JP4869608B2 - 超音波探傷装置 - Google Patents
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Description
また、発信装置としてLED等の光源を利用し、これをCCDカメラ等で観察して位置を特定する方法が提案されている(例えば、特許文献2参照。)。
従って、図23に示すように、配管100の表面100Aに反射した射出光によって光源103の虚像105が発生してしまい、受光センサ104がこれを位置データとして取り込んでしまう場合がある。この場合、超音波探傷部102の正確な位置を把握することが困難となる。
本発明に係る超音波探傷装置は、光が反射しやすい被検体の表面でも前記被検体に配された検査対象物を非破壊的に検査できる超音波探傷装置であって、超音波を発して前記被検体の表面上を移動する超音波探傷部と、該超音波探傷部の前記検査対象物に対する位置を特定する位置計測部と、を備え、該位置計測部は、前記被検体及び前記超音波探傷部の何れか一方に配された光源と、前記被検体及び前記超音波探傷部の何れか他方に配されて前記光源から射出した光を検知する受光子と、前記光源から前記受光子へ向かう光路上に配され、前記被検体表面の反射光を規制する調整部と、を備え、前記受光子は、前記光の光量を検出する光量検出センサを備え、前記調整部は、前記光源から射出された光の放射角及び放射方向のうち少なくとも一つを変更し、前記光を、前記被検体の表面に到達する前に、前記被検体の表面へ向かう光が除去された光束に変換し、前記光束の仰角を、前記光束が前記被検体の表面から離れる方へ向き前記光量検出センサにおいて検出される前記光量が検出限界以下となる第一の仰角に設定し、前記光束の仰角が前記第一の仰角に設定された後、前記光束の放射方向を、前記被検体の表面に近づく方へと漸次変動させ、前記光量検出センサにおいて所定以上の前記光量が検出されたときに前記放射方向の変動を停止させることを特徴とする。
また、光源からの射出光が放射光の場合には、被検体の表面から受光子までの光路上に調整部を配することによって、被検体の表面に反射した光が受光子に入射するのを規制することができ、被検体の表面に生じた光源の虚像を受光子が受光するのを抑えることができる。
また、本発明の超音波探傷装置は、前記超音波探傷装置であって、前記調整部が、前記一対の遮蔽部を前記光源からの射出光の進行方向に対して直交する方向に移動させる駆動機構を備えていることを特徴とする。
この超音波探傷装置は、光源又は受光子と被検体の表面との距離や視野に応じて一対の遮蔽部を独立に駆動して、開口部の被検体の表面からの高さと開口幅とを好適に変更することができ、光源から受光子に向かう光束のうち、光源から検査対象物に向かう光束又は被検体の表面から受光子に向かう光束を遮蔽することができる。
この超音波探傷装置は、光源と受光子と被検体の表面との相対位置に応じて射出光の光束の放射角度を変更することができ、光源から受光子へ到達する光量を変えることなく、光源からの射出光が被検体の表面へ向かうのを好適に抑えることができる。
また、本発明の超音波探傷装置は、前記超音波探傷装置であって、前記光学系は、前記光源からの光をビーム光に変換するビーム光生成レンズと、前記ビーム光生成レンズを透過した前記ビーム光をスリット光に変換するシリンドリカルレンズと、前記光源および前記シリンドリカルレンズに対して前記ビーム光生成レンズを相対移動させる移動機構と、を備えていることを特徴とする。
この超音波探傷装置は、反射部によって光源からの射出光の光路を変更することができ、光源と受光子と被検体の表面との相対位置に応じて射出光が被検体の表面へ向かうのを好適に抑えることができる。
また、本発明の超音波探傷装置は、前記超音波探傷装置であって、前記調整部は、前記放射方向の変動を停止させたあと、前記光束の放射角を、前記光源から発せられた光束の6割以上が前記受光子に入射する放射角に設定することを特徴とする。
また、本発明の超音波探傷装置は、前記超音波探傷装置であって、前記受光子は、前記光源からの射出光をライン光に変換するシリンドリカルレンズを有することを特徴とする。
また、本発明の超音波探傷装置は、前記超音波探傷装置であって、前記調整部は前記光源側に配置され、前記受光子には、前記被検体表面の反射光を規制する第二調整部が設けられ、前記調整部と前記第二調整部とは同期させて制御されることを特徴とする。
本実施形態に係る超音波探傷装置1は、図1に示すように、光が反射しやすい配管(被検体)2に配された溶接線(検査対象物)3を非破壊的に検査する超音波探傷装置であって、超音波を発して配管2上を移動する超音波探傷部4と、超音波探傷部4の配管2に対する位置を特定する位置計測部5と、超音波探傷部4及び位置計測部5と電気的に接続されて超音波の送受信、波形や画像を表示する探傷器6とを備えている。
位置計測部5は、図1及び図2に示すように、超音波探傷部4と接続された発光用筐体7及びこの発光用筐体7内に配されて放射光を射出するLED等の光源8を有する発光ユニット10と、配管2に配される受光用筐体11及びこの受光用筐体11に配されて光源8からの射出光を検知する1次元の位置検出素子(受光子)12を有する受光ユニット13と、光源8から位置検出素子12へ向かう光路上に配されて、光源8から射出された光束の放射角及び放射方向を変更して配管2の表面2Aの反射光を規制する調整部15と、位置検出素子12の計測データに基づき超音波探傷部4の位置等を算出する位置計測制御部16とを備えている。
なお、説明の都合上、光源8に対して射出光の進行方向に沿う方向を前方向、その反対方向を後方向とする。また、配管2の表面2Aの法線方向に沿って表面2Aから遠ざける方向を上方向、表面2Aに近づける方向を下方向とする。
受光ユニット13は、図1に示す配管2の表面2Aの溶接線3に沿って、図4に示すように、配管2の周方向に複数連接して配されている。各受光ユニット13は、図2及び図5に示すように、受光ユニット13の移動に伴う光源8からの射出光をライン光に変換するシリンドリカルレンズ33と、図6に示すように、配管2の表面2Aに沿って並ぶ二つの位置検出素子12と、その間に配された光量検出センサ35とを備えている。
探傷開始に伴い、発光ユニット10の光源8を点灯し、発光ユニット10とともに超音波を発信させながら超音波探傷部4を溶接線3に対して所定の範囲内で遠近移動する。
同時に、一対の遮蔽部18、20のそれぞれの駆動機構21を駆動する。
その後、配管2近位側の下側の遮蔽部20をさらに光源8に近づけて、例えば、光帯幅の6割程度が位置検出素子12を覆うように光束36の放射角Rを大きくして、図8に示すように、光束36の光帯幅を太くする。
このような光束36の制御を計測中常に行うことによって取得したデータに基づき、公知の方法によって溶接線3に対する超音波探傷部4の位置を算出する。
なお、上述した第1の実施形態と同様の構成要素には同一符号を付すとともに説明を省略する。
第2の実施形態と第1の実施形態との異なる点は、図9に示すように、本実施形態に係る超音波探傷装置40の調整部41が、一対の遮蔽部18、20の代わりに、光源45の放射角度を変更する光学系42を備えているとした点である。
光学系42は、図9及び図10に示すように、発光ユニット43に配され、光源45の前方に配されるビーム光生成レンズ46と、そのさらに前方に配されるシリンドリカルレンズ47と、ビーム光生成レンズ46を光源45とシリンドリカルレンズ47とに対して前後方向、かつ、上下方向に移動させる移動機構48とを備えている。
また、発光ユニット43からの射出光の光束36の仰角R1、R2を変更する際には、第二支持部51に配されたコイル53に通電して第二支持部51をスライドピン52に沿って発光用筐体56に対して、図14に示すように、ビーム光生成レンズ46を上下方向に移動する。
探傷開始に伴い、発光ユニット43の光源45を点灯し、発光ユニット43とともに超音波を発信させながら超音波探傷部を溶接線に対して所定の範囲内で遠近移動する。
同時に、調整部41を駆動して射出光の光束36を調整する。
位置検出素子12への照射手順については、第1の実施形態と同様の手順にて行う。
なお、上述した他の実施形態と同様の構成要素には同一符号を付すとともに説明を省略する。
第3の実施形態と第2の実施形態との異なる点は、本実施形態に係る超音波探傷装置60の調整部61が、移動機構48の代わりに光源45の放射方向を変更する反射部62を備えているとした点である。
反射部62は、光源45からの射出光を反射するミラー部67と、光源45のミラー部67からの反射角rを調整する角度変更機構68とを備えている。
ミラー部67の発光用筐体71に対する角度を変える際には、永久磁石70A、70Bと電磁石72との間に反発する方向の磁界を発生させ、この反発力の大きさを調整して角度変更させる。
探傷開始に伴い、発光ユニット63の光源45を点灯し、発光ユニット63とともに超音波を発信させながら超音波探傷部を溶接線に対して所定の範囲内で遠近移動する。
同時に、発光ユニット63の調整部61を駆動して射出光の光束36を調整する。
この超音波探傷装置60によれば、反射部62によって光源45からの射出光に係る光束36の放射方向を変更することができ、光源45、位置検出素子12、配管表面のそれぞれの相対位置に応じて射出光が配管表面へ向かうのを好適に抑えることができる。
例えば、上記実施形態では、発光ユニットを超音波探傷部に配して移動可能としているが、図17に示すように、受光ユニット13が超音波探傷部に配されて移動可能とされ、発光ユニット10が配管2に複数固定されたものとしても構わない。この場合、図17に破線で示す受光範囲A内で、上記実施形態と同様に発光ユニット10からの射出光を検出することができる。
この場合、受光ユニット75に係る調整部15も発光ユニット10側の調整部15と同期させて制御されることによって、射出光が配管2の表面2Aに達してしまって配管2の表面2Aに反射する光があったとしても、受光ユニット75側で配管2の表面2Aからの反射光の光束36を遮蔽して配管2の表面2Aに生じた光源8の虚像を位置検出素子12が受光するのを抑えることができる。
2 配管(被検体)
3 溶接線(検査対象物)
4 超音波探傷部
5 位置計測部
8、45 光源
12 位置検出素子(受光子)
15、41、61、82、90 調整部
17 開口部
18、20、76、77、86、87 遮蔽部
21、85、88 駆動機構
25 モータ(駆動源)
42 光学系
62 反射部
Claims (11)
- 光が反射しやすい被検体の表面でも前記被検体に配された検査対象物を非破壊的に検査できる超音波探傷装置であって、
超音波を発して前記被検体の表面上を移動する超音波探傷部と、
該超音波探傷部の前記検査対象物に対する位置を特定する位置計測部と、
を備え、
該位置計測部は、
前記被検体及び前記超音波探傷部の何れか一方に配された光源と、
前記被検体及び前記超音波探傷部の何れか他方に配されて前記光源から射出した光を検知する受光子と、
前記光源から前記受光子へ向かう光路上に配され、前記被検体表面の反射光を規制する調整部と、
を備え、
前記受光子は、前記光の光量を検出する光量検出センサを備え、
前記調整部は、前記光源から射出された光の放射角及び放射方向のうち少なくとも一つを変更し、前記光を、前記被検体の表面に到達する前に、前記被検体の表面へ向かう光が除去された光束に変換し、前記光束の仰角を、前記光束が前記被検体の表面から離れる方へ向き前記光量検出センサにおいて検出される前記光量が検出限界以下となる第一の仰角に設定し、前記光束の仰角が前記第一の仰角に設定された後、前記光束の放射方向を、前記被検体の表面に近づく方へと漸次変動させ、前記光量検出センサにおいて所定以上の前記光量が検出されたときに前記放射方向の変動を停止させる
ことを特徴とする超音波探傷装置。 - 前記調整部が、間に開口部を形成して互いに対向して配され、前記開口部の大きさを変化させる一対の遮蔽部を備えている請求項1に記載の超音波探傷装置。
- 前記調整部が、前記一対の遮蔽部を前記光源からの射出光の進行方向に対して前後移動させる駆動機構を備えていることを特徴とする請求項2に記載の超音波探傷装置。
- 前記調整部が、前記一対の遮蔽部を前記光源からの射出光の進行方向に沿って直交する方向に移動させる駆動機構を備えていることを特徴とする請求項2に記載の超音波探傷装置。
- 前記駆動機構が、前記一対の遮蔽部のそれぞれを独立に駆動させる複数の駆動源を備えていることを特徴とする請求項3又は4に記載の超音波探傷装置。
- 前記調整部が、前記光源の放射角度を変更する光学系を備えていることを特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。
- 前記光学系は、
前記光源からの光をビーム光に変換するビーム光生成レンズと、
前記ビーム光生成レンズを透過した前記ビーム光をスリット光に変換するシリンドリカルレンズと、
前記光源および前記シリンドリカルレンズに対して前記ビーム光生成レンズを相対移動させる移動機構と、
を備えていることを特徴とする請求項6に記載の超音波探傷装置。 - 前記調整部が、前記光源の放射方向を変更する反射部を備えていることを特徴とする請求項6に記載の超音波探傷装置。
- 前記調整部は、前記放射方向の変動を停止させたあと、前記光束の放射角を、前記光源から発せられた光束の6割以上が前記受光子に入射する放射角に設定することを特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。
- 前記受光子は、前記光源からの射出光をライン光に変換するシリンドリカルレンズを有することを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載の超音波探傷装置。
- 前記調整部は前記光源側に配置され、
前記受光子には、前記被検体表面の反射光を規制する第二調整部が設けられ、
前記調整部と前記第二調整部とは同期させて制御される
ことを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の超音波探傷装置。
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