JP4934268B2 - ガラス基板の切断面検査装置 - Google Patents
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Description
ガラス基板1に接する吸着プレート110の一方の側には、複数の真空ホール(図示せず)が形成され、この真空ホールには、外部の真空ユニットから吸引力が供給されてガラス基板1を吸着する。ガラス基板1が撓んでいる場合でも、固定プレート110の長手方向に沿って一方の側から他方の側へ順次真空ホールに吸着力が供給されるようにすることにより、ガラス基板1が全体的に固定プレート110に密着される。
1a ガラス基板の切断面
100 検査装置
110 固定プレート
120 第1撮影手段
121 第1カメラ
122 第1照明
123 第1カメラのレンズ
130 第2撮影手段
131 第2カメラ
132 第2照明
133 第2カメラのレンズ
140 第3撮影手段
141 第3カメラ
142 第3照明
143 第3カメラのレンズ
150 メインロボット
151 フレーム
152 第1調整手段
153 第2調整手段
154 第3調整手段
152a〜154a 第1〜第3調整手段の位置調整用ステージ
152b〜154b 第1〜第3調整手段のフォーカシング用ステージ
160 ガイド
171 第4照明
172 第4反射ミラー
180 エアーノズル
Claims (8)
- ガラス基板の切断面を検査する装置であって、
前記ガラス基板の切断面が一方の側に突出するように前記ガラス基板を固定する固定プレートと、
前記ガラス基板の上面の上方に位置し、前記切断面の上側に向かって前記上面に垂直にガラス基板を撮影して映像を得る第1カメラを有する第1撮影手段と、
前記ガラス基板の下面の下方に位置し、前記切断面の下側に向かって前記下面に垂直にガラス基板を撮影して映像を得る第2カメラを有する第2撮影手段と、
前記ガラス基板の切断面に対向するように位置し、前記切断面に垂直にガラス基板を撮影して映像を得る第3カメラを有する第3撮影手段と、
前記ガラス基板の切断面に隣接して設置され、前記第1乃至第3撮影手段がそれぞれ結合されるフレームと、
前記フレームに装着された前記第1乃至第3撮影手段を、前記切断面の長手方向に沿って移動させ、切断面を撮影できるように前記フレームを移動させるフレーム移動手段とを含み、
前記フレームは、
前記第1撮影手段と結合される部分に設置され、前記ガラス基板の切断面に垂直な方向に前記第1撮影手段を移動させる第1位置調整用ステージと、前記第1撮影手段が固定され、前記第1位置調整用ステージに対して前記切断面に水平な方向に前記第1撮影手段を移動させる第1フォーカシング用ステージとを有する第1調整手段を備えることを特徴とするガラス基板の切断面検査装置。 - 前記ガラス基板が固定プレートに固定される前に、前記切断面と前記第3撮影手段の第3カメラとの間の距離が一定に保持されるように前記切断面を案内及び支持するガイドが、少なくとも2つ、前記固定プレートの一方の側に設置されることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板の切断面検査装置。
- 前記第1乃至第3のカメラのうち少なくとも1つのカメラ撮影部位に光を照射する照明手段を更に含む請求項1に記載のガラス基板の切断面検査装置。
- 前記照明手段は、前記少なくとも1つのカメラレンズの光軸に沿って照射されるように光を照射することを特徴とする請求項3に記載のガラス基板の切断面検査装置。
- 前記フレームは、
前記第2撮影手段に結合される部分に設置され、前記ガラス基板の切断面に垂直な方向に前記第2撮影手段を移動させる第2位置調整用ステージと、前記第2撮影手段が固定され、前記第2位置調整用ステージに対して前記切断面に水平な方向に前記第2撮影手段を移動させる第2フォーカシング用ステージとを有する第2調整手段を備えることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板の切断面検査装置。 - 前記フレームは、
前記第3撮影手段と結合される部分に設置され、前記ガラス基板の切断面に水平な方向に前記第3撮影手段を移動させる第3位置調整用ステージと、前記第3撮影手段が固定され、前記第3位置調整用ステージから前記切断面に垂直な方向に前記第3撮影手段を移動させる第3フォーカシング用ステージとを有する第3調整手段を備えることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板の切断面検査装置。 - 前記ガラス基板の上面の上方に配置される第4反射ミラーと、光を照射する第4照明とを更に備え、前記第4照明から照射された光は、第4反射ミラーによって前記ガラス基板の切断面の周辺に反射されることを特徴とする請求項1に記載のガラス基板の切断面検査装置。
- 前記ガラス基板の切断面に空気を噴射して前記切断面及びその周囲に付着された異物を除去するための異物除去手段を更に含むこと特徴とする請求項1に記載のガラス基板の切断面検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030085620A KR100579322B1 (ko) | 2003-11-28 | 2003-11-28 | 유리기판의 커팅면 검사장치 |
KR2003-085620 | 2003-11-28 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010231765A Division JP5198535B2 (ja) | 2003-11-28 | 2010-10-14 | ガラス基板の切断面検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005162588A JP2005162588A (ja) | 2005-06-23 |
JP4934268B2 true JP4934268B2 (ja) | 2012-05-16 |
Family
ID=34737851
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003433290A Expired - Fee Related JP4934268B2 (ja) | 2003-11-28 | 2003-12-26 | ガラス基板の切断面検査装置 |
JP2010231765A Expired - Fee Related JP5198535B2 (ja) | 2003-11-28 | 2010-10-14 | ガラス基板の切断面検査装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010231765A Expired - Fee Related JP5198535B2 (ja) | 2003-11-28 | 2010-10-14 | ガラス基板の切断面検査装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP4934268B2 (ja) |
KR (1) | KR100579322B1 (ja) |
CN (1) | CN100516846C (ja) |
TW (1) | TWI291546B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102271311B1 (ko) * | 2020-07-21 | 2021-07-01 | 주식회사 에이치앤이루자 | 유리 기판 브로큰 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7590279B2 (en) | 2004-12-24 | 2009-09-15 | Saki Corporation | Appearance inspection apparatus for inspecting inspection piece |
KR100725748B1 (ko) * | 2005-06-20 | 2007-06-08 | (주)미래컴퍼니 | 유리기판의 에지 검사용 테이블 |
KR100804978B1 (ko) * | 2006-06-22 | 2008-02-20 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판 면취면의 결함 검사장치 |
JP5060808B2 (ja) * | 2007-03-27 | 2012-10-31 | オリンパス株式会社 | 外観検査装置 |
JP4503643B2 (ja) * | 2007-12-06 | 2010-07-14 | 本田技研工業株式会社 | 金属ベルトの検査装置 |
JP4611404B2 (ja) * | 2008-06-04 | 2011-01-12 | 本田技研工業株式会社 | ベルト検査装置 |
DE102008057131B4 (de) | 2007-12-06 | 2013-05-29 | Honda Motor Co., Ltd. | Riemenprüfvorrichtung |
JP4980443B2 (ja) * | 2010-04-21 | 2012-07-18 | 本田技研工業株式会社 | 金属ベルト端部の表面の傷を検査する検査方法 |
KR101260960B1 (ko) | 2011-05-02 | 2013-05-06 | 주식회사 케이엔제이 | 기판의 절단면 검사장치 및 방법 |
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CN111055223B (zh) * | 2019-12-26 | 2021-10-01 | 苏州肯美威机械制造有限公司 | 一种机加工零件光学检验用辅助定位工装 |
JPWO2021192543A1 (ja) * | 2020-03-25 | 2021-09-30 | ||
CN112180872B (zh) * | 2020-10-14 | 2022-09-23 | 浙江工商职业技术学院 | 用于工业过程控制的装置 |
KR20230143483A (ko) | 2022-04-05 | 2023-10-12 | 엘지전자 주식회사 | 제습 키트, 이를 포함하는 건조기 및 건조기의 제습 모드 동작 방법 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04168351A (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-16 | Taiyo Eretsukusu Kk | 透光体の欠陥検知装置 |
JP3013903B2 (ja) * | 1991-01-31 | 2000-02-28 | セントラル硝子株式会社 | 板ガラスの欠点検出装置 |
JP3120534B2 (ja) * | 1992-01-23 | 2000-12-25 | ソニー株式会社 | 記録ヘッドチップの位置決め装置 |
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-
2003
- 2003-11-28 KR KR1020030085620A patent/KR100579322B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-12-26 JP JP2003433290A patent/JP4934268B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-31 TW TW92137669A patent/TWI291546B/zh not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-01-15 CN CNB2004100022045A patent/CN100516846C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-10-14 JP JP2010231765A patent/JP5198535B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011047948A (ja) | 2011-03-10 |
JP5198535B2 (ja) | 2013-05-15 |
CN100516846C (zh) | 2009-07-22 |
KR20050051934A (ko) | 2005-06-02 |
TWI291546B (en) | 2007-12-21 |
TW200517637A (en) | 2005-06-01 |
KR100579322B1 (ko) | 2006-05-12 |
CN1621818A (zh) | 2005-06-01 |
JP2005162588A (ja) | 2005-06-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061113 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090915 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091215 |
|
A02 | Decision of refusal |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101022 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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