JP4867373B2 - ウェハホルダ及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
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まず、積層すべきウェハをウェハホルダ上に保持し、ウェハ上のアライメントマークとホルダ上の基準アライメントマークの位置関係を測定する。次いで、それぞれのホルダに保持されたウェハを対面させ、ホルダ上の基準アライメントマーク位置を測定する。得られた2つのホルダ上の基準アライメントマーク位置を基にしてそれぞれのウェハの位置関係を求めれば、積層すべき2つのウェハの位置合わせが可能になる。
本願発明の手段はウェハホルダであって、
ホルダ基板と、
該基板に形成された、貫通孔からなるマーク部と、
該マーク部に取りつけられた基準アライメントマークと、
を有し、
該基準アライメントマークのマークパターンが、
セラミック材を基材として射出形成法又は機械加工により形成された貫通パタ−ン、
シリコンウェハを基材として表面上に形成された金属のパタ−ン、
シリコンメンブレンを基材としてエッチングにより形成された貫通パタ−ン、
のいずれかである、ウェハホルダである。
本願発明の本手段によれば、
セラミックを用いた場合においても、射出成型法又は機械加工によりマークパタ−ンが形成されているので、エッチングにより形成した場合に生じるマーク面のポアの発生が大幅に低減され、マークパターンの形成及び観察に悪影響を与えない。また、貫通マークなので両面からの観察が容易である。
マークパターンの第1の構成例としては、図1(e)のように、マーク基材155にセラミックスを用い、貫通したマークパターン165をマーク基材成形時に形成したものである。また、成形後に機械的に貫通パターンを形成してもよい。マーク基材155の厚さは、強度と加工精度、加工容易性より、一例として200μから400μが好ましい。またマーク自体の大きさ、形状に関しては、観察用の顕微鏡の視野を考慮に入れて設計され、先のようにマーク部の内径5mmを考慮すると、直径(又は正方形の一辺)は16mm程度が好ましい。ホルダ210の材質とマーク基材151の材質との関連は熱膨張率がほぼ等しいものが好ましく、例えばホルダ210を炭化シリコン又は窒化アルミで作り、マーク基材155にも同材料を用いることが好ましい。アライメントマーク基材155をホルダのマーク部141に取りつける方法としては、接着材により接着する方法と機械的な力、例えば板バネにより押圧する方法がある。図1(g)には、取りつけ部183に固定された板バネ181によりマーク基材155をウェハホルダ210に押圧して固定した状態が示されている。
マーク部141はウェハホルダ210を貫通する貫通孔の形態をとり、貫通孔の形状は円柱状、角柱状、または円錐状のいずれであってもよい。この貫通孔に要求される仕様としては、マークパターン161の観察光を遮らないことである。図2を参照して説明を加える。基準アライメントマークは対物レンズ511により両面から観察されるマークパターン161を有している。図2に示されたように、マーク部141を介さずに観察する場合(図中ではマークパターン161を上からレンズ系511により観察する場合)には、問題なくマークパターン161を観察することが出来る。しかし、マーク部141を介して観察する場合(図中ではマークパターン161を下からレンズ系511により観察する場合)には、条件によってはマーク部141の下端部521が結像に寄与する光束の一部を遮断してしまうことがある。例えば、破線で示された対物レンズ513に入射する光束541の一部がマーク部141の下端部521により遮断されると、マークパターンを高分解能で結像させることが出来なくなる。このようなことが起こらないようにするためには、マーク部141の下端部521の半径RがR>t・tanθを満足する必要がある。ここに、tはウェハホルダ210の厚さであり、θは観察顕微鏡の開口数を示すsinθである。一例として、ウェハホルダの厚さを13mmとし、開口数を0.35とするとR=5mm程度が好ましい。記すまでもないが、マーク部141は図2(b)に示されたようなテーパ面を有する形状にすると、アライメントマーク基材151の安定保持が容易になる。
図4は本願発明を適用する、積層型3次元半導体装置の製造方法をフローチャートに示したもので、製造方法はS1,S2,S3,S4,S5の工程からなっている。各工程を簡単に説明する。
S1:複数の半導体装置が形成されたウェハを所定の枚数だけ準備する、ウェハ準備工程、
図5(a)を参照する。通常の半導体露光装置を用いてマスク上の回路パターンをレジストが塗布されたウェハ上に縮小投影し、レジストを現像した後にエッチングや不純物の熱拡散処理を行って回路素子513が形成されたウェハ511を得る。
S2:積層するウェハ間の位置関係を測定する、アライメント工程
本工程は既に図3を用いて先に説明したので、省略する。尚、アライメントはウェハと既に積層されたウェハ(ウェハ積層体)との位置関係を求める場合もある。即ち、一方のウェハは、複数のウェハが重ね合わされて形成された、場合によっては研削等によって薄層化された、ウェハ積層形態であることもある。このことは以後の工程に関しても同様である。
S3:位置関係が測定されたウェハを重ね合わせる、ウェハ重ね合わせ工程、
ウェハがウェハホルダに保持され(図5(b))、近接された2つのウェハの位置合わせが完了すると、不図示のウェハ上下移動機構により2つのウェハは図5(c)の様に重ね合わされる。接触後、重ね合わされた位置関係を維持するためにホルダどうしを機械的に(例えばクランプ機構)仮固定、または接合力の弱い接着材により仮固定することが行われる。仮固定されたホルダ及びウェハ積層体321はロボットアーム415によりアライメント・重ね合わせ実施部411から電極接合実施部413に搬送される。(図5(d))。
S4:重ね合わされたウェハ上の接続電極どうしを接合する、電極接合工程、
位置合わせされ、仮固定されたウェハ積層体は加圧・加熱装置装着される。上部加圧子551と下部加圧子553とウェハ積層体561との平行度調整を行い、これが完了すると2つの加圧子551,553によりウェハ積層体561が加圧される。同時に定められたシークエンスに従って、ホルダに内蔵されたヒータ541,543による加熱が行われる。所定の圧力を所定の時間加えることによりウェハ上の電極(金属バンプとパッド、金属バンプと金属バンプ)が接合される。この時、場合によっては、ウェハ間に樹脂を封入して加熱することもある。(図5(e))。
S5:所定の枚数積層されたウェハから個々の半導体装置を分離する、ダイシング工程
ウェハレベルで積層接合されたウェハをダイシングラインに従って切断し、チップとして分離する。例えば、図5(f)の破線に従って切断する。切断は通常、ダイシングブレードを用いて切断するダイシングソー方式、レーザ光線によりウェハ表面を溶融させて割る方式、ダイヤモンドカッタにより切断ラインを引いて割る方法が採られている。しかしながら、ウェハ積層体をチップに分離する方式としてはダイシングソー方式が好ましい。
161,163,165,167 ・・・ マークパターン
211,213,511 ・・・ 積層するウェハ
210,212,521 ・・・ ウェハホルダ
222,224,523 ・・・ ウェハ上のアライメントマーク
231,233,525 ・・・ 基準アライメントマーク
230 ・・・ 顕微鏡
561 ・・・ ウェハ積層体
541,543 ・・・ ヒータ
551,553 ・・・ 加圧子
Claims (7)
- ウェハホルダであって、
ホルダ基板と、
該基板に形成された、貫通孔からなるマーク部と、
前記ホルダ基板とは別個に形成され、該マーク部に取り付けられた基準アライメントマークと、
を有し、
該基準アライメントマークのマークパターンが、シリコンを基材としてエッチングにより形成されたパターンであり、
前記基準アライメントマークの前記基材の熱膨張率が前記ホルダ基板の材料の熱膨張率と等しいことを特徴とするウェハホルダ。 - 請求項1に記載されたウェハホルダであって、
前記貫通孔はその大きさが基準アライメントマークを観察する光束を遮らないようになされている、
ことを特徴とするウェハホルダ。 - 前記貫通孔はテーパ面を有する請求項2に記載のウェハホルダ。
- 前記ホルダ基板はセラミックにより形成される請求項1から3のいずれか1項に記載のウェハホルダ。
- 前記セラミックは、炭化シリコンまたは窒化アルミである請求項4に記載のウェハホルダ。
- 複数の半導体装置が形成されたウェハを積層して3次元半導体装置を製造する方法であって、
複数の半導体装置が形成されたウェハを所定の枚数だけ準備する、ウェハ準備工程、
積層するウェハ間の位置関係を測定する、アライメント工程、
位置関係が測定されたウェハを重ね合わせる、ウェハ重ね合わせ工程、
重ね合わされたウェハ上の接続電極どうしを接合する、電極接合工程、
所定の枚数積層されたウェハから個々の半導体装置を分離する、ダイシング工程を有し、
前記アライメント工程において、請求項1から5のいずれかに記載されたウェハホルダを使用することを特徴とする積層3次元半導体装置の製造方法。 - 前記電極接合工程において、前記ウェハは前記ウェハホルダに保持された状態で加熱される請求項6に記載の半導体装置の製造方法。
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