
302:ゲート電極
304:ドレイン電極
305:ソース電極
308:信号線
309:走査線
310:画素電極(第3の電極、個別電極)

Claims (8)

  1. 基板上に、第1の電極を形成し、該第1の電極上に第1の絶縁膜を形成し、該第1の絶縁膜状に第2の対電極を形成し、該第2の対電極上に有機半導体材料からなる活性層を形成することにより有機トランジスタを構成させ、該有機トランジスタ上に第2の絶縁膜を堆積し、前記第2の対電極の一方と前記第2の絶縁膜に設けられたスルーホールを介して電気的導通がとられた第3の電極を積層するようにした有機トランジスタアクティブ基板の製造方法であって、
    前記第1の電極および前記第2の対電極層が、インクジェット法により形成され、
    前記第1の絶縁膜がコーティングにより形成され、
    前記活性層がインクジェット法により形成され、
    前記第2の絶縁膜がスクリーン印刷法により形成され、
    前記第3の電極がスクリーン印刷法により形成されてなることを特徴とする有機トランジスタアクティブ基板の製造方法。
  2. 前記第1の絶縁膜がポリイミド膜であることを特徴とする請求項1記載の有機トランジスタアクティブ基板の製造方法。
  3. 前記活性層がトリアリールアミンを含むパイ共役高分子材料を主成分とすることを特徴とする請求項1記載の有機トランジスタアクティブ基板の製造方法。
  4. 前記第2の絶縁膜がポリビニルブチラール樹脂を1成分とし、少なくともエーテル結合を持つアルコール溶媒で溶解して得たペーストをスクリーン印刷法にて塗工し、形成されることを特徴とする請求項1記載の有機トランジスタアクティブ基板の製造方法。
  5. 前記第3の電極が銀を主成分とすることを特徴とする請求項1記載の有機トランジスタアクティブ基板の製造方法。
  6. 基板上に、第1の電極を形成し、該第1の電極上に第1の絶縁膜を形成し、該第1の絶縁膜上に第2の対電極を形成し、該第2の対電極上に有機半導体材料からなる活性層を形成することにより有機トランジスタを構成させ、該有機トランジスタ上に第2の絶縁膜を堆積し、前記第2の対電極の一方と前記第2の絶縁膜に設けられたスルーホールを介して電気的導通がとられた第3の電極を積層するようにした有機トランジスタアクティブ基板の製造方法であって、
    前記第2の絶縁膜は、樹脂を少なくともブトキシエタノールを含む溶剤で溶解しインク(ペースト)から生成されたものであることを特徴とする有機トランジスタアクティブ基板の製造方法。
  7. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の製造方法により製造された有機トランジスタアクティブ基板上に、電気泳動表示素子を積層してなる電気泳動ディスプレイであって、
    前記電気泳動表示素子が、電界により白黒表示可能な媒体をカプセル化し、前記第3の電極上に配置されてなるものであることを特徴とする電気泳動ディスプレイ。
  8. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の製造方法により製造された有機トランジスタアクティブ基板上に、電気泳動表示素子を積層してなる電気泳動ディスプレイであって、
    前記電気泳動表示素子が、前記有機トランジスタアクティブ基板と、透明電極を持つ支持基板と隔壁層を介して形成される空間に、電界により白黒表示可能な媒体を、充填してなるものであることを特徴とする電気泳動ディスプレイ。
JP2006190067A 2005-09-08 2006-07-11 有機トランジスタアクティブ基板とその製造方法および該有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイ Active JP4994727B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006190067A JP4994727B2 (ja) 2005-09-08 2006-07-11 有機トランジスタアクティブ基板とその製造方法および該有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイ
US11/517,737 US8071432B2 (en) 2005-09-08 2006-09-07 Organic transistor active substrate, manufacturing method thereof, and electrophoretic display

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005260077 2005-09-08
JP2005260077 2005-09-08
JP2006190067A JP4994727B2 (ja) 2005-09-08 2006-07-11 有機トランジスタアクティブ基板とその製造方法および該有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007103913A JP2007103913A (ja) 2007-04-19
JP4994727B2 true JP4994727B2 (ja) 2012-08-08

Family

ID=37830396

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006190067A Active JP4994727B2 (ja) 2005-09-08 2006-07-11 有機トランジスタアクティブ基板とその製造方法および該有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8071432B2 (ja)
JP (1) JP4994727B2 (ja)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7508078B2 (en) * 2005-01-06 2009-03-24 Ricoh Company, Ltd. Electronic device, method for manufacturing electronic device, contact hole of electronic device, method for forming contact hole of electronic device
JP5374810B2 (ja) * 2006-07-18 2013-12-25 株式会社リコー スクリーン印刷版
JP5181441B2 (ja) * 2006-08-04 2013-04-10 株式会社リコー 有機トランジスタ及びその製造方法
JP2008066567A (ja) * 2006-09-08 2008-03-21 Ricoh Co Ltd 配線パターンとこれを用いた電子素子、有機半導体素子、積層配線パターンおよび積層配線基板
US7615481B2 (en) * 2006-11-17 2009-11-10 Ricoh Company, Ltd. Method of manufacturing multilevel interconnect structure and multilevel interconnect structure
JP5239231B2 (ja) * 2007-07-06 2013-07-17 株式会社リコー ジアミン化合物、ポリアミド酸及び可溶性ポリイミド、並びにこれらから得られる濡れ性変化膜及び電極
JP5176414B2 (ja) * 2007-07-11 2013-04-03 株式会社リコー 有機トランジスタアレイ及び表示装置
KR101282534B1 (ko) 2007-07-18 2013-07-04 가부시키가이샤 리코 적층 구조체, 전자 소자, 및 표시 장치
US20090078458A1 (en) * 2007-09-21 2009-03-26 Ricoh Company, Ltd. Paste composition, insulating film, multilayer interconnection structure, printed-circuit board, image display device, and manufacturing method of paste composition
JP2009133885A (ja) * 2007-11-28 2009-06-18 Toppan Forms Co Ltd 表示装置及びその製造方法
JP2009230060A (ja) * 2008-03-25 2009-10-08 Seiko Epson Corp 電気泳動装置、電子機器
JP2009230061A (ja) * 2008-03-25 2009-10-08 Seiko Epson Corp 電気泳動装置、電子機器
FI20085737L (fi) * 2008-07-21 2010-01-22 Ronald Oesterbacka Komponentteja ja piirijärjestelyjä, joissa on ainakin yksi orgaaninen kenttävaikutustransistori
JP5370636B2 (ja) * 2008-08-05 2013-12-18 株式会社リコー トランジスタアクティブ基板およびその製造方法並びに電気泳動ディスプレイ
JP2012504844A (ja) * 2008-10-02 2012-02-23 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 被覆された分流線を備えるoled装置
JP5494923B2 (ja) * 2008-11-21 2014-05-21 株式会社リコー 薄膜トランジスタアクティブ基板、薄膜トランジスタアクティブ基板の製造方法および電気泳動ディスプレイ
JP5564794B2 (ja) * 2009-01-05 2014-08-06 株式会社リコー 回路基板、アクティブマトリクス回路基板及び画像表示装置
KR101008961B1 (ko) * 2009-02-19 2011-01-17 한국기계연구원 전자 잉크를 이용한 전자 서적
JP5481893B2 (ja) * 2009-03-18 2014-04-23 株式会社リコー 有機トランジスタアクティブ基板、有機トランジスタアクティブ基板の製造方法および有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイ
JP5446982B2 (ja) * 2009-05-01 2014-03-19 株式会社リコー 画像表示パネル及び画像表示装置
JP5397017B2 (ja) * 2009-05-25 2014-01-22 株式会社リコー ポリアミド酸及びポリイミド
JP2011035037A (ja) * 2009-07-30 2011-02-17 Sony Corp 回路基板の製造方法および回路基板
TWI448799B (zh) * 2009-12-22 2014-08-11 Prime View Int Co Ltd 電泳顯示器單元及其製造方法
CN102193264B (zh) * 2010-03-08 2015-10-14 元太科技工业股份有限公司 电泳显示器单元及其制造方法
KR101678692B1 (ko) * 2010-05-19 2016-11-22 서울시립대학교 산학협력단 전자 종이 및 그 제조방법
GB201021277D0 (en) * 2010-12-15 2011-01-26 Cambridge Display Tech Ltd Semiconductor blend
US20140183457A1 (en) * 2013-01-03 2014-07-03 Lisa H. Stecker Transistor with Organic Semiconductor Interface
US10854556B2 (en) * 2016-10-12 2020-12-01 Advanced Semiconductor Engineering Korea, Inc. Semiconductor package device and method of manufacturing the same
CN106941111A (zh) * 2017-03-14 2017-07-11 合肥鑫晟光电科技有限公司 阵列基板、阵列基板的制造方法以及显示装置

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS505032A (ja) * 1972-12-29 1975-01-20
JP2737301B2 (ja) * 1989-09-19 1998-04-08 富士通株式会社 超伝導セラミックス配線の形成方法
US6783849B2 (en) * 1998-03-27 2004-08-31 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Molecular layer epitaxy method and compositions
US6506438B2 (en) * 1998-12-15 2003-01-14 E Ink Corporation Method for printing of transistor arrays on plastic substrates
JP2001127006A (ja) * 1999-10-26 2001-05-11 Namics Corp 半導体用電極及びその製造方法
JP3998900B2 (ja) * 2000-08-30 2007-10-31 松下電器産業株式会社 絶縁膜形成用塗料及びプラズマ・ディスプレイ・パネルの製造方法
JP2003187983A (ja) 2001-12-17 2003-07-04 Ricoh Co Ltd 有機elトランジスタ
US20030214042A1 (en) * 2002-02-01 2003-11-20 Seiko Epson Corporation Circuit substrate, electro-optical device and electronic appliances
JP2003255857A (ja) 2002-02-28 2003-09-10 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 有機elディスプレイ
JP4410456B2 (ja) 2002-04-24 2010-02-03 株式会社リコー 薄膜デバイス装置の製造方法、およびアクティブマトリクス基板の製造方法
JP4226841B2 (ja) 2002-04-24 2009-02-18 株式会社リコー 能動素子及びそれを有する表示装置
AU2003275533A1 (en) * 2002-09-25 2004-04-19 Konica Minolta Holdings, Inc. Electric circuit, thin film transistor, method for manufacturing electric circuit and method for manufacturing thin film transistor
JP4272441B2 (ja) 2003-02-05 2009-06-03 株式会社リコー 有機能動素子及びそれを有する表示素子
US7166689B2 (en) 2003-02-13 2007-01-23 Ricoh Company, Ltd. Aryl amine polymer, thin film transistor using the aryl amine polymer, and method of manufacturing the thin film transistor
JP4369684B2 (ja) * 2003-05-26 2009-11-25 大日本印刷株式会社 多層配線基板およびその製造方法
JP4698133B2 (ja) 2003-08-08 2011-06-08 株式会社リコー 有機半導体パターンの形成方法
JP4213637B2 (ja) * 2003-09-25 2009-01-21 株式会社日立製作所 表示装置及びその駆動方法
GB0325324D0 (en) * 2003-10-30 2003-12-03 Avecia Ltd Process for producing semiconducting layers and devices containing the same
JP4321758B2 (ja) * 2003-11-26 2009-08-26 カシオ計算機株式会社 半導体装置
JP2005183782A (ja) * 2003-12-22 2005-07-07 Sony Corp リフトオフ法に基づくパターン形成方法
JP2005191416A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Ricoh Co Ltd 電子素子の製造方法
JP4266842B2 (ja) * 2004-02-02 2009-05-20 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置用基板の製造方法及び電気光学装置の製造方法
TWI243460B (en) * 2005-02-16 2005-11-11 Ind Tech Res Inst Organic semiconductor device with multi-protective layers and the making method
US20070013305A1 (en) * 2005-07-18 2007-01-18 Wang Carl B Thick film getter paste compositions with pre-hydrated desiccant for use in atmosphere control

Also Published As

Publication number Publication date
US20070054212A1 (en) 2007-03-08
JP2007103913A (ja) 2007-04-19
US8071432B2 (en) 2011-12-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4994727B2 (ja) 有機トランジスタアクティブ基板とその製造方法および該有機トランジスタアクティブ基板を用いた電気泳動ディスプレイ
JP5410475B2 (ja) 薄膜トランジスタ(tft)アレーの製造方法
EP1859662B1 (en) Method of manufacturing a multilayer wiring structure
US6864133B2 (en) Device, method of manufacturing device, electro-optic device, and electronic equipment
US8598570B2 (en) Organic transistor array, display device and method of fabricating display device
RU2499326C2 (ru) Конфигурация смещенного верхнего пиксельного электрода
US20120326154A1 (en) Manufacturing method of thin film transistor and thin film transistor, and display
US7858513B2 (en) Fabrication of self-aligned via holes in polymer thin films
US7786484B2 (en) Display device having a portion of a pixel circuit exposed by a connection hole
JP2010267752A (ja) 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタの製造方法、および電子機器
JP2007281188A (ja) トランジスタ、画素電極基板、電気光学装置、電子機器及び半導体素子の製造方法
JP5370636B2 (ja) トランジスタアクティブ基板およびその製造方法並びに電気泳動ディスプレイ
JP5386852B2 (ja) 積層構造体、半導体装置、積層構造体の製造方法及び半導体装置の製造方法
WO2005107346A1 (en) Component placement substrate and production method thereof
JP2006295116A (ja) 多層配線およびその作製方法、ならびにフラットパネルディスプレイおよびその作製方法
JP5434510B2 (ja) 回路基板、画像表示装置、回路基板の製造方法及び画像表示装置の製造方法
US20070295960A1 (en) Semiconductor device, electro-optical device, electronic apparatus, and method of producing semiconductor device
JP5101097B2 (ja) 多層配線の作製方法及び多層配線並びに薄膜トランジスタ、アクティブマトリックス駆動回路及びフラットパネルディスプレイ
JP2006261528A (ja) 有機薄膜トランジスタ、それを備えた表示装置および有機薄膜トランジスタの製造方法。
JP2009026900A (ja) 積層構造体、電子素子及びそれらの製造方法、表示装置
JP5504633B2 (ja) 多層配線構造体、その製造方法、および表示装置
JP6435651B2 (ja) 有機半導体素子
JP5359032B2 (ja) 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイ及び画像表示装置
JP2007134630A (ja) 有機薄膜トランジスタの製造方法
JP2007140323A (ja) 膜パターンの形成方法、電気光学装置の製造方法、電気光学装置、電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090325

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20110519

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20110602

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120423

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120508

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120509

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150518

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4994727

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250