JP4876656B2 - Icカードの向き検査方法、icカードの向き検査装置及びicカードの向き検査プログラム - Google Patents

Icカードの向き検査方法、icカードの向き検査装置及びicカードの向き検査プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP4876656B2
JP4876656B2 JP2006078373A JP2006078373A JP4876656B2 JP 4876656 B2 JP4876656 B2 JP 4876656B2 JP 2006078373 A JP2006078373 A JP 2006078373A JP 2006078373 A JP2006078373 A JP 2006078373A JP 4876656 B2 JP4876656 B2 JP 4876656B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
card
determination reference
orientation
orientation inspection
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006078373A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007257126A (ja
Inventor
林  謙太
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2006078373A priority Critical patent/JP4876656B2/ja
Publication of JP2007257126A publication Critical patent/JP2007257126A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4876656B2 publication Critical patent/JP4876656B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Credit Cards Or The Like (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

本発明は、ICカードの向きを判定するICカードの向き検査方法、ICカードの向き検査装置及びICカードの向き検査プログラムに関する。
例えば、ICカードの製造工程において、ICカードの外観検査工程や印刷工程にICカードを搬送する際に、ICカードの向きが揃っているかなどを検査する必要がある。このような場合、ICカードの表面に、ICカードの向きを確認するための判定基準部が印刷されている場合には、外観から判定を行なう。また、特許文献1及び2には、磁気カードにおける磁気テープの設置位置に関する情報を取得する磁気カード検査装置が開示されている。
特開昭61−212703号公報 特開昭61−212704号公報
しかし、ICカードに判定基準部等が施されておらず、表面が無地の状態の場合には、外観からICカードの向きを判断することができない。また、ICカードの表面に判定基準部を印刷してしまうと、ICカード表面の絵柄等のデザインに影響してしまうこともある。
さらに、ICカードの向きによって異なる、ICカード内部の構造によって、カード表面に生じる僅かな凹凸を頼りに、人が目視で確認するとなると、検査に多大な負担が生じる。
そこで、本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、ICカード内部に、カードの向きを判定する判定基準部を備えることにより、ICカードの向きを容易に検査することができるICカードの向き検査方法等を提供することを目的する。
上記課題を解決するための請求項1に記載の発明は、撮像されたパターンによってICカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むICカードの向き検査方法であって、前記ICカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ICカードに対して照射する工程と、前記ICカードに対して前記近赤外光を照射する方向とは反対の方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ICカードを撮像する撮像工程と、前記判定基準部のパターンと、前記ICカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ICカードの向きを判定する工程と、を有することを特徴とするICカードの向き検査方法である。
これによれば、ICカードの基材における透過率が、該ICカードの内部に備えた判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を照射して、ICカードを撮像し、撮像された判定基準部のパターンに基づいてICカードの向きを判定するよう構成したので、ICカードの向きを、非接触かつ容易に検査することができる。
上記課題を解決するための請求項2に記載の発明は、撮像されたパターンによってICカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むICカードの向き検査方法であって、前記ICカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ICカードに対して照射する工程と、前記ICカードに対して前記近赤外光を照射する方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ICカードを撮像する撮像工程と、前記判定基準部のパターンと、前記ICカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ICカードの向きを判定する工程と、を有することを特徴とするICカードの向き検査方法である。
これによれば、ICカードの基材における透過率が、該ICカードの内部に備えた判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を照射して、ICカードを撮像し、撮像された判定基準部のパターンに基づいてICカードの向きを判定するよう構成したので、ICカードの向きを、非接触かつ容易に検査することができる。
上記課題を解決するための請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載のICカードの向き検査方法であって、前記近赤外光の波長は、800nm〜950nmであって、前記カメラは、汎用のCCDカメラであることを特徴とするICカードの向き検査方法である。
これによれば、広く普及し、汎用されているCCDカメラを用いてICカード内部の判定基準部を撮像することができ、コストの削減を図ることができる。
上記課題を解決するための請求項4に記載の発明は、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のICカードの向き検査方法であって、前記判定基準部は、銅やアルミ等の金属からなり、前記ICカードの基材は、PET等のプラスチック材料からなることを特徴とするICカードの向き検査方法である。
これによれば、ICカードの基材を、近赤外光の透過率が、判定基準部に比して高い材料で形成したので、ICカードを透過して内部の判定基準部を確実に撮像することができる。
上記課題を解決するための請求項5に記載の発明は、請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載のICカードの向き検査方法であって、前記判定基準部の形状は、前記ICカードの平面に対して、左右非対称、且つ、上下非対称であって、前記判定基準部の位置は、前記ICカードの平面に対して、略平行であることを特徴とするICカードの向き検査方法である。
これによれば、撮像された判定基準部のパターンに基づいてICカードの向きを容易に判定することができる。
上記課題を解決するための請求項6に記載の発明は、請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載のICカードの向き検査方法であって、前記判定基準部は、前記ICカードが機能するために必須の構成部材であることを特徴とするICカードの向き検査方法である。
これによれば、ICカード内に向き検査のためのみに使用される判定基準部を設ける必要がなく、ICカードが機能するために必須の構成部材をそのまま判定基準部として使用することができ、より簡便容易な向き検査方法を提供することができる。
上記課題を解決するための請求項7に記載の発明は、請求項6に記載のICカードの向き検査方法であって、前記判定基準部は、前記ICカードのデータが記憶されたIC部、又は、前記IC部と外部とのデータの授受を行なうアンテナであることを特徴とするICカードの向き検査方法である。
これによれば、ICカード内に向き検査のためのみに使用される判定基準部を設ける必要がなく、ICカードが機能するために必須のIC部又はアンテナをそのまま判定基準部として使用することができ、より簡便容易な向き検査方法を提供することができる。
上記課題を解決するための請求項8に記載の発明は、請求項1乃至請求項7の何れか一項に記載のICカードの向き検査方法であって、前記撮像工程は、前記ICカードが搬送されている際に、前記ICカードを撮像することを特徴とするICカードの向き検査方法である。
これによれば、ICカードを搬送したまま向き検査を行なえるので、一連のICカード製造工程の中に、このICカード検査のための工程を容易に組み込むことができる。
本発明によれば、ICカードの基材における透過率が、該ICカードの内部に備えた判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を照射して、ICカードを撮像し、撮像された判定基準部のパターンに基づいてICカードの向きを判定するよう構成したので、ICカードの向きを、非接触かつ容易に検査することができる。
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
<ICカードの構成>
まず、図1を参照して、本実施形態の向き(表裏、天地)の検査対象となるICカードについて詳細に説明する。なお、本発明の検査対象となるICカードは、一般に流通し汎用されているICカードであるが、本発明の向き検査対象として最も適したICカードの構成について説明する。
図1は、本実施形態のICカードの説明図であって、基材上にアンテナ及びIC部を形成した状態を示す平面図である。
同図に示すように、ICカード100は、基材101上に、IC部(本実施形態では判定基準部102として使用)にデータを送出したり、ICタグの情報を読み取るリーダにデータを送出するアンテナ103と、判定基準部102を形成して構成されている。
基材101は、ICカード自体を成形するもので、近赤外光の透過率が、判定基準部102の透過率に比して高い性質を有する材料から成り、例えば、PET(PolyEthyleneTerephtalate)等のプラスチック材料によって形成される。なお、基材101は、近赤外光の透過率が、判定基準部102の透過率に比して高い性質を有する材料にて形成すればプラスチック材料でなくともよい。特に、基材101は、後に詳述するICカードの撮像時に照射する800nm〜950nmの光の透過率が数%〜数十%程度である材料で形成されればより好ましい。
判定基準部102は、ICカードの向きを判定するためのもので、ICカード100の平面に対して、左右非対称、且つ、上下非対称な形状を成す。また、ICカード100平面に対して略平行に形成することが好ましい。判定基準部102は、近赤外光の透過率が、基材101の透過率に比して低い性質を有する材料から成り、例えば、銅やアルミ等の金属によって形成される。なお、判定基準部102は、近赤外光の透過率が、基材101の透過率に比して低い性質を有する材料にて形成すれば金属でなくともよい。特に、判定基準部102は、後に詳述するICカードの撮像時に照射する800nm〜950nmの光の透過率が略0%である材料で形成されることがより好ましい。本実施形態では、判定基準部102として、ICカードを識別するための固有の識別情報等各種データが記憶されているIC部を用いる。
そして、基材101と同材料同形状からなる図示しない基材が、当該判定基準部102及びアンテナ103上に積層されてICカード100が成形される。従って、ICカード100の外観から判定基準部102を視認することはできない。
ICカード100のその他の構成は、通常の構成であればよく、ここでの説明は省略する。
図2(A)は、基材101を形成する材料の一例としてのPETの透過特性スペクトルであり、図2(B)は、PETを基材101として用いたICカード100の透過特性スペクトルである。
ICカード100は、PETを基材101として用いて形成した後に、カードの表面や裏面に文字、図形、記号、番号、絵柄等の様々な情報を印刷するために、PET基材に顔料を混ぜたり、着書したフィルムを基材間に挟んで積層されるので、透過率が、図2(A)のPETの透過特性スペクトルと比して全波長帯域に渡り小さくなる(図2(B)参照)。しかし、近赤外域の透過率はその他の波長帯域の透過率に比べて高い。本発明は、この近赤外域の光をICカード100に照射して撮像する。
<向き検査装置の構成及び機能>
次に、図3乃至図5を参照して本実施形態にかかる、ICカードの向きを検査する向き検査装置の構成及び機能を説明する。
図3は、本実施形態にかかる向き検査装置1の概要構成例を示すブロック図である。
図3に示すように、向き検査装置1は、カード載置作業部2、近赤外光照明部3、CCDカメラ4及び動作処理部5を備えて構成されている。
カード載置作業部2は、ICカード100を、ICカードカートから1枚ずつ順に吸着、搬送し、搬送路に載置させるためのものであり、動作処理部5の制御部51によって、外部機器接続部53を介して制御される。搬送路に載置されたICカード100は、その後、図3中矢印で示す方向(右方向)に搬送され、CCDカメラ4の撮像領域へと搬送され、撮像が行なわれた後に、図示しない外観検査、通信検査又は印刷等、種々のICカードの作成/検査工程へと運ばれる。
近赤外光照明部3は、ICカード100に光を照射するためのものであり、動作処理部5の制御部51により、外部機器接続部53を介して制御される。そして、図4に示す如く、光の照射方向とは反対の方向から、CCDカメラ4にて当該ICカード100が撮像されることになる。図3及び4に示す例では、近赤外光照明部3は、ICカード100の下方に設置され、CCDカメラ4は、ICカード100の上方に設置されている。近赤外光照明部3より照射される光は、近赤外域の波長を有する近赤外光であり、好ましくは800nm〜950nmの波長を有する。
CCDカメラ4は、ICカード100を撮像する。より具体的に説明すると、CCDカメラ4は、近赤外域に感度を有し、近赤外光照明部3から照射され、ICカード100を透過してきた光を撮像する。そして、撮像された画像は検査画像データとして動作処理部5内に入力されるようになっている。なお、図4中、CCDカメラ4の撮像領域を点線で示す。
CCDカメラ4は、通常汎用されているものを用いることができる。CCDカメラ4の一例として、図5に、汎用のCCDカメラの分光感度スペクトルを示す。図5(A)は、東芝Teli製 CS3970CLのCCDカメラの分光感度スペクトルであり、図5(B)は、東芝Teli製 CS3960DCLのCCDカメラの分光感度スペクトルである。図5(A)(B)両スペクトルからわかるように、汎用のCCDカメラは、近赤外域に感度を有していることから、本発明のカメラとして用いることができ、より安価に向き検査装置を構成することができる。なお、レンズ前面に赤外カットフィルタが装着されたCCDカメラを用いる場合には、当該フィルタを取り外して用いる。
動作処理部5は、図3に示すように、コンピュータとしてのCPU等から構成された制御部51と、各種データ等を記憶保存(格納)するための記憶部52と、カード載置作業部2、近赤外光照明部3、CCDカメラ4と接続される外部機器接続部53と、向き検査装置1の検査状況や検査結果等を表示してオペレータに提示するための表示部54と、ネットワークを通じて他のコンピュータとの間の情報の通信制御を行うための通信部55と、オペレータからの指示を受け付け当該指示に応じた指示信号を制御部51に対して与える操作入力部(例えば、キーボード、マウス等)56と、を備えて構成され、これらの構成要素はバス57を介して相互に接続されている。
外部機器接続部53は、カード載置作業部2、近赤外光照明部3、CCDカメラ4に対して各種操作信号を出力する。また、外部機器接続部53は、CCDカメラ4によって撮像されたICカード100の検査画像データを、画像処理に適した形式で動作処理部5内に取り込む。
記憶部52は、例えば、ハードディスク装置、磁気ディスク装置、光磁気ディスク装置等の周知の記憶装置から構成されており、図6に示すようなICカード向き判定テーブルを記憶して本発明における記憶手段として機能する。ICカード向き判定テーブルは、検査対象のICカードを様々な向きで撮像し、撮像された画像から得られた判定基準部102のパターンと、ICカードの向きとを対応付けて記憶しているものである。ICカードの向きは、正常、表裏反転、天地反転、表裏天地反転について記憶している。
制御部51は、演算機能を有するCPU(Central Processing Unit)、各種プログラム(ICカードの向き検査プログラムを含む)及びデータを記憶するROM(Read Only Memory)、及び作業用メモリとしてのRAM(Random Access Memory)等を含んで構成されており、動作処理部5における構成要素全体を制御するものである。また、制御部51は、ICカードの向き検査プログラムを実行することにより、他の構成部材と協動して、本発明の照射手段、撮像手段及び判定手段として機能するようになっている。
<向き検査処理>
次に、図7のフローチャートを用いて、向き検査装置1におけるICカードの向き検査処理について説明する。
図7は、向き検査装置1におけるICカードの向き検査処理を示すフローチャートであり、動作処理部5の制御部51の制御に基づいて実行され、外部機器接続部53を介してカード載置作業部2に対して、ICカード100の吸着・載置が指示されることにより、開始される。
先ず、制御部51及び近赤外光照明部3が照射手段として機能し、近赤外光照明部3は光の照射を(図3、4において上向きに)開始する(ステップS1)。なお、検査処理が実行されている間、常に光を照射し続けるものとする。近赤外光照明部3の光の照射パワー等が、照射開始から所定時間経過しなければ安定しないような場合には、所定時間が経過後、光の照射パワーが安定した後に以下のステップS2に移行する。
次に、カード載置作業部2にて搬送路上に載置されたICカード100が、搬送路によって搬送され、CCDカメラ4の撮像領域内(図4点線参照。)に入ると、制御部51及びCCDカメラ4が撮像手段として機能し、CCDカメラ4がICカード100を撮像する(ステップS2)。撮像された検査画像データは、外部機器接続部53を介して動作処理部5内に取り込まれる。ICカード100が、CCDカメラ4の撮像領域内に入ったことを検知して、搬送路はICカードの搬送を一旦停止して撮像を行なってもよく、CCDカメラ4をラインセンサCCDを用いることにより、搬送しながら撮像を行なってもよい。なお、ICカード100を搬送しながら撮像する場合、近赤外光照明部3は、一枚のICカード100について撮像が完了するまで、一定の光量で照射することが望ましい。
CCDカメラ4の撮像領域内に入ったことを検知する手法は、例えば、CCDカメラ4の撮像領域の手前に光電センサー等を設置し、センサーがICカード100を感知してから、ICカード100が搬送され、CCDカメラ4の撮像領域内に入るまでの時間を予め計測しておき、計測された時間でタイミングを合わせて、搬送路を停止させたり、ICカード100を停止させるためのストッパー(図示せず)を動作させたりする。
そして、制御部51は判定手段として機能し、記憶部52のICカード向き判定テーブル(図6)を参照して、撮像された画像における判定基準部102のパターンに基づいて、ICカード100の向きを判定する(ステップS3)。具体的には、制御部53がパターンマッチングを行なうことにより、ICカード向き判定テーブルに記憶された判定基準部102のパターンのうち、撮像されたICカード100の画像における判定基準部102のパターンと、同一のパターンに対応付けられたICカードの向きを、撮像された(検査対象の)ICカード100の向きとして判定する。
例えば、撮像されたICカード100の画像が、図8(A)の場合には、ICカード100の向きは、表裏反転状態、図8(B)の場合には、天地反転状態、図8(C)の場合には、表裏天地反転状態、そして、図8(D)の場合には、正常の状態であるとして判定する。
そして、表示部54に判定結果を表示して(ステップS4)、処理を終了する。
以上説明した向き検査装置1によれば、ICカード100の基材における透過率が、該ICカード100の内部に備えた判定基準部102における透過率に比して高い近赤外光を照射して、CCDカメラ4にてICカード100を撮像し、判定基準部102のパターンに基づいてICカード100の向きを判定するよう構成したので、ICカード100の向きを、非接触かつ容易に検査することができる。
また、近赤外光を照明光として用いたので、広く普及し、汎用されているCCDカメラ4を用いてICカード100内部の判定基準部102を撮像することができ、コストの削減を図ることができる。
さらに、判定基準部102として、ICカードのデータが記憶されたIC部を用いたので、ICカード内に向き検査のためのみに使用される判定基準部を設ける必要がなく、ICカードが機能するために必須の構成部材をそのまま判定基準部として使用することができ、より簡便容易な向き検査装置1を提供することができる。
なお、上述した実施形態では、判定基準部102として、IC部を用いたが、本発明はこれに限定されず、近赤外光の透過率が基材101に比して低い材料で構成された部材であればよい。一例として、アンテナを判定基準部として用いてもいい。その場合、図9(A)に示すように、アンテナを左右非対称かつ上下非対称に形成する。ICカード平面に対して略平行に形成することが好ましい。また、図9(B)に示すように、全体として左右非対称上下非対称の形状となる文字列を、近赤外光の透過率が基材101に比して低い金属等で形成し、判定基準部102として用いることもできる。
また、上述した実施形態では、光の照射方向とは反対の方向から、ICカード100を撮像したが、これに限定されず、図10に示すように、光を照射する方向に近赤外光照明部3を設け、光を照射する方向から、光の反射光を捉えてICカード100を撮像するよう構成してもよい。この場合、近赤外光照明部3は、CCDカメラ4の撮像の邪魔にならないよう、リング形状等である必要がある。そして、撮像された画像は、基材101では近赤外光を透過し、判定基準部102では近赤外光を反射するので、判定基準部102は明るく、その他の箇所(判定基準部102の無い基材101だけの部分)は暗くなる。具体的には、図11に示す如く、上述した実施形態において取得された図8に示す撮像画像を、白黒反転させた画像が得られる。
また、上述した実施形態では、ICカードの表裏・天地反転の向きを判定する場合について説明したが、これに限定されず、ICカードの回転ずれの判定も可能である。この場合、撮像された画像における判定基準部102のパターンについて、予め記憶部52に記憶されている正常の状態の判定基準部102のパターンに対する回転ずれを画像処理により求めることで、ずれ角度を求めることができる。
基材上にアンテナ及びIC部を形成した状態を示すICカード100の平面図である。 (A)は、PETの透過特性スペクトルであり、(B)は、PETを基材101として用いたICカード100の透過特性スペクトルである。 本実施形態にかかる向き検査装置1の概要構成例を示すブロック図である。 本実施形態にかかる向き検査装置1の要部拡大図である。 CCDカメラの分光感度スペクトルの一例である。 記憶部52に記憶されたICカード向き判定テーブルの説明図である。 向き検査装置1におけるICカードの向き検査処理を示すフローチャートである。 撮像されたICカード100の画像の一例である。 判定基準部102の変形例である。 他の実施形態にかかる向き検査装置1の要部拡大図である。 他の実施形態にかかる撮像されたICカード100の画像の一例である。
符号の説明
1…向き検査装置
2…カード載置作業部
3…近赤外光照明部
4…CCDカメラ
5…動作処理部
51…制御部
52…記憶部
53…外部機器接続部
54…表示部
55…通信部
56…操作入力部
57…バス
100…ICカード
101…基材
102…判定基準部
103…アンテナ

Claims (17)

  1. 撮像されたパターンによってICカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むICカードの向き検査方法であって、
    前記ICカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ICカードに対して照射する工程と、
    前記ICカードに対して前記近赤外光を照射する方向とは反対の方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ICカードを撮像する撮像工程と、
    前記判定基準部のパターンと、前記ICカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ICカードの向きを判定する工程と、
    を有することを特徴とするICカードの向き検査方法。
  2. 撮像されたパターンによってICカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むICカードの向き検査方法であって、
    前記ICカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ICカードに対して照射する工程と、
    前記ICカードに対して前記近赤外光を照射する方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ICカードを撮像する撮像工程と、
    前記判定基準部のパターンと、前記ICカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ICカードの向きを判定する工程と、
    を有することを特徴とするICカードの向き検査方法。
  3. 請求項1又は2に記載のICカードの向き検査方法であって、
    前記近赤外光の波長は、800nm〜950nmであって、
    前記カメラは、汎用のCCDカメラであることを特徴とするICカードの向き検査方法。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のICカードの向き検査方法であって、
    前記判定基準部は、銅やアルミ等の金属からなり、
    前記ICカードの基材は、PET等のプラスチック材料からなることを特徴とするICカードの向き検査方法。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載のICカードの向き検査方法であって、
    前記判定基準部の形状は、前記ICカードの平面に対して、左右非対称、且つ、上下非対称であって、前記判定基準部の位置は、前記ICカードの平面に対して、略平行であることを特徴とするICカードの向き検査方法。
  6. 請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載のICカードの向き検査方法であって、
    前記判定基準部は、前記ICカードが機能するために必須の構成部材であることを特徴とするICカードの向き検査方法。
  7. 請求項6に記載のICカードの向き検査方法であって、
    前記判定基準部は、前記ICカードのデータが記憶されたIC部、又は、前記IC部と外部とのデータの授受を行なうアンテナであることを特徴とするICカードの向き検査方法。
  8. 請求項1乃至請求項7の何れか一項に記載のICカードの向き検査方法であって、
    前記撮像工程は、前記ICカードが搬送されている際に、前記ICカードを撮像することを特徴とするICカードの向き検査方法。
  9. 撮像されたパターンによってICカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むICカードの向き検査装置であって、
    前記ICカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ICカードに対して照射する照射手段と、
    前記ICカードに対して前記近赤外光を照射する方向とは反対の方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ICカードを撮像する撮像手段と、
    前記判定基準部のパターンと、前記ICカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ICカードの向きを判定する判定手段と、
    を有することを特徴とするICカードの向き検査装置。
  10. 撮像されたパターンによってICカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むICカードの向き検査装置であって、
    前記ICカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ICカードに対して照射する照射手段と、
    前記ICカードに対して前記近赤外光を照射する方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ICカードを撮像する撮像手段と、
    前記判定基準部のパターンと、前記ICカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ICカードの向きを判定する判定手段と、
    を有することを特徴とするICカードの向き検査装置。
  11. 請求項9又は10に記載のICカードの向き検査装置であって、
    前記近赤外光の波長は、800nm〜950nmであって、
    前記カメラは、汎用のCCDカメラであることを特徴とするICカードの向き検査装置。
  12. 請求項9乃至請求項11のいずれか一項に記載のICカードの向き検査装置であって、
    前記判定基準部は、銅やアルミ等の金属からなり、
    前記ICカードの基材は、PET等のプラスチック材料からなることを特徴とするICカードの向き検査装置。
  13. 請求項9乃至請求項12の何れか一項に記載のICカードの向き検査装置であって、
    前記判定基準部の形状は、前記ICカードの平面に対して、左右非対称、且つ、上下非対称であって、前記判定基準部の位置は、前記ICカードの平面に対して、略平行であることを特徴とするICカードの向き検査装置。
  14. 請求項9乃至請求項13のいずれか一項に記載のICカードの向き検査装置であって、
    前記判定基準部は、前記ICカードが機能するために必須の構成部材であることを特徴とするICカードの向き検査装置。
  15. 請求項14に記載のICカードの向き検査装置であって、
    前記判定基準部は、前記ICカードのデータが記憶されたIC部、又は、前記IC部と外部とのデータの授受を行なうアンテナであることを特徴とするICカードの向き検査装置。
  16. 請求項9乃至請求項15の何れか一項に記載のICカードの向き検査装置であって、
    前記撮像工程は、前記ICカードが搬送されている際に、前記ICカードを撮像することを特徴とするICカードの向き検査装置。
  17. コンピュータを、請求項9乃至請求項16の何れか一項に記載のICカードの向き検査装置として機能させることを特徴とするICカードの向き検査プログラム。
JP2006078373A 2006-03-22 2006-03-22 Icカードの向き検査方法、icカードの向き検査装置及びicカードの向き検査プログラム Expired - Fee Related JP4876656B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006078373A JP4876656B2 (ja) 2006-03-22 2006-03-22 Icカードの向き検査方法、icカードの向き検査装置及びicカードの向き検査プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006078373A JP4876656B2 (ja) 2006-03-22 2006-03-22 Icカードの向き検査方法、icカードの向き検査装置及びicカードの向き検査プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007257126A JP2007257126A (ja) 2007-10-04
JP4876656B2 true JP4876656B2 (ja) 2012-02-15

Family

ID=38631343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006078373A Expired - Fee Related JP4876656B2 (ja) 2006-03-22 2006-03-22 Icカードの向き検査方法、icカードの向き検査装置及びicカードの向き検査プログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4876656B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5205154B2 (ja) * 2008-07-10 2013-06-05 株式会社日立メディアエレクトロニクス 生体認証装置及び生体認証方法
EP2562692B1 (en) * 2011-08-25 2013-10-09 Textilma Ag RFID chip module

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3024239B2 (ja) * 1991-03-30 2000-03-21 凸版印刷株式会社 情報記録媒体及び情報読み取り方法
JPH1063806A (ja) * 1996-08-19 1998-03-06 Tokin Corp Icカード及びicカードの識別装置
JP2002109483A (ja) * 2000-09-29 2002-04-12 Tamura Electric Works Ltd Icカードの位置検出方法およびicカード
JP2002175507A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報カード及びその検出装置
JP4004933B2 (ja) * 2002-11-27 2007-11-07 トッパン・フォームズ株式会社 真贋判定用シート並びに真贋判定用シートの真贋判定方法および真贋判定システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007257126A (ja) 2007-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9047526B2 (en) Reading device
CN116250004A (zh) 诊断测试试剂盒及其分析方法
JP4909691B2 (ja) 電子部品の実装状態検査方法、電子部品の実装状態検査装置及び電子機器の製造方法
JP2014038045A (ja) 検査装置、照明、検査方法、プログラム及び基板の製造方法
JP2009293999A (ja) 木材欠陥検出装置
JP2012073822A (ja) 帳票読取装置
JP4910128B2 (ja) 対象物表面の欠陥検査方法
JP4876656B2 (ja) Icカードの向き検査方法、icカードの向き検査装置及びicカードの向き検査プログラム
JP2013040895A (ja) バーコード外観検査システム、バーコード外観検査方法
JP4304690B2 (ja) テープ部材の検査装置
JP2007271507A (ja) 欠陥検出方法、欠陥検出装置、及び欠陥検出プログラム
JP4471401B1 (ja) 帳票読取り装置および帳票検出方法
JP3397170B2 (ja) 情報コードの記録位置検知装置及び光学情報読取装置
JP2008265169A (ja) カードおよびカード情報読み取り方法
JP6587210B2 (ja) 印刷装置およびプログラム
JP2010058974A (ja) 物品管理装置および物品管理方法
WO2014191028A1 (en) Bar code reading device and detection method
JP4729363B2 (ja) 写真辺検出装置、idカード作成装置、写真辺検出方法及びidカード作成方法
JP2002216070A (ja) バーコード検査装置
JP2021168357A (ja) 平面基板の乗り上げ検知システム
WO2023276118A1 (ja) Ptp管理システム
JP2004028729A (ja) カードのサインパネル検査方法
JP3665495B2 (ja) クリーム半田印刷機用検査装置及び方法及び該検査装置を有する印刷機
JP3700522B2 (ja) 二次元コード読取システム及び二次元コード読取方法
KR200336984Y1 (ko) 표면 및 형상 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081212

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111019

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111101

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111114

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4876656

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141209

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees