JP4847734B2 - 半導体集積回路装置、それのデバッグシステム及びデバッグ方法。 - Google Patents
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Description
まず、本発明の実施の形態1にかかるデバッグシステムについて説明する。本実施形態にかかるデバッグシステムは、LSIに設けたシステムデバッグ制御部により、ブレーク発生時の同期を制御するとともに、各DCUの複数のトレースデータをLSI内に格納することを特徴としている。
上述の例では、デバッグするマルチプロセッサ構成のLSIにおいて、プロセッサ間の関係は特に限定されない。例えば、複数のプロセッサが同等の関係で動作する並列型のマルチプロセッサでもよいし、複数のプロセッサが主従関係をもって動作するマスタスレーブ型のマルチプロセッサでもよい。図10は、マスタスレーブ型のマルチプロセッサに本発明を適用した例である。
110 サブシステム
111 CPUコア
112 DCU
113 周辺デバイス
120 メモリ
131 デバッグ用同期バス
132 デバッグ用外部バス
133 デバッグ用内部バス
140 デバッグI/F
150 システムデバッグ制御部
190 デバッグPC
191 デバッガ
210 CPUブレーク制御部
211 ブレーク条件設定部
212 ブレーク検出部
213 停止/再開部
220 CPUトレース制御部
221 トレースポイント設定部
222 トレースデータ採取部
223 トレースデータ保持部
310 停止/再開部
320 内部回路
410 システムブレーク制御部
411 同期情報格納部
412 ブレーク選択部
413 再開選択部
421 トレースデータ収集部
422 トレースデータ格納部
423 トレースデータ出力部
Claims (4)
- CPUコアと、当該CPUコアのデバッグ制御を行なうデバッグ制御ユニットと、周辺デバイスと、を各々含む複数のサブシステムと、
前記複数のサブシステムにおけるデバッグを制御するシステムデバッグ制御部と、
前記デバッグ制御ユニット、前記周辺デバイス、および前記システムデバッグ制御部が共通に接続され、前記システムデバッグ制御部から前記デバッグ制御ユニットおよび前記周辺デバイスへブレーク発生時の停止および当該停止後の再開の同期をとるための同期信号を転送するデバッグ用同期バスと、
前記デバッグ制御ユニットと前記システムデバッグ制御部とが共通に接続され、前記デバッグ制御ユニットの各々のトレースデータを前記システムデバッグ制御部に転送するデバッグ用内部バスと、
前記デバッグ制御ユニット、前記システムデバッグ制御部、およびデバッグPCと接続可能なデバッグインターフェースが共通に接続され、デバッグ制御用のコマンド、および前記システムデバッグ制御部に格納されている前記トレースデータを前記デバッグインターフェースを介して前記デバッグPCに転送可能な、前記デバッグ用同期バスおよび前記デバッグ用内部バスよりも低速なデバッグ用外部バスと、を備え、
前記デバッグ制御ユニットは、前記複数のサブシステムのいずれかが備える前記CPUコアによるプログラムの実行が前記デバッグPCで設定されたブレーク条件と一致した場合、前記CPUコアのプログラムの実行を停止し、前記デバッグ用同期バスを介して前記システムデバッグ制御部へブレークの発生を通知し、
前記システムデバッグ制御部は、前記ブレークの発生が通知された場合、前記プログラムの実行が停止されたCPUコアと同期して停止するように選択された前記デバッグ制御ユニットおよび前記周辺デバイスに対して前記デバッグ用同期バスを介して実行停止を要求し、当該停止したサブシステムのデバッグ制御ユニットに格納されている、前記デバッグPCを用いて前記CPUコアに設定されたトレースポイントのトレースデータを前記デバッグ用内部バスを介して前記ブレークの発生が通知される毎に収集して格納し、当該格納したトレースデータを前記デバッグ用外部バスを介して前記デバッグPCに一度に転送可能である、
半導体集積回路装置。 - 前記システムデバッグ制御部は、
前記サブシステムの動作停止後、前記停止したサブシステムの前記デバッグ制御ユニットに格納されている、前記デバッグPCを用いて前記CPUコアに設定されたトレースポイントのトレースデータを前記デバッグ用内部バスを介して複数収集するトレースデータ収集部と、
前記収集した複数のトレースデータを格納するトレースデータ格納部と、
前記格納した複数のトレースデータを前記デバッグ用外部バスを介して一度に出力するトレースデータ出力部と、を有する、
請求項1に記載の半導体集積回路装置。 - 請求項1または2に記載の半導体集積回路装置と、当該半導体集積回路装置のデバッグを実施するための前記デバッグPCとを備えたデバッグシステム。
- 半導体集積回路装置のデバッグ方法であって、
前記半導体集積回路装置は、
CPUコアと、当該CPUコアのデバッグ制御を行なうデバッグ制御ユニットと、周辺デバイスと、を各々含む複数のサブシステムと、
前記複数のサブシステムにおけるデバッグを制御するシステムデバッグ制御部と、
前記デバッグ制御ユニット、前記周辺デバイス、および前記システムデバッグ制御部が共通に接続され、前記システムデバッグ制御部から前記デバッグ制御ユニットおよび前記周辺デバイスへブレーク発生時の停止および当該停止後の再開の同期をとるための同期信号を転送するデバッグ用同期バスと、
前記デバッグ制御ユニットと前記システムデバッグ制御部とが共通に接続され、前記デバッグ制御ユニットの各々のトレースデータを前記システムデバッグ制御部に転送するデバッグ用内部バスと、
前記デバッグ制御ユニット、前記システムデバッグ制御部、およびデバッグPCと接続可能なデバッグインターフェースが共通に接続され、デバッグ制御用のコマンド、および前記システムデバッグ制御部に格納されている前記トレースデータを前記デバッグインターフェースを介して前記デバッグPCに転送可能な、前記デバッグ用同期バスおよび前記デバッグ用内部バスよりも低速なデバッグ用外部バスと、を備え、
前記デバッグ制御ユニットは、前記複数のサブシステムのいずれかが備える前記CPUコアによるプログラムの実行が前記デバッグPCで設定されたブレーク条件と一致した場合、前記CPUコアのプログラムの実行を停止し、前記デバッグ用同期バスを介して前記システムデバッグ制御部へブレークの発生を通知し、
前記システムデバッグ制御部は、前記ブレークの発生が通知された場合、前記プログラムの実行が停止されたCPUコアと同期して停止するように選択された前記デバッグ制御ユニットおよび前記周辺デバイスに対して前記デバッグ用同期バスを介して実行停止を要求し、当該停止したサブシステムのデバッグ制御ユニットに格納されている、前記デバッグPCを用いて前記CPUコアに設定されたトレースポイントのトレースデータを前記デバッグ用内部バスを介して前記ブレークの発生が通知される毎に収集して格納し、当該格納したトレースデータを前記デバッグ用外部バスを介して前記デバッグPCに一度に転送する、
半導体集積回路装置のデバッグ方法。
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US8312309B2 (en) * | 2008-03-05 | 2012-11-13 | Intel Corporation | Technique for promoting determinism among multiple clock domains |
US20090254886A1 (en) * | 2008-04-03 | 2009-10-08 | Elliot Gibson D | Virtual debug port in single-chip computer system |
JP5297158B2 (ja) * | 2008-11-18 | 2013-09-25 | 株式会社Jsol | 情報処理装置、および制御プログラム |
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TWI413899B (zh) * | 2009-07-27 | 2013-11-01 | Univ Nat Sun Yat Sen | 應用於循環記憶體之壓縮資料管理系統及方法 |
US20130031419A1 (en) * | 2011-07-28 | 2013-01-31 | International Business Machines Corporation | Collecting Debug Data in a Secure Chip Implementation |
JP6013711B2 (ja) * | 2011-09-01 | 2016-10-25 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体集積回路及び半導体集積回路のデバッグ方法 |
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US9703669B2 (en) * | 2014-11-14 | 2017-07-11 | Cavium, Inc. | Apparatus and method for distributed instruction trace in a processor system |
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Family Cites Families (23)
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---|---|---|---|---|
JPS6385942A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-16 | Toshiba Corp | 並列プログラムのデバツグ支援装置 |
JPH0285935A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-27 | Hitachi Micro Comput Eng Ltd | データ処理装置およびそのデバッグ装置 |
JPH08171504A (ja) * | 1994-12-19 | 1996-07-02 | Mitsubishi Denki Semiconductor Software Kk | エミュレ−ション装置 |
JPH1049401A (ja) * | 1996-08-08 | 1998-02-20 | Meidensha Corp | プログラムのデバッグ方法 |
US5848264A (en) * | 1996-10-25 | 1998-12-08 | S3 Incorporated | Debug and video queue for multi-processor chip |
JPH10214201A (ja) * | 1997-01-29 | 1998-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピュータ |
US6026503A (en) * | 1997-08-12 | 2000-02-15 | Telrad Communication And Electronic Industries Ltd. | Device and method for debugging systems controlled by microprocessors |
JPH11154102A (ja) * | 1997-11-20 | 1999-06-08 | Toshiba Microelectronics Corp | データ変換回路を有するエミュレータ |
JPH11353205A (ja) * | 1998-06-04 | 1999-12-24 | Ricoh Co Ltd | トレースメモリ内蔵のプロセッサ |
JP2001209556A (ja) * | 1999-11-18 | 2001-08-03 | Yokogawa Electric Corp | 検証支援システム |
US6718294B1 (en) * | 2000-05-16 | 2004-04-06 | Mindspeed Technologies, Inc. | System and method for synchronized control of system simulators with multiple processor cores |
JP2001331341A (ja) * | 2000-05-19 | 2001-11-30 | Fujitsu Ltd | マイクロコンピュータ |
US6751751B1 (en) * | 2000-11-06 | 2004-06-15 | Xilinx, Inc. | Universal multi-bus breakpoint unit for a configurable system-on-chip |
JP2002202900A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Seiko Epson Corp | デバッグ装置 |
JP2002304310A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-18 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
JP2003015906A (ja) | 2001-06-28 | 2003-01-17 | Mitsubishi Electric Corp | リモートデバッグ方法および装置 |
JP2003162426A (ja) * | 2001-11-28 | 2003-06-06 | Hitachi Ltd | 複数cpuの協調デバッグ回路を備えるコンピュータシステム及びデバッグ方法 |
JP2003263339A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Seiko Epson Corp | デバック機能内蔵型マイクロコンピュータ |
JP4182801B2 (ja) * | 2003-04-24 | 2008-11-19 | 日本電気株式会社 | マルチプロセサシステム |
JP2004342001A (ja) * | 2003-05-19 | 2004-12-02 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路装置 |
US7069176B2 (en) * | 2003-08-07 | 2006-06-27 | Arm Limited | Trace source correlation in a data processing apparatus |
JP2005070950A (ja) * | 2003-08-21 | 2005-03-17 | Sanyo Electric Co Ltd | プログラム処理装置 |
JP2006092029A (ja) * | 2004-09-21 | 2006-04-06 | Fujitsu Ltd | マイクロコンピュータ及びトレース制御方法 |
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