JP4902903B2 - 高速の半導体メモリ装置のデータ入力バッファリング方法及び装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は高速のメモリ素子において、外部信号を入力されて内部信号に変換するバッファ(buffer)に関し、特にデータストローブ信号のライジングエッジ及びフォーリングエッジに同期されて外部信号を入力されてメーンクロックの二つのエッジのうちの一つのエッジに同期された二つの内部信号を発生させるためのデータ入力バッファに関する。本発明はDDR(double datarate) SDRAM(synchronous DRAM)におけるデータ入力バッファ及びデータマスクバッファ等に適用できる。
【0002】
【従来の技術】
周知のように、半導体メモリ素子の中でDRAMは動作速度の向上のために外部のシステムクロックに同期されて動作するシンクロナスDRAM(synchronous DRAM、 以下SDRAMとする)が広く使われている。特に、SDR(single data rate) SDRAMはクロックのライジング(rising)エッジ(edge)のみでデータの書きこみや読み出しをするメモリ素子であるのに対し、DDR SDRAMはクロックライジング及びフォーリング(falling)エッジを共に使用するためにさらに早い動作速度が具現できて次世代DRAMとして大いに脚光を浴びている。
【0003】
このように、従来のSDRAMを含む大部分のDRAMではデータがクロックの片方のエッジのみで発生するために、データマスクバッファやデータ入力バッファは公知のダイナミック型(dynamic type)バッファやスタティック型(static type)バッファをそのまま使用した。しかしDDRSDRAMを含む高速DRAMではデータがクロックの両側のエッジ、すなわちライジングエッジ及びフォーリングエッジで発生するために、これをバッファリングすることには従来とは違う方式が必要である。
【0004】
すなわち、DDR SDRAMにおいて、コア(core)回路はその特性上SDR SDRAMと同様にクロックの一周期単位でデータを処理することに対し、チップ外部でデータが入力される際にはクロックの半周期毎に1つずつのデータが入力されるため、コア回路とチップ外部とをインターフェースする部分すなわちデータ入力バッファではこの入力データがコア回路に入力される際SDR SDRAMのようにそのままバッファリングだけを遂行してはいけない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上記従来の技術の問題点を解決するために案出されたものとして、DDR SDRAMをはじめとする高速メモリ集積素子は、チップ外部ではクロックのライジングエッジ及びフォーリングエッジで各々データが発生されて、チップ内部はクロックの片方のエッジに同期される二つのデータで処理される。すなわち、DDR SDRAMはクロックの両側のエッジでデータの入力がなされるためクロックの半周期毎に1つずつのデータが入力される。しかし、チップ内部ではクロックの半周期毎に1つずつのデータを処理することができない。したがって、チップ内部とチップ外部との間をインターフェースするデータ入力バッファは入力されるデータを単純にバッファリングのみしてはいけなくて、この入力信号がチップ内部で使用できるように適切に処理すべきである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するための本発明は、高速メモリ素子において、データストローブ信号のライジングエッジ及びフォーリングエッジに同期されて外部からデータマスク信号を入力されてメーンクロックの二つのエッジのうちの一つのエッジに同期された二つの内部データマスク信号を発生させるための方法において、高速メモリ素子において、データストローブ信号のライジングエッジ及びフォーリングエッジに同期されて外部からデータマスク信号入力されてメーンクロックの二つのエッジのうちの一つのエッジに同期された二つの内部データマスク信号を発生させるための方法において、基準電圧信号と上記データマスク信号比較してフル−スイング(full−swing)された信号を出力する第1ステップと、上記フル−スイングされた信号及び反転されたフル−スイングされた信号を受信し、上記データストローブ信号の片方のエッジに同期された第1ストローブ信号がクロック端子に入力され、上記第1ストローブ信号に同期された第1信号をダイナミックに発生して出力する第2ステップと、上記フル−スイングされた信号及び上記反転されたフル−スイングされた信号を受信し、上記データストローブ信号の別のエッジに同期された第2ストローブ信号がクロック端子に入力され、上記第2ストローブ信号に同期された第2信号をダイナミックに発生して出力する第3ステップと、上記第2ストローブ信号に応答して上記第1信号をラッチして出力し、上記第1信号と上記第2信号とを上記データストローブ信号の同一のエッジアラインメントさせる第4ステップと、上記メーンクロックの片方のエッジに同期された第3ストローブ信号に応答して、アラインメントされた上記第1信号及び上記第2信号をラッチして出力し、上記第3ストローブ信号に同期された二つの前記内部データマスク信号を出力するステップとを含み、上記第5ステップにおける出力信号を上記メーンクロックにアラインメントさせることを特徴とする。
【0007】
また、本発明は高速メモリ素子において、データストローブ信号のライジングエッジ及びフォーリングエッジに同期されてデータマスク信号を入力されてメーンクロックの二つのエッジのうちの一つのエッジに同期された二つの内部データマスク信号を発生させるための装置において、基準電圧信号と上記データマスク信号とを比較してフル−スイング(full−swing)された信号を出力するための手段と、上記フル−スイング(full−swing)された信号及び反転されたフル−スイングされた信号を入力端子に入力されて、上記データストローブ信号の片方のエッジに同期された第1ストローブ信号をクロック端子に入力されて上記第1ストローブ信号に同期された第1信号を出力端子で発生するダイナミックラッチ回路で構成された第1信号発生手段と、上記フル−スイングされた信号及び上記反転されたフル−スイングされた信号を入力端子に入力されて、上記データストローブ信号の別のエッジに同期された第2ストローブ信号をクロック端子に入力されて上記第2ストローブ信号に同期された第2信号を出力端子で発生するダイナミックラッチ回路で構成された第2信号発生手段と、上記第2ストローブ信号に応答して上記第1信号をラッチして出力し、上記第1信号及び第2信号が上記データストローブ信号の同一のエッジでアラインメントさせる第1アラインメント手段と、上記メーンクロックの片方のエッジに同期された第3ストローブ信号に応答して上記第1アラインメント手段の出力信号と上記第2信号とをラッチして出力し、上記第3ストローブ信号に同期された二つの内部データマスク信号を出力する第2アラインメント手段とを含んで上記第2アラインメント手段の出力が上記メーンクロックにアラインメントされるようにすることを含んでなされる。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者が本発明の技術的思想を容易に実施できるほどに詳細に説明するため、本発明の最も好ましい実施例を添付した図面を参照し説明する。
【0009】
図1は本発明にかかるデータ入力バッファの一実施例を表すブロック構成図であり、図5は各信号に対するタイミング図である。図5において、図面符号CLKはメーンクロック(main clock)を、DQはデータ信号を、DQSはデータストローブ信号を各々表し、これらは全てチップ外部から入力される信号である。また、r_outclkはデータストローブ信号(DQS)のライジングエッジで同期されたパルス信号であり、f_outclkはデータストローブ信号(DQS)のフォーリングエッジで同期されたパルス信号であり、inclkはメーンクロック(CLK)のライジングエッジで同期されたパルス信号である。DDR SDRAMで、データ信号(DQ)はデータストローブ信号(DQS)に同期されて入力され、チップ内部ではメーンクロック(CLK)に同期されて動作することになる。周知のように、データストローブ信号DQSはチップモジュール間の遅延時間によるタイムスキューをなくすためのものである。
【0010】
図1を参照し本発明にかかるデータ入力バッファ(data input buffer)を説明する。本発明によるデータ入力バッファは、バッファリング部200、第1データ信号生成部300a、第2データ信号生成部300b、第1アラインメント部400及び第2アラインメント部500で構成される。
【0011】
バッファリング部200は図2に示したダイナミックバッファを使用して具現できるし、図2を参照すると、イネーブル信号(en_b)に応答して基準電圧信号(Vref)とデータ信号DQとを比較してフル−スイング(full−swing)された信号(bs)を第1及び第2データ信号発生部300a、300bに出力する。
【0012】
第1データ信号生成部300aはデータストローブ信号(DQS)のライジングエッジで同期された第1ストローブ信号(r_outclk)と上記バッファリング部200との出力信号(bs)を入力されて上記バッファリング部200の出力信号(bs)の中のデータストローブ信号(DQS)のライジングエッジで活性化された第1データ信号(図5のa、c、e)を第1ノードN1に出力する。同様に、第2データ信号生成部300bはデータストローブ信号(DQS)のフォーリングエッジで発生された第2ストローブ信号(f_outclk)と上記バッファリング部100の出力信号(bs)とを入力されて、上記バッファリング部200の出力信号(bs)の中のデータストローブ信号(DQS)のフォーリングエッジで活性化された第2データ信号(図5のb、d、f)を第2ノードN2に出力する。上記第1データ信号生成部300aまたは第2データ信号生成部300bは図3に示したダイナミックラッチ回路を使用して具現できる。図3で、図面符号’bs’は上記バッファリング部200の出力信号であり、’bsb’は上記バッファリング部200の出力信号を反転した信号である。
【0013】
第1アラインメント部400はノード1N1の第1データ信号とノード2N2の第2データ信号とが同一の時点で同期されるようにアラインメント(align)させるためのもので、本実施例では第2ストローブ信号(f_outclk)に応答してノード1N1の第1データ信号を第2データ信号に同期されるように構成されている。すなわち、第1アラインメント部400は、第2ストローブ信号(f_outclk)に応答して第1データ信号生成部300aからの第1データ信号を伝達する伝達ゲート(transmission gate)410と、上記伝達ゲート(transmission gate)410の出力信号をラッチした後第3ノードN3に出力するラッチ420とを含む。
【0014】
第2アラインメント部500は第1アラインメント部400からのアラインメントされた信号と上記第2データ信号生成部300bからの第2データ信号とをメーンクロック(CLK)のライジングエッジで発生された第3ストローブ信号(inclk)にアラインメントされた信号(output_r、output_f)を出力する。図4は第2アラインメント部500を示した図として、図4を参照すると、第2アラインメント部500は 第3ストローブ信号(inclk)に応答して第1アラインメント部400からの出力信号を伝達する第1伝達ゲート510と、上記第1伝達ゲート510の出力信号をラッチする第1ラッチ回路520と、第3ストローブ信号(inclk)に応答して第2データ信号生成部300bからの第2データ信号を伝達する第2伝達ゲート530と、上記第2伝達ゲート530の出力信号をラッチする第2ラッチ回路540とを含む。また、第2アラインメント部500は第3ストローブ信号(inclk)に応答して上記第1ラッチ回路520の出力信号を伝達する第3伝達ゲート550と、上記第3伝達ゲート550の出力信号をラッチする第3ラッチ回路560と、第3ストローブ信号(inclk)に応答して上記第2ラッチ回路540の出力信号を伝達する第4伝達ゲート570、及び上記第4伝達ゲート570の出力信号をラッチする第4ラッチ回路580をさらに含むことができる。図4に示したことのように、二段階ラッチを構成した理由は安定した回路動作のためのものである。
【0015】
以上で説明したことのような図1の全体的な動作を図5を参照しながら説明する。
【0016】
まず、データ信号(DQ)はバッファリング部200でバッファリングされた後、第1データ信号生成部300a及び第2データ信号生成部300bによって第1データ信号及び第2データ信号に分類される。第1ノードN1の信号である上記第1データ信号はデータストローブ信号(DQS)のライジングエッジで活性化されたデータ信号(a、c、e)であり、第2ノードN2の信号である上記第2データ信号はデータストローブ信号(DQS)のフォーリングエッジで活性化されたデータ信号(b、d、f)である。この際、各データら(a、b、c、d、e、f)はその周期が二倍に大きくなる。
【0017】
次いで、上記第1データ信号及び第2データ信号は第1アラインメント部400によって互いに同一の時点で同期されるようにアラインメントされる。すなわち、第1ストローブ信号(r_outclk)に同期された第1データ信号が第2ストローブ信号(f_outclk)に応答して第2データ信号にアラインメントされる。結局ノード2及びノード3の信号は互いにアラインメントされる。
【0018】
次いで、チップ内部でデータ信号はクロックに同期されて動作すべきであるために、第2アラインメント部500は上記第1アラインメント部400からの出力信号及び第2データ信号生成部300bからの第2データ信号を入力されてメーンクロック(CLK)に同期された第3ストローブ信号(inclk)にアラインメントされた信号(output_r、output_f)を出力する。
【0019】
本実施例ではデータ信号に対してのみ言及したが、外部から入力されるデータマスク信号も同じ原理でバッファリングすることができる。本発明の技術思想は上記好ましい実施例によって具体的に記述されたが、上記した実施例はその説明のためのものであって、その制限のためのものではないことを注意すべきである。また、本発明の技術分野の通常の専門家であるならば本発明の技術思想の範囲内で多様な実施例が可能であることが理解できる。
【0020】
【発明の効果】
本発明のバッファはDDR SDRAMをはじめとする高速DRAMの動作方式のようにチップ外部で発生するデータはクロックの両側のエッジで全て発生し、チップ内部の実際の動作はクロックの片方のエッジのみに同期される2つのデータで遂行されるあらゆる場合に、このような製品の動作要件を充足させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明にかかるデータ入力バッファのブロック構成図である。
【図2】 本発明のバッファリング部の一例を示す回路図である。
【図3】 本発明の第1及び第2データ信号生成部の一例を示す回路図である。
【図4】 本発明の第2アラインメント部の一例を示す回路図である。
【図5】 図1の各信号に対するタイミング図である。
【符号の説明】
200 バッファリング部
300a、300b 第1及び第2データ信号生成部
400 第1アラインメント部
500 第2アラインメント部

Claims (10)

  1. 高速メモリ素子において、データストローブ信号のライジングエッジ及びフォーリングエッジに同期されて外部からデータマスク信号入力されてメーンクロックの二つのエッジのうちの一つのエッジに同期された二つの内部データマスク信号を発生させるための方法において、
    基準電圧信号と上記データマスク信号比較してフル−スイング(full−swing)された信号を出力する第1ステップと、
    上記フル−スイングされた信号及び反転されたフル−スイングされた信号を受信し、上記データストローブ信号の片方のエッジに同期された第1ストローブ信号がクロック端子に入力され、上記第1ストローブ信号に同期された第1信号をダイナミックに発生して出力する第2ステップと、
    上記フル−スイングされた信号及び上記反転されたフル−スイングされた信号を受信し、上記データストローブ信号の別のエッジに同期された第2ストローブ信号がクロック端子に入力され、上記第2ストローブ信号に同期された第2信号をダイナミックに発生して出力する第3ステップと、
    上記第2ストローブ信号に応答して上記第1信号をラッチして出力し、上記第1信号と上記第2信号とを上記データストローブ信号の同一のエッジアラインメントさせる第4ステップと、
    上記メーンクロックの片方のエッジに同期された第3ストローブ信号に応答して、アラインメントされた上記第1信号及び上記第2信号をラッチして出力し、上記第3ストローブ信号に同期された二つの前記内部データマスク信号を出力する第5ステップとを含み、
    上記第5ステップにおける出力信号を上記メーンクロックにアラインメントさせる入力信号バッファリング方法。
  2. 上記第2ステップで、上記第1信号及び第2信号は各々周期が二倍に増加されることを特徴とする請求項1記載の入力信号バッファリング方法。
  3. 上記第3ステップで、上記第1信号が第2信号にアラインメントされることを特徴とする請求項2記載の入力信号バッファリング方法。
  4. 高速メモリ素子において、データストローブ信号のライジングエッジ及びフォーリングエッジに同期されてデータマスク信号を入力されてメーンクロックの二つのエッジのうちの一つのエッジに同期された二つの内部データマスク信号を発生させるための装置において、
    基準電圧信号と上記データマスク信号とを比較してフル−スイング(full−swing)された信号を出力するための手段と、
    上記フル−スイング(full−swing)された信号及び反転されたフル−スイング(full−swing)された信号を入力端子に入力されて、上記データストローブ信号の片方のエッジに同期された第1ストローブ信号をクロック端子に入力されて上記第1ストローブ信号に同期された第1信号を出力端子で発生するダイナミックラッチ回路で構成された第1信号発生手段と、
    上記フル−スイングされた信号及び上記反転されたフル−スイングされた信号を入力端子に入力されて、上記データストローブ信号の別のエッジに同期された第2ストローブ信号をクロック端子に入力されて上記第2ストローブ信号に同期された第2信号を出力端子で発生するダイナミックラッチ回路で構成された第2信号発生手段と、
    上記第2ストローブ信号に応答して上記第1信号をラッチして出力し、上記第1信号及び第2信号が上記データストローブ信号の同一のエッジでアラインメントさせる第1アラインメント手段と、
    上記メーンクロックの片方のエッジに同期された第3ストローブ信号に応答して上記第1アラインメント手段の出力信号と上記第2信号とをラッチして出力し、上記第3ストローブ信号に同期された二つの内部データマスク信号を出力する第2アラインメント手段と
    を含んで上記第2アラインメント手段の出力が上記メーンクロックにアラインメントされるようにする入力信号バッファリング装置。
  5. 上記第1ストローブ信号は、上記データストローブ信号のフォーリングエッジに同期された信号であり、上記第2ストローブ信号は、上記データストローブ信号のライジングエッジに同期された信号であることを特徴とする請求項4記載の入力信号バッファリング装置。
  6. 上記第1ストローブ信号は、上記データストローブ信号のライジングエッジに同期された信号であり、上記第2ストローブ信号は、上記データストローブ信号のフォーリングエッジに同期された信号であることを特徴とする請求項4記載の入力信号バッファリング装置。
  7. 上記第3ストローブ信号は上記メーンクロックのライジングエッジに同期された信号であることを特徴とする請求項4乃至請求項6のいずれかに記載の入力信号バッファリング装置。
  8. 上記第1アラインメント手段は、
    上記第2ストローブ信号に応答して上記第1信号発生手段の出力信号を伝達するための第1伝達ゲートと、
    上記第1伝達ゲートの出力信号をラッチした後出力するための第1ラッチ部と
    を含むことを特徴とする請求項4記載の入力信号バッファリング装置。
  9. 上記第2アラインメント手段は、
    上記第3ストローブ信号に応答して上記第1アラインメント手段の出力信号を伝達するための第2伝達ゲートと、
    上記第2伝達ゲートの出力信号をラッチした後出力するための第2ラッチ部と、
    上記第3ストローブ信号に応答して上記第2ラッチ部の出力信号を伝達するための第3伝達ゲートと、
    上記第3伝達ゲートの出力信号をラッチした後出力するための第3ラッチ部と
    を含むことを特徴とする請求項4記載の入力信号バッファリング装置。
  10. 上記第2アラインメント手段は、
    上記第3ストローブ信号に応答して上記第2信号発生手段の出力信号を伝達するための第4伝達ゲートと、
    上記第4伝達ゲートの出力信号をラッチした後出力するための第4ラッチ部と、
    上記第3ストローブ信号に応答して上記第4ラッチ部の出力信号を伝達するための第5伝達ゲートと、
    上記第5伝達ゲートの出力信号をラッチした後出力するための第5ラッチ部と
    を含むことを特徴とする請求項9記載の入力信号バッファリング装置。
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