JP4705142B2 - 3次元形状測定方法 - Google Patents
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Description
図1は本発明の3次元形状測定方法を実行可能な3次元形状測定機(以下、単に測定機)1を示す。測定機1は下部石定盤2上にモータ駆動のX軸ステージ3とY軸ステージ4を介して載置された上部石定盤5を備える。上部石定盤5にはプローブユニット100(図26を参照して説明したものと同様)がZ軸方向に移動可能に搭載されている。He-Neレーザ6からのレーザ光は光学系7によりXYZ軸方向のレーザ光Fx,Fy,Fzに分岐する。レーザ光Fxは、下部石定盤2に固定されたX軸ミラー8に照射されX座標が測定される。同様に、レーザ光Fyは、下部石定盤2に固定されたY軸ミラー9に照射されY座標が測定される。Z軸レーザ光Fzは2つに分岐し、下部石定盤2の上部に固定されたZ軸ミラーとスタイラス101の上端のミラー105(図26参照)の反射光から測定面上のZ座標が測定される。
カメラ付携帯、DSC(デジタルスチールカメラ)で使用されるレンズのほとんどが軸対称非球面レンズである。しかしながら、設計形状と実形状のずれが大きい場合は、アライメントデータが水平にならず引っ張られる場合がある。この現象は、データ点数が設計中心を基準に、対称に分布しないことにより発生する。前述した図10の測定結果でも、上記現象によりX軸上の約±0.4mmのエリアで、中央部分で測定データが重なっておらず、不自然なデータとなっている。
レンズ11がカメラ付き携帯電話等に用いられる直径約2mm程度、球面に近似した場合の球の半径が1.03mm程度の非球面レンズである場合、球面に対するレンズ面の非球面量が数μm程度しかないこともある。このようなレンズ11の場合、金型を設計形状どおりに作成後、レンズ11をプラスチック材料等を用いて成型する場合、成型時に収縮により、非球面量と同じオーダである数μmのオーダの歪が発生する場合がある。この場合、実形状より設計形状を推定し、この推定した設計形状を用いて測定機1に設置して測定した測定データを座標変換し、アライメントすることにより、高傾斜部を含む3次元形状を高精度に測定することができる。以下、具体例を用い説明する。
た設計形状と、測定データ点群との差の結果を示す。図22は本来の設計形状でアライメントした図19よりZd方向の誤差が少なく、より設計形状にフィットした設計式となっている。
2)2つの近似直線L51、L52がそれぞれX軸と重なるように、Y軸周りの回転量(近似直線L51、L52のX軸に対する傾き)とZ軸方向の移動量を算出する。
3)2つの測定データ群DL、DRを、2)で算出したY軸周りの回転量とZ軸方向の水平移動量で回転及び水平移動を行い、測定データ群DL、DRを合成する。
実施の形態1や実施の形態2では、斜めに設置したレンズ11に対し、測定機1の座標系でX軸及びY軸方向に、すなわちXY面で見ると十字方向に、プローブ102を走査した測定結果を処理した。レンズ面を面形状として評価するには、図24に示すような一筆書き状の面上走査経路により、プローブ102にフォーカスをかけた状態で、レンズ面でスタイラス101をXY方向に連続的に走査し、面上の測定データ群を得ればよい。図24において符号A1はレンズ11の有効エリアを示し、符号A2は測定機11のプローブ102が表面形状に追従可能なエリアを示す。
実施の形態1〜4の3次元形状測定方法を実行する上で測定機1の測定精度を検証するには、図25A、25Bに示すようなマスターワーク31を使用することが好ましい。このマスターワーク31は、Z軸に回転対称で、XY方向の半径がRrで、Z方向の半径がRzの楕円形状部31aを有し、超鋼にニッケルメッキされた材質等で構成されている。
2 下部石定盤
3 X軸ステージ
4 Y軸ステージ
5 上部石定盤
6 He-Neレーザ
7 光学系
8 X軸ミラー
9 Y軸ミラー
11 レンズ
12 治具
13 A軸ゴニオステージ
14 XYステージ
15 B軸ゴニオステージ
16 テーパスペーサ
17 上部プレート
18 支持爪
19 位置決めピン
21 制御・演算装置
22 出力装置
23 入力装置
31 マスターワーク
31a 楕円球状部
Claims (3)
- 測定物を3次元測定機のY軸周りに傾けて設置した第1の設置状態とし、
前記測定物を前記第1の設置状態から前記測定物のZ軸を中心に90度の2以下の自然数倍の角度増分で1回以上回転させて1つ以上の第2の設置状態とし、
前記第1及び第2の設置状態のそれぞれについて、前記測定物の頂点を通る前記3次元測定機のX軸方向の直線上に前記測定物の表面を前記3次元測定機で測定して第1の測定データ群を取得すると共に、前記測定物の頂点を通る前記3次測定機のY軸方向の直線上に前記測定物の表面を前記3次元測定機で測定して第2の測定データ群を取得し、
前記第1及び第2の設置状態のそれぞれについて、
前記第1及び第2の測定データ群を前記3次元測定機のY軸周りの傾きに応じて回転及び並進移動させて、前記測定物を前記3次元測定機に水平に設置した状態に座標変換する予備座標変換を実行し、
前記予備座標変換がされた前記第1及び第2の測定データ群を前記測定物の設計式にフィッティングさせる第1のアラインメント量を前記測定物のX軸、Y軸、Z軸、前記測定物のX軸周りの回転方向であるA軸、及び前記測定物のY軸周りの回転方向であるB軸について算出し、
前記測定物のX軸、Y軸、Z軸、A軸、及びB軸の第1のアラインメント量のうちからいずれか2つ又は3つを固定アラインメント量として選択し、
前記予備座標変換がなされた前記第1及び第2の測定データ群を、前記固定アラインメント量で座標変換する第1の座標変換を実行し、
前記第1の座標変換がなされた前記第1及び第2の測定データ群を前記測定物の設計式にフィッティングさせる第2のアラインメント量を前記測定物のX軸、Y軸、Z軸、A軸、及びB軸のうち前記固定アラインメント量以外の軸について算出し、
前記予備座標変換がされた前記第1及び第2の測定データ群を前記固定アラインメント量と前記第2のアラインメント量で座標変換する第2のアラインメントを実行し、
前記第2のアラインメントがされた第1及び第2の測定データ群と前記測定物の前記設計式との差を算出し、
前記第1及び第2の設置状態についての前記設計式との差を合成する、3次元形状測定方法。 - 前記角度増分は180度であり、前記第2の設置状態が1つである、請求項1に記載の3次元形状測定方法。
- 前記角度増分は90度であり、前記第2の設置状態が3つある、請求項1に記載の3次元形状測定方法。
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