JP4704211B2 - 試験装置、試験装置のプログラム、試験パターン記録媒体、及び試験装置の制御方法 - Google Patents
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Description
特願2003−069833 出願日 平成15年3月14日
Claims (10)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスの試験に用いる試験パターンファイルは、前記被試験デバイスを試験する試験パターンを分割した複数の分割パターンを記録する複数の分割パターン記録領域を備え、
前記複数の分割パターンのそれぞれは、前記試験パターンを前記被試験デバイスに供給する試験パターン発生器に供給すべき試験パターンデータと、前記試験パターンデータを格納すべき前記試験パターン発生器内のアドレスを示す試験パターンアドレスとを含み、
当該試験装置は、
それぞれが互いに異なる前記分割パターン記録領域に記録された前記分割パターンを、互いに並行して変換する複数の変換処理部と、
前記複数の変換処理部により復元された前記分割パターンに含まれる前記試験パターンデータを、前記試験パターン発生器における、当該試験パターンデータに対応する前記試験パターンアドレスで示される位置に格納する分割パターン供給部と、
前記複数の変換処理部により変換されて前記分割パターン供給部により格納された前記試験パターンを前記被試験デバイスに供給する試験パターン発生器と、
を備えることを特徴とする試験装置。 - 前記複数の分割パターン記録領域は、前記複数の分割パターンを圧縮して記録し、
前記複数の変換処理部は、それぞれが互いに異なる前記分割パターン記録領域に記録された、圧縮された前記分割パターンを、互いに並行して復元することにより変換する
ことを特徴とする請求項1記載の試験装置。 - 当該試験装置は、複数の前記試験パターン発生器を備え、
復元された前記複数の分割パターンのそれぞれは、前記試験パターンデータを格納すべき一の前記試験パターン発生器を指定する試験パターン発生器識別情報を更に含み、
前記分割パターン供給部は、前記複数の変換処理部により復元された前記分割パターンに含まれる前記試験パターンデータを、当該試験パターンデータに対応する前記試験パターン発生器識別情報により指定される一の前記試験パターン発生器における前記試験パターンアドレスで示される位置に格納する
ことを特徴とする請求項1または2に記載の試験装置。 - 前記試験パターンファイルを記憶する記憶装置と前記複数の変換処理部との間の通信を中継する中継部を更に備え、
前記中継部と前記複数の変換処理部との間にそれぞれ設けられた複数の通信路のそれぞれは、前記記憶装置と前記中継部との間の通信路と比較し通信スループットがより低い
ことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の試験装置。 - 前記試験パターンファイルは、前記試験パターンファイルにおける前記複数の分割パターンのそれぞれの格納位置を記録する格納位置記録領域を更に備え、
一の前記変換処理部は、前記格納位置記録領域に基づき、他の前記変換処理部が復元すべき前記分割パターンの格納位置を選択する格納位置選択部を有し、
前記他の変換処理部は、前記試験パターンファイルにおける、前記格納位置選択部により選択された格納位置に記録された前記分割パターンを復元する
ことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の試験装置。 - 被試験デバイスの試験に用いる試験パターンファイルを記録した試験パターン記録媒体であって、
前記被試験デバイスを試験する試験パターンを分割した複数の分割パターンを、圧縮して記録する複数の圧縮パターン記録領域と、
前記試験パターンファイルにおける前記複数の分割パターンのそれぞれの格納位置を記録する格納位置記録領域と
を備え、
前記複数の分割パターンのそれぞれは、前記試験パターンを前記被試験デバイスに供給する試験パターン発生器に供給すべき試験パターンデータと、前記試験パターンデータを格納すべき前記試験パターン発生器内のアドレスを示す試験パターンアドレスとを含む
ことを特徴とする試験パターン記録媒体。 - 前記被試験デバイスを試験する試験装置は、複数の前記試験パターン発生器を備え、
前記複数の分割パターンのそれぞれは、前記試験パターンデータを格納すべき一の前記試験パターン発生器を指定する試験パターン発生器識別情報を更に含む、
請求項6に記載の試験パターン記録媒体。 - 前記試験パターンファイルにおける前記複数の分割パターンのそれぞれの格納位置を記録する格納位置記録領域を更に備える請求項6または7に記載の試験パターン記録媒体。
- 被試験デバイスを試験する試験装置用のプログラムであって、
前記被試験デバイスの試験に用いる試験パターンファイルは、
前記被試験デバイスを試験する試験パターンを分割した複数の分割パターンを記録する複数の分割パターン記録領域と、
前記複数の分割パターンのそれぞれの記録位置を記録する格納位置記録領域と
を備え、
前記複数の分割パターンのそれぞれは、前記試験パターンを前記被試験デバイスに供給する試験パターン発生器に供給すべき試験パターンデータと、前記試験パターンデータを格納すべき前記試験パターン発生器内のアドレスを示す試験パターンアドレスとを含み、
当該プログラムは、前記試験装置を、
格納位置記録領域に基づき、それぞれが互いに異なる前記分割パターン記録領域に記録された前記分割パターンの格納位置を複数選択する格納位置選択部と、
それぞれが前記試験パターンファイルにおける、前記格納位置選択部により選択された格納位置に記録された前記分割パターンを、互いに並行して変換する複数の変換処理部と、
前記複数の変換処理部により復元された前記分割パターンに含まれる前記試験パターンデータを、前記試験パターン発生器における、当該試験パターンデータに対応する前記試験パターンアドレスで示される位置に格納する分割パターン供給部と、
して機能させることを特徴とするプログラム。 - 被試験デバイスを試験する試験装置を制御する制御方法であって、
前記被試験デバイスの試験に用いる試験パターンファイルは、前記被試験デバイスを試験する試験パターンを分割した複数の分割パターンを記録する複数の分割パターン記録領域を備え、
前記複数の分割パターンのそれぞれは、前記試験パターンを前記被試験デバイスに供給する試験パターン発生器に供給すべき試験パターンデータと、前記試験パターンデータを格納すべき前記試験パターン発生器内のアドレスを示す試験パターンアドレスとを含み、
互いに異なる前記分割パターン記録領域に記録された前記分割パターンを、並行して変換する変換段階と、
前記変換段階により復元された前記分割パターンに含まれる前記試験パターンデータを、前記試験パターン発生器における、当該試験パターンデータに対応する前記試験パターンアドレスで示される位置に格納する分割パターン供給段階と、
変換されて前記分割パターン供給段階により格納された前記試験パターンを前記試験パターン発生器により前記被試験デバイスに供給する試験パターン発生段階と
を備えることを特徴とする制御方法。
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