JP4679820B2 - ブリッジ・コンデンサ・センサ測定回路 - Google Patents

ブリッジ・コンデンサ・センサ測定回路 Download PDF

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    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605Measuring capacitance

Description

本発明は、産業用のプロセス制御送信機、および特にそのような送信機用の差動センサ又はセンサペアの安定性を増加させる装置に関する。
産業用のプロセス制御送信機は、産業のプロセスにおいて流体のプロセス変数を測定するために使用される。典型的には、これらの送信機はフィールド位置に置かれ、圧力のようなモニタされた流体のプロセス変数を示す標準化された送信信号を提供する。流体は、化学薬品、パルプ、石油、ガス、調合薬、食物および他の流体処理プラントのような産業用プロセスプラントにおけるスラリー、液体、蒸気およびガスを含んでいる。モニタされたプロセス変数は、圧力、温度、流量、レベル、pH、伝導率、濁度、密度、濃度、化学成分あるいは流体の他の特性でありえる。
産業用のプロセス制御送信機は、典型的にはプロセス変数を感知するセンサ、感知された可変プロセス値の測定を提供する測定回路、および別の位置へ該測定情報を送信する通信回路を含む。産業用のプロセス制御送信機の中で使用されるセンサの1つの例は、産業のプロセス中で圧力を測定するキャパシタンス(容量)センサである。そのような1つのセンサは、両者でコンデンサセンサを形成する一対のコンデンサプレートを支持する圧力反応構造を含んでいる。該構造に印加された圧力は、プレートの相対位置をずらし、圧力の測定値に応じてプレート間のキャパシタンスを変更する。便利なことに、前記構造の1つの側に印加された圧力が穴を変形しプレートのうちの1つをそらすことができるように、コンデンサプレートは圧力反応構造中の穴の中に装着されている。さらに便利なことに、圧力反応構造は、サファイアあるいは他の耐腐食性の、圧力反応する材料から作られる。そのような1つのセンサは、1997年6月10日にフリック(Frick)らに許可され、本発明と同じ譲受人に譲渡された米国特許5,637,802号に記述されている。
圧力反応する材料によって支持されたコンデンサプレートは絶対圧センサを形成する。
しかしながら、フリックらの特許に記述されるように、産業プロセスでの2つの圧力間の差である差圧は、2つのそのようなセンサのキャパシタンス間の差を識別することにより感知される。
測定回路はコンデンサプレートを充電し、差圧の測定値を提供する。測定回路は、容量−デジタル変換器としての働きをするデルタシグマ変換器(または、シグマデルタ(ΔΣ、またはΣΔ変換器と呼ばれる))を含む。該デルタシグマ回路は、積分の1つあるいは2つの段階を含むことができる。積分の2つの段階を使用する回路は、測定での著しく低減された量子化雑音を表示する。
差動キャパシタンス比率測定の場合には、測定回路は、(C1−C2)のある基準キャパシタンスに対する比を表す測定出力(C1−C2)/CREFを提供する。
不運にも、そのような変換器システムは不安定になる恐れがある。特に、C2がC1より大きいか小さいかに依存して、2つのキャパシタンス間の差は正か負の一方になる。(C1−C2)に比例する増加が基準キャパシタンスCREFに比例する増加と同じ極性を持つ時、システムは集束しない積分システムになり不安定になる。C2がC1より大きく、第1次および第2次の容量−デジタル変換器の両方に真の場合、これが生じることになる。
本発明は、差動コンデンサの対を形成する2つのコンデンサ間の予測最大差|C1−C2maxより大きい基準キャパシタンスを使用する。従って、差C1−C2の表示は、積分プロセスの非収束を引き起こさない。
本発明によれば、プロセス変数を表す差分キャパシタンスを提供するために、一対のコンデンサ・センサの第1の側が、ブリッジ・ノードで、プロセス変数に接続される。スイッチ回路は、ブリッジ・ノードでC1−C2の代表値を導出するために、コンデンサを第1または第2の電圧に選択的に接続する。
好ましい実施例では、スイッチ回路は、第1のコンデンサの第2の側を第1および第2の電圧レベルに選択的に接続する第1のスイッチ、および第2のコンデンサの第2の側を第1および第2の電圧レベルに選択的に接続する第2のスイッチを含む。スイッチ制御部は、第1フェーズ中には、第1のコンデンサを第1の電圧レベルに、第2のコンデンサを第2の電圧レベルに接続し、第2フェーズ中には、第2のコンデンサを第1の電圧レベルに、第1のコンデンサを第2の電圧レベルに接続するように第1および第2のスイッチを操作する。
好ましい実施例では、総和ノードがブリッジ・ノードに接続され、基準コンデンサCREFが総和ノードに接続される。
1つの実施例では、センサ・コンデンサおよび基準コンデンサは、互いに排他的な第1および第2のサイクルの間、C1−C2およびCREFで示される充電値を総和ノードに提供するために操作される。すなわち、NA/NB=(C1−C2)/CREFである。ここで、NAおよびNBは第1および第2サイクルの数である。
別の実施例では、(C1−C2)−CREFおよび(C1−C2)+CREFで示される充電値を総和ノードに提供するために、基準コンデンサは第1および第2のサイクルの各フェーズ中それぞれ逆に操作され、センサは全サイクルの各フェーズ中それぞれ反対に操作される。すなわち、(NA−NB)/(NA+NB)=(C1−C2)/CREFである。ここで、NAおよびNBは第1および第2サイクルの数である。
本発明によって取り組まれる主要な問題は、従来の差動変換器が必ずしも集束するとは限らず、不安定になるということである。本発明は、変換器が集束し、積分器が飽和しないように、差動コンデンサ間の予期された最大の差より大きい基準キャパシタンスを使用する。
図1は、センサ14からの圧力を示す信号を受信するように構成された、デルタシグマ変換器のようなキャパシタンス−デジタル変換器12を持つ産業用のプロセス制御送信機10のブロック図である。センサ14は、充電回路16により充電される少なくとも一対の圧力感知コンデンサを含む差動センサである。センサ14の1つの例は、前述のフリックらの特許に記述されるような一対の絶対圧センサである。コンデンサに関する充電は圧力を表し、該充電をデジタル信号に変換する変換器12へ移される。変換器12からのデジタル信号の出力は、プロセッサ18により処理され、二線式通信リンク24によって中央制御室22への送信のために設計されたプロトコル中の標準化された送信信号を提供するトランシーバ20へ入力される。さらに、制御室22は、周知の方法で送信機10を制御するために、トランシーバ20によって受け取られる遠隔の産業用のプロセス制御送信機10への信号を通信リンク24によって送る。
産業用のプロセス制御送信機の周知の1つの種類は、圧力などのプロセス変数を測定するために区別して配置される一対のコンデンサセンサCHおよびCLを有する金属差動センサを使用する。デルタシグマ変換器とは相互に排他的な期間に、複数の充電パケットQを供給するために、各コンデンサは励起電圧VEXによって充電される。デルタシグマ変換器は、コンデンサセンサからの充電パケットの数Nに基づいてプロセス変数のデジタル表示を導出するために充電パケットを積分する。デルタシグマ変換器は、充電平衡(balance)式
HH+NLL、=0
を演算する。
ここで、QH=CHEX、QL=−CLEX、およびVEX=V+ REF−V- REFである。従って、NHL=NLH、(CH/CL)=(NL/NH)、および(CH−CL)/(CH+CL)=(NL−NH)/(NL+NH)である。当業者は、この種類の送信機が、コンデンサセンサCHおよびCLが互いに排他的な期間に演算されなければならないことことを認識するだろう。
図2は、第1サイクル中に、2つのキャパシタンス値の差を表す充電パケットQAを導出するために、コンデンサセンサが操作されるブリッジ測定回路を示す。基準コンデンサは、充電パケットQBを導出するために、互いに排他的な第2サイクル中に前記センサに対して作動される。帰結する充電平衡式は、
AA+NBB=0
である。
ここで、QA=VEX(C1−C2)、QB=−VEXREF、NAは(C1−C2)に関する積分処理(integration operations)数、NBはCREFに関する積分処理数、そしてVEX=V+ REF−V- REFである。従って
(C1−C2)/CREF=NB/NA
である。
図2に示される回路は、送信機10(図1)のような産業用のプロセス制御送信機用の静電容量型センサ14、基準コンデンサCREF、充電回路16、および変換器12を含む。センサ14は、ブリッジノードXおよび総和ノード(summing node)Yを経て、デルタシグマタイプの単一ステージまたは2ステージのキャパシタンス−デジタル変換器12の第1ステージ26に入力を供給する一対のコンデンサC1およびC2を含む。基準コンデンサCREFは、総和ノードYを経て変換器12の第1ステージ26へ入力を提供する。センサ14は、前述のフリックらの特許に記述されるように構成され、当該フリックらの特許に記述された目的のために、共通またはグランド電圧に接続された監視電極およびシールドを含む。
充電回路16は、変換器12の出力からのデジタル信号y(n)によって制御される。y(n)が高いと(例えばyによって表示されるようなy=1)、第1フェーズ(phase)yφ1の間、コンデンサC1は、スイッチ30の導通条件のために基準電圧V+ REFに接続され、コンデンサC2はスイッチ36の導通条件のために基準電圧V- REFに接続される。スイッチ38は、総和ノードYをグランドなどの共通電圧に接続する。したがって、フェーズyφ1の間、コンデンサC1はV+ REFに充電され、コンデンサC2はV- REFに充電される。例えば、V+ REFが1.25ボルトDCの時、コンデンサC1の(図2に示されるような)上部極板の電圧は+1.25ボルトであり、コンデンサC2の底部極板の電圧は−1.25ボルトであり、そしてノードXでの電圧はグランドまたは共通である。
第2フェーズyφ2の間、コンデンサC1の上部極板はスイッチ32を介してV- REF(例えば−1.25ボルト)に接続され、コンデンサC2の底極板はスイッチ34を介してV+REF(例えば+1.25ボルト)に接続される。また、共通電圧(例えばグランド)はスイッチ38の非導通条件のためにノードXから除去される。コンデンサC1入力ノードに対する電圧変化(励起電圧)は−2.50ボルトであり、コンデンサC2入力ノードに対する電圧変化は+2.50ボルトである。ノードYを介するコンデンサC1出力ノードXから積分器26への電荷移動は、−VEX1である。同様に、ノードYを介するコンデンサC2出力ノードXから積分器26への電荷移動は、+VEX2である。従って、センサコンデンサブリッジ出力ノードXから積分器26への総電荷移動は、QA=−VEX(C1−C2)である。
y(n)が低いと(例えば ̄yによって表示されるようなy=0)、第1フェーズ ̄yφ1の間、基準コンデンサCREFの入力側は、スイッチ44の導通条件のために基準電圧V- REFに接続され、コンデンサCREFの出力側はスイッチ46の導通条件のために共通電圧に接続される。第2フェーズ ̄yφ2の間、基準コンデンサCREFの入力側はスイッチ42を介してV+ REFに接続される。ノードYを経ての基準コンデンサCREF出力ノードから積分26への電荷移動は、QB=VEXREFである。
増幅器28およびフィードバックコンデンサCFは、反転(negative)積分器ステージ26を形成する。負(または正)の電荷が積分器に移されると、正(または負)の電圧ステップ(階段)が積分器26の出力で生成される。積分器ステージ26は、サンプルサイクル数Nにわたる入力を積分する。ステージ26からの出力は、Nサイクルの期間にわたって、各yまたは ̄yサイクルの間、正または負にステップする信号であり、これによりデジタル変換を形成する。例えば、コンデンサC1−C2からの電荷移動が負の場合、出力電圧U(n)は、各yサイクル中に階段状に正に増加し、各ステップはC1−C2のキャパシタンス値の差を示す。コンデンサCREFからの電荷移動が正ならば、出力電圧U(n)は、各 ̄yサイクル中に階段状に低減し(負に増加し)、各ステップは基準キャパシタンスCREFの値を示す。故に、
A(C1−C2)−NBREF=0
である。ここで、NAはy=1の時の(C1−C2)に対する積分演算の数、NBはy=0の時のCREFに対する積分演算の数である。従って
(C1−C2)/CREF=(NB/NA
である。
積分ステップの総数は一定値Nであるので、N=NA+NBであり、(C1−C2)/CREFの関係は、
(C1−C2)/CREF=(N/N)−1
としてy=1中の積分ステップ数から単独で計算することができる。
図2に示されるシステムは、y=1サイクル中の積分ステップ数(NA)のみに基づいてプロセス変数測定を計算することができるという長所がある。しかしながら、コンデンサC2の値がコンデンサC1の値より大きい場合、システムは不安定状態を示す。より詳細には、不安定状態の主要な理由は、C2がC1より大きいか小さいかによって、2つのキャパシタンスの差(C1−C2)が正または負のどちらかになることである。(金属差動センサキャパシタンス比測定の場合においては、両方のコンデンサ(CHとCL)が正である時、このリスクは発生しないだろう。)
さらに、キャパシタンスC1とC2との差が基準コンデンサと比較して小さいことは明白である。さらに、|C1−C2|が任意に小さい場合、CREF/|C1−C2|が任意に大きくなることは明らかである。CREF/|C1−C2|の比が大きい場合、変換器の第2ステージの出力W(n)は飽和する(時々「レールを打つ」と呼ばれる)。
図3は、本発明の現在のところ好ましい実施例による、ブリッジ測定回路を示す。図3では、回路は充電平衡式
AA+NBB=0
を演算する。ここで、QA=−VEX[(C1−C2)−CREF]、QB=−VEX[(C1−C2)+CREF]であり、NAはQAに対する積分サイクル数、NBはQBに対する積分サイクル数である。故に、
(NA+NB)(C1−C2)=(NA−NB)CREF
および
(C1−C2)/CREF=(NA−NB)/(NA+NB)=(2NA/N)−1である。
ここで、N=NA+NBである。さらに、CREF>|C1−C2max(|C1−C2|の最大値)を選ぶことにより、QAとQBとは常に反対の極性であるので、積分器は集束し、システムは安定する。
図3に示される回路は、送信機10(図1)のような産業用のプロセス制御送信機用の静電容量型センサ14、基準コンデンサCREF、充電回路16、および変換器12を含む。センサ14は、ブリッジノードXおよび総和ノードYを介して、デルタシグマタイプの単一ステージまたは2ステージのキャパシタンス−デジタル変換器12の第1ステージ26に入力を供給する一対のコンデンサC1およびC2を含む。基準コンデンサCREFは、総和ノードYを介して変換器12の第1ステージ26へ入力を提供する。センサ14は、前述のフリックらの特許に記述されように構成され、当該フリックらの特許に記述された目的のために、共通またはグランド電圧に接続された監視電極およびシールドを含む。
第1フェーズφ1の間、コンデンサC1は、スイッチ50の導通条件のために基準電圧V+ REFに接続され、コンデンサC2はスイッチ56の導通条件のために基準電圧V- REFに接続される。スイッチ58は、ノードXおよびYをグランドのような共通電圧に接続する。つまり、フェーズφの間、コンデンサC1はV+ REFに充電され、コンデンサC2はV- REFに充電される。 例えば、V+ REFが1.25ボルトDCである時、コンデンサC1の(図3に示されるような)上部極板の電圧は+1.25ボルトであり、コンデンサC2の底部極板の電圧は−1.25ボルトであり、ノードXでの電圧はグランドまたは共通である。
第2フェーズφ2の間、コンデンサC1の上部極板はスイッチ52を経てV- REF(例えば−1.25ボルト)に接続され、コンデンサC2の底極板はスイッチ54を通ってV+ REF(例えば+1.25ボルト)に接続される。また、共通電圧(例えばグランド)はスイッチ58の非導通条件のためにノードXおよびYから除去される。コンデンサC1に対する電圧変化(励起電圧)は−2.50ボルトであり、コンデンサC2に対する電圧変化は+2.50ボルトである。ノードYを経てコンデンサC1出力ノードXから積分器26への電荷移動は、−VEX1である。同様に、ノードYを経てコンデンサC2出力ノードXから積分器26への電荷移動は、+VEX2である。従って、センサコンデンサブリッジ出力ノードXから積分器への総電荷移動は、−VEX(C1−C2)である。
この実施例では、センサブリッジからの電荷移動−VEX(C1−C2)は、出力変換器12からのデジタル制御信号y(n)に依存しないことは注目すべきである。しかしながら、CREFからの基準コンデンサ側上の電荷移動はデジタル信号y(n)によって制御される。より詳細には、y(n)が低い(例えば ̄yによって表示されるようなy=0) ̄yφ1の第1フェーズの間、基準コンデンサCREFの入力側はスイッチ62の導通条件のために基準電圧V+ REFに接続され、コンデンサCREFの出力側はスイッチ58の導通条件のために共通電圧に接続される。このようにして、フェーズ ̄yφ1の間、基準コンデンサCREFはV+ REFまで充電される。第2フェーズ ̄yφ2の間、基準コンデンサCREFの入力側はスイッチ64を経てV- REFに接続され、−VEX=V- REF−V+ REFの励起電圧を生成する。CREFの値および励起電圧に基づく負の電荷−VEXREFは、それが、コンデンサC1およびC2からの充電と結合される総和ノードYに供給され、スイッチ60を経て変換器12の第1ステージ26の増幅器28の負の入力に印加される。
同様に、y(n)が高い(例えばyによって表示されるようなy=1)第1フェーズyφ1の間、基準コンデンサCREFの入力側は、スイッチ64の導通条件のために基準電圧V- REFに接続され、コンデンサCREFの出力側は、スイッチ58の導通条件のために共通電圧に接続される。このようにして、フェーズyφ1の間、基準コンデンサCREFは、V- REFまで充電される。第2フェーズyφ2の間、基準コンデンサCREFの入力側は、スイッチ62を経てV+ REFに接続されて、 VEX=V+ REF−V- REFの励起電圧を生成する。CREFの値および励起電圧に基づく正の電荷VEXREFは、コンデンサC1およびC2からの充電と結合される場合、総和ノードYに供給され、スイッチ60を経て変換器12の第1ステージ26の増幅器28の負の入力に印加される。
コンデンサCREFの示す充電パッケージは、デジタル制御信号が高(y=1)か低(y=0)かに依存するVEXREFまたは−VEXREFであるが、キャパシタンス値の差(C1−C2)を示す充電パッケージ−VEX(C1−C2)は、全サイクル(yおよび ̄y)の間中印加される。y=1の時、センサブリッジおよび基準コンデンサからの総電荷移動は、QA=−VEX(C1−C2)+VEXREFである。y=0の時、センサブリッジおよび基準コンデンサからの総電荷移動は、QB=−VEX(C1−C2)−VEXREFである。CREFのキャパシタンス値が、|C1-C2|の最大の値より大きなものとして選択される、すなわちCREF>|C1-C2MAXの場合、充電パッケージQAは常に正であり、一方充電パッケージQBは常に負である。
増幅器28およびフィードバックコンデンサCFは反転積分器(inverted integrator)を形成する。 負の充電パッケージが積分器に移されると、正の電圧ステップが積分器の出力に発生され、正の充電パッケージが積分器に移されると、負の電圧ステップが積分器の出力に発生される。ステージ26は、サンプルサイクル数Nにわたる入力を積分する。ステージ26からの出力は、Nサイクルの期間にわたって、各yまたは ̄yサイクルの間、正または負にステップする信号であり、これによりデジタル変換を形成する。例えば、各 ̄yサイクルの間、ブリッジ回路網および基準コンデンサCREFからの総電荷値は負であり、したがって出力電圧U(n)は、階段状に正に増加する。各yサイクルの間、ブリッジ回路網および基準コンデンサCREFからの総電荷値は正であり、したがって出力電圧U(n)は、階段状に低減する(負に増加する)。
量子化ノイズを抑えるために、第2次の変調器を使用してもよい。この場合、第1ステージの出力U(n)は、信号スイッチ回路網70を介して変換器12の第2ステージ72の入力に印加される。第2ステージの出力W(n)は、論理信号y(n)を導出するために、Dタイプフリップフロップ76へ入力を供給するコンパレータ74の入力に接続される。第2ステージ積分器入力において、コンデンサC3はスイッチ80によって、またコンデンサC4はスイッチ82によって、増幅器28からの出力U(n)に接続される。2つのコンデンサC3およびC4の反対側は、スイッチ84を介して増幅器78の負の入力に接続される。2つのコンデンサの入力側は、それぞれスイッチ86および88を介して、グランドまたは共通電圧に接続される。量子化ノイズを抑えるための最適の効果を達成するためには、(C4/CF2)=(1/2)×(C3/CF2)である。
図3の実施例では、充電平衡式は、
AA+NBB=0
である。
ここで、QA=−VEX[(C1−C2)−CREF]、QB=−VEX[(C1−C2)+CREF]であり、NAは−CREFに関する積分サイクルyの数、およびNBは+CREFに関する積分サイクル ̄yの数である。従って、充電平衡式は、
A[(C1−C2)−CREF]+NB[(C1−C2)+CREF]=0
となる。
従って、
(C1−C2)/CREF=(2NA/N)−1
である。ここで、N=NA+NBである。CREFの値が、|C1−C2|の予測最大値より大きいかぎり、(C1−C2)−CREFは常に負であり、システムは集束する。
図4は充電回路16を示し、図5は本発明の変形による基準コンデンサCREFを示す。図4では、センサコンデンサC1およびC2は、図3に関して説明されるように、スイッチ50、52、54、および56を介して、基準電圧源V+ REFおよびV- REFに接続される。この場合、基準コンデンサCREFの入力は、スイッチ62および64を介してプログラム可能な電圧源V+ PROG およびV- PROGに接続される。プログラム可能な電圧源は、ユーザまたはコンピュータによってプログラム可能である。従って、基準コンデンサCREFによって印加される充電値は、例えば測定回路の様々な感知範囲のために調節される。
基準コンデンサCREFからの充電値は、図5に示されるような並列の基準コンデンサCREF1、CREF2、CREF3、その他を選択的に用いてプログラムされる。基準コンデンサのうちの1つの、CREF1は、回路内で永続的に接続される。しかし、他の基準コンデンサCREF2、CREF3、その他は、スイッチ90、92、その他を介してノードYに選択的に接続される。従って、基準コンデンサ回路網による電荷移動は、選択的に調節される。
このように、本発明は集束する産業用のプロセス制御送信機を提供し、それにより、従来の送信機に関連する不安定状態を回避する。本発明は、圧力応答構造を有する一対のコンデンサセンサに関して説明されたが、本発明は圧力応答ダイアフラムを備えたセンサを含む他のセンサにも有用である。
本発明を好ましい実施例に関して説明してきたが、当業者は、本発明の精神および範囲から逸脱することなく、形式および詳細において変更が行なわれることを理解するであろう。
本発明の一実施例による測定回路を使用する産業用のプロセス制御送信機のブロック図である。 ブリッジセンサを持つキャパシタンス−デジタル変換器の入力および第1ステージの回路図である。 本発明の好ましい実施形態による差動キャパシタンス−デジタル変換器の入力、第1ステージ、および第2ステージの回路図である。 図3に示された変換器の入力の修正を示す回路図である。 図3に示された変換器の入力の修正を示す回路図である。
符号の説明
10……プロセス制御送信機
12……キャパシタンス−デジタル変換器
14……センサ
16……充電回路
18……プロセッサ
20……トランシーバ
22……中央制御室
24……通信リンク
26……積分器
28……増幅器
30、32、34、36、38、42、44、46……スイッチ

Claims (8)

  1. プロセス変数に基づくキャパシタンスC1を有する第1の感知コンデンサ、
    前記プロセス変数に基づくキャパシタンスC2を有する第2の感知コンデンサ、
    前記第1の感知コンデンサの第1の側を、前記第2の感知コンデンサの第1の側に接続するブリッジノード、
    少なくとも第1および第2の電圧レベルに電力供給する励起源、
    前記第1および第2の感知コンデンサのキャパシタンス間の予期された最大の差より大きいキャパシタンスCREFを有する基準コンデンサ、
    前記基準コンデンサの第1の側および前記ブリッジノードに接続される総和ノード、
    前記第1の感知コンデンサの第2の側を前記第1および第2の電圧レベルに選択的に接続する第1のスイッチ、
    前記第2の感知コンデンサの第2の側を前記第1および第2の電圧レベルに選択的に接続する第2のスイッチ、
    前記基準コンデンサの第2の側を前記第1および第2の電圧レベルに選択的に接続する第3のスイッチ、
    前記総和ノードを積分回路に選択的に接続する第4のスイッチ、および
    前記第1〜4のスイッチの接続を制御するスイッチ制御部を具備し、
    予め定められた期間からなる2つの相反するサイクルを有し、一方のサイクルは2つのフェーズyφ1とyφ2とから、他方のサイクルは2つのフェーズ ̄yφ1と ̄yφ2とからなり、
    前記スイッチ制御部は、前記第1および第2のスイッチを、前記フェーズ(yφ1+ ̄yφ1)中に、前記第1の感知コンデンサを前記第1の電圧レベルに、かつ前記第2の感知コンデンサを前記第2の電圧レベルに接続し、前記フェーズ(yφ2+ ̄yφ2)中に、前記第1の感知コンデンサを前記第2の電圧レベルに、かつ前記第2の感知コンデンサを前記第1の電圧レベルに接続するように操作し、前記第3のスイッチを、前記フェーズ(yφ1+ ̄yφ2)中に、前記基準コンデンサを前記第2の電圧レベルに接続し、フェーズ( ̄yφ1+yφ2)中に、該基準コンデンサを前記第1電圧レベルに接続するように操作し、前記第4のスイッチを、前記フェーズ(yφ1+ ̄yφ1)中はオフ、前記(yφ2+ ̄yφ2)中はオンとなるように操作することを特徴とするプロセス変数測定装置。
  2. 前記スイッチ制御部は、
    前記第1および第2の感知コンデンサによって供給される積分された充電値が、前記基準コンデンサによって供給される積分された充電値と等しい、すなわち、(C1−C2)/CREF=(NA−NB)/(NA+NB)となるように、NA回の前記一方のサイクルおよびNB回の前記他方のサイクルの間中、前記第1、第2、および第3のスイッチを操作する請求項1の装置。
  3. 前記励起源が、前記基準コンデンサに2つの電圧レベルを供給するようにプログラム可能であるプログラム可能な電圧源を含む請求項1の装置。
  4. 前記基準コンデンサが複数のコンデンサの配列からなり、前記複数のコンデンサと前記総和ノードとの間に接続された第5のスイッチが選択的に前記配列のコンデンサを並列に前記総和ノードに接続する請求項1の装置。
  5. 中央制御局に処理情報を送信するための、および前記中央制御局から情報を受け取るための通信リンクに接続されたトランシーバ、
    前記処理情報を前記トランシーバに接続するためのプロセッサ、
    請求項1に記載のプロセス変数測定装置、
    および
    前記第1および第2のコンデンサのキャパシタンス間の差を表すアナログ情報信号を積分したものをデジタル情報信号に変換し前記プロセッサに供給するための、前記総和ノードに接続された前記積分回路を含むデルタシグマ変換器を具備し、
    二線式通信リンクによって前記中央制御局に接続されるように構成された産業用のプロセス制御送信機。
  6. 前記スイッチ制御部は、
    前記第1および第2の感知コンデンサによって供給される積分された充電値が、前記基準コンデンサによって供給される積分された充電値と等しい、すなわち、(C1−C2)/CREF=(NA−NB)/(NA+NB)となるように、NA回の前記一方のサイクルおよびNB回の前記他方のサイクルの間中、前記第1、第2、および第3のスイッチを操作する請求項5の産業用のプロセス制御送信機。
  7. 第1および第2の感知コンデンサの1つの側が接続されたブリッジノードに基準コンデンサが接続されており、該基準コンデンサは、前記第1および第2の感知コンデンサのキャパシタンス間の予期された最大の差より大きいキャパシタンスC REF を有し、
    励起源が第1と第2の2つの電圧レベルを供給し、
    予め定められた期間からなる2つの相反するサイクルを有し、一方のサイクルは2つのフェーズyφ1とyφ2とから、他方のサイクルは2つのフェーズ ̄yφ1と ̄yφ2とかなり、
    前記フェーズ(yφ1+ ̄yφ1)中に、前記第1の感知コンデンサを前記第1の電圧レベルに、かつ前記第2の感知コンデンサを前記第2の電圧レベルに接続するステップ、
    前記フェーズ(yφ2+ ̄yφ2)中に、前記第1の感知コンデンサを前記第2の電圧レベルに、かつ前記第2の感知コンデンサを前記第1の電圧レベルに接続するステップ、 前記基準コンデンサを、前記フェーズ(yφ1+ ̄yφ2)中に前記第2の電圧レベルに接続し、フェーズ( ̄yφ1+yφ2)中に前記第1電圧レベルに接続するステップ、
    および
    前記ブリッジノードとその後段の回路との接続を、フェーズ(yφ1+ ̄yφ1)中はオフ、前記(yφ2+ ̄yφ2)中はオンとなるようにするステップとからなるプロセス変数測定プロセス。
  8. 前記第1及び第2の感知コンデンサにより供給される集積電荷が基準コンデンサから供給される集積電荷とバランスし、下記の式が成立するように、N回の第1サイクルとN回の第2サイクルを通してプロセス変数の測定をする請求項7のプロセス変数測定プロセス。
    (C−C)/CREF=(N−N)/(N+N
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