JP4849953B2 - 樹脂成形金型 - Google Patents

樹脂成形金型 Download PDF

Info

Publication number
JP4849953B2
JP4849953B2 JP2006130913A JP2006130913A JP4849953B2 JP 4849953 B2 JP4849953 B2 JP 4849953B2 JP 2006130913 A JP2006130913 A JP 2006130913A JP 2006130913 A JP2006130913 A JP 2006130913A JP 4849953 B2 JP4849953 B2 JP 4849953B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
positioning
product
holding
resin molding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006130913A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007301777A (ja
Inventor
雄一 田村
栄二 渡辺
幸史 西尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2006130913A priority Critical patent/JP4849953B2/ja
Publication of JP2007301777A publication Critical patent/JP2007301777A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4849953B2 publication Critical patent/JP4849953B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)

Description

本発明は樹脂成形金型に関し、半導体装置に使用するリードフレームに樹脂パッケージをインサート成形する技術に係るものである。
従来、半導体素子を内包した半導体装置、例えばダイオード、トランジスタ、集積回路、発光ダイオードなどは、金属板材からなるリードフレームに半導体素子を搭載し、樹脂成形金型による樹脂成形によって半導体素子を樹脂封止している。樹脂成形金型による樹脂成形は複数の半導体素子を搭載したリードフレームの全体に対して、または一部に対して行なっている。
詳細に述べると、樹脂成形工程では、まず複数のリード部が形成されたリードフレームを樹脂成形金型の下型上に載置した後、下型に上型を重ねて型締めする。次いで熱可塑性、もしくは熱硬化性の合成樹脂を注入し、金型内に樹脂を充填させた後に型を開いてリードフレームを取り出している。
従来の樹脂成形金型には、樹脂成形金型に挿入したリードフレームが、樹脂注入時の樹脂注入圧力を受けて定位置からずれ動くことを阻止し、樹脂バリが発生することを防止するものがある。これには例えば特許文献1に記載するものがある。
図5〜図7は特許文献1に記載された従来の樹脂成形金型を示すものである。図5〜図7において、樹脂成形金型はリードフレーム40に樹脂成形を施す下型44および上型48からなる。下型44および上型48はそれぞれキャビティブロック41を挟んでその両側にコネクタブロック42、タイバーブロック43を組合せたブロックビルド式のものである。
下型44のタイバーブロックは固定ブロック45とその外側に配した可動式のフレーム押えブロック46とに分割しており、フレーム押えブロック46はリードフレーム40の外周端面に当てがうものである。
また、フレーム押えブロック46には当該ブロックを後退位置に付勢する復帰ばね47、および上型48のタイバーブロック43に設けたカム部43aに当接して従動するカム部46aを設けている。
この構成による樹脂成形方法では、図5に示すように、まず樹脂成形金型を開いて、下型44にリードフレーム40をセットする。このリードフレーム40をセットする際に、フレーム押さえブロック46は復帰ばね47に付勢されて後退位置に退避しているので、図7(a)に示すように、その位置決めに多少のズレがあってもリードフレーム40とタイバーブロック43との干渉、および図中に破線囲みCとして示すようにリードフレーム40とキャビティブロック41との干渉を回避できる。
次に、下型44および上型48を型締めすると、下型44のタイバーブロック43のフレーム押さえブロック46に形成したカム部46aに、上型48のタイバーブロック43に形成したカム部43aとが当接する。
このカム部46aとカム部43aの当接により、図7(b)に示すように、フレーム押さえブロック46を復帰ばね47に抗して固定ブロック45の側へ向けて押し出し、フレーム押えブロック46がリードフレーム40を押し出す。
そして、リードフレーム40の所定部位がキャビティブロック41の溝50に対応するように、フレーム押えブロック46によりリードフレーム40を所定位置に保持し、リードフレーム40が樹脂注入圧力でずれ動くことを防止する。
次に、この状態で溶融樹脂をキャビティブロック41に注入し、リードフレーム40の半導体素子を樹脂封止して樹脂パッケージを形成する。
他の先行技術としては特許文献2に記載するものがある。
特開2004−103823号公報 特開平9−76300号公報
しかしながら、上記の従来の構成において、リードフレーム40を下型44の上に載置し、カム機構を備えたタイバーブロック43でリードフレーム40の位置精度を確保しようとしても、キャビティブロック41とリードフレーム40のリード部40a(完成した半導体装置のリード)との相対的な位置合わせがパイロット孔51を基準に行なわれるので、リード部40aをキャビティ41の溝部50に対して正確に挿入セットすること自体が非常に困難である。
さらに、リード部40aと、キャビティ41の一側壁をなすコネクタブロック42に形成したキャビティ溝部42aは、リード幅と溝幅とのギャップを極力無くした状態に、それぞれ形成・加工しているので、キャビティ溝部42aへリード部40aを挿入してセットすると、リード部40aとキャビティ溝部42aが擦れ合い、圧痕や擦れ傷が発生し、そこから樹脂バリが発生するという課題を有していた。
また、キャビティ溝部42aへリード部40aを挿入してセットし、カム機構を備えたタイバーブロック43でリードフレーム40の位置精度を確保する際にも、フレーム押えブロック46による押圧力に対して使用可能なリードフレーム40の厚みに制限が生じるので、薄型のリードフレーム、または、小型半導体装置用リードフレームに関してはリードフレーム自体に変形が生じる恐れがある。さらに、カム機構を備えた複数のブロックで形成された樹脂成形金型はメンテナンス性が非常に煩雑になるという課題を有していた。
本発明は、従来の課題を解決するものであり、リードフレームと樹脂成形金型との擦れ合いに起因する圧痕や擦れ傷が発生せず、圧痕や擦れ傷を原因として半導体装置に樹脂バリが発生することのない樹脂成形金型を提供することを目的とする。
上記の課題を解決するために、本発明の樹脂成形金型は、下型の上にリードフレームを配置し、前記下型に上型を型締めして前記リードフレームに樹脂成形する樹脂成形金型において、前記下型が前記リードフレームに形成した製品用リード部を受容保持する製品用リード保持部と、前記リードフレームに形成した位置決め用リード部を前記下型の所定位置に受容保持する位置決め用リード保持部を有し、前記製品用リード保持部および前記位置決め用リード保持部がそれぞれリード部を受容する溝部と、前記溝部の両側に配置する突起部を有し、前記位置決め用リード保持部の突起部を前記製品用リード保持部の突起部より高く設定したことを特徴とする。
また、前記製品用リード保持部および前記位置決め用リード保持部がそれぞれリード部を相対向するガイド面間のリード受け面に受容保持し、前記位置決め用リード保持部においてガイド面と前記位置決め用リードの間に位置決め用ギャップを設け、前記製品用リード保持部においてガイド面と前記製品用リードの間に干渉防止用ギャップを設け、前記位置決め用ギャップを前記干渉防止用ギャップよりも狭く設定したことを特徴とする。
また、前記製品用リード保持部および前記位置決め用リード保持部がそれぞれリード部を相対向するガイド面間のリード受け面に受容保持し、前記位置決め用リード保持部におけるリード受け面幅と前記位置決め用リードのリード幅との差値を、前記製品用リード保持部におけるリード受け面幅と前記製品用リードのリード幅との差値よりも小さく設定したことを特徴とする。
また、前記位置決め用リード部保持部においてガイド面とリード受け面とのなす角度を、前記製品用リード保持部においてガイド面とリード受け面とのなす角度よりも狭い角度に設定したことを特徴とする。
以上のように、本発明の樹脂成形金型によれば、樹脂成形工程において、リードフレームを下型の上に載置するのに際し、位置決め用リード保持部が位置決め用リード部を下型の所定位置に受容保持することで、製品用リード部を受容保持する製品用リード保持部では、製品用リード部の位置決めのための構成を必要とせずに、キャビティに対して製品用リード部を高精度に位置決めできる。
また、製品用リード保持部は製品用リード部の位置決めのための構成を必要としないので、製品用リード部に対して余裕のある構造とすることができ、製品用リード部と下型との接触による擦れを発生させることなく製品用リード部を受容保持することができる。
したがって、位置決め用リード保持部が位置決め用リード部を下型の所定位置に受容保持することで、樹脂注入圧力でリードフレームがズレ動くことを阻止でき、最悪の事態として位置決め用リード保持部で位置決め用リード部に擦れが発生しても、製品用リード保持部で製品用リード部に擦れが発生することはなく、その結果、製品用リード部に擦れ傷や擦れ傷を原因とする樹脂バリが発生せず、高精度な樹脂成形が可能となる。
また、樹脂成形金型を製作するに際して、従来のように複数のブロック、さらにはカム機構を備えたブロックを準備する必要がないので、メンテナンス性が向上し、コスト削減の効果も奏される。
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。図1(a)に示すように、リードフレーム10は、パイロット孔11、製品用リード部12、位置決め用リード部13、位置決め孔14を形成している。
図1(b)はキャビティブロック20の上面図、図1(c)は図1(b)のX−X´断面図であり、図2(a)は図1(b)のA’の拡大図、図2(b)は図1(c)のB’の拡大図である。
図1(b)および図1(c)において、キャビティブロック20は樹脂成形金型の下型に備えられるものであり、樹脂成形金型はリードフレーム10を下型の上に挿入セットし、下型に上型を型締めしてリードフレーム10に樹脂成形するものである。
下型の一部をなすキャビティブロック20は、主面20aの上にガイドブロック20bおよびキャビティ凸部15を形成してなり、ガイドブロック20bがリードフレーム10とキャビティブロック20とを長手方向(図中のX−X’に沿ったX方向)で位置決めし、キャビティ凸部15がリードフレーム10とキャビティブロック20とを短手方向(X方向と直交するY方向)で位置決めする。
ガイドブロック20bはキャビティブロック20の主面20aの上に、リードフレーム10に形成した製品用リード部12を受容保持する製品用リード保持部28と、リードフレーム10に形成した位置決め用リード部13を受容保持する位置決め用リード保持部29を形成し、位置決め用リード保持部29が位置決め用リード部13を受容保持することでリードフレーム10が下型の所定位置に位置決めされる。
製品用リード保持部28は製品用リード部12を受容する溝部21と溝部21の両側に配置するガイド突起部22からなり、双方のガイド突起部22のそれぞれに形成したガイド面22aが相対向し、ガイド面22aの間に溝部21の底面をなすリード受け面を形成している。
位置決め用リード保持部29は位置決め用リード部13を受容する溝部23と溝部23の両側に配置するガイド突起部24からなり、双方のガイド突起部24のそれぞれに形成したガイド面24aが相対向し、ガイド面24aの間に溝部23の底面をなすリード受け面を形成している。
位置決め用リード保持部29のガイド突起部24の高さtは、製品用リード保持部28のガイド突起部22の高さt1より高く設定してある。
図2(b)に示すように、位置決め用リード保持部29においてリード受け面をなす溝部23の底面幅(W+β)と位置決め用リード13のリード幅Wとの差値βは、製品用リード保持部28においてリード受け面をなす溝部21の底面幅(W+α)と製品用リード部12のリード幅Wとの差値αよりも小さく設定している。
換言すると、製品用リード保持部28における差値αは位置決め用リード保持部29における差値βよりも広く設定している。
また、位置決め用リード部保持部29においてガイド面24aとリード受け面をなす溝部23の底面とのなす角度θは、製品用リード保持部28においてガイド面22aとリード受け面をなす溝部21の底面とのなす角度θ1よりも狭い角度に設定している。
したがって、図3に示すように、上型と下型の界面(パーティングライン)26上において、位置決め用リード保持部29のガイド面24aの相互間の距離(W+E)は、製品用リード保持部28のガイド面22aの相互間の(W+E1)より狭くなる。
つまり、位置決め用リード保持部29においてガイド面24aと位置決め用リード13の間の隙間(1/2)Eは位置決め用ギャップをなし、製品用リード保持部28においてガイド面22aと製品用リード部12の間の隙間(1/2)E1は干渉防止用ギャップをなし、位置決め用ギャップを干渉防止用ギャップよりも狭く設定している。
以下、上記した構成における作用を説明する。図4は樹脂成形工程をなすインジェクションモールド工程において、樹脂成形金型のキャビティブロック20にリードフレーム10を挿入セットする際の工程フローを示した状態図である。
まず、図4(a)、(b)に示すように、リードフレーム10に設けたパイロット孔11にパイロットピン31を挿入し、パイロットピン31でパイロット孔11をガイドすることで、リードフレーム10が降下していく。
次いで、図4(c)に示すように、位置決め用リード保持部29のガイド突起部24の高さtが、製品用リード保持部28のガイド突起部22の高さt1より高く設定してあるので、製品用リード部12がガイド突起部22に接触するよりも前に、位置決め用リード部13がガイド突起部24に接触して、位置決め用リード保持部29のガイド機構が先に機能する。
また、位置決め用リード保持部29のガイド突起部24のガイド面24aの傾斜角θが、製品用リード保持部28のガイド突起部22のガイド面22aの傾斜角θ1と比較して狭くなっており、位置決め用リード保持部29においてガイド面24aと位置決め用リード部13の間の隙間(1/2)Eをなす位置決め用ギャップが、製品用リード保持部28においてガイド面22aと製品用リード部12の間の隙間(1/2)E1をなす干渉防止用ギャップよりも狭くなっている。
このため、リードフレーム10がキャビティブロック20へ向けて下降する際に、製品形状に寄与しない位置決め用リード部13がガイド突起部24のガイド面24aに接触しても、製品用リード部12がガイド突起部22に接触することがない。つまり、位置決め用リード13がガイド突起部24のガイド面24aにガイドされながら溝部23に達する間に、製品用リード部12がガイド突起部22のガイド面22aに接触することなく溝部21に達し、最悪の事態として位置決め用リード保持部29で位置決め用リード部13に擦れが発生しても、製品用リード保持部28で製品用リード部12に擦れが発生することはない。
したがって、図4(d)に示すように、樹脂成形工程において、リードフレーム10を下型のキャビティブロック20の上に載置するのに際し、位置決め用リード保持部29が位置決め用リード部13を下型の所定位置に受容保持することで、製品用リード部12を受容保持する製品用リード保持部28では、製品用リード部12の位置決めのための構成を必要とせずに、キャビティに対して製品用リード部12を高精度に位置決めできる。
また、製品用リード保持部28は製品用リード部12の位置決めのための構成を必要としないので、製品用リード保持部28の溝部21における製品用リード部12との差値αは位置決め用リード保持部29における位置決め用リード部13との差値βよりも広く設定して製品用リード部12に対して余裕のある構造とすることができ、製品用リード部12と下型との接触による擦れを発生させることなく製品用リード部12を受容保持することができる。
そして、図4(e)に示すように、パイロットピン31によるパイロット孔11のガイドおよび位置決め用リード保持部29による製品形状に寄与しない位置決め用リード部13のガイドによって2段階式にリードフレーム10を高精度に位置決めし、製品用リード部12がガイド突起部22に擦れることがない状態にリードフレーム10をキャビティブロック20に挿入セットした状態において、上型に備えられたキャビティブロック25を降下させて型締めし、射出成形を行う。
この射出成形において、樹脂成形金型のキャビティブロック20、25の間に挿入セットされたリードフレーム10は、位置決め用リード保持部29が製品に寄与しない位置決め用リード部13を溝部23において高精度な位置決めを行って受容保持することで、樹脂注入圧力でリードフレーム10がズレ動くことを阻止でき、製品用リード部12に擦れ傷や圧痕が発生することもなく、擦れ傷や擦れ傷を原因とする樹脂バリが発生せず、高精度な樹脂成形が可能となる。
尚、本実施の形態では、位置決め用リード保持部29が位置決め用リード部13を受容保持することで、キャビティブロック20に対してリードフレーム10をその長手方向(X方向)において位置決めするとともに、図4(e)に示す状態において、リードフレーム10に形成した位置決め孔14がキャビティ凸部15に嵌合することで、キャビティブロック20に対してリードフレーム10をその短手方向(Y方向)において位置決めしている。
また、キャビティブロック20に対してリードフレーム10をそのX方向およびY方向に位置決めすることは、位置決め孔14でX方向およびY方向を同時に位置決めして行なうことも可能である。
また、本実施の形態では説明を簡易に行うため、位置決め用リード部13と製品用リード部12の幅をWとして同一寸法で示したが、位置決め用リード部13と製品用リード部12の幅は異なる寸法でも良いことは当然のことであり、パーディングライン26において、左右のガイド突起部24の間における距離と位置決め用リード部13のリード幅とのギャップEが、左右のガイド突起部22の間における距離と製品用リード部12のリード幅とのギャップE1より狭くなるようキャビティブロック20を形成すれば良い。
また、従来のようにカム機構を備えた複数のブロックにキャビティを分割する必要もなく、樹脂成形金型を製品形状に加工する際に、溝部21、23も同一工程で加工できるので、金型材料費・金型加工費等のコスト削減が可能となる。
また、従来において樹脂バリを除去するために必要とされていたサンドブラスト、ウォータージェット或いはエアジェット等による樹脂バリの除去工程が不要となり、半導体装置の製造工程数を減少させて生産効率を向上させる効果も奏される。
本発明によれば、リードフレームを下型の上に載置する際に、製品用リード部と金型の溝部との擦れを発生させることなく、キャビティに対してリードフレームのX方向およびY方向の位置精度を同時に保障することができ、樹脂注入時の成形圧力でリードフレームがズレ動くことを阻止できるので、製品用リード部に樹脂バリが発生しない高精度な樹脂付きリードフレームの形成に利用できる。
本発明の実施の形態を示すものであり、(a)はリードフレームの上面図、(b)は樹脂成形金型の平面図、(c)は(b)におけるX−X’断面図 (a)は図1(b)におけるA’部の拡大図、(b)は図1(c)におけるB’部の拡大図 図1(c)におけるB’部の拡大図 本発明の樹脂成形金型のキャビティブロックにリードフレームを挿入セットする工程フローを示す状態図 従来の製造方法に用いる樹脂成形金型の型開き状態を表す略示構成図 従来の製造方法に用いる樹脂成形金型の下型及び、挿入セットするリードフレームの外形斜視図 従来の製造方法に用いる樹脂成形金型の動作を説明するものであり、(a)はリードフレームを挿入セットした金型の型開き状態を示す平面図、(b)は型締めの状態を示す平面図
符号の説明
10、40 リードフレーム
11 パイロット孔
12 製品用リード部
13 位置決め用リード部
14 位置決め孔
15 キャビティ凸部
20 キャビティブロック(下型)
20a 主面
20b ガイドブロック
21、23 溝部
22、24 ガイド突起部
25 キャビティブロック(上型)
26 パーティングライン
28 製品用リード保持部
29 位置決め用リード保持部
31 パイロットピン
41 キャビティブロック
42 コネクタブロック
43 タイバーブロック
43a、46a カム部
44 下型
45 固定ブロック
46 フレーム押さえブロック
47 復帰ばね
48 上型

Claims (4)

  1. 下型の上にリードフレームを配置し、前記下型に上型を型締めして前記リードフレームに樹脂成形する樹脂成形金型において、前記下型が前記リードフレームに形成した製品用リード部を受容保持する製品用リード保持部と、前記リードフレームに形成した位置決め用リード部を前記下型の所定位置に受容保持する位置決め用リード保持部を有し、
    前記製品用リード保持部および前記位置決め用リード保持部がそれぞれリード部を受容する溝部と、前記溝部の両側に配置する突起部を有し、前記位置決め用リード保持部の突起部を前記製品用リード保持部の突起部より高く設定したことを特徴とする樹脂成形金型。
  2. 前記製品用リード保持部および前記位置決め用リード保持部がそれぞれリード部を相対向するガイド面間のリード受け面に受容保持し、前記位置決め用リード保持部においてガイド面と前記位置決め用リードの間に位置決め用ギャップを設け、前記製品用リード保持部においてガイド面と前記製品用リードの間に干渉防止用ギャップを設け、前記位置決め用ギャップを前記干渉防止用ギャップよりも狭く設定したことを特徴とする請求項1に記載の樹脂成形金型。
  3. 前記製品用リード保持部および前記位置決め用リード保持部がそれぞれリード部を相対向するガイド面間のリード受け面に受容保持し、前記位置決め用リード保持部におけるリード受け面幅と前記位置決め用リードのリード幅との差値を、前記製品用リード保持部におけるリード受け面幅と前記製品用リードのリード幅との差値よりも小さく設定したことを特徴とする請求項1又は2に記載の樹脂成形金型。
  4. 前記位置決めリード保持部においてガイド面とリード受け面とのなす角度を、前記製品用リード保持部においてガイド面とリード受け面とのなす角度よりも狭い角度に設定したことを特徴とする請求項2又は3に記載の樹脂成形金型。
JP2006130913A 2006-05-10 2006-05-10 樹脂成形金型 Expired - Fee Related JP4849953B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006130913A JP4849953B2 (ja) 2006-05-10 2006-05-10 樹脂成形金型

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006130913A JP4849953B2 (ja) 2006-05-10 2006-05-10 樹脂成形金型

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007301777A JP2007301777A (ja) 2007-11-22
JP4849953B2 true JP4849953B2 (ja) 2012-01-11

Family

ID=38836142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006130913A Expired - Fee Related JP4849953B2 (ja) 2006-05-10 2006-05-10 樹脂成形金型

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4849953B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016022659A (ja) * 2014-07-18 2016-02-08 株式会社明王化成 インサート成形金型及びインサート成形法
JP2022184057A (ja) * 2021-05-31 2022-12-13 Towa株式会社 成形型、樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3726490B2 (ja) * 1998-05-07 2005-12-14 松下電器産業株式会社 金型装置、この金型装置を用いた端子インサート成形部品の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007301777A (ja) 2007-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6664647B2 (en) Semiconductor device and a method of manufacturing the same
JP4778751B2 (ja) 樹脂モールド金型
JP4849953B2 (ja) 樹脂成形金型
JP4153862B2 (ja) 半導体樹脂封止用金型
JP3125295U (ja) 発光ダイオードのケーシングの金型構造
JP2008044161A (ja) 多数個取りインサート成形装置
JP2006210788A (ja) フレキシブルプリント配線板およびその製造方法
US20050077205A1 (en) Tray with flat bottom reference surface
JPH065645A (ja) 半導体素子の樹脂成形方法
JP2003078095A (ja) リード加工装置
US20010011472A1 (en) Manufacturing method of electronic component, manufacturing apparatus thereof, and driving method of manufacturing apparatus thereof
JP5066833B2 (ja) 半導体パッケージの製造方法
JP2012000805A (ja) 半導体装置、半導体装置の保管方法、半導体装置の製造方法、及び半導体製造装置
JP2008251758A (ja) 半導体パッケージおよび射出成形用金型および半導体パッケージの製造方法
JP2004146729A (ja) 半導体樹脂封止用金型及び樹脂封止方法
KR0134933B1 (ko) 반도체 패키지
KR100235499B1 (ko) 분할형 엔드-블록 및 그를 이용한 성형 금형
JPH0936291A (ja) タイバーカット方法および装置
KR940001857Y1 (ko) 리드프레임의 구조
KR100215122B1 (ko) 반도체 리드프레임 금형의 가공방법
KR0121648Y1 (ko) 게이트가 없는 몰드다이
JP2567943B2 (ja) 電子部品の金型内位置決方法とそれに用いる金型装置
JP5197176B2 (ja) 光半導体装置用パッケージと製造方法および光半導体装置
JP5903785B2 (ja) 半導体装置製造方法
JPS63207464A (ja) 印字ワイヤ案内部材の成形金型

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20080430

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090511

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110803

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110809

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110901

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110920

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111018

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141028

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees