JP4759957B2 - 検査・計測用プログラムの作成方法並びにそのプログラムを作成するためのコンピュータプログラム及び検査・計測用プログラムの作成装置 - Google Patents
検査・計測用プログラムの作成方法並びにそのプログラムを作成するためのコンピュータプログラム及び検査・計測用プログラムの作成装置 Download PDFInfo
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Description
請求項8の発明は、請求項1の発明において、前記サンプルプログラム実行過程において、コンピュータに、前記対象部分に含まれる各画素の微分絶対値を基に、微分絶対値のヒストグラムを算出させ、当該ヒストグラムを基に、前記パラメータを算出させることを特徴とする。
請求項9の発明は、請求項8の発明において、前記サンプルプログラム実行過程において、コンピュータに、前記対象部分に含まれる各画素の微分絶対値がピークとなる分布の標準偏差を算出させ、当該標準偏差を基に、前記パラメータを算出させることを特徴とする。
請求項10の発明は、上記目的を達成するために、コンピュータに、請求項1〜9の何れかのプログラム作成方法を実行させることを特徴とする。
請求項11の発明は、上記目的を達成するために、請求項10のコンピュータプログラムと、当該コンピュータプログラムを実行するコンピュータとを有することを特徴とする。
2 欠陥部
M 領域
N 対象部分
Claims (11)
- コンピュータに、対象物が撮像された画像データに対して画像処理を実行することで当該対象物の検査や計測を行う画像処理装置で使用される検査・計測用プログラムを作成させるプログラム作成方法であって、コンピュータに前記画像データを取り込む画像データ設定過程と、ユーザの操作に応じて前記画像データに対して検査又は計測の対象となる領域を設定する領域設定過程と、ユーザの操作に応じて予め用意されたメニューのなかから検査又は計測の内容を選択し、選択された内容を検査内容又は計測内容に設定する検査・計測内容設定過程と、ユーザの操作に応じて前記検査又は計測の対象となる領域のなかで検査又は計測の対象部分を設定する検査・計測部設定過程と、検査内容又は計測内容に対応した画像処理アルゴリズムを選択し、前記画像データに設定された検査又は計測の領域に対して前記画像処理アルゴリズムを実行して前記対象部分の検査又は計測を行うサンプルプログラムを作成した後、当該サンプルプログラムを実行して得られる検査又は計測の結果をコンピュータの表示手段に表示させるサンプルプログラム実行過程とを実行させ、当該サンプルプログラム実行過程において、前記対象部分に応じて、検査又は計測に関する条件を決定するパラメータを算出することを特徴とする検査・計測用プログラムの作成方法。
- 前記画像データ設定過程において、コンピュータに、取り込まれた前記画像データのサイズを所定のサイズに変更させることを特徴とする請求項1記載の検査・計測用プログラムの作成方法。
- 前記画像データ設定過程において、コンピュータに、取り込まれた前記画像データの階調を所定の階調に変更させることを特徴とする請求項1又は2記載の検査・計測用プログラムの作成方法。
- 前記検査・計測内容設定過程において、予め用意されるメニューの中に対象物の外観検査、対象部分の座標計測、パターン認識による検査が少なくとも含まれることを特徴とする請求項1又は2又は3記載の検査・計測用プログラムの作成方法。
- 前記サンプルプログラム実行過程において、コンピュータに、同一の画像処理アルゴリズムについて検査又は計測に関する条件を決定するパラメータが異なる複数種類のサンプルプログラムを作成させ、これら複数種類のサンプルプログラムを実行して得られる検査又は計測の結果をコンピュータの表示手段に比較可能な形式で表示させることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の検査・計測用プログラムの作成方法。
- 前記サンプルプログラム実行過程において、コンピュータに、複数種類の画像処理アルゴリズムについて検査又は計測に関する条件を決定するパラメータが各々異なる複数種類のサンプルプログラムを作成させ、これら複数種類のサンプルプログラムを実行して得られる検査又は計測の結果をコンピュータの表示手段に比較可能な形式で表示させることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の検査・計測用プログラムの作成方法。
- コンピュータに、前記各過程を有する検査・計測用プログラムを汎用のプログラミング言語のソースコード、若しくはメニュー形式のコマンドリストとして作成して出力させることを特徴とする請求項1〜6の何れかに記載の検査・計測用プログラムの作成方法。
- 前記サンプルプログラム実行過程において、コンピュータに、前記対象部分に含まれる各画素の微分絶対値を基に、微分絶対値のヒストグラムを算出させ、当該ヒストグラムを基に、前記パラメータを算出させることを特徴とする請求項1記載の検査・計測用プログラムの作成方法。
- 前記サンプルプログラム実行過程において、コンピュータに、前記対象部分に含まれる各画素の微分絶対値がピークとなる分布の標準偏差を算出させ、当該標準偏差を基に、前記パラメータを算出させることを特徴とする請求項8記載の検査・計測用プログラムの作成方法。
- コンピュータに、請求項1〜9の何れかのプログラム作成方法を実行させることを特徴とする検査・計測用プログラムを作成するためのコンピュータプログラム。
- 請求項10のコンピュータプログラムと、当該コンピュータプログラムを実行するコンピュータとを有することを特徴とする検査・計測用プログラムの作成装置。
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