JP4869219B2 - 陰影測定による制御の方法と装置 - Google Patents
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Description
モニタリングは、観察対象の部品の位置確認を目的として機械加工に先行して実行することができるか、又は、例えば溶接ビードの形状の観点から、治具の正しい位置及び動作の精度を確認するために、加工中に実行することができる。
別の技術では、モニタリング対象のシーンの個別照明を採用せず、溶融バスによって生成される光を使用してシーンの画像を認識する。この技術は明らかに溶接法に制限される。結果の精度は、部品の性質及び方法のパラメータの性質によって変化し、また比較的安定した状態に維持されなければならない。観察条件の選択には細心の注意を必要とすることが多く、場合によっては良好な結果を得ることが不可能である。これらの公知の技術のいずれにおいても、欠点は、溶融バス、特に本方法によって生じるプラズマ(又は炎)、或いは熱源によって高温になる治具によって生成される、非常に大きな強度の光である。熱源の例としては、TIG(タングステン不活性ガス)溶接法に用いられる電極の先端、MIG(金属不活性ガス)溶接法、MAG(金属活性ガス)溶接法に用いられる溶融ワイヤ又はロッドの端部、或いは被覆電極、並びに保護ガスを送入する赤く焼けたセラミックノズルの端部を挙げることができる。
陰影測定の基本原理は、1985年1月「Welding Journal」に掲載された「A method of filming metal transfer in welding arcs」と題するドイツ国論文に記載されている。
モニタリング装置の一般的な構造は、支持体、光源、及び光源の光を受ける受光器を備えており、一方の端部に光源が、他方の端部に受光器が装着されたアームと、アームを支持体に取り付ける調整可能なダブルジョイントとを更に備え、このダブルジョイントが、互いに、及び光源と受光器との間の主光路にほぼ直交する2つの回転軸を含むことを特徴とする。この構造は、起伏表面のモニタリング動作を容易にする機能を有することが分かる。
アームは、観察対象のシーンのために空間を形成できるように、両端部の間で屈曲させることができ、光源及び受光器には、光を直角に反射し、更には互いに平行に、且つ主光路に直交するように配置される直角反射体を設けることができ、これによって装置を小型化できる。装置に対して行なうことができる別の種類の改良では、単色光を使用する場合、受光器が、当該光を透過するが他の光波長は透過しないフィルタと、集光レンズと、当該レンズによって形成される光焦点に配置されるピンホールとを含む。また、帯域通過フィルタ及び特殊フィルタの両方が設けられる。これによる共通の利点は、例えば溶融バスによって生成される周囲光の影響を無くすことができることである。
重要な用途は、位置合わせしたチューブの、特に起伏を有する円形接合部に関し、これらのチューブは第1回転軸に平行である。多くの場合、これらのチューブは装置の前方で回転することができ、アームは、少なくとも第1回転軸を中心とした双方向の回転を行なって、起伏の底部を正確に追跡する。しかしながら、装置は固定チューブを中心に回転することもできる。
図1に示す装置は、端と端を接合させた2つのチューブ2及び3が形成する円形接続部1をモニタリングすることを目的としている。接続部1は、いずれかの溶接法を用いる治具4により溶接される。本明細書に関連するモニタリング装置は、発光器5、及びこの光を受ける受光器6を備えており、これら発光器と受光器は、チューブ2及び3の上を通過する屈曲アーム8の両端に支持されて、チューブ2及び3の接線とほぼ一致し、接続部1の領域を照明する主光路7上に位置合わせされており、この接続部1の領域に対して治具4が動作する。アーム8は、詳細には示されない溶接設備10に取り付けられた支持部材9によって支持されており、その軸11を中心に回転可能にチューブ2及び3を互いに接した状態に保持する手段も含む。この手段についてはこれ以上説明しない。治具4は、剛性接続支持体12によって支持部材9に接続されており、アーム8は、チューブ2及び3の軸11に平行なy軸を有する第1ジョイント13と、接続部1の方に向かうz軸を有する第2ジョイント14とからなるダブルジョイントを介して支持部材9に接続されている。これらジョイントの軸は共に、主光路7のx方向に直交するか、又はほぼ直交する。従って、第1ジョイント13を回転させることにより、接続部1上の主光路7の傾きが変化し、第2ジョイント14を回転させることにより、接続部1の平面に対する主光路7の角度が変化する。ジョイント13及び14の運動は、これらのジョイントに含まれるモータ15及び16によって制御される。これらのモータを使用してこれらのジョイントを所望の位置に固定することもできる。制御は観察者が行なうことができるか、又は例えばスキャンを使用する場合は自動的に行なうことができる。
図4は、本明細書に記載の用途において見られる接続部の構造を示しており、この構造は、チューブ2及び3の水平母線32及び33、接続部1の水平母線34、及びテーパ状面取りエッジの傾斜母線35及び36により構成されている。測定しようとするパラメータは、接続部1の高さによる、水平母線32、33、及び34の間の垂直距離、又は母線35と36との間の水平距離、つまり接続部1の深さ、又は幅である。接続部構造の認識は、モニタリング装置の向き、特に光学系の向きに大きく依存する。このように、チューブの軸に平行な平面とテーパ状面取りエッジとの交差部分は双曲線39となる。図4に示すように、これらの面取りエッジ間の距離は、観察光線の向きによって異なる幅Lとして認識され、この最大距離LO(測定対象となる軸方向の距離に相当する)は、観察方向が円錐体の軸に直交する場合に観察される。このため、第2ジョイント14の周りでシステムの往復運動を少なくとも周期的に生じさせることにより、照準方向の調整及び再調整を行う。
Claims (8)
- 支持部材(9)に取り付けられた溶接治具(4)によって溶接が行われる溶接部位に光を照射し、該溶接部位を通過した光を受光することによって該溶接部位の陰影測定によるモニタリングを行うモニタリング装置であって、
前記溶接部位に光を照射する発光器(5)と、
当該発光器(5)からの光を受ける受光器(6)と、
一方の端部に発光器(5)を、他方の端部に受光器(6)を有するアーム(8)と、
当該アーム(8)を支持部材(9)に取り付ける調整可能なダブルジョイント(13、14)であって、発光器(5)と受光器(6)との間の主光路(x)に直交する2つの回転軸(y、z)を有するダブルジョイント(13、14)と、を有することを特徴とするモニタリング装置。 - アーム(8)がその両端部の間で屈曲していることを特徴とする、請求項1に記載のモニタリング装置。
- 発光器(5)及び受光器(6)が、
光を直角反射する直角反射体(20、21、26、27)を有していており、
発光器(5)の光源から発光される光の光路と受光器(6)の検出器(31)が受光する光の光路とが、互いに平行である、ことを特徴とする、請求項1または2に記載のモニタリング装置。 - 発光器(5)から発光される光が単色光であり、
受光器(6)が、
前記光を透過し、他の光波長を透過しないフィルタ(30)と、
集光レンズ(25)と、
集光レンズ(25)によって形成される光焦点に配置されるピンホール(28)とを備えることを特徴とする、請求項1ないし3のいずれか一項に記載のモニタリング装置。 - 発光器(5)が発光ダイオードであることを特徴とする、請求項1ないし4のいずれか一項に記載のモニタリング装置。
- 請求項1ないし5のいずれか一項に記載の装置によって実行されるシーンモニタリング方法であって、
主光路(x)がモニタリング対象のシーンの接線に一致するように前記装置を配置し、前記ダブルジョイントを調整してアームの向きを調整することを特徴とする、モニタリング方法。 - 第1回転軸(y)に平行に配置され、且つ位置合わせされたチューブ(2、3)の、特に起伏を有する円形接合部(1)に適用されることを特徴とする、請求項6記載のモニタリング方法。
- チューブ(2、3)が回転可能であり、少なくとも第1回転軸(y)を中心として、アームを周期的に双方向に回転させることを特徴とする、請求項7記載のモニタリング方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0450331A FR2866708B1 (fr) | 2004-02-23 | 2004-02-23 | Procede et dispositif de controle par ombroscopie |
FR0450331 | 2004-02-23 | ||
PCT/FR2005/050107 WO2005085814A1 (fr) | 2004-02-23 | 2005-02-21 | Procede et dispositif de controle par ombroscopie |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007523353A JP2007523353A (ja) | 2007-08-16 |
JP4869219B2 true JP4869219B2 (ja) | 2012-02-08 |
Family
ID=34834227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007500270A Expired - Fee Related JP4869219B2 (ja) | 2004-02-23 | 2005-02-21 | 陰影測定による制御の方法と装置 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8138446B2 (ja) |
EP (1) | EP1718957B1 (ja) |
JP (1) | JP4869219B2 (ja) |
AT (1) | ATE363656T1 (ja) |
DE (1) | DE602005001271T2 (ja) |
ES (1) | ES2287910T3 (ja) |
FR (1) | FR2866708B1 (ja) |
RU (1) | RU2358259C2 (ja) |
WO (1) | WO2005085814A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2444651C2 (ru) * | 2010-01-28 | 2012-03-10 | Общество с ограниченной ответственностью "СБМ-ГРУПП" | Способ изготовления соединительного элемента |
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- 2004-02-23 FR FR0450331A patent/FR2866708B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-02-21 US US10/589,797 patent/US8138446B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-02-21 AT AT05728068T patent/ATE363656T1/de not_active IP Right Cessation
- 2005-02-21 EP EP05728068A patent/EP1718957B1/fr not_active Not-in-force
- 2005-02-21 DE DE602005001271T patent/DE602005001271T2/de active Active
- 2005-02-21 WO PCT/FR2005/050107 patent/WO2005085814A1/fr active Application Filing
- 2005-02-21 RU RU2006133937/28A patent/RU2358259C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2005-02-21 JP JP2007500270A patent/JP4869219B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-02-21 ES ES05728068T patent/ES2287910T3/es active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2006133937A (ru) | 2008-03-27 |
ATE363656T1 (de) | 2007-06-15 |
US20080283510A1 (en) | 2008-11-20 |
FR2866708B1 (fr) | 2006-03-24 |
US8138446B2 (en) | 2012-03-20 |
JP2007523353A (ja) | 2007-08-16 |
EP1718957B1 (fr) | 2007-05-30 |
DE602005001271D1 (de) | 2007-07-12 |
RU2358259C2 (ru) | 2009-06-10 |
EP1718957A1 (fr) | 2006-11-08 |
FR2866708A1 (fr) | 2005-08-26 |
DE602005001271T2 (de) | 2008-01-31 |
WO2005085814A1 (fr) | 2005-09-15 |
ES2287910T3 (es) | 2007-12-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080207 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100824 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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