JP5027450B2 - 形状測定方法 - Google Patents
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Description
測定データに含まれるプローブ先端の曲率半径に起因する測定誤差を被測定物の第1基準データを用いて補正することにより第1の補正データを算出する第1ステップと、
前記第1の補正データと前記第1基準データを比較することにより第1の形状誤差を算出する第2ステップと、
前記第1の形状誤差を前記プローブの走査方向に沿った値に対する関数である形状誤差近似関数により近似する第3ステップと、
前記第1基準データと前記形状誤差近似関数の和として第2基準データを算出した後に、測定データに含まれるプローブ先端の曲率半径に起因する測定誤差を前記第2基準データを用いて補正することにより第2の補正データを算出する第4ステップとを備えることを特徴とする、形状測定方法を提供する。
図3は本発明の第1実施形態に関わる形状測定装置の構成を示している。演算処理部300以外は前述の構成となる。演算処理部300は、第1基準データの一例としての第1の設計データ316を記憶し、処理時に出力する第1基準データ出力部の一例としての第1の記憶部301と、測定部314から入力される第2の記憶部302と、測定データに含まれるプローブ径誤差を第1の設計データ316を用いて補正する第1のプローブ径補正演算部303と、前記演算部により得られた第1の補正データと第1の設計データ316とを比較して第1の形状誤差データを算出する第1の形状誤差データ算出部304と、前記形状誤差データを近似する関数を算出する形状誤差近似関数算出部305と、前記形状誤差近似関数を記憶する第3記憶部306と、前記形状誤差近似関数と第1の設計データとを加えて第2の設計データを算出する第2設計データ算出部307と、前記第2の設計データを記憶する第4の記憶部308と、測定データに含まれるプローブ径誤差を前記第2の設計データを用いて補正する第2のプローブ径補正演算部309と、前記演算部により得られた第2の補正データを記憶する第5の記憶部310と、前記第2の補正データを第1の設計データ316に最も近づける座標変換量を算出する座標変換量算出部311と、前記座標変換量を用いて前記第2の補正データを座標変換する座標変換処理部312と、前記処理部において座標変換された前記第2の補正データと第1の設計データ316の差を算出する形状誤差データ算出部313とを備えている。
図5は本発明の第2実施形態にかかる形状測定装置の構成を示している。当該装置は、制御演算部500に関し、第1実施形態と比較して第2設計データを算出する構成が異なる。第2実施形態では、図3に示す第1実施形態の形状誤差近似関数算出部305の代わりに、図5に示す第1の形状誤差データ算出部504により算出された形状誤差データとの誤差最小にする形状パラメータを算出する最適形状パラメータ算出部505と、前記最適形状パラメータから第2の設計データを算出する第2設計データ算出部506とを備えている。その他の構成は第1実施形態と同様である。
図7は本発明の第3実施形態にかかる形状測定装置の構成を示している。第3実施形態は第1実施形態と比較して、第1設計データが定義されていない、あるいは不明である場合において、第1設計データに平面のデータ716(Z=0)を入力する機能を備えている。その他の構成は第1実施形態と同様である。
図9は本発明の第4実施形態に関わる形状測定装置の構成を示している。第4実施形態に関わる形状測定装置は、トレーサビリティ体系に基づいた真円度の高い基準球920を用いて接触子の真球度誤差を算出し、実際の被測定物を測定する際に、前記接触子の真球度誤差を補正する機能を備えた装置である。
被測定物の補正データ(XP2,YP2,ZP2)に対応する設計データより被測定面のX方向及びY方向の傾斜角度θX及びθYを算出することができる。次に、前記θXとθYの傾斜面を測定する際に接触子が測定面と接触する点における真球度誤差を真球度誤差関数から算出する。真球度誤差関数は、基準球を測定した際の形状誤差関数なので、基準球の表面においてθXとθYを与える傾斜面を有するX座標及びY座標を算出する。この座標値は数76から算出することができる。
15 石定盤
16 Xステージ
17 Yステージ
18 移動体
20 被測定物
20a 被測定面
21 支持機構
22 Z軸移動部
23 接触子
24 プローブ
25 光発生部
26 光学系
27 参照ミラー
28 Y参照ミラー
29 Z参照ミラー
31 回転ステージ
32 傾斜ステージ
Claims (5)
- 被測定物の表面にプローブを2軸平面座標上で走査させて前記被測定物の表面形状を測定する形状測定方法において、
測定データに含まれるプローブ先端の曲率半径に起因する測定誤差を被測定物の第1基準データを用いて補正することにより第1の補正データを算出する第1ステップと、
前記第1の補正データと前記第1基準データを比較することにより第1の形状誤差を算出する第2ステップと、
前記第1の形状誤差を前記プローブの走査方向に沿った値に対する関数である形状誤差近似関数により近似する第3ステップと、
前記第1基準データと前記形状誤差近似関数の和として第2基準データを算出した後に、測定データに含まれるプローブ先端の曲率半径に起因する測定誤差を前記第2基準データを用いて補正することにより第2の補正データを算出する第4ステップとを備えることを特徴とする、形状測定方法。 - 前記被測定物の第1基準データは、前記被測定物の設計データであることを特徴とする、請求項1に記載の形状測定方法。
- 前記被測定物の第1基準データは、前記プローブが走査する2軸平面座標に対し平行な平面のデータであることを特徴とする請求項1に記載の形状測定方法。
- さらに、前記第2の補正データを前記第1基準データへ位置合わせした後に前記第1基準データと比較する第5ステップを備える請求項1から3のいずれか1つに記載の形状測定方法。
- 前記第4ステップにおいて算出された第2基準データを、別の第1基準データとして用い、測定データに含まれるプローブ先端の曲率半径に起因する測定誤差を補正する処理である第1ステップから第4ステップを再度繰返すことを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の形状測定方法。
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