JP4985772B2 - 光サブアセンブリの製造方法および光サブアセンブリ - Google Patents

光サブアセンブリの製造方法および光サブアセンブリ Download PDF

Info

Publication number
JP4985772B2
JP4985772B2 JP2009520261A JP2009520261A JP4985772B2 JP 4985772 B2 JP4985772 B2 JP 4985772B2 JP 2009520261 A JP2009520261 A JP 2009520261A JP 2009520261 A JP2009520261 A JP 2009520261A JP 4985772 B2 JP4985772 B2 JP 4985772B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
melting point
glass
point glass
lens member
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009520261A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2009001461A1 (ja
Inventor
裕之 延原
哲也 宮武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Publication of JPWO2009001461A1 publication Critical patent/JPWO2009001461A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4985772B2 publication Critical patent/JP4985772B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4246Bidirectionally operating package structures
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/43Arrangements comprising a plurality of opto-electronic elements and associated optical interconnections
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02325Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements not being integrated nor being directly associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
    • H01L31/125Composite devices with photosensitive elements and electroluminescent elements within one single body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/023Mount members, e.g. sub-mount members
    • H01S5/02325Mechanically integrated components on mount members or optical micro-benches
    • H01S5/02326Arrangements for relative positioning of laser diodes and optical components, e.g. grooves in the mount to fix optical fibres or lenses
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4204Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4204Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms
    • G02B6/4214Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms the intermediate optical element having redirecting reflective means, e.g. mirrors, prisms for deflecting the radiation from horizontal to down- or upward direction toward a device
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4219Mechanical fixtures for holding or positioning the elements relative to each other in the couplings; Alignment methods for the elements, e.g. measuring or observing methods especially used therefor
    • G02B6/4228Passive alignment, i.e. without a detection of the degree of coupling or the position of the elements
    • G02B6/4232Passive alignment, i.e. without a detection of the degree of coupling or the position of the elements using the surface tension of fluid solder to align the elements, e.g. solder bump techniques
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4249Packages, e.g. shape, construction, internal or external details comprising arrays of active devices and fibres
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0556Disposition
    • H01L2224/05568Disposition the whole external layer protruding from the surface
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/05573Single external layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0225Out-coupling of light
    • H01S5/02253Out-coupling of light using lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0225Out-coupling of light
    • H01S5/02255Out-coupling of light using beam deflecting elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0235Method for mounting laser chips
    • H01S5/02355Fixing laser chips on mounts
    • H01S5/0237Fixing laser chips on mounts by soldering

Description

この発明は、サーバシステムやネットワーク装置の光インタコネクトなどに適用される光サブアセンブリの製造方法、光サブアセンブリおよびこの光サブアセンブリを適用した光インタコネクト用デバイス、WDM発振器および受信回路に関する。
光ファイバ群を用いて、チップ間、ボード間またはラック間でデータを並列伝送する光インタコネクトにおいては、電気信号を光信号に変換する送信光サブアセンブリ(TOSA:Transmitter Optical SubAssembly)や、光信号を電気信号に変換する受信光サブアセンブリ(ROSA:Receiver Optical SubAssembly)が用いられる(たとえば、下記特許文献1〜5参照。)。
図26は、光インタコネクトモジュールを示す斜視図である。図26に示すように、光インタコネクトモジュール2610は、ボード2620間を光ファイバ2630によって接続するための接続モジュールである。光インタコネクトモジュール2610は、光送信モジュール2640と、光受信モジュール2650と、を備えている。
光送信モジュール2640は、送信回路2641と、光サブアセンブリ2642と、を備えている。送信回路2641は、ボード2620の回路素子から伝送されたデータ信号に基づく電気信号を光サブアセンブリ2642へ出力する。光サブアセンブリ2642は、LD(Laser Diode)を備え、送信回路2641から出力された電気信号に基づく光信号を光ファイバ2630を介して出射するTOSAである。
光受信モジュール2650は、光サブアセンブリ2651と、受信回路2652と、を備えている。光サブアセンブリ2651は、PD(Photo Ditector)を備え、光ファイバ2630を介して受光した光信号に基づく電気信号を受信回路2652へ出力するROSAである。受信回路2652は、光サブアセンブリ2651から出力された電気信号をデータ信号に復調し、復調したデータ信号をボード2620の回路素子へ出力する。
図27は、従来の光サブアセンブリを示す正面断面図である。図27に示すように、従来の光サブアセンブリ2700は、配線基板2710上に配置されたLDなどの光電変換素子2720と、光電変換素子2720を気密封止する金属キャップ2730と、を備えている。配線基板2710には、光電変換素子と接続するリードピンなどが設けられている。金属キャップ2730にはレンズ部材2740が設けられている。
光電変換素子2720がLDの場合、光サブアセンブリ2700は、LDによって生成した光信号をレンズ部材2740を介して出射する。光電変換素子2720がPDの場合、光サブアセンブリ2700は、レンズ部材2740を介して入射された光信号をPDによって受光する。また、金属キャップ2730には光ファイバ接続用のフェルールなどが取り付けられる。
図28は、従来の光サブアセンブリの光軸合わせを示す正面断面図である。図28において、符号2721は光電変換素子2720の光軸を示している。符号2741はレンズ部材2740の光軸を示している。従来の光サブアセンブリ2700においては、光学特性を向上させるため、光軸2721と光軸2741とが一致するように、配線基板2710に配置された光電変換素子2720に対してレンズ部材2740を位置決めする。
光電変換素子2720がLDである場合、LDから出射されてレンズ部材2740を通過した光信号をモニタし、モニタした光信号の強度が最大となるようにレンズ部材2740を位置決めする。光電変換素子2720がPDである場合、レンズ部材2740を介して入射された光信号に基づいてPDから出力された電気信号をモニタし、モニタした電気信号の強度が最大となるようにレンズ部材2740を位置決めする。
レンズ部材2740を位置決めした状態で、溶接などの方法により金属キャップ2730を配線基板2710に固定する。これにより、配線基板2710および金属キャップ2730によって光電変換素子2720が気密封止される。光電変換素子2720が気密封止された空間は、たとえば直径5〜6mm×高さ5〜6mmの円柱形である。
また、配線基板2710に対して光電変換素子2720を位置決めする場合に、配線基板2710上に配置した半田バンプに光電変換素子2720の電極を配置し、半田バンプを加熱して溶融させることで、溶融した半田バンプの表面張力に起因して光電変換素子2720が配線基板2710に対して自己整合的に位置決めされるセルフアライメント効果が利用されている(たとえば、下記非特許文献1参照。)。
特開2005−338408号公報 特開平11−345955号公報 特開平9−197158号公報 特開平7−209558号公報 特開平5−134137号公報
佐々木純一 伊藤正隆 本望宏 金山義信、「AuSnバンプ接合による光素子のセルフアライメント実装」、vol.93、電子情報通信学会、1993年12月、p.61−p.66
しかしながら、上述した従来技術では、光電変換素子2720を気密封止するための金属キャップ2730が必要であり、レンズ部材2740と金属キャップ2730との接合部分が存在するため光サブアセンブリ2700が大型化(たとえば直径5mm×高さ5mm)するという問題がある。このため、たとえば光インタコネクトにおいて要求される実装密度(たとえば0.25mm間隔の配列)を満たすことができないという問題がある。
また、光電変換素子2720の出力信号をモニタしながらレンズ部材2740を位置決めする必要があるため、レンズ部材2740の位置決めに時間がかかり、光サブアセンブリ2700の製造に時間がかかるという問題がある。また、光電変換素子2720の出力信号をモニタするモニタ装置や、レンズ部材2740の位置決めを行う位置決め装置が必要となるため、光サブアセンブリ2700の製造コストが高くなるという問題がある。
この発明は、上述した問題点を解消するものであり、光サブアセンブリの小型化を図りつつ、光サブアセンブリの低コスト化を図ることができる光サブアセンブリの製造方法、光サブアセンブリおよびこの光サブアセンブリを適用した光インタコネクト用デバイス、WDM発振器および受信回路を提供することを目的とする。
この発明にかかる光サブアセンブリの製造方法は、接続電極と凸状の高融点ガラスとを互いの相対位置を決めて配線基板上に形成する形成工程と、前記接続電極上に光電変換素子を位置決めして接続する位置決め工程と、前記高融点ガラス上に前記高融点ガラスよりも融点が低い低融点ガラスを配置する配置工程と、前記高融点ガラスに合わせた形状の突起部とレンズ部とを有し、前記突起部と前記レンズ部の光軸との相対位置が前記接続電極と前記高融点ガラスとの相対位置に応じて決められたレンズ部材の前記突起部を前記低融点ガラス上に配置して固定する固定工程と、を含み、前記固定工程では、前記低融点ガラスを溶融させることで前記高融点ガラスに対して前記レンズ部材を位置決めすることを特徴とする。
上記構成によれば、溶融した低融点ガラスの表面張力に起因するセルフアライメント効果を利用してレンズ部材を配線基板および高融点ガラスに対して自動的、高精度かつ高速に位置決めできる。このため、光サブアセンブリの製造時間を短縮することができる。
また、前記形成工程では、前記接続電極を囲む環状に前記高融点ガラスを形成し、前記レンズ部材の前記突起部は前記高融点ガラスに合わせた環状に形成され、前記固定工程では、前記配線基板、前記高融点ガラス、前記低融点ガラスおよび前記レンズ部材によって前記光電変換素子を気密封止することを特徴とする。
上記構成によれば、接続電極を囲む環状にレンズ部材の突起部、高融点ガラスおよび低融点ガラスを形成することで、金属キャップを用いることなくレンズ部材によって光電変換素子を気密封止できる。このため、光サブアセンブリを小型化することができる。
この発明によれば、光サブアセンブリの小型化を図りつつ、光サブアセンブリの低コスト化を図ることができるという効果を奏する。
実施の形態1にかかる光サブアセンブリを示す正面断面図である。 実施の形態1にかかる光サブアセンブリの配線基板およびLDを示す一部透過平面図である。 実施の形態1にかかる光サブアセンブリのレンズ部材を示す一部透過平面図である。 実施の形態1にかかる光サブアセンブリの製造工程の一例を示すフローチャートである。 図4のステップS401に対応した工程図である。 図4のステップS402およびS403に対応した工程図(その1)である。 図4のステップS402およびS403に対応した工程図(その2)である。 図4のステップS402およびS403に対応した工程図(その3)である。 図4のステップS402およびS403に対応した工程図(その4)である。 図4のステップS404に対応した工程図(その1)である。 図4のステップS404に対応した工程図(その2)である。 図4のステップS404に対応した工程図(その3)である。 図4のステップS405に対応した工程図である。 図4のステップS406およびS407に対応した工程図である。 図4のステップS408に対応した工程図である。 実施の形態2にかかる光サブアセンブリを示す正面断面図である。 実施の形態2にかかる光サブアセンブリの配線基板およびLDを示す一部透過平面図である。 実施の形態2にかかる光サブアセンブリのレンズ部材を示す一部透過平面図である。 実施の形態2にかかる光サブアセンブリの製造工程の一例を示すフローチャートである。 図19のステップS1906およびS1908に対応した工程図である。 本発明の実施例1にかかるOSAアレイを示す正面断面図である。 本発明の実施例2にかかる光インタコネクト用デバイスを示す正面断面図である。 本発明の実施例3にかかるWDM発振器を示す正面断面図である。 本発明の実施例4にかかる受信回路を示す概略平面図である。 本発明の実施例4にかかる受信回路を示す正面断面図である。 光インタコネクトモジュールを示す斜視図である。 従来の光サブアセンブリを示す正面断面図である。 従来の光サブアセンブリの光軸合わせを示す正面断面図である。
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる光サブアセンブリの製造方法および光サブアセンブリの好適な実施の形態を詳細に説明する。
(実施の形態1)
図1は、実施の形態1にかかる光サブアセンブリを示す正面断面図である。実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100は、入力された電気信号に応じた光信号を生成して出射するTOSAである。図1に示すように、光サブアセンブリ100は、配線基板110と、接続電極120と、半田バンプ130と、高融点ガラス140と、低融点ガラス150と、LD160と、レンズ部材170と、を備えている。
配線基板110は、たとえばアルミナ(酸化アルミニウム)などのセラミック基板である。接続電極120は、配線基板110とLD160とを接続する電極であり、配線基板110上に形成されている。半田バンプ130(第二低融点部材)は、接続電極120よりも融点が低く、接続電極120上に配置されている。半田バンプ130は金とすずの合金(半田金属)である。
高融点ガラス140(高融点部材)は、配線基板110上に凸状に形成されている。高融点ガラス140は、配線基板110との相対位置を決めて配線基板110上に形成されている。高融点ガラス140はたとえばシリカガラスである。低融点ガラス150(低融点部材)は、高融点ガラス140よりも融点が低いガラス部材である。低融点ガラス150は、高融点ガラス140上に配置されている。低融点ガラス150は、たとえば燐やボロンなどの不純物を添加したシリカガラスである。
LD160(光電変換素子)は、半田バンプ130を介して接続電極120に接続されている。LD160は、発光部161と発光部161に電気信号を伝送する電極162とを有している。LD160の電極162は半田バンプ130上に配置されている。また、LD160は、配線基板110、高融点ガラス140、低融点ガラス150およびレンズ部材170によって気密封止されている。
レンズ部材170は、高融点ガラス140に合わせた形状の突起部171とレンズ部172とを有する。高融点ガラス140に合わせた突起部171の形状とは、突起部171を高融点ガラス140上に配置した場合に、互いの接合面の形状がほぼ一致する形状である。特に、この接合面の形状が完全に一致する形状に突起部171を形成することで、後述するセルフアライメント効果による位置決めの精度を高めることができる。
たとえば、高融点ガラス140と突起部171とを同半径の円環状に形成し、互いの接合面を同半径の円形状とする。また、レンズ部材170は、突起部171を低融点ガラス150上に配置して高融点ガラス140および配線基板110に対して固定される。また、レンズ部材170は、低融点ガラス150を溶融させることに起因するセルフアライメント効果によって高融点ガラス140に対して位置決めされた状態で、高融点ガラス140と接合されている。
また、突起部171とレンズ部172とを備えるレンズ部材170を一体の透過部材によって構成することで、突起部171にも光透過性を持たせることができる。また、レンズ部材170には、低融点ガラス150よりも高い融点(たとえば高融点ガラス140と同程度の融点)を有する透過部材を用いる。レンズ部材170のレンズ部172の光軸173は、LD160の発光部161の光軸163と一致している。
図2は、実施の形態1にかかる光サブアセンブリの配線基板およびLDを示す一部透過平面図である。図1は図2のAA’断面図である。図2に示すように、発光部161はLD160の表面に設けられ、電極162はLD160の裏面に4つ設けられている。4つの電極162は、LD160の裏面の四隅に、発光部161の光軸163からの距離が互いに等しくなるように設けられている。
接続電極120は、配線基板110上に4つ形成されている。4つの接続電極120は、4つの電極162に対応した位置にそれぞれ形成され、それぞれ半田バンプ130を介してLD160の電極162と接合している。高融点ガラス140は、配線基板110上で接続電極120を囲む円環状(ドーナツ型)に形成されている。
また、高融点ガラス140は、4つの接続電極120の中心点を中心とした円環状(半径をrとする)に形成されている。接続電極120に接続されたLD160の光軸163は4つの接続電極120の中心点を通過するため、高融点ガラス140は、LD160の光軸163を中心とした円環状に形成される。
なお、ここでは、LD160の4つの電極162の形状は、それぞれ4つの接続電極120に合わせた形状である。LD160の4つの電極162は、4つの半田バンプ130を溶融させることに起因するセルフアライメント効果によってそれぞれ4つの接続電極120に対して位置決めされた状態で接合されている。
図3は、実施の形態1にかかる光サブアセンブリのレンズ部材を示す一部透過平面図である。図3に示すように、レンズ部材170のレンズ部172はレンズ部材170の表面に設けられ、突起部171はレンズ部材170の裏面に設けられている。レンズ部材170の突起部171は、高融点ガラス140に合わせた円環状に形成されている。また、レンズ部材170の突起部171と光軸173との相対位置は、接続電極120と高融点ガラス140との相対位置に応じて決められる。
ここでは、高融点ガラス140は4つの接続電極120の中心点を中心とした半径rの円環状(図2参照)であるため、レンズ部材170の突起部171は、レンズ部材170の光軸173を中心とした半径rの円環状に形成されている。このため、高融点ガラス140とレンズ部材170の突起部171とを位置を合わせて接合することで、4つの接続電極120の中心点を通過する発光部161の光軸163と、レンズ部172の光軸173と、が一致する。
図4は、実施の形態1にかかる光サブアセンブリの製造工程の一例を示すフローチャートである。図4に示すように、まず、LD160の電極162が配置される配線基板110上の位置に接続電極120を形成する(ステップS401)。つぎに、ステップS401によって形成した接続電極120との相対位置を決めて配線基板110上に高融点ガラス140を形成する(ステップS402)。
つぎに、ステップS402によって形成した高融点ガラス140上に低融点ガラス150を配置する(ステップS403)。つぎに、ステップS401によって形成した接続電極120上に半田バンプ130を配置する(ステップS404)。つぎに、ステップS404によって配置した半田バンプ130上にLD160を配置する(ステップS405)。
つぎに、半田バンプ130を溶融させることによって配線基板110に対してLD160を位置決めする(ステップS406)。つぎに、半田バンプ130を冷却することによって配線基板110に対してLD160を固定する(ステップS407)。つぎに、ステップS403によって配置した低融点ガラス150上にレンズ部材170を配置する(ステップS408)。
つぎに、低融点ガラス150を溶融させることによって配線基板110に対してレンズ部材170を位置決めする(ステップS409)。つぎに、低融点ガラス150を冷却することによって配線基板110に対してレンズ部材170を固定し(ステップS410)、一連の光サブアセンブリ100の製造工程を終了する。
図5は、図4のステップS401に対応した工程図である。ここでは、LD160の4つの電極162に対応した配線基板110上の位置に接続電極120を4つ形成する。図6〜図9は、図4のステップS402およびS403に対応した工程図(その1)〜(その4)である。まず、図6に示すように、化学的気相堆積法などによって高融点ガラス140の層、低融点ガラス150の層の順に配線基板110上に成膜する。
つぎに、図7に示すように、エッチング後の高融点ガラス140と接続電極120との相対位置が上述した位置となるように、低融点ガラス150上にフォトレジスト710を円環状にパターニングする。つぎに、図8に示すように、化学的イオンエッチング法などによって、高融点ガラス140および低融点ガラス150のうちフォトレジスト710がパターニングされていない部分を除去する。
つぎに、図9に示すように、酵素プラズマを用いた灰化および洗浄などによってフォトレジスト710を除去する。これによって、配線基板110上に高融点ガラス140および低融点ガラス150が形成される。図10〜図12は、図4のステップS404に対応した工程図(その1)〜(その3)である。図10に示すように、配線基板110の表面のうち接続電極120を除いた部分にフォトレジスト1010をパターニングする。
つぎに、図11に示すように、真空蒸着法などによって半田金属130aの層を成膜する。つぎに、図12に示すように、アセトンなどの有機溶剤に浸透させるリフトオフ法などによって、フォトレジスト1010およびフォトレジスト1010上の半田金属130aを除去する。これによって、接続電極120上に残った半田金属130aを半田バンプ130として説明する。
図13は、図4のステップS405に対応した工程図である。図13に示すように、半田バンプ130上にLD160の電極162を配置する。この工程においては、LD160の電極162は半田バンプ130上に正確に位置決めされている必要はなく、電極162が半田バンプ130上に乗っている状態にすればよい。
図14は、図4のステップS406およびS407に対応した工程図である。ステップS406では、たとえば配線基板110および配線基板110上の素子全体を300℃程度に加熱して半田バンプ130のみを溶融させる。この場合、半田バンプ130を除く全ての素子の融点を300℃よりも高くしておく。半田バンプ130を溶融させると、図14に示すように、溶融した半田バンプ130の表面張力に起因するセルフアライメント効果によって、LD160の電極162が接続電極120に対して一意に位置決めされる。
このため、LD160を配線基板110の所定位置に位置決めすることができる。つぎに、溶融した半田バンプ130を冷却して凝固させることで、配線基板110上に位置決めした状態でLD160を固定することができる。溶融した半田バンプ130の冷却は、たとえば自然冷却により行う。
図15は、図4のステップS408に対応した工程図である。図15に示すように、低融点ガラス150上にレンズ部材170の突起部171を配置する。この工程においては、突起部171は低融点ガラス150上に正確に位置決めされている必要はなく、突起部171が低融点ガラス150上に乗っている状態にすればよい。
図4のステップS409およびS410に対応した工程図は、図1と同様であるため図示を省略する。低融点ガラス150を溶融させるために、たとえば低融点ガラス150にレーザを照射する。低融点ガラス150に照射するレーザには、たとえばフェムト秒レーザを用いる。これにより、低融点ガラス150を瞬間的に加熱することができる。
また、レンズ部材170の突起部171はレーザを透過させる光透過性を有する。これにより、図15の符号1510に示すように、突起部171を介して低融点ガラス150にレーザを照射することで低融点ガラス150の温度を上昇させ、低融点ガラス150を溶融させることができる。
このとき、レーザのビーム焦点を低融点ガラス150に合わせることで、非線形な光吸収現象(二光子吸収)により、低融点ガラス150の温度を局部的に上昇させることができる。このため、半田バンプ130、高融点ガラス140、LD160、レンズ部材170などの低融点ガラス150周辺の素子を損傷させることなく低融点ガラス150を溶融させることができる。
たとえば、低融点ガラス150の円環に沿ってレーザの照射装置を回転させながらレーザを照射することで、低融点ガラス150全体を同時に溶融した状態にすることができる。レーザが照射され溶融した低融点ガラス150が自然冷却により再度固化状態となるまでの時間をΔt、レーザのスポットが低融点ガラス150の円環を回る周期をTとする。
この場合、時間Δtよりも周期Tが短くなるように、レーザパルスの照射エネルギー(10〜100nJ/パルス)、パルス発生頻度(1k〜10kパルス/秒)、ビームの移動速度(0.1〜10mm/s)を制御することで、低融点ガラス150全体が同時に溶融した状態とすることができる。また、レーザの照射装置を複数用意して、複数の照射装置を低融点ガラス150の円環に沿って回転させてもよい。
たとえば2つの照射装置を、低融点ガラス150の円環上の互いに離れた位置に設けて同時に回転させることで、1回転毎に低融点ガラス150に対してレーザを2回照射することができる。このため、たとえばビームの移動速度(照射装置の回転速度)を半分にすることができる。なお、低融点ガラス150に対するレーザの照射は乾燥窒素雰囲気中で行うとよい。
また、突起部171を介して低融点ガラス150にレーザを照射する場合の、レンズ部材170におけるレーザの入射部174は、突起部171と低融点ガラス150の接合面と平行に形成されている。これにより、入射部174に対してレーザを垂直に入射すると、レーザが低融点ガラス150まで直進するため、低融点ガラス150に対してレーザを精度よく照射することができる。
また、入射部174の表面に無反射コーティングを施してもよい。これにより、入射部174におけるレーザの反射を防ぐことができ、低融点ガラス150に対してレーザを効率よく照射することができる。また、入射部174と、突起部171における低融点ガラス150との接合面と、の距離は、円環状に形成された突起部171の各部分において等しくなるように形成する。これにより、照射装置を回転させながらレーザを低融点ガラス150に照射する場合に、レーザのビーム焦点を一定にしておくことができる。
低融点ガラス150を溶融させると、図1に示すように、溶融した低融点ガラス150の表面張力に起因するセルフアライメント効果によって、レンズ部材170の突起部171が高融点ガラス140に対して一意に位置決めされる。このため、レンズ部材170を配線基板110の所定位置に位置決めし、LD160の光軸163とレンズ部材170の光軸173とを高精度に一致させることができる。
つぎに、溶融した低融点ガラス150を冷却して凝固させることで、配線基板110上に位置決めした状態でレンズ部材170を固定することができる。溶融した低融点ガラス150の冷却は、たとえば自然冷却により行う。これにより、配線基板110、高融点ガラス140、低融点ガラス150およびレンズ部材170によってLD160が気密封止される。
このように、実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100の製造方法および光サブアセンブリ100によれば、溶融した低融点ガラス150の表面張力に起因するセルフアライメント効果を利用してレンズ部材170を配線基板110および高融点ガラス140に対して自動的、高精度かつ高速に位置決めできる。このため、光サブアセンブリ100の製造時間を短縮し、光サブアセンブリ100の低コスト化を図ることができる。
たとえば、実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100の製造方法ではレンズ部材170の位置決めと、LD160の気密封止と、を低融点ガラス150の溶融によって同時に行うため、これらの作業時間を低融点ガラス150の溶融および冷却にかかる10秒程度にすることができる。
また、LD160を囲む環状にレンズ部材170の突起部171、高融点ガラス140および低融点ガラス150を形成することで、金属キャップを用いることなくレンズ部材170によってLD160を気密封止できる。このため、光サブアセンブリ100を小型化することができる。また、光サブアセンブリ100の接合部を減らすことができ、光サブアセンブリ100を高精度に構成することができる。また、光サブアセンブリ100の部品数を減らし、光サブアセンブリ100の低コスト化を図ることができる。
また、レンズ部材170の突起部171に光透過性を持たせ、突起部171を介して低融点ガラス150にレーザを照射することで、容易に低融点ガラス150のみを加熱して溶融させることができる。このため、低融点ガラス150周辺の素子を損傷させることなく低融点ガラス150を溶融させることができる。レンズ部172はレンズの特性として光透過性を有するため、一体の透過部材によりレンズ部材170を形成することで、突起部171に容易に光透過性を持たせることができる。
また、低融点ガラス150を円環状に形成し、レーザの照射装置を回転させながら低融点ガラス150にレーザを照射することで、低融点ガラス150全体を効率的に加熱して溶融させることができる。また、回転させるレーザの照射装置を複数設けることで、低融点ガラス150全体をさらに効率的に加熱して溶融させることができる。
また、接続電極120および高融点ガラス140をリソグラフィによって形成することで、接続電極120と高融点ガラス140との相対位置を高精度に決めることができる。さらに、半田バンプ130および低融点ガラス150のセルフアライメント効果を利用することで、接続電極120に対してLD160、高融点ガラス140に対してレンズ部材170を高精度に位置決めすることができる。このため、LD160の光軸163とレンズ部材170の光軸173とを容易かつ高精度に一致させ、光サブアセンブリ100の光学特性を向上させることができる。
たとえば、リソグラフィによる接続電極120および高融点ガラス140の位置決め精度は±0.1μm、半田バンプ130によるセルフアライメント効果を利用したLD160位置決め精度は0.5μm以下、低融点ガラス150によるセルフアライメント効果を利用したレンズ部材170の位置決め精度は0.5μm以下となり、これらを合わせた位置合わせ精度は最大で±1.2μmとなる。
これにより、レンズ部材170の光軸173とLD160の光軸163との位置決めに要求される光軸調整精度(たとえば±2.5μm以下)を満たすことができる。また、高融点部材および低融点部材に高融点ガラス140および低融点ガラス150などのガラス部材を用いることで、配線基板110とレンズ部材170との接合部分の強度や耐腐食性が向上し、LD160を安定して気密封止することができる。
(実施の形態2)
図16は、実施の形態2にかかる光サブアセンブリを示す正面断面図である。図17は、実施の形態2にかかる光サブアセンブリの配線基板およびLDを示す一部透過平面図である。図16および図17において、図1および図2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図16は図17のAA’断面図である。
図16および図17に示すように、実施の形態2にかかる光サブアセンブリ100の配線基板110には、4つ(複数)の高融点ガラス140が点在して形成されている。4つの高融点ガラス140は、ここではそれぞれ円柱形の凸状に形成されている。4つの高融点ガラス140は、配線基板110上に、LD160の光軸163を中心とした半径Rの円周上に等間隔で設けられている。低融点ガラス150は、4つの高融点ガラス140に対応して4つ設けられ、複数の高融点ガラス140上にそれぞれ配置されている。
また、配線基板110には、4つの高融点ガラス140の他に高融点ガラス1610(第二高融点部材)が形成されている。高融点ガラス1610は、配線基板110上で接続電極120を囲む円環状(ドーナツ型)に形成されている。また、高融点ガラス1610は、4つの接続電極120の中心点を中心とした半径rの円環状に形成されている。高融点ガラス1610はたとえば高融点ガラス140と同じ材質である。
また、レンズ部材170の突起部1630はレーザを透過させる光透過性を有する。たとえば、突起部171、レンズ部172および突起部1630を備えるレンズ部材170を一体の透過部材によって構成することで、突起部171および突起部1630に光透過性を持たせることができる。
接続電極120に接続されたLD160の発光部161の光軸163は4つの接続電極120の中心点を通過するため、高融点ガラス1610は、LD160の発光部161の光軸163を中心とした円環状に形成される。高融点ガラス1610上には、高融点ガラス1610よりも融点が低い低融点ガラス1620(第三低融点部材)がそれぞれ配置されている。
低融点ガラス1620はたとえば低融点ガラス150と同じ材質である。レンズ部材170の突起部171は、4つの高融点ガラス140に対応して4つ設けられている。また、レンズ部材170は、4つの突起部171の他に、高融点ガラス1610に合わせた円環状の突起部1630(第二突起部)を有している。
また、レンズ部材170は、4つの突起部171をそれぞれ複数の低融点ガラス150上に配置するとともに、突起部1630を低融点ガラス1620上に配置した状態で配線基板110に対して固定される。また、レンズ部材170は、4つの低融点ガラス150を溶融させることで高融点ガラス140に対して位置決めされている。
図18は、実施の形態2にかかる光サブアセンブリのレンズ部材を示す一部透過平面図である。図18において、図3に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図18に示すように、レンズ部材170は、4つ高融点ガラス140に合わせて突起部171を4つ有している。4つの突起部171は、高融点ガラス140の円柱形の凸状に合わせて円柱形の凸状に形成されている。また、4つの突起部171は、レンズ部172の光軸173を中心とした半径Rの円周上に等間隔で設けられている。
レンズ部材170の突起部1630は、高融点ガラス1610に合わせた円環状に形成されている。また、レンズ部材170の突起部1630とレンズ部172の光軸173との相対位置は、接続電極120と高融点ガラス140との相対位置に応じて決められる。ここでは、レンズ部材170の突起部1630は、レンズ部材170のレンズ部172の光軸173を中心とした半径rの円環状に形成されている。
これにより、低融点ガラス150を溶融させることで、4つ高融点ガラス140と4つの突起部171とを位置合わせすることができる。また、溶融した低融点ガラス150を冷却することで、4つ高融点ガラス140と4つの突起部171とを位置合わせした状態で接合して固定することができる。このため、レンズ部172の光軸173と、4つ高融点ガラス140の中心点を通過する発光部161の光軸163と、が一致する。
また、低融点ガラス1620を溶融して冷却することで、高融点ガラス1610とレンズ部材170の突起部1630と接合して固定することができる。これにより、配線基板110、高融点ガラス1610、低融点ガラス1620およびレンズ部材170によってLD160を気密封止することができる。
図19は、実施の形態2にかかる光サブアセンブリの製造工程の一例を示すフローチャートである。図19に示すように、まず、LD160の電極162が配置される配線基板110上の位置に接続電極120を形成する(ステップS1901)。接続電極120の形成については図5に示した工程図の通りであるため詳細な説明を省略する。
つぎに、ステップS1901によって形成した接続電極120との相対位置を決めて配線基板110上に高融点ガラス140および1610を形成する(ステップS1902)。つぎに、ステップS1902によって形成した高融点ガラス140および1610上に低融点ガラス150および1620をそれぞれ配置する(ステップS1903)。
具体的には、図6〜図9に示した工程図において、接続電極120、高融点ガラス140および高融点ガラス1610との相対位置が上述した位置となるように低融点ガラス150上にフォトレジスト710をパターニングすることで、高融点ガラス140および高融点ガラス1610を形成し、低融点ガラス150および低融点ガラス1620を配置することができる。
つぎに、ステップS1901によって形成した接続電極120上にLD160を位置決めして接続する(ステップS1904)。LD160の位置決めおよび接続については、図10〜図14に示した工程図の通りであるため詳細な説明を省略する。つぎに、ステップS1903によって配置した低融点ガラス150上にレンズ部材170を配置する(ステップS1905)。
つぎに、低融点ガラス150を溶融させることによって配線基板110に対してレンズ部材170を位置決めする(ステップS1906)。つぎに、低融点ガラス150を冷却することによって配線基板110に対してレンズ部材170を固定する(ステップS1907)。つぎに、低融点ガラス1620を溶融して冷却することで高融点ガラス1610とレンズ部材170の突起部1630と接合し、LD160を気密封止して(ステップS1908)一連の光サブアセンブリ100の製造工程を終了する。
図20は、図19のステップS1906およびS1908に対応した工程図である。ステップS1906においては、図20の符号2010に示すように、レンズ部材170の突起部171を介してフェムト秒レーザなどのレーザを低融点ガラス150に照射することで、低融点ガラス150を溶融させる。
ここで、低融点ガラス150は、4つの高融点ガラス140に対応して点在して4つ設けられているため、レーザの照射装置を4つ用いてこれらの低融点ガラス150に対して同時にレーザを照射すれば、これらの低融点ガラス150を同時に溶融させることが容易となる。このため、配線基板110に対してレンズ部材170を高速かつ高精度に位置決めすることができる。
また、ステップS1908においては、符号2020に示すように、突起部1630を介してフェムト秒レーザなどのレーザを低融点ガラス1620に照射することで、低融点ガラス1620を溶融させる。低融点ガラス1620は、円環状に形成されているため、上述した実施の形態1にかかる低融点ガラス150と同様の方法で溶融させることができる。
ここで、ステップS1906によってレンズ部材170の位置決めは済んでいるため、ステップS1908においては位置決めの精度は必要なく、LD160を円環状の低融点ガラス1620で気密封止できればよい。このため、高融点ガラス1630およびレンズ部材170の突起部1630は、高融点ガラス140およびレンズ部材170の突起部171ほど高精度に形成する必要はない。
たとえば、低融点ガラス150にレンズ部材170の突起部171を配置したときに、突起部1630が低融点ガラス1620に接触しないように突起部1630を短めに形成しておいてもよい。この場合、突起部1630は、低融点ガラス1620に高精度に合わせた形状でなくてもよい。
そして、ステップS1908において、まず突起部1630に対してレーザを照射して突起部1630を溶融させることで、溶融した突起部1630が自重で低融点ガラス1620に接触するまで垂れ下がるようにする。つぎに、低融点ガラス1620にレーザを照射して溶融させて突起部1630と接合することで、LD160を確実に気密封止することができる。
このように、実施の形態2にかかる光サブアセンブリ100の製造方法および光サブアセンブリ100によれば、実施の形態1の効果を奏するとともに、点在させた低融点ガラス150によって精度よくレンズ部材170を位置決めすることができるとともに、円環状に形成した低融点ガラス1620によってLD160を気密封止することができる。
なお、上述した各実施の形態において、高融点ガラス140などを配線基板110に設けることによって配線基板110上に高融点部材を形成する構成について説明したが、配線基板110自体を高融点の材質にし、たとえば配線基板110上に溝を設けて配線基板110の一部を凸状にすることで配線基板110上に高融点部材を形成してもよい。
また、上述した各実施の形態において、光電変換素子としてLD160を接続電極120上に設けることで光サブアセンブリ100をTOSAとして構成する場合について説明したが、LD160に代えてPDを接続電極120上に設けることで、光サブアセンブリ100をROSAとして構成することができる。この場合、レンズ部材170のレンズ部172の光軸173をPDの光軸(PDの受光感度が最も高くなる光路)と一致させる。
また、上述した各実施の形態において、高融点部材および低融点部材として高融点ガラス140および低融点ガラス150を用いる構成について説明したが、高融点部材および低融点部材はこれらのガラス部材に限らない。すなわち、高融点部材および低融点部材は、互いに融点が異なり、溶融によって接合が可能な部材であればよい。
また、上述した各実施の形態において、接続電極120上に半田バンプ130を配置し、半田バンプ130上にLD160の電極162を配置する方法について説明したが、LD160を位置決めする方法はこれに限らない。たとえば、あらかじめLD160の電極162に半田バンプ130を溶接しておき、接続電極120上に半田バンプ130とLD160とをまとめて配置してもよい。
また、上述した実施の形態1において、高融点ガラス140は、配線基板110上で接続電極120を囲む円環状(ドーナツ型)に形成する構成について説明したが、高融点ガラス140の形状は円環に限らない。たとえば、高融点ガラス140は、接続電極120を囲む環状の矩形や、接続電極120を囲む環状の楕円形としてもよい。実施の形態2にかかる高融点ガラス1610についても同様である。
また、上述した実施の形態1において、低融点ガラス150の円環に沿ってレーザの照射装置を回転させながらレーザを照射させる方法について説明したが、レーザの照射方法はこれに限らず、複数の照射装置を低融点ガラス150の円環に沿って並べ、低融点ガラス150全体に同時にレーザを照射してもよい。実施の形態2にかかる低融点ガラス1620についても同様である。
また、上述した実施の形態2において、高融点ガラス140、低融点ガラス150およびレンズ部材170の突起部171をそれぞれ4つずつ設ける構成について説明したが、これらはそれぞれ4つずつに限らない。たとえば、高融点ガラス140が円柱である場合、これらを少なくともそれぞれ2つずつ設けることで、セルフアライメント効果によるレンズ部材170の位置決めを行うことができる。各実施の形態の接続電極120、半田バンプ130およびLD160の電極162についても同様である。
また、上述した実施の形態2において、低融点ガラス150に対応してレーザの照射装置を4つ用いてこれらの低融点ガラス150に対してレーザを照射する方法について説明したが、レーザの照射方法はこれに限らず、1つの照射装置を移動させながら4つの低融点ガラス150に対して順次レーザを照射し、4つの低融点ガラス150を同時に溶融させてもよい。
(実施例1)
図21は、本発明の実施例1にかかるOSAアレイを示す正面断面図である。本発明の実施例1にかかる光サブアセンブリ(OSA)アレイ2100は、本発明の実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100を複数アレイ状に配置した実施例である。図21に示すように、OSAアレイ2100は、複数の光サブアセンブリ100と、ガイドピン2110と、フェルール2120と、複数の光ファイバ2130と、を備えている。
複数の光サブアセンブリ100は、上述したようにLD160を備え、TOSAとして構成されている。複数の光サブアセンブリ100はアレイ状に並んでおり、それぞれの配線基板110が一体的に構成されている。複数の光サブアセンブリ100は、上述したセルフアライメント効果を利用して配線基板110に対して位置決めされている。
ガイドピン2110は、複数の光サブアセンブリ100の一体的に構成された配線基板110に対してフェルール2120を固定する。フェルール2120は、複数の光ファイバ2130を、複数の光サブアセンブリ100のレンズ部材170のそれぞれの光軸173上に位置決めする。フェルール2120は、たとえばMT(Mechanically Transferable)フェルールである。
光サブアセンブリ100は、LD160によって生成した光信号を光ファイバ2130を介して出射する。また、LD160に代えてPDを備え、光サブアセンブリ100をROSAとして構成した場合、光サブアセンブリ100は、光ファイバ2130を介して受光した光信号を電気信号に変換する。
本発明の実施例1にかかるOSAアレイ2100によれば、光サブアセンブリ100のサイズを0.2mm(直径)×0.2mm(高さ)程度にすることができる。このため、複数の光サブアセンブリ100をたとえば0.25mm間隔でアレイ状に実装することができ、光インタコネクトにおいて要求される実装密度を満たすことができる。
(実施例2)
図22は、本発明の実施例2にかかる光インタコネクト用デバイスを示す正面断面図である。本発明の実施例2にかかる光インタコネクト用デバイス2200は、チップやボード上で光信号を空間伝搬によって伝送する光インタコネクト用デバイスに本発明の実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100を適用した実施例である。図22に示すように、光インタコネクト用デバイス2200は、TOSA2210と、ROSA2220と、を備えている。
TOSA2210は、実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100においてレンズ部材170を変形させた構成となっている。レンズ部材170は、LD160から垂直に出射された光を直角に反射させる反射ミラー2211を備えている。また、レンズ部材170のレンズ部172は、LD160から出射され反射ミラー2211によって反射した光を通過させる位置に設けられている。
レンズ部172の光軸173は、LD160から出射され反射ミラー2211によって反射した光の光路2212(所定光路)と一致している。これにより、LD160から出射された光は、配線基板110に対して水平となってレンズ部172から出射される。TOSA2210およびROSA2220は水平方向に実装され、それぞれの配線基板110は一体的に構成されている。
ROSA2220は、実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100においてレンズ部材170を変形させ、LD160に代えてPD2221を備えた構成となっている。ROSA2220におけるレンズ部材170のレンズ部172は、TOSA2210から水平に出射された光を通過させる位置に設けられている。レンズ部172の光軸173は、TOSA2210から水平に出射された光の光路2212と一致している。
また、レンズ部材170は、レンズ部172を通過した光を直角に全反射させる反射ミラー2222を備えている。反射ミラー2222は、反射させた光の光軸2223がPD2221の光軸と一致する位置に設けられている。これにより、TOSA2210から水平に出射された光は、PD2221によって受光される。このため、光インタコネクト用デバイス2200は、TOSA2210からROSA2220へ、空間伝送によって光信号を伝送することができる。
本発明の実施例2にかかる光インタコネクト用デバイス2200によれば、光サブアセンブリ100のサイズを0.2mm(直径)×0.2mm(高さ)程度にすることができる。このため、複数の光サブアセンブリ100をたとえば0.25mm間隔でアレイ状に実装することができ、光インタコネクト用デバイスにおいて要求される実装密度を満たすことができる。また、配線基板110に対してTOSA2210とROSA2220とのLD160およびレンズ部材170を精度よく位置決めできるため、光の伝送精度を向上させることができる。
(実施例3)
図23は、本発明の実施例3にかかるWDM発振器を示す正面断面図である。本発明の実施例3にかかる波長多重光(WDM:Wavelength Division Multiplexing)発振器2300は、異なる波長の複数の光を生成し、生成したそれぞれの光を多重化して出射する波長多重光発振器に本発明の実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100を適用した実施例である。
図23に示すように、WDM発振器2300は、複数のTOSA2310,2320,2330,2340と、反射部材2350と、を備えている。複数のTOSA2310,2320,2330,2340は、それぞれ波長λ1〜波長4の光信号を出射する。TOSA2310は、上述したTOSA2210において、LD160が波長λ1の光を発振する構成である。
TOSA2310は、λ1の光信号をTOSA2320へ出射する。TOSA2310,2320,2330,2340は水平方向に実装され、それぞれの配線基板110は一体的に構成されている。TOSA2320は、上述したTOSA2210において、反射ミラー2211が波長選択ミラーとなっており、LD160が波長λ2の光を発振する構成である。
TOSA2320の反射ミラー2211は、波長λ1の光を通過させ、波長λ2の光を反射させる。TOSA2320の反射ミラー2211は、TOSA2310から出射された光信号を通過させる位置で、TOSA2320のLD160から発振された光信号を反射させる位置に設けられている。
これにより、TOSA2310から出射されてTOSA2320の反射ミラー2211を通過した波長λ1の光信号と、TOSA2320のLD160から発振されて反射ミラー2211によって反射した波長λ2の光信号と、が重なり合って多重化される。TOSA2320は、多重化した光信号(λ1,λ2)をTOSA2330へ出射する。
TOSA2330およびTOSA2340は、それぞれのLD160が発振する光信号の波長を除いてTOSA2320と同様の構成である。TOSA2330は、TOSA2320から出射された光信号(λ1,λ2)に波長λ3の光信号を多重化し、多重化した光信号(λ1〜λ3)をTOSA2340へ出射する。TOSA2340は、TOSA2330から出射された光信号(λ1〜λ3)に波長λ4の光信号を多重化し、多重化した光信号(λ1〜λ4)を反射部材2350へ出射する。
反射部材2350は、上述したTOSA2210において、LD160を省いた構成である。反射部材2350は、TOSA2340から出射された光信号(λ1〜λ4)を反射ミラー2211によって直角に全反射させ、配線基板110とは反対側に出射する。これにより、WDM発振器2300は、波長λ1〜λ4の光信号を多重化した光信号を出射することができる。
本発明の実施例3にかかるWDM発振器2300によれば、光サブアセンブリ100のそれぞれの小型化を図ることで複数の光サブアセンブリ100をアレイ状に高密度に実装することができ、WDM発振器としての小型化を図ることができる。また、光サブアセンブリ100をアレイ状に高密度に実装することができるため、光サブアセンブリ100毎の光路長差に起因する光信号の波長成分毎の誤差を小さくすることができる。
また、TOSA2310,2320,2330および2340のLD160およびレンズ部材170を配線基板110に対して精度よく位置決めできるため、それぞれの波長成分の光信号を精度よく多重化することができる。このため、高精度な波長多重光信号を出力することができる。
(実施例4)
図24は、本発明の実施例4にかかる受信回路を示す概略平面図である。本発明の実施例4にかかる受信回路2400は、差動位相変調(DPSK:Differential Phase Shift Keying)がなされた光信号を分岐し、分岐信号の一方に1シンボル分の遅延を与えて干渉させるDPSK受信回路に本発明の実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100を適用した実施例である。
図24に示すように、受信回路2400は、全反射ミラー2410と、ハーフミラー2420と、全反射ミラー2430と、全反射ミラー2440と、ハーフミラー2450と、PD2460と、PD2470と、を備えるマッハツェンダ型干渉計である。受信回路2400が備える各素子はそれぞれ光サブアセンブリ100を変形した構成であり、それぞれの配線基板110は一体的に構成されている。
全反射ミラー2410は、差動位相変調がなされた光信号を反射させてハーフミラー2420へ出射する。ハーフミラー2420は、全反射ミラー2410から出射された光信号の一部を反射させて全反射ミラー2430へ出射し、全反射ミラー2410から出射された光信号の一部を通過させてハーフミラー2450へ出射する。
全反射ミラー2430および全反射ミラー2440は、ハーフミラー2420から出射された光信号を迂回させて1シンボル分の遅延を与える迂回経路を構成する。全反射ミラー2430および全反射ミラー2440は、ハーフミラー2420から出射された光信号に遅延を与えてハーフミラー2450へ出射する。
ハーフミラー2450は、ハーフミラー2420から出射された光信号の一部を反射させてPD2460へ出射し、ハーフミラー2420から出射された光信号の一部を通過させてPD2470へ出射する。また、ハーフミラー2450は、全反射ミラー2440から出射された光信号の一部を反射させてPD2470へ出射し、全反射ミラー2440から出射された光信号の一部を通過させてPD2460へ出射する。
PD2460およびPD2470は、ハーフミラー2450から出射された光信号をそれぞれ受光して電気信号に変換する。PD2460が受光した光信号とPD2470が受光した光信号とは正相・逆相の関係にある。受信回路2400は、これらの正相・逆相の関係にある光信号をバランス受信することで、差動位相変調がなされた光信号を復調することができる。
図25は、本発明の実施例4にかかる受信回路を示す正面断面図である。図25は図24のAA’断面図である。図25に示すように、全反射ミラー2410は、上述した反射部材2350(図23参照)と同様の構成である。図示しないが、全反射ミラー2430および全反射ミラー2440は、上述した反射部材2350において、配線基板110と平行に出射された光を配線基板110と平行のまま直角に反射させるように反射ミラー2211を変形した構成である。
ハーフミラー2420およびハーフミラー2450は、上述したTOSA2210において、反射ミラー2211に代えてハーフミラー2510を備え、LD160を省いた構成である。PD2470は、上述したROSA2220(図22参照)と同様の構成である。図示しないが、PD2460も上述したROSA2220と同様の構成である。
本発明の実施例4にかかる受信回路2400によれば、マッハツェンダ型干渉計の各素子に光サブアセンブリ100の構成の変形例を適用することで、マッハツェンダ型干渉計の各素子を高密度に実装することができる。このため、小型のマッハツェンダ型干渉計を構成することができる。
また、全反射ミラー2410、ハーフミラー2420、全反射ミラー2430、全反射ミラー2440、ハーフミラー2450、PD2460およびPD2470の全ての素子を配線基板110に対して精度よく位置決めできるため、高精度なマッハツェンダ型干渉計を構成することができる。このため、差動位相変調がなされた光信号を高精度に復調することができる。
なお、上述した各実施例においては、本発明の実施の形態1にかかる光サブアセンブリ100を適用する例について説明したが、上述した各実施例に本発明の実施の形態2にかかる光サブアセンブリ100を適用することもできる。
以上説明したように、この発明にかかる光サブアセンブリの製造方法、光サブアセンブリによれば、光サブアセンブリの小型化を図りつつ、光サブアセンブリの低コスト化を図ることができる。また、この発明にかかる光サブアセンブリの製造方法、光サブアセンブリをOSAアレイ、光インタコネクト用デバイス、WDM発振器および受信回路に適用することで、OSAアレイ、光インタコネクト用デバイス、WDM発振器および受信回路の製造時間短縮、小型化および高精度化を図ることができる。
以上のように、この発明にかかる光サブアセンブリの製造方法および光サブアセンブリは、サーバシステムやネットワーク装置の光インタコネクト、光インタコネクト用デバイス、WDM発振器および受信回路などに有用であり、特に、光サブアセンブリの高密度の実装が要求される場合に適している。
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)接続電極と凸状の高融点ガラスとを互いの相対位置を決めて配線基板上に形成する形成工程と、
前記接続電極上に光電変換素子を位置決めして接続する位置決め工程と、
前記高融点ガラス上に前記高融点ガラスよりも融点が低い低融点ガラスを配置する配置工程と、
前記高融点ガラスに合わせた形状の突起部とレンズ部とを有し、前記突起部と前記レンズ部の光軸との相対位置が前記接続電極と前記高融点ガラスとの相対位置に応じて決められたレンズ部材の前記突起部を前記低融点ガラス上に配置して固定する固定工程と、を含み、
前記固定工程では、前記低融点ガラスを溶融させることで前記高融点ガラスに対して前記レンズ部材を位置決めすることを特徴とする光サブアセンブリの製造方法。
(付記2)前記光電変換素子は、光電変換部と前記光電変換部に接続された電極とを有し、前記光電変換部の光軸と前記電極との相対位置は所定の位置に決められており、
前記位置決め工程は、前記配線電極よりも融点が低い第二低融点ガラスを前記配線電極上に配置する第二配置工程と、前記光電変換素子の前記電極を前記第二低融点ガラス上に配置して固定する固定工程と、を含み、
前記固定工程では、前記第二低融点ガラスを溶融させることで前記配線電極に対して前記光電変換素子を位置決めすることを特徴とする付記1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記3)前記形成工程では、前記接続電極を囲む環状に前記高融点ガラスを形成し、
前記レンズ部材の前記突起部は前記高融点ガラスに合わせた環状に形成され、
前記固定工程では、前記配線基板、前記高融点ガラス、前記低融点ガラスおよび前記レンズ部材によって前記光電変換素子を気密封止することを特徴とする付記1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記4)前記形成工程では、前記配線基板上に複数の前記高融点ガラスを点在して形成し、
前記配置工程では、前記複数の高融点ガラスに複数の前記低融点ガラスをそれぞれ配置し、
前記レンズ部材は、前記複数の高融点ガラスに合わせた複数の前記突起部を有することを特徴とする付記1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記5)前記接続電極を囲む環状の高融点ガラスを前記配線基板上に形成する第二形成工程と、
前記第二高融点ガラス上に前記第二高融点ガラスよりも融点が低い第三低融点ガラスを配置する第二配置工程と、をさらに含み、
前記レンズ部材は、前記第二高融点ガラスに合わせた環状の第二突起部をさらに有し、
前記固定工程では、前記レンズ部材を位置決めした後、前記第二低融点ガラスを溶融させることで前記第二高融点ガラスと前記第二突起部とを接合し、前記配線基板、前記第二高融点ガラス、前記第二低融点ガラスおよび前記レンズ部材によって前記光電変換素子を気密封止することを特徴とする付記4に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記6)前記レンズ部材の前記突起部はレーザを透過させる光透過性を有し、
前記固定工程では、前記突起部を介して前記低融点ガラスにレーザを照射することによって前記低融点ガラスを溶融させることを特徴とする付記1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記7)前記形成工程では、前記高融点ガラスおよび前記低融点ガラスを前記接続電極を囲む環状に形成し、
前記レンズ部材の前記突起部は前記高融点ガラスに合わせた環状に形成され、
前記固定工程では、前記レーザの照射装置を前記低融点ガラスに合わせた円環状に回転しながら前記突起部を介して前記低融点ガラスにレーザを照射することを特徴とする付記6に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記8)前記レーザはフェムト秒レーザであることを特徴とする付記6に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記9)前記形成工程では、前記接続電極および前記高融点ガラスをリソグラフィによって形成することを特徴とする付記1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記10)前記高融点ガラスおよび前記低融点ガラスはシリカガラスであり、前記低融点ガラスは前記シリカガラスに不純物を添加することで前記高融点ガラスよりも融点が低いことを特徴とする付記1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
(付記11)配線基板上に形成される接続電極と、
前記接続電極との相対位置を決めて前記配線基板上に形成される凸状の高融点ガラスと、
前記接続電極上に位置決めして接続される光電変換素子と、
前記高融点ガラス上に配置され前記高融点ガラスよりも融点が低い低融点ガラスと、
前記高融点ガラスに合わせた形状の突起部とレンズ部とを有し、前記突起部と前記レンズ部の光軸との相対位置が前記接続電極と前記高融点ガラスとの相対位置に応じて決められ、前記突起部を前記低融点ガラス上に配置して固定されるレンズ部材と、を備え、
前記レンズ部材は、前記低融点ガラスを溶融させることで前記高融点ガラスに対して位置決めされることを特徴とする光サブアセンブリ。
(付記12)前記高融点ガラスは、前記接続電極を囲む環状に形成され、
前記レンズ部材の前記突起部は、前記高融点ガラスに合わせた環状に形成され、
前記光電変換素子は、前記配線基板、前記高融点ガラス、前記低融点ガラスおよび前記レンズ部材によって気密封止されることを特徴とする付記11に記載の光サブアセンブリ。
(付記13)前記光電変換素子から出射される光を所定光路へ反射させ、または前記所定光路から出射された光を前記光電変換素子の光軸へ反射させるミラーをさらに備え、
前記レンズ部材の前記レンズ部の光軸は前記所定光路と一致していることを特徴とする付記11に記載の光サブアセンブリ。
(付記14)前記光電変換素子が光信号を発振する発光素子であり、前記光電変換素子によって発振された光信号を前記レンズ部から出射する付記13に記載の光サブアセンブリと、
前記光電変換素子が光信号を受光して電気信号に変換する受光素子であり、前記光サブアセンブリから出射された光信号を受光する付記13に記載の光サブアセンブリと、
を備えることを特徴とする光インタコネクト用デバイス。
(付記15)付記13に記載の光サブアセンブリを複数備え、
前記複数の光サブアセンブリのそれぞれの前記光電変換素子は互いに異なる波長の光信号を発振する発光素子であり、
前記複数の光サブアセンブリのそれぞれの前記ミラーは、対応する前記光サブアセンブリの前記発光素子が発振する光信号を前記所定光路へ反射させ、他の前記光サブアセンブリから出射された光信号を通過させて前記反射させた光信号と多重化する波長選択ミラーであることを特徴とするWDM発振器。
(付記16)付記13に記載の光サブアセンブリを2つ備え、差動位相変調がなされた光信号を受信して復調する受信回路であって、
前記光電変換素子が光信号を受光して電気信号に変換する受光素子であり、
前記2つの光サブアセンブリは、前記光信号に含まれる正相信号と逆相信号とをバランス受信することを特徴とする受信回路。
100 光サブアセンブリ
110 配線基板
120 接続電極
130 半田バンプ
140,1610 高融点ガラス
150,1620 低融点ガラス
160 LD
161 発光部
162 電極
163,173 光軸
170 レンズ部材
171,1630 突起部
172 レンズ部
710,1010 フォトレジスト
2100 OSAアレイ
2110 ガイドピン
2120 フェルール
2130 光ファイバ
2200 光インタコネクト用デバイス
2210,2310,2320,2330,2340 TOSA
2211,2222 反射ミラー
2220 ROSA
2300 WDM発振器
2350 反射部材
2400 受信回路
2410,2430,2440 全反射ミラー
2420,2450 ハーフミラー

Claims (10)

  1. 接続電極と凸状の高融点ガラスとを互いの相対位置を決めて配線基板上に形成する形成工程と、
    前記接続電極上に光電変換素子を位置決めして接続する位置決め工程と、
    前記高融点ガラス上に前記高融点ガラスよりも融点が低い低融点ガラスを配置する配置工程と、
    前記高融点ガラスに合わせた形状の突起部とレンズ部とを有し、前記突起部と前記レンズ部の光軸との相対位置が前記接続電極と前記高融点ガラスとの相対位置に応じて決められたレンズ部材の前記突起部を前記低融点ガラス上に配置して固定する固定工程と、を含み、
    前記固定工程では、前記低融点ガラスを溶融させることで前記高融点ガラスに対して前記レンズ部材を位置決めすることを特徴とする光サブアセンブリの製造方法。
  2. 前記光電変換素子は、光電変換部と前記光電変換部に接続された電極とを有し、前記光電変換部の光軸と前記電極との相対位置は所定の位置に決められており、
    前記位置決め工程は、前記配線電極よりも融点が低い第二低融点ガラスを前記配線電極上に配置する第二配置工程と、前記光電変換素子の前記電極を前記第二低融点ガラス上に配置して固定する固定工程と、を含み、
    前記固定工程では、前記第二低融点ガラスを溶融させることで前記配線電極に対して前記光電変換素子を位置決めすることを特徴とする請求項1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
  3. 前記形成工程では、前記接続電極を囲む環状に前記高融点ガラスを形成し、
    前記レンズ部材の前記突起部は前記高融点ガラスに合わせた環状に形成され、
    前記固定工程では、前記配線基板、前記高融点ガラス、前記低融点ガラスおよび前記レンズ部材によって前記光電変換素子を気密封止することを特徴とする請求項1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
  4. 前記形成工程では、前記配線基板上に複数の前記高融点ガラスを点在して形成し、
    前記配置工程では、前記複数の高融点ガラス上に複数の前記低融点ガラスをそれぞれ配置し、
    前記レンズ部材は、前記複数の高融点ガラスに合わせた複数の前記突起部を有することを特徴とする請求項1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
  5. 前記接続電極を囲む環状の第二高融点ガラスを前記配線基板上に形成する第二形成工程と、
    前記第二高融点ガラス上に前記第二高融点ガラスよりも融点が低い第三低融点ガラスを配置する第二配置工程と、をさらに含み、
    前記レンズ部材は、前記第二高融点ガラスに合わせた環状の第二突起部をさらに有し、
    前記固定工程では、前記レンズ部材を位置決めした後、前記第二低融点ガラスを溶融させることで前記第二高融点ガラスと前記第二突起部とを接合し、前記配線基板、前記第二高融点ガラス、前記第二低融点ガラスおよび前記レンズ部材によって前記光電変換素子を気密封止することを特徴とする請求項4に記載の光サブアセンブリの製造方法。
  6. 前記レンズ部材の前記突起部はレーザを透過させる光透過性を有し、
    前記固定工程では、前記突起部を介して前記低融点ガラスにレーザを照射することによって前記低融点ガラスを溶融させることを特徴とする請求項1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
  7. 前記形成工程では、前記高融点ガラスおよび前記低融点ガラスを前記接続電極を囲む環状に形成し、
    前記レンズ部材の前記突起部は前記高融点ガラスに合わせた環状に形成され、
    前記固定工程では、前記レーザの照射装置を前記低融点ガラスに合わせた円環状に回転しながら前記突起部を介して前記低融点ガラスにレーザを照射することを特徴とする請求項6に記載の光サブアセンブリの製造方法。
  8. 前記形成工程では、前記接続電極および前記高融点ガラスをリソグラフィによって形成することを特徴とする請求項1に記載の光サブアセンブリの製造方法。
  9. 配線基板上に形成される接続電極と、
    前記接続電極との相対位置を決めて前記配線基板上に形成される凸状の高融点ガラスと、
    前記接続電極上に位置決めして接続される光電変換素子と、
    前記高融点ガラス上に配置され前記高融点ガラスよりも融点が低い低融点ガラスと、
    前記高融点ガラスに合わせた形状の突起部とレンズ部とを有し、前記突起部と前記レンズ部の光軸との相対位置が前記接続電極と前記高融点ガラスとの相対位置に応じて決められ、前記突起部を前記低融点ガラス上に配置して固定されるレンズ部材と、を備え、
    前記レンズ部材は、前記低融点ガラスを溶融させることで前記高融点ガラスに対して位置決めされることを特徴とする光サブアセンブリ。
  10. 前記高融点ガラスは、前記接続電極を囲む環状に形成され、
    前記レンズ部材の前記突起部は、前記高融点ガラスに合わせた環状に形成され、
    前記光電変換素子は、前記配線基板、前記高融点ガラス、前記低融点ガラスおよび前記レンズ部材によって気密封止されることを特徴とする請求項9に記載の光サブアセンブリ。
JP2009520261A 2007-06-28 2007-06-28 光サブアセンブリの製造方法および光サブアセンブリ Expired - Fee Related JP4985772B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2007/063016 WO2009001461A1 (ja) 2007-06-28 2007-06-28 光サブアセンブリの製造方法、光サブアセンブリ、光インタコネクト用デバイス、wdm発振器および受信回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2009001461A1 JPWO2009001461A1 (ja) 2010-08-26
JP4985772B2 true JP4985772B2 (ja) 2012-07-25

Family

ID=40185293

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009520261A Expired - Fee Related JP4985772B2 (ja) 2007-06-28 2007-06-28 光サブアセンブリの製造方法および光サブアセンブリ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8162547B2 (ja)
JP (1) JP4985772B2 (ja)
WO (1) WO2009001461A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160043528A1 (en) * 2014-08-11 2016-02-11 Ricoh Company, Ltd. Surface-emitting laser apparatus and manufacturing method thereof

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011128290A (ja) * 2009-12-16 2011-06-30 Hitachi High-Technologies Corp 光源装置、及びそれを用いたバックライト、露光装置及び露光方法
TW201348781A (zh) * 2012-05-16 2013-12-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 光電轉換裝置
TWI572922B (zh) * 2013-01-31 2017-03-01 鴻海精密工業股份有限公司 光纖連接器
JP6234036B2 (ja) * 2013-02-26 2017-11-22 富士通コンポーネント株式会社 光通信装置
JP6536004B2 (ja) * 2014-08-11 2019-07-03 株式会社リコー 面発光レーザ装置及びその製造方法
US10436991B2 (en) * 2017-05-19 2019-10-08 Adolite Inc. Optical interconnect modules based on glass substrate with polymer waveguide
JP7117133B2 (ja) * 2018-04-16 2022-08-12 日本ルメンタム株式会社 光サブアセンブリ及びその製造方法並びに光モジュール
JP7247615B2 (ja) * 2019-01-31 2023-03-29 株式会社リコー 面発光レーザモジュール、光学装置及び面発光レーザ基板

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01226189A (ja) * 1988-03-07 1989-09-08 Canon Inc 半導体レーザー素子パッケージ用キャップ
JPH03141308A (ja) * 1989-07-17 1991-06-17 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 受光モジュールおよびその製造方法
JPH11345955A (ja) * 1998-05-29 1999-12-14 Sony Corp レンズ一体型固体撮像素子並びにそのレンズ装着方法及びレンズ装着装置
JP2005116996A (ja) * 2003-09-16 2005-04-28 Hamamatsu Photonics Kk キャップ部材及び光半導体装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3760237A (en) * 1972-06-21 1973-09-18 Gen Electric Solid state lamp assembly having conical light director
JPS5977402A (ja) * 1982-10-26 1984-05-02 Toshiba Corp 光リンク
JPH05134137A (ja) 1991-11-15 1993-05-28 Hitachi Cable Ltd フアイバ融着接続型石英系導波路デバイス搭載用マウントの構造
KR100225026B1 (ko) 1993-03-31 1999-10-15 구라우치 노리타카 광파이버어레이
JP3301197B2 (ja) 1994-01-20 2002-07-15 住友電気工業株式会社 並列伝送モジュール及びその製法
JPH09197158A (ja) 1996-01-22 1997-07-31 Hitachi Ltd 光半導体モジュール
DE19755356A1 (de) * 1997-12-12 1999-06-17 Zeiss Carl Fa VUV-beständige Verbindungstechnik für Linsen und Fassungen
JP2005038956A (ja) * 2003-07-17 2005-02-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光部品とその製造方法
JP2005208330A (ja) * 2004-01-22 2005-08-04 Nippon Sheet Glass Co Ltd ホルダ付き成形光学部品およびその製造方法
JP2005340770A (ja) * 2004-04-30 2005-12-08 Ricoh Co Ltd 電光変換モジュール及び光電変換モジュール
JP2005338408A (ja) 2004-05-26 2005-12-08 Kyocera Corp 光レセプタクル及びそれを用いた光モジュール

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01226189A (ja) * 1988-03-07 1989-09-08 Canon Inc 半導体レーザー素子パッケージ用キャップ
JPH03141308A (ja) * 1989-07-17 1991-06-17 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 受光モジュールおよびその製造方法
JPH11345955A (ja) * 1998-05-29 1999-12-14 Sony Corp レンズ一体型固体撮像素子並びにそのレンズ装着方法及びレンズ装着装置
JP2005116996A (ja) * 2003-09-16 2005-04-28 Hamamatsu Photonics Kk キャップ部材及び光半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160043528A1 (en) * 2014-08-11 2016-02-11 Ricoh Company, Ltd. Surface-emitting laser apparatus and manufacturing method thereof
US9966730B2 (en) * 2014-08-11 2018-05-08 Ricoh Company, Ltd. Surface-emitting laser apparatus and manufacturing method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2009001461A1 (ja) 2010-08-26
US20100104290A1 (en) 2010-04-29
US8162547B2 (en) 2012-04-24
WO2009001461A1 (ja) 2008-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4985772B2 (ja) 光サブアセンブリの製造方法および光サブアセンブリ
US9798087B1 (en) Optoelectronic devices and wavelength-division multiplexing optical connectors
KR100921566B1 (ko) 모듈식 광 트랜시버
JP6273217B2 (ja) 光ファイバの入力/出力を結合するための構造化反射表面を有する結合装置
JP3794552B2 (ja) 光モジュール、光送信器及び光モジュールの製造方法
US10884216B2 (en) Method of manufacturing an optical multiplexer
US20160349470A1 (en) Hybrid integrated optical sub-assembly
KR20120016188A (ko) 광 접속 시스템
WO2012032769A1 (ja) 光モジュール
JP2011066339A (ja) 光通信モジュール、および光通信モジュールの製造方法
WO2021056832A1 (zh) 一种光模块
EP1995617A1 (fr) Dispositif optoélectronique compact incluant au moins un laser émettant par la surface
US10481353B2 (en) Optical receptacle, optical module, and method for producing optical module
EP2434322B1 (en) Optical module
JPWO2016143725A1 (ja) コヒーレントレシーバ
KR102167838B1 (ko) 좁은 파장 간격의 양방향 통신용 광모듈 패키지 구조
JP2011164143A (ja) 光モジュール
US20050025420A1 (en) Optical sub-assembly laser mount having integrated microlens
US9651749B1 (en) Interposer with opaque substrate
JP6494094B2 (ja) 光モジュール
WO2007114053A1 (ja) 一心双方向光送受信モジュール及びその製造方法
JP2018010036A (ja) 光結合方法
WO2019208053A1 (ja) 光モジュール、光配線基板および光モジュールの製造方法
JPH1168243A (ja) 光モジュール及び光軸調整方法
JP6566022B2 (ja) 集積プリズム及び集積プリズムの構成方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120403

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120416

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees