JP4901773B2 - 放射線モニタ - Google Patents

放射線モニタ Download PDF

Info

Publication number
JP4901773B2
JP4901773B2 JP2008021205A JP2008021205A JP4901773B2 JP 4901773 B2 JP4901773 B2 JP 4901773B2 JP 2008021205 A JP2008021205 A JP 2008021205A JP 2008021205 A JP2008021205 A JP 2008021205A JP 4901773 B2 JP4901773 B2 JP 4901773B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
radiation
sample gas
radiation detector
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008021205A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009180660A (ja
Inventor
大志 潮見
健一 茂木
正一 中西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2008021205A priority Critical patent/JP4901773B2/ja
Publication of JP2009180660A publication Critical patent/JP2009180660A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4901773B2 publication Critical patent/JP4901773B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

この発明は、原子炉施設、使用済燃料再処理施設等における放射性物質の放出管理、あるいは漏洩検知に用いられる放射線モニタに関するものである。
原子炉施設、使用済燃料再処理施設等では、プロセス流体中に含まれる放射性物質の濃度を測定するために放射線モニタが使用されており、これに用いられる放射線検出器で代表的なものとしては、プラスチックシンチレーション検出器とタリウム活性化ヨウ化ナトリウム(以下、NaI(Tl)と記す。)シンチレーション検出器がある。
プラスチックシンチレーション検出器は、サンプルガスに含まれる放射性核種から放射されるβ線を検出する場合に適用されることが多く、NaI(Tl)シンチレーション検出器は、サンプルガスに含まれる粒子状放射性核種をダストの形態でダスト捕集用濾紙に捕集し、粒子状放射性核種から放射されるγ線を検出する場合、あるいは、サンプルガスに含まれる放射性ヨウ素を活性炭カートリッジに捕集し、放射性ヨウ素から放射されるγ線を検出する場合に適用されることが多い。また、NaI(Tl)シンチレーション検出器は、サンプル水に含まれる放射性核種から放射されるγ線を検出する場合にも適用されることが多い。
例えば、サンプルガスに含まれる放射性核種から放射される放射線を高感度で検出しようとする場含、1崩壊当たりの放射線放出率がγ線より大きいβ線を検出対象とし、サンプルガスを内包する試料容器の一部をプラスチックシンチレーション検出器のプラスチックシンチレータで構成し、β線が入射すると蛍光を発して放射線を検出するプラスチックシンチレータをサンプルガスに接するように配置してβ線を高効率で検出する。
また、サンプルガスに含まれる粒子状放射性核種をダスト捕集濾紙に捕集して検出する場合、捕集されたダスト及び濾紙の中でβ線が吸収されるために、透過性の良好なγ線を検出対象とし、NaI(Tl)シンチレーション検出器を使用し、γ線が入射すると蛍光を発して放射線を検出するNaI(Tl)シンチレータをダスト捕集濾紙に近接対面させるように配置する。また、ダスト捕集濾紙が吸湿して流量が大きく変動するのを防止するために、サンプルガスを加熱してサンプルガスの湿度を下げている。
また、サンプルガスに含まれる放射性ヨウ素を活性炭カートリッジに捕集して検出する場合、活性炭中でβ線が吸収されるために、透過性の良好なγ線を検出対象とし、NaI(Tl)シンチレーション検出器を使用し、NaI(Tl)シンチレータを活性炭カートリッジに近接対面させるように配置する。また、放射性ヨウ素を高効率で捕集するために、サンプルガスを加熱して湿度を下げている。
更に、サンプル水に含まれる放射性核種の放射線を測定する場合、サンプル水中でβ線が吸収されるため透過性の良好なγ線を検出対象とし、NaI(Tl)シンチレーション検出器を使用し、サンプル水を内包する試料容器に保護筒を侵漬してバウンダリーを構成し、該保護筒に放射線検出器を収納することによってサンプル水に接しないように保護し、サンプル水による熱衝撃で、NaI(Tl)シンチレーション検出器のNaI(Tl)シンチレータが破損しないようにしている。
ところで、放射線検出器を構成するシンチレータ及び光電子増倍管はそれぞれ温度特性を持っている。シンチレータの温度特性は種類により特性の形が大きく異なり、代表的なプラスチックシンチレータは約−0.1%/℃で概ね直線的に変化する負の特性を有しており、代表的なNaI(Tl)シンチレータは10〜20℃にピークを有する山形の温度特性で25℃以上は約−0.3%/℃で直線的に変化する負の温度特性を有している。また、光電子増倍管は概ね約−0.3%/℃の負の温度特性を持っている。
従来の放射線モニタにおいて、上記シンチレータの温度特性と上記光電子増倍管の温度特性を合成した放射線検出器の固有の温度特性に対して、この逆の温度特性をプリアンプのゲインに持たせることにより、検出器固有の温度特性を補償して指示の安定化を実現している(例えば、特許文献1参照)。
特開昭58−188910号公報
従来の放射線モニタは上記のように構成されているため、周囲から放射線検出器への熱伝達にムラが生じ、そのために定常的または過渡的な温度分布を生じ、放射線検出器を構成するシンチレータ、光電子増倍管、プリアンプに生じた温度差のために、シンチレータ、光電子増倍管に起因する放射線検出器固有の温度特性を、プリアンプの逆温度特性で補償する時に補償誤差が発生し、指示が不安定になる課題があった。
この発明は上記のような課題を解決するためになされたものであり、温度に対して高い安定性を有し、かつ信頼性の高い放射線モニタを提供することを目的とするものである。
この発明に係る放射線モニタは、サンプルガスに含まれる気体状放射性核種から放射される放射線を検出する放射線検出器と、上記放射線検出器の放射線入射窓をバウンダリーとし、上記サンプルガスを内包して流す試料容器と、上記放射線検出器と上記試料容器を環境放射線から遮蔽して保持するサンプラと、上記放射線検出器から出力される放射線検出信号を入力して上記サンプルガスに含まれる気体状放射性核種の放射能濃度を測定する測定部と、上記サンプラの温度と上記試料容器に導入される上記サンプルガスの温度とを同じ温度になるように加熱する同一温度加熱手段と、上記放射線検出器に設けられ、上記放射線検出器の固有のゲイン温度特性を相殺する逆温度特性を有するプリアンプと、を備えたものである。
この発明に係る放射線モニタは、サンプラの温度とサンプルガスの温度を同じ温度になるように加熱する同一温度加熱手段を備えたので、放射線検出器の温度分布を抑制することができ、それにより、放射線検出器に固有のゲイン温度特性をプリアンプで好適な条件で補償でき、温度に対して高い安定性を有し、かつ信頼性の高い装置を得ることができる。
以下、この発明に係る放射線モニタの好適な実施の形態について図面を参照して説明する。なお、この実施の形態によってこの発明が限定されるものではない。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1に係る放射線モニタの構成図である。図1において、プラスチックシンチレーション検出器1は、プラスチックシンチレータ11、ライトガイド12、光電子増倍管13、プリアンプ14、クッション材15、及び検出器ケース16から構成されており、サンプルガスに含まれる気体状放射性核種から放射される主にβ線を検出して放射線検出信号を出力する。検出器ケース16は、プラスチックシンチレータ11、ライトガイド12、光電子増倍管13、プリアンプ14、クッション材15を内蔵固定し、電気的にシールドすると共に遮光する。
試料容器2は、プラスチックシンチレーション検出器1の放射線入射窓を構成するプラスチックシンチレータ11、及びプラスチックシンチレータ11を接着したライトガイド12をバウンダリーとし、サンプルガスを内包して流す。なお、図中の実線矢印はサンプルガスの流れを示している。
サンプラ3は、プラスチックシンチレーション検出器1と試料容器2を環境放射線から遮蔽して保持するものであり、測定部4は、プラスチックシンチレーション検出器1から出力される放射線検出信号を入力してサンプルガスに含まれる気体状放射性核種の放射能濃度を測定するものである。
プラスチックシンチレーション検出器1を試料容器2に固定する箇所には、絶縁手段である例えばOリング5が設けられており、このOリング5によりプラスチックシンチレーション検出器1と試料容器2の間をシールすると共に電気的に絶縁している。また、プラスチックシンチレーション検出器1をサンプラ3に固定する箇所には、絶縁体6が設けられており、この絶縁体6によりプラスチックシンチレーション検出器1とサンプラ3の間を電気的に絶縁している。
また、サンプラ3の外表面にはサンプラ3の温度と試料容器2に導入されるサンプルガスの温度とを同じ温度になるように加熱する同一温度加熱装置7が設けられている。この同一温度加熱装置7は、サンプラ3を加熱する第1のヒータ71、試料容器2にサンプルガスを導入する導入管72、導入管72の内部でサンプルガスを加熱する第2のヒータ73、サンプラ3の周囲温度を検出する第1の温度センサ74、サンプラ3の温度を検出する第2の温度センサ75、導入管72に入気されるサンプルガスの温度を検出する第3の温度センサ76、導入管72から排気されるサンプルガスの温度を測定する第4の温度センサ77、温度制御装置78、及び第1のヒータ71を内包する断熱材79から構成されている。
実施の形態1に係る放射線モニタは上記のように構成されており、次に動作について説明する。
温度制御装置78は、第1〜第4の温度センサ74〜77により検出されるそれぞれの検出信号を入力することにより、サンプラ3の周囲温度T1と導入管72に入気するサンプルガスの温度T2を比較し、どちらか高い方の温度以上の同じ温度になるようにサンプラ3の周囲温度T1と導入管72に入気するサンプルガスの温度T2を制御することにより、サンプラ3の温度T3と導入管72から排気されるサンプルガスの温度T4が等しくなるようにする。例えば、サンプラ3の周囲温度T1が、導入管72に入気するサンプルガスの温度T2より低い場合は、サンプラ3の温度T3と導入管72から排気されるサンプルガスの温度T4を、導入管72に入気するサンプルガスの温度T2以上の同じ温度になるように制御する。
図2は、プラスチックシンチレーション検出器1のゲイン温度係数の補償について示すもので、aはプラスチックシンチレータ11と光電子増倍管13のぞれぞれのゲイン温度係数を合成した検出器固有のゲイン温度係数、bはプリアンプ14のゲイン温度係数、cはプラスチックシンチレーション検出器1の出力の温度特性で、検出器固有のゲイン温度係数aをプリアンプ14のゲイン温度係数bで補償してプラスチックシンチレーション検出器1の出力の温度特性cが一定になるように動作する。
プラスチックシンチレーション検出器1の検出器ケース16は、プリアンプ14の0V(図示せず)に接続されて電位を固定することにより電気的シールドとして機能し、更に、Oリング5で試料容器2から電気的に絶縁され、また、絶縁体6でサンプラ3から電気的に絶縁されて、同一温度加熱装置7のノイズがプリアンプ14の0Vに進入するのを防止している。
上述のように、実施の形態1に係る放射線モニタは、プラスチックシンチレーション検出器1の温度を支配するサンプラ3の温度、及び試料容器2に導入されるサンプルガスの温度を、同一温度加熱装置7で同じ温度になるように加熱制御してプラスチックシンチレーション検出器1の温度分布を抑制するので、プラスチックシンチレーション検出器1に固有のゲイン温度特性をプリアンプ14で好適な条件で補償でき、温度に対して高い安定性を有し、かつ信頼性の高い装置を得ることができる。
実施の形態2.
次に、この発明の実施の形態2に係る放射線モニタについて説明する。実施の形態2は、NaI(Tl)シンチレーション検出器でサンプルガスに含まれる粒子状放射性核種または放射性ヨウ素から放射されるγ線を検出し、同一温度加熱装置でサンプラの温度とサンプルガスの温度を加熱制御することにより、NaI(Tl)シンチレーション検出器の温度分布を抑制して、NaI(Tl)シンチレーション検出器に固有のゲイン温度係数に対し、その逆のゲイン温度係数をプリアンプに持たせて補償するようにしたものである。
図3は、実施の形態2に係る放射線モニタの構成図である。図3において、NaI(Tl)シンチレーション検出器8は、NaI(Tl)シンチレータ81、光電子増倍管82、プリアンプ83、及び検出器ケース84から構成されており、サンプルガスに含まれる粒子状放射性核種または放射性ヨウ素を捕集する捕集装置9を備えている。なお、その他の構成については実施の形態1と同様であり、同一符号を付すことにより、説明を省略する。
捕集装置9に捕集された粒子状放射性核種または放射性ヨウ素から放射されるγ線をNaI(Tl)シンチレーション検出器8で検出し、同一温度加熱装置7でサンプラ3の温度と捕集装置9に導入されるサンプルガスの温度を、25℃以上の同じ温度になるように加熱制御する。
図4は、NaI(Tl)シンチレーション検出器8のゲイン温度係数の補償について示すもので、dはNaI(Tl)シンチレータ81と光電子増倍管82のそれぞれのゲイン温度係数を合成した検出器固有のゲイン温度係数、eはプリアンプ83のゲイン温度係数、fはNaI(Tl)シンチレーション検出器8の出力の温度特性で、検出器固有のゲイン温度係数dをプリアンプ83のゲイン温度係数eで補償して25℃以上でNaI(Tl)シンチレーション検出器8の出力の温度特性fが一定になるように動作する。
上述のように、実施の形態2に係る放射線モニタは、同一温度加熱装置7でサンプラ3の温度と捕集装置9に導入されるサンプルガスの温度を同じ温度になるように加熱制御してNaI(Tl)シンチレーション検出器8の温度分布を抑制したので、NaI(Tl)シンチレーション検出器8に固有のゲイン温度特性をプリアンプ83で好適な条件で補償でき、温度に対して高い安定性を有し、かつ信頼性の高い装置を得ることができる。
実施の形態3.
次に、この発明の実施の形態3に係る放射線モニタについて説明する。実施の形態3はNaI(Tl)シンチレーション検出器で熱容量の大きいサンプル水に含まれる粒子状放射性核種から放射されるγ線を検出するものである。
図5は、実施の形態3に係る放射線モニタの構成図である。図5において、NaI(Tl)シンチレーション検出器8は、NaI(Tl)シンチレータ81、光電子増倍管82、プリアンプ83、検出器ケース84、及び熱伝達遅延手段として機能する検出器断熱材85を備えている。
試料容器2には、熱容量の大きいサンプル水が導入され、試料容器2には保護筒10が設けられている。この保護筒10はバウンダリーを構成してサンプル水に浸漬するように配置され、NaI(Tl)シンチレーション検出器8は保護筒10に収納される。
NaI(Tl)シンチレーション検出器8の温度は、熱容量の大きいサンプル水の温度に追従して変化するので、実施の形態1あるいは実施の形態2で説明した同一温度加熱装置は設置されず、検出器断熱材85が、NaI(Tl)シンチレーション検出器8の全体を囲むように設置され、サンプル水からNaI(Tl)シンチレーション検出器8への熱伝達を遅らせるように構成されている。なお、その他の構成については、実施の形態1と同様であり、同一符号を付すことにより、説明を省略する。
上述のように、実施の形態3に係る放射線モニタは、検出器断熱材85を設置して熱容量の大きいサンプル水からNaI(Tl)シンチレーション検出器8への熱伝達を遅らせるようにしたので、NaI(Tl)シンチレータ81、光電子増倍管82、プリアンプ83の間に生じる過渡的な温度分布を大幅に抑制でき、NaI(Tl)シンチレーション検出器8に固有のゲイン温度特性を好適な条件で補償でき、温度に対して高い安定性を有し、かつ信頼性の高い装置を得ることができる。
実施の形態4.
次に、この発明の実施の形態4に係る放射線モニタについて説明する。実施の形態1または実施の形態2では、サンプラとサンプルガスを同−温度加熱装置で同じ温度になるように加熱抑制し、プラスチックシンチレーション検出器またはNaI(Tl)シンチレーション検出器の温度分布を抑制して、プラスチックシンチレーション検出器またはNaI(Tl)シンチレーション検出器に固有のゲイン温度係数に対し、その逆のゲイン温度係数をプリアンプに持たせて補償するように動作させる場合について説明したが、実施の形態4は、同一温度加熱装置の代わりに一定温度加熱装置を備え、サンプラの周囲温度を検出する温度センサ、導入管に入気されるサンプルガスの温度を検出する温度センサを省略し、プリアンプの温度補償機能をなくしたものである。
図6は、実施の形態4に係る放射線モニタの構成図である。図6において、一定温度加熱装置20は、サンプラ3とサンプルガスを、一定温度になるように、例えば、周囲温度及びサンプルガス温度のどちらか高い方の仕様最大温度に加熱制御するものである。実施の形態4においては、一定温度加熱装置20を備えることにより、サンプラ3の周囲温度を検出する温度センサ、導入管72に入気されるサンプルガスの温度を検出する温度センサを省略し、プリアンプ14の温度補償機能をなくしている。なお、その他の構成については実施の形態1と同様であり、同一符号を付すことにより、説明を省略する。
上述のように、実施の形態4に係る放射線モニタは、一定温度加熱装置20を備えることにより、サンプラ3の周囲温度を検出する温度センサ、導入管72に入気されるサンプルガスの温度を検出する温度センサを省略でき、プリアンプ14の温度補償機能をなくすことができので、部品数を削減した上で、温度に対して高い安定性を有し、かつ信頼性の高い装置を得ることができる。
実施の形態5.
次に、この発明の実施の形態5に係る放射線モニタについて説明する。図7は、放射線モニタに用いられる測定部のブロック構成図である。図7において、測定部4は、NaI(Tl)シンチレーション検出器8からの信号パルスを増幅して出力するメインアンプ41、メインアンプ41の出カパルスを計数して工学値に変換して出力する測定回路42、メインアンプ41の出カパルスを入力し、NaI(Tl)シンチレーション検出器8のNaI(Tl)シンチレータ81(図5参照)の結晶(図示せず)及び光電子増倍管82(図5参照)のガラス(図示せず)に含まれる天然の放射性核種カリウム40(K−40)から放射される1.46MeVのγ線を指標にメインアンプ41のゲインを自動制御するゲイン自動制御回路43を備えている。このゲイン自動制御回路43は、天然の放射性核種カリウム40(K−40)から放射されるγ線1.46MeVの信号パルスのスペクトルピーク位置が一定になるようにメインアンプ41のゲインを自動で制御するものである。
上述のように、実施の形態5に係る放射線モニタは、天然の放射性核種カリウム40(K−40)から放射されるγ線1.46MeVの信号パルスのスペクトルピーク位置が一定になるようにメインアンプ41のゲインを自動で制御するゲイン自動制御回路43を備えたので、NaI(Tl)シンチレーション検出器8の出力の温度依存性を抑制できると共に、長期的な経年変化も抑制した高い安定性を有する装置が提供できる。
以上のように、この発明に係る放射線モニタは、原子力発電所、核燃料再処理施設、核燃料施設、粒子線利用施設、放射性同位元素使用施設などで利用でき、温度に対して高い安定性を有し、かつ信頼性の高い装置を得ることができる。
この発明の実施の形態1に係る放射線モニタの構成図である。 この発明の実施の形態1に係る放射線モニタのゲイン温度係数を示す図である。 この発明の実施の形態2に係る放射線モニタの構成図である。 この発明の実施の形態2に係る放射線モニタのゲイン温度係数を示す図である。 この発明の実施の形態3に係る放射線モニタの構成図である。 この発明の実施の形態4に係る放射線モニタの構成図である。 この発明の実施の形態5に係る放射線モニタの構成を示す図である。
符号の説明
1 プラスチックシンチレーション検出器
11 プラスチックシンチレータ
12 ライトガイド
13 光電子増倍管
14 プリアンプ
15 クッション材
16 検出器ケース
2 試料容器
21 保護筒
3 サンプラ
4 測定部
41 メインアンプ
42 測定回路
43 ゲイン自動制御回路
5 Oリング
6 絶縁体
7 同一温度加熱装置
71 第1のヒータ
72 導入管
73 第2のヒータ
74 第1の温度センサ
75 第2の温度センサ
76 第3の温度センサ
77 第4の温度センサ
78 温度制御器
79 断熱材
8 NaI(Tl)シンチレーション検出器
81 NaI(Tl)シンチレータ
82 光電子増倍管
83 プリアンプ
84 検出器ケース
85 検出器断熱材
9 捕集装置
10 保護筒
20 一定温度加熱装置

Claims (4)

  1. サンプルガスに含まれる気体状放射性核種から放射される放射線を検出する放射線検出器と、上記放射線検出器の放射線入射窓をバウンダリーとし、上記サンプルガスを内包して流す試料容器と、上記放射線検出器と上記試料容器を環境放射線から遮蔽して保持するサンプラと、上記放射線検出器から出力される放射線検出信号を入力して上記サンプルガスに含まれる気体状放射性核種の放射能濃度を測定する測定部と、上記サンプラの温度と上記試料容器に導入される上記サンプルガスの温度とを同じ温度になるように加熱する同一温度加熱手段と、上記放射線検出器に設けられ、上記放射線検出器の固有のゲイン温度特性を相殺する逆温度特性を有するプリアンプと、を備えたことを特徴とする放射線モニタ。
  2. サンプルガスに含まれる粒子状放射性核種または放射性ヨウ素を捕集する捕集装置と、上記捕集装置に捕集された粒子状放射性核種または放射性ヨウ素から放射される放射線を検出する放射線検出器と、上記放射線検出器と上記捕集装置を環境放射線から遮蔽して保持するサンプラと、上記放射線検出器から出力される放射線検出信号を入力して上記サンプルガスに含まれる粒子状放射性核種または放射性ヨウ素の放射能濃度を測定する測定部と、上記サンプラの温度と上記捕集装置に導入される上記サンプルガスの温度とを同じ温度になるように加熱する同一温度加熱手段と、上記放射線検出器に設けられ、上記放射線検出器の固有のゲイン温度特性を相殺する逆温度特性を有するプリアンプと、を備えたことを特徴とする放射線モニタ。
  3. 上記サンプラの温度と上記サンプルガスの温度とを同じ温度になるように加熱する同一温度加熱手段と、上記放射線検出器に設けられ、上記放射線検出器の固有のゲイン温度特性を相殺する逆温度特性を有するプリアンプの代わりに、上記サンプラの温度及び上記サンプルガスの温度を一定温度に加熱する一定温度加熱手段を備えたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の放射線モニタ。
  4. 上記測定部は、上記放射線検出器を構成する材料に含まれる天然のカリウム40から放射される放射線を指標として放射線モニタの総合ゲインを制御し、上記放射線検出器が有する固有のゲイン温度特性を相殺することを特徴とする請求項2または請求項3に記載の放射線モニタ。
JP2008021205A 2008-01-31 2008-01-31 放射線モニタ Active JP4901773B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008021205A JP4901773B2 (ja) 2008-01-31 2008-01-31 放射線モニタ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008021205A JP4901773B2 (ja) 2008-01-31 2008-01-31 放射線モニタ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009180660A JP2009180660A (ja) 2009-08-13
JP4901773B2 true JP4901773B2 (ja) 2012-03-21

Family

ID=41034745

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008021205A Active JP4901773B2 (ja) 2008-01-31 2008-01-31 放射線モニタ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4901773B2 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2556796B1 (en) * 2009-03-26 2015-04-08 Koninklijke Philips N.V. Data acquisition
JP5313855B2 (ja) * 2009-12-18 2013-10-09 三菱電機株式会社 放射性ガスモニタ
JP5421823B2 (ja) * 2010-03-03 2014-02-19 三菱電機株式会社 放射性ガスモニタ
JP2012145563A (ja) * 2010-12-20 2012-08-02 Fujifilm Corp 放射線検出器及びその製造方法と、それを備える放射線画像撮影装置
JP5628111B2 (ja) * 2011-08-11 2014-11-19 株式会社堀場製作所 放射線測定システム、放射線量計固定治具及び放射線測定用容器
JP5847513B2 (ja) * 2011-09-26 2016-01-20 株式会社東芝 放射線検出器の製造方法および放射性ダストモニタの製造方法
JP2013253867A (ja) * 2012-06-07 2013-12-19 Furukawa Co Ltd 放射線検出器、食品用放射線検出器、放射線検出器の製造方法、及び、放射線検出方法
JP6374652B2 (ja) * 2013-11-18 2018-08-15 京都電子工業株式会社 排ガス用放射性物質測定装置
JP6308934B2 (ja) * 2014-12-15 2018-04-11 三菱電機株式会社 放射線測定装置
JP6485090B2 (ja) * 2015-02-10 2019-03-20 富士電機株式会社 放射能測定装置
CN113921151A (zh) * 2021-09-10 2022-01-11 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 一种安全壳卸压排气活度监测信号处理系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5550179A (en) * 1978-10-06 1980-04-11 Oyo Koken Kogyo Kk Scintillation detector
JPS5723874A (en) * 1980-07-18 1982-02-08 Toshiba Corp Detecting apparatus of radiant ray
JPS5730969A (en) * 1980-08-01 1982-02-19 Toshiba Corp Measuring device for radiation
JPS58223775A (ja) * 1982-06-23 1983-12-26 Japan Atom Energy Res Inst シンチレ−シヨン検出器の温度依存性補償回路
JPH07112278B2 (ja) * 1987-09-24 1995-11-29 日本電気株式会社 人物切り抜き画像制御方法
JPH01119787A (ja) * 1987-11-02 1989-05-11 Mitsubishi Electric Corp 放射線検出装置
JP3974505B2 (ja) * 2002-11-19 2007-09-12 三菱電機株式会社 放射線モニタ装置
JP4540301B2 (ja) * 2003-05-20 2010-09-08 三菱電機株式会社 放射線モニタ
JP3863132B2 (ja) * 2003-08-29 2006-12-27 三菱電機株式会社 環境放射線モニタ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009180660A (ja) 2009-08-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4901773B2 (ja) 放射線モニタ
EP2113791B1 (en) Sodium iodide sctinitllator with flat plastic scintillator for Compton suppression
JP4462429B2 (ja) 放射線モニタ
KR101864716B1 (ko) 알파·베타·감마 방사선 검출기능을 갖는 스마트 슬림형 플라스틱 섬광계수기
US9435899B1 (en) Radioactive gas monitoring device
JP6184608B2 (ja) 線量率測定装置
JP4845680B2 (ja) 放射線検出器
JP4838833B2 (ja) 放射性ガスモニタ
KR101750284B1 (ko) Czt 검출기를 이용한 사용후 핵연료 연소도 검증 시스템
JP2012007889A (ja) 放射線モニタ及び放射線モニタのゲイン補償方法
CN204705719U (zh) 一种便携式放射性污染测量仪
Perrey et al. Evaluation of the in-situ performance of neutron detectors based on EJ-426 scintillator screens for spent fuel characterization
JP4601838B2 (ja) 燃焼度評価方法および装置
JP6014388B2 (ja) 放射性漏洩水モニタリングシステム及び放射性漏洩水モニタリング方法
JP6867884B2 (ja) 放射線計測装置
KR102564895B1 (ko) 듀얼 타입 감지모듈이 구비된 이동형 방사선 검출기
RU2075093C1 (ru) Сцинтилляционный блок детектирования
Zhou et al. A CdZnTe-based high-resolution gamma spectrometer for in-situ measurement in the marine environment
JP2009047599A (ja) 放射線検出器
KR101450613B1 (ko) 방사선 검출 장치
Kim et al. Feasibility of underwater radiation detector using a silicon photomultiplier (SiPM)
Lee et al. Comparative study on gamma-ray detectors for in-situ ocean radiation monitoring system
US20230146249A1 (en) Subsurface continuous radioisotope environmental monitor
KR102364555B1 (ko) 수중 삼중수소 및 베타 감마 방사능 오염물질 감시장치
CN219245775U (zh) 一种探测器及燃料棒芯块间隙检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110928

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111004

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111102

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111206

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111227

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4901773

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150113

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250