JP4923441B2 - 形状測定器 - Google Patents

形状測定器 Download PDF

Info

Publication number
JP4923441B2
JP4923441B2 JP2005153284A JP2005153284A JP4923441B2 JP 4923441 B2 JP4923441 B2 JP 4923441B2 JP 2005153284 A JP2005153284 A JP 2005153284A JP 2005153284 A JP2005153284 A JP 2005153284A JP 4923441 B2 JP4923441 B2 JP 4923441B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cylinder
shape measuring
measured
measuring instrument
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005153284A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006329795A (ja
Inventor
崇 松本
康生 新野
俊之 沖田
吉二 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JTEKT Corp
Original Assignee
JTEKT Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JTEKT Corp filed Critical JTEKT Corp
Priority to JP2005153284A priority Critical patent/JP4923441B2/ja
Priority to KR1020060047080A priority patent/KR101244264B1/ko
Priority to US11/440,049 priority patent/US7353616B2/en
Publication of JP2006329795A publication Critical patent/JP2006329795A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4923441B2 publication Critical patent/JP4923441B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/20Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring contours or curvatures, e.g. determining profile
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/20Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures

Description

本発明は、接触式の測定プローブを備える形状測定器に関し、好適には、加工機に搭載される機上形状測定器に関するものである。
従来より、光学レンズ等の表面形状を測定する形状測定器は、被測定物に傷を付けないように、接触圧を極力小さくしている。係る接触圧を小さくした形状測定器として、例えば、特許文献1、特許文献2等がある。
特許文献1の形状測定器について、図6を参照して説明する。
特許文献1では、重力方向に測定プローブを保持し、バネ等で重力を釣り合わせて接触圧を調整している。即ち、被測定物180に対して、垂直上方から接触する測定プローブ32と、測定プローブ32の重力分を調整するバネ152と、測定プローブの位置を検出する位置検出器154とを備える。
また、特許文献2では、図7に示すように測定プローブ32を支持手段134により傾斜させて保持することにより、被測定物180への接触圧を小さくしている。この接触圧の調整は、傾斜調整手段136により、測定プローブ32の傾斜角度を調整することで行っている。
特開平7−260471号公報 特表2005−502876号公報
しかしながら、特許文献1の形状測定器では、上方から測定プローブ32を被測定物180に当てる方式であるため、切屑排出が容易な横型の超精密加工機に搭載することが困難である。また、バネの非線形性から測定圧のコントロールが難しく、測定プローブのストローク位置により測定圧が変化するという課題がある。
一方、特許文献2の形状測定器では、測定圧を、測定プローブ32の傾斜角度を変えることで調整しているため、容易に変えることができなかった。例えば、図5に示す形状の被測定物を測定する際に、P1で示す平面(測定プローブ32に対して垂直面)位置を測定する場合に対して、P2で示す傾斜面を測定する際には、測定プローブ32に偶力が加わり撓みが生じて測定誤差となるため、測定圧を下げることが望ましい。しかし、特許文献2では、測定中に測定圧を下げることが難しく、また、傾斜調整手段136で測定プローブ32の傾斜角度を変えて測定圧を調整すると、測定プローブ132が被測定物180に当たっている箇所が変わり、誤差となってしまう。
本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、接触力を変えながら小さな接触力で被測定物の表面形状を測定できる形状測定器を提供することにある。
上記目的を達成するため、請求項1の形状測定器30は、
被測定物の表面に接触する測定プローブ32と、
前記測定プローブ32が取り付けられたシリンダを、軸方向であって、自重で被測定物Wから離れて後退するように水平方向に対して所定の傾斜θを持たせて支持する支持手段42と、
前記シリンダ所定の傾斜θに沿い前記測定プローブが前記被測定物W側へ突出するように付勢する付勢手段40と、
前記測定プローブ32の進退位置を測定する位置検出器44とを備えることを技術的特徴とする。
請求項4の発明は、エアシリンダ40により水平方向に対して所定の傾斜θに沿い被測定物W側へ付勢される主動軸34と、
前記主動軸34に連動され、測定プローブ32を備える従動軸36と、
前記主動軸34と従動軸36とを、前記エアシリンダ40の付勢方向の反対方向へ、自重で前記被測定物Wから離れて後退するように前記所定の傾斜θを持たせて支持するエアベアリング42と
前記従動軸の進退位置を測定するリニアスケール44と、を備えることを技術的特徴とする。
請求項1の形状測定器30は、支持手段42で、測定プローブ32が取り付けられたシリンダを自重で被測定物Wから離れて後退するように傾斜θを持たせて支持する。一方、付勢手段40で、シリンダを所定の傾斜に沿い測定プローブ32が被測定物W側へ突出るように付勢する。このため、被測定物Wへの測定プローブ32の接触力は、支持手段42で傾斜を持たせて支持された測定プローブ32の自重により被測定物Wから離れる方向に作用する後退力と、付勢手段40の付勢力との差分になるので、接触力を非常に小さくなるように調整することが可能である。また、付勢手段40の付勢力を変えることで、接触力を連続的に変えることができる。
請求項2の形状測定器30では、付勢手段は、供給される空気圧により測定プローブを被測定物側へ付勢することで突出させるエアシリンダであって、空気圧を発生する空圧機器と、エアシリンダに対して空圧機器からの空気圧を供給する際にその供給気圧を調整する給気圧制御機器と、を備える。このため、容易に測定プローブ32へ加える付勢力を調整することができる。
請求項3の形状測定器30では、位置検出器がリニアスケール44からなるため、正確に測定プローブ32の位置を測定することができる。
請求項4の形状測定器では、エアベアリング42で、測定プローブ32を備える従動軸36及び主動軸34をその自重で被測定物Wから離れて後退するように傾斜θを持たせて支持する。一方、エアシリンダ40で、測定プローブ32を所定の傾斜θに沿い被測定物W側へ突出させるように付勢する。このため、被測定物Wへの測定プローブ32の接触力は、エアベアリング42で傾斜θを持たせて支持された従動軸36及び主動軸34の自重により被測定物Wから離れる方向に作用する後退力と、エアシリンダ40の付勢力との差分になるので、接触力を非常に小さくなるように調整することが可能である。また、エアシリンダ40の付勢力(エアー圧力)を変えることで、接触力を連続的に変えることができる。
以下、本発明の実施形態について、図を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る形状測定器を搭載する超精密加工機の構成を示している。
超精密加工機10は、ワークWを固定するワーク固定台12と、工具16を保持する砥石軸14と、砥石軸14をX方向へ送るサーボモータ22と、Y軸方向へ送るサーボモータ24と、Z軸方向へ送るサーボモータ26とを備える。ワークWの形状を測定プローブ32により測定する形状測定器30が、砥石軸14と併設されている。
形状測定器30の構成について、図2の平面図を参照して説明する。
形状測定器30は、エアシリンダ40により付勢される主動シリンダ34と、該主動シリンダ34にブラケット38により連結された従動シリンダ36とを備える。従動シリンダ36には、測定プローブ32が取り付けられている。主動シリンダ34及び従動シリンダ36は、エアベアリング42により傾斜状態で支持されている。即ち、エアベアリング42で、主動シリンダ34及び従動シリンダ36の自重で後退する(図中左方向に向かう)ように微少な傾斜を持たせて支持している。従動シリンダ36には位置検出器としてリニアスケール44が設けられている。形状測定器30は、従動シリンダ36のストロークが10mmに設定され、後述するように測定圧を、数10mgf〜数100mgfの範囲で調整可能に構成されている。なお、この実施形態では、主動シリンダ34と従動シリンダ36とを設けることで、円柱状のシリンダの回り止めがなされる。
形状測定器30の制御構成について図3を参照して説明する。
形状測定器30には、空気圧を発生する空圧機器50と、形状測定器30のエアシリンダ40への供給気圧を調整するシリンダ給気圧制御機器52とが接続されている。空圧機器50からの気圧は、エアベアリング42へ直接供給されるように構成されている。リニアスケール44からの出力は、位置検出部54へ入力され、検出された位置は、演算部56側へ出力される。
図4を参照して実施形態の形状測定器30での測定プローブ32の接触力(測定圧)について説明する。
本実施形態の形状測定器30では、エアベアリング42で、測定プローブ32を備える従動シリンダ36及び主動シリンダ34の自重mで後退するように傾斜θを持たせて支持する。エアシリンダ40の摩擦力は非常に小さい。ここで、従動シリンダ36及び主動シリンダ34の後退する力は、エアベアリングでの傾斜θによって生じ、自重mに比べて遙かに小さいmgsigθとなる。一方、エアシリンダ40で、測定プローブ32をワークW側へ突出させるように押出力Fcで付勢する。このため、ワークWへの測定プローブ32の接触力Fは、エアベアリング42で傾斜を持たせて支持された従動シリンダ36及び主動シリンダ34の自重mによる後退力(測定子自重傾斜成分)mgsigθと、エアシリンダ40の押出力Fcとの差分(F=Fc−mgsigθ)になるので、接触力Fを非常に小さく調整することが可能である。このため、アルミニューム製品、樹脂製品等の甦生変形し易い被測定物の表面を変形させることなく測定できる。なお、傾斜θは図4中では理解のために大きく傾けてあるが、実際には肉眼では水平と区別できない程微少角度である。
本実施形態の形状測定器30では、空気圧により測定プローブ32を付勢するエアシリンダ40を用いるため、容易に測定プローブ32へ加える付勢力を調整することができる。また、エアシリンダ40への供給気圧を発生させる空圧機器50によって、エアベアリング42を動作させることができ、駆動源を共用できる。更に、本実施形態の形状測定器では、位置検出器がリニアスケール44からなるため、正確に測定プローブ32の位置を測定することができる。
本実施形態の形状測定器30では、エアシリンダ40の付勢力(押出力Fc)を変えることで、測定プローブ32の測定圧を連続的に変えることができ、これにより複雑な形状のワークの表面形状を正確に測定することができる。図5は、ワークの形状を示す説明図である。図5に示す形状のワークWを測定する際に、P1で示す平面(測定プローブ32に対して垂直面)位置を測定する場合は、エアシリンダ40の付勢力(押出力Fc)を高め、例えば、100mgfの測定圧を用いることで、低測定圧で生じ易くなる機械振動に起因するノイズの重畳を防ぐ。
一方、P2で示す傾斜面を測定する際には、エアシリンダ40の付勢力(押出力Fc)を下げ、例えば半分の50mgfの測定圧を用いることで、傾斜面から偶力が掛かり測定プローブ32に撓みが生じて測定誤差となるのを防ぐ。なお、この際に、低測定圧で生じる機械振動に起因するノイズが重畳し易くなるが、この誤差は、測定プローブ32の撓みによる誤差分よりも遙かに小さい。また、本実施形態の形状測定器は、図7を参照して上述した特許文献2の形状測定器と異なり、測定中に測定圧を変えても、測定プローブ32が被測定物180に当たっている位置が変わることがない。
本実施形態の形状測定器では、走査用の移動ステージ(加工機制御軸)を駆動し測定プローブ32をワークWに押し付けた状態で、更に走査用の移動ステージ(加工機制御軸)を駆動して測定面を走査する。測定プローブ32は、ワークWの形状に倣って移動するため、そのときの測定プローブ32の軌跡が、ワークWの形状となる。

高精度な形状測定が要求される場合、常に一定な測定圧が必要となる。本実施形態の形状測定器では、特許文献1のように非線形要素が含まれないため、測定プローブのストローク位置により測定圧が変化しない。
測定プローブを支持する従動シリンダ36及び主動シリンダ34は、摩擦力の非常に小さなエアベアリング42で支持され、測定圧は、測定子自重傾斜成分(mgsigθ)とエアシリンダ40の押出力Fcとの差分(F=Fc−mgsigθ)になるので、本実施形態の形状測定器では、接触力を非常に小さすることが可能である。
上述した実施形態では、測定プローブをワークWの形状の倣うように動作させたが、測定プローブ位置を一定に保ち、機械制御軸を加工プログラムに応じて倣わせるように動作させることも可能である。このときは、測定プローブ位置の変動が、加工誤差に相当することになる。
上述した実施形態では、位置検出器としてリニアスケールを用いたが、この代わりに、レーザ干渉計、うず電流式、静電容量式等の多種の検出器が利用可能である。さらに、上述した実施形態では、形状測定器を主動シリンダと従動シリンダとの2本のシリンダにより構成したが、1本のシリンダで構成することも可能である。
本発明の一実施形態に係る形状測定器を搭載する超精密加工機の構成を示す構成図である。 形状測定器の平面図である。 形状測定器の制御構成を示すブロック図である。 形状測定器での接触圧の説明図である。 形状測定器でのワーク測定の説明図である。 従来技術の形状測定器の説明図である。 従来技術の形状測定器の説明図である。
符号の説明
10 超精密加工機
30 形状測定器
32 測定プローブ
34 主動シリンダ
36 従動シリンダ
40 エアシリンダ
42 エアベアリング
W ワーク(被測定物)

Claims (4)

  1. 被測定物の表面に接触する測定プローブと、
    前記測定プローブが取り付けられたシリンダを、軸方向であって、自重で前記被測定物から離れて後退するように水平方向に対して所定の傾斜を持たせて支持する支持手段と、
    前記シリンダ前記所定の傾斜に沿い前記測定プローブが前記被測定物側へ突出するように付勢する付勢手段と、
    前記測定プローブの進退位置を測定する位置検出器とを備えることを特徴とする形状測定器。
  2. 前記付勢手段は、供給される空気圧により前記測定プローブを前記被測定物側へ付勢することで突出させるエアシリンダであって、
    前記空気圧を発生する空圧機器と、
    前記エアシリンダに対して前記空圧機器からの空気圧を供給する際にその供給気圧を調整する給気圧制御機器と、
    を備えることを特徴とする請求項1の形状測定器。
  3. 前記位置検出器は、リニアスケールからなることを特徴とする請求項1又は請求項2の形状測定器。
  4. エアシリンダにより水平方向に対して所定の傾斜に沿い被測定物側へ付勢される主動軸と、
    前記主動軸に連動され、測定プローブを備える従動軸と、
    前記主動軸と従動軸とを、前記エアシリンダの付勢方向の反対方向へ、自重で前記被測定物から離れて後退するように前記所定の傾斜を持たせて支持するエアベアリング
    前記従動軸の進退位置を測定するリニアスケールと、を備えることを特徴とする形状測定器。
JP2005153284A 2005-05-26 2005-05-26 形状測定器 Expired - Fee Related JP4923441B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005153284A JP4923441B2 (ja) 2005-05-26 2005-05-26 形状測定器
KR1020060047080A KR101244264B1 (ko) 2005-05-26 2006-05-25 형상 측정기
US11/440,049 US7353616B2 (en) 2005-05-26 2006-05-25 Shape measuring instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005153284A JP4923441B2 (ja) 2005-05-26 2005-05-26 形状測定器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006329795A JP2006329795A (ja) 2006-12-07
JP4923441B2 true JP4923441B2 (ja) 2012-04-25

Family

ID=37464566

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005153284A Expired - Fee Related JP4923441B2 (ja) 2005-05-26 2005-05-26 形状測定器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7353616B2 (ja)
JP (1) JP4923441B2 (ja)
KR (1) KR101244264B1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7784195B1 (en) * 2009-02-20 2010-08-31 Gm Global Technology Operations, Inc. Method of displaying contours of a surface of a bearing
JP4875180B2 (ja) * 2010-03-25 2012-02-15 ファナック株式会社 微細接触力調整機構を有する接触式計測装置
JP2018031754A (ja) * 2016-08-26 2018-03-01 株式会社ミツトヨ 三次元測定装置及び座標補正方法
JP6295299B2 (ja) * 2016-08-26 2018-03-14 株式会社ミツトヨ 座標補正方法及び三次元測定装置
JP6341962B2 (ja) 2016-08-26 2018-06-13 株式会社ミツトヨ 三次元測定装置及び座標補正方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3785056A (en) * 1971-03-26 1974-01-15 Portage Machine Co Statically balanced probe assembly
US4137641A (en) * 1978-03-06 1979-02-06 Angelo Lauri Means for inspecting an annular workpiece
JPS56148007A (en) * 1980-04-18 1981-11-17 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Profile measuring apparatus
US4669300A (en) * 1984-03-30 1987-06-02 Sloan Technology Corporation Electromagnetic stylus force adjustment mechanism
US5174039A (en) * 1990-08-17 1992-12-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Displacement-measuring apparatus, and static-pressure bearing device for use in the displacement-measuring apparatus
JP2788162B2 (ja) * 1993-04-06 1998-08-20 京セラ株式会社 非接触型測長器
JPH07260471A (ja) * 1994-03-16 1995-10-13 Nikon Corp 表面形状測定装置
US5473822A (en) * 1994-06-03 1995-12-12 Js Research And Development, Inc. Continuous air flow probe transducer gage assembly
JPH11316119A (ja) 1998-05-06 1999-11-16 Ricoh Co Ltd 接触荷重制御装置及び該装置を用いた形状測定装置
JP3273026B2 (ja) * 1998-09-02 2002-04-08 株式会社ミツトヨ 表面追従型測定機
JP3992853B2 (ja) * 1998-09-30 2007-10-17 株式会社ミツトヨ 表面追従型測定機
EP1134543B1 (en) * 1999-03-03 2007-02-07 Riken Probe type shape measurement sensor, and nc machining device and shape measuring method using the sensor
TW550375B (en) 2001-09-07 2003-09-01 Olympus Optical Co Apparatus for measuring a surface profile
CA2414250A1 (en) * 2001-12-21 2003-06-21 Magna International Inc. Electronic measuring device
JP2004301669A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Olympus Corp 形状測定機
JP4330388B2 (ja) * 2003-07-28 2009-09-16 株式会社ミツトヨ 倣いプローブ

Also Published As

Publication number Publication date
US7353616B2 (en) 2008-04-08
JP2006329795A (ja) 2006-12-07
KR101244264B1 (ko) 2013-03-18
US20060271333A1 (en) 2006-11-30
KR20060122743A (ko) 2006-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7942063B2 (en) Processing apparatus
JP5674149B2 (ja) ボールねじ軸の累積リード誤差測定装置及び測定方法
CN100395537C (zh) 用于测量表面轮廓的设备
Sze-Wei et al. A fine tool servo system for global position error compensation for a miniature ultra-precision lathe
JP3000819B2 (ja) 三次元測定用プローブ及び形状測定方法
JP4923441B2 (ja) 形状測定器
JP2006118911A (ja) 表面粗さ/輪郭形状測定装置
JP2001317933A (ja) 形状測定装置
JP4704932B2 (ja) 触針式形状測定装置及び方法とこれに適した回転規制エアシリンダ
JP4622683B2 (ja) 加工機
JP2011240457A (ja) 切削加工装置,切削加工方法
Huang et al. Embedded sensor system for five-degree-of-freedom error detection on machine tools
JP6799815B2 (ja) 形状測定用プローブ
JP5292668B2 (ja) 形状測定装置及び方法
JP2007327754A (ja) 被加工物の真直度測定方法およびワークの平面研削方法
JP4972764B2 (ja) 検出器、形状測定装置、及び形状測定方法
JP5103775B2 (ja) 検出器、形状測定装置、及び形状測定方法
JP4519449B2 (ja) 形状測定機
KR101782377B1 (ko) 절삭유닛의 절삭툴 정상 설치장치 및 이를 이용한 절삭툴의 정상 설치방법
JP4779448B2 (ja) 形状測定器
JPH0699336A (ja) 表面粗さ測定装置
JP5468721B2 (ja) 変位量検出器及び形状測定装置
JP2016200399A (ja) 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
JP2007218881A (ja) 形状測定装置
JPH11230714A (ja) 円筒形状測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080319

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101228

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110203

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110329

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110511

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120110

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120123

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150217

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4923441

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees