FI121979B - Sovitinkomponentti mittausjärjestelmään - Google Patents

Sovitinkomponentti mittausjärjestelmään Download PDF

Info

Publication number
FI121979B
FI121979B FI20080235A FI20080235A FI121979B FI 121979 B FI121979 B FI 121979B FI 20080235 A FI20080235 A FI 20080235A FI 20080235 A FI20080235 A FI 20080235A FI 121979 B FI121979 B FI 121979B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
measuring
impedance
equipment
conductor pattern
measuring device
Prior art date
Application number
FI20080235A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20080235A (fi
FI20080235A0 (fi
Inventor
Henry Rimminen
Original Assignee
Elsi Technologies Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=39269471&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=FI121979(B) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Elsi Technologies Oy filed Critical Elsi Technologies Oy
Priority to FI20080235A priority Critical patent/FI121979B/fi
Publication of FI20080235A0 publication Critical patent/FI20080235A0/fi
Priority to PCT/FI2009/050220 priority patent/WO2009118453A2/en
Priority to US12/934,602 priority patent/US9151641B2/en
Priority to KR1020107023838A priority patent/KR101541944B1/ko
Priority to PL09724366T priority patent/PL2274629T3/pl
Priority to JP2011501256A priority patent/JP5716249B2/ja
Priority to EP09724366.1A priority patent/EP2274629B1/en
Priority to DK09724366.1T priority patent/DK2274629T3/da
Priority to PT97243661T priority patent/PT2274629T/pt
Priority to ES09724366T priority patent/ES2774184T3/es
Publication of FI20080235A publication Critical patent/FI20080235A/fi
Publication of FI121979B publication Critical patent/FI121979B/fi
Application granted granted Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
    • G01D5/2405—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance by varying dielectric
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96—Touch switches

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

SOVITINKOMPONENTTI MITTAUSJÄRJESTELMÄÄN KEKSINNÖN ALA
Tämä keksintö koskee sähköisen kytkeytymisen mittausjärjestelmää ja 5 mittausjärjestelmään liitettävää sovitinkomponenttia.
TEKNIIKAN TASO
Tunnetuissa ratkaisuissa elektrodin sähköistä kytkeytymistä mittaavat laitteet on toteutettu suurehkolla joukolla komponentteja sisältäen esimerkiksi AD-muuntimia 10 (analog to digital), DA-muuntimia (digital to analog), multipleksereitä, jännitteen säätämiseen tarkoitettuja komponentteja sekä kondensaattoreita, vastuksia ja keloja. Lisäksi eräissä tunnetuissa ratkaisuissa käytetään mittauskohteen impedanssin mukaista muuntajaa sovittimena mittalaitteen ja mittauskohteen välillä. Tämänkaltaisten suurehkolla komponenttimäärällä toteutetut 15 mittausjärjestelyt ja -laitteet ovat monimutkaisia ja esimerkiksi monimutkaisuuden seurauksena kustannuksiltaan korkeita, mikä on ongelmallista niiden käytölle tarkoituksissa, joissa mittausjärjestelyn korkeat kustannukset ovat haitta tai este ratkaisun käytölle.
Pienten laitteiden käyttöliittymän toteuttamiseksi kapasitiivisilla sähköistä 20 kytkeytymistä mittaavilla kosketusantureilla on kehitetty integroituja monikanavaisia kapasitanssimittauskomponetteja. Eräissä tunnetuissa g ratkaisuissa kosketuksen havaitseva näppäimistö on toteuttu
CvJ
^ kapasitanssimittauksella ohuita tai kalvomaisia yksielektrodisia antureita käyttäen.
O
^ Tällaisessa ratkaisussa sähköistä kytkeytymistä muiden näppäimien elektrodeihin o x 25 ja/tai muuhun ympäristöön mitataan näppäimeen kohdistuvan kosketuksen et havaitsemiseksi. Esimerkki tällaisissa ratkaisuissa käytettävistä komponenteista <3 on Analog Device™:n CapTouch™-tuoteperheen capacitance-to-digital converter o § (CDC) mikrokontrollerit. Tämänkaltaisten mikrokontrollerien mittausalue rajoittuu o ^ kapasitanssimuutosten mittaukseen tapauksissa, joissa mitattava 30 kokonaiskapasitanssi on enimmillään muutamia kymmeniä pikofaradeja.
9~
Kapasitanssimittaukseen käytettävän mikrokontrollerin etuja ovat esimerkiksi j siihen perustuvan piiriratkaisun yksinkertaisuus, ratkaisun vaatima vähäinen komponenttimäärä ja pieni tilantarve, vaadittava piirilevyn pieni kerrosmäärä sekä ratkaisulla saavutettava alhainen virrankulutus ja pieni tehontarve. Γ
5 Eräs tunnettujen ratkaisujen ongelma on sähköisen kytkeytymisen mittaukseen I
soveltuvien hinnaltaan edullisten laitteiden ja komponenttien rajallinen mittausalue. j Ne soveltuvat hyvin esimerkiksi pienimittakaavaisia elektrodeja hyödyntävien ! kosketusnäppäimistöjen toteuttamiseen, mutta kooltaan suuremmat anturiratkaisut ovat kapasitanssiltaan niin suuria, että mittaustaajuudella toteutuva impedanssi 10 on niiden yhteydessä niin alhainen, että hinnaltaan edulliset CDC-mikrokontrollerit tai vastaavat komponentit eivät sovellu mittauksessa käytettäväksi.
Eräs impedanssimittauksen tunnettu käyttötarkoitus on johdinkuvioiden impedanssitasojen mittaamiseen perustuva johdinkuvioiden läheisyydessä sijaitsevien tai liikkuvien kohteiden havaitseminen. Eräs tunnetun tekniikan 15 mukainen ratkaisu on kuvattu patenttijulkaisussa US6407556 (Sensor for indicating changes in the presence of persons or objects). Tällaisissa mittausjärjestelyissä käytettävän tyypillisen johdinkuvion koon, sitä ympäröivien rakenteiden ja muiden seikkojen mukaan määräytyvä mitattava sähköinen kytkeytyminen vastaa suuruusluokaltaan tyypillisesti 1-30 nanofaradin (nF) 20 kapasitanssia.
KEKSINNÖN LYHYT KUVAUS
c3 Keksintö esittää kapasitanssimittauksessa käytettävän piirijärjestelyn, jota i o käyttämällä mittalaite sovitetaan mittausjärjestelyssä antureina käytettäviin o 25 johdinkuvioihin, kun johdinkuvioiden avulla mitattavat impedanssit ovat alhaisia.
X
cc α Keksinnön mukainen järjestelmä sähköisen kytkeytymisen mittaamiseksi käsittää
LO
kapasitanssia mittaavan mittalaitteen sekä yhden tai useamman johdinkuvion. o § Järjestelmä on tunnettu siitä, että johdinkuvio on kytketty mittalaitteeseen käyttäen o ^ sovitinkomponenttia, joka sovittaa johdinkuvion tuottaman impedanssin 30 mittalaitteeseen sopivaksi. Sovitinkomponentti voi olla esimerkiksi vastus, 3 kondensaattori tai kela, joka mittaustaajuudella tuottaa johdinkuvioon ja t mittalaitteeseen kytkettynä sopivan impedanssin.
Keksinnön eräissä suoritusmuodoissa, sovitinkomponentti voi olla erillinen komponentti, joka on kytkettävissä mittalaitteeseen ja johdinkuvioon esimerkiksi 5 järjestelmän asennusvaiheessa. Keksinnön joissakin muissa suoritusmuodoissa, sovitinkomponentti voi olla mittalaitteeseen kiinteästi kytketty komponentti. Edelleen keksinnön joissakin muissa suoritusmuodoissa, sovitinkomponentti voi olla johdinkenttään kiinteästi kytketty komponentti.
Keksintö voi kohdistua myös sovitinkomponenttiin, joka on tunnettu siitä, että se 10 sovittaa johdinkuvion tuottaman impedanssin mittalaitteeseen sopivaksi.
Keksintö voi edelleen kohdistua yhden tai useamman johdinkuvion käsittävään johdinkenttään, joka käsittää yhden tai useamman sovitinkomponentin, joka sovittaa kentän johdinkuvioiden tuottaman impedanssin mittalaitteelle sopivaksi.
Johdinkentän yksittäisen johdinkuvion pinta-ala voi olla esimerkiksi vähintään 5,50 15 tai 500 neliösenttimetriä.
Keksintö voi yhä edelleen kohdistua mittalaitteeseen, joka käsittää sovitinkomponentin, joka sovittaa johdinkuvion tuottaman impedanssin mittalaitteelle sopivaksi.
Mittalaitteen käsittelemä pienin impedanssi voi vastata mittaustaajuudella 20 esimerkiksi enintään 60 pikofaradin tai 100 pikofaradin kapasitanssia. Mittalaitteen käyttämä mittaustaajuus voi olla esimerkiksi 250 kHz. Johdinkuvion tuottama o kapasitanssi voi eräissä suoritusmuodoissa olla suurimmillaan esimerkiksi
CM
vähintään 101 tai 200 pikofaradia ja eräissä toisissa suoritusmuodoissa o cm (esimerkiksi eräillä toisilla johdinkuviolla) enintään 5 nanofaradia.
o x 25 Sovitinkomponentti on edullisesti mitoitettu nostamaan johdinkuvion tuottama ^ impedanssi mittalaitteelle sopivaksi riittävän suureksi impedanssiksi. Esimerkiksi g suurimmillaan 200 pikofaradin kapasitanssin tuottava johdinkuvio voi olla sovitettu o 80 pikofaradin sarjakondensaattorilla enintään 60 pikofaradin kapasitanssin ^ mittaavaan laitteeseen, tai suurimmillaan 5 nanofaradin kapasitanssin tuottava 30 johdinkuvio voi olla sovitettu 60 pikofaradin sarjakondensaattorilla samanlaiseen mittalaitteeseen. Toisaalta, esimerkiksi suurimmillaan 200 pikofaradin
H
kapasitanssin tuottava johdinkuvio voi olla sovitettu 200 pikofaradin r sarjakondensaattorilla enintään 100 pikofaradin kapasitanssin mittaavaan i laitteeseen.
Sovitinkomponentti voi käsittää esimerkiksi yhden tai useamman kondensaattorin.
5 Eräissä edullisissa suoritusmuodoissa sovitinkomponentti käsittää ainakin yhden kondensaattorin kutakin johdinkuviota kohti.
Sovitinkomponentti voidaan kytkeä esimerkiksi sarjaan johdinkuvion ja mittalaitteen väliin.
Keksinnön eri suoritusmuotojen mukainen piirijärjestely mittauslaitteen liittämiseksi ίο antureihin mahdollistaa esimerkiksi sähköisen sovittamisen mittalaitteen ja antureiden välillä siten että samanlaista mittalaitetta voidaan käyttää sähköisiltä ominaisuuksiltaan suuresti eroavien anturijärjestelyjen yhteydessä.
Keksinnön mukaisen piirijärjestelyn yksi mahdollinen etu tunnettuihin ratkaisuihin nähden voi olla, että mittausmodulina voidaan käyttää toiseen käyttötarkoitukseen 15 ja erityisesti toiseen mittakaavaan suunniteltua ja tarkoitettua mikrokontrolleria, joka sisältää suuren määrän mittauksessa tarvittavia välineitä ja käsittää suuren määrän mittauksessa tarvittavia keinoja. Tällaista mikrokontrolleria käyttävä mittalaite on toteutettavissa pienellä määrällä komponentteja ja yksinkertaisella piirijärjestelyllä ja piirilevyllä, ja on tyypillisesti kokonaiskustannuksiltaan edullinen.
20 Edelleen keksinnön mukaisen piirijärjestelyn etuja ovat sen luotettavuus ja alhainen virrankulutus. Edelleen keksinnön mukaisen piirijärjestelyn etu voi olla mikrokontrollerin ohjelmoitavuudella saavutettava mittauslaitteen yksinkertaisuus o ja soveltuvuus erillaisissa mittauskohteissa käytettäväksi. Yhä edelleen keksinnön
CM
uS mukaisen piirijärjestelyn etu voi olla se, että samaa mittauslaitetta voidaan o cm 25 valmistaa suuria määriä ainoastaan sovittamisessa käytettävät komponentit
O
x kutakin käyttötarkoitusta varten valiten, millä ratkaisulla voidaan saavuttaa merkittävä säästö suunnittelu- ja valmistuskustannuksissa. Vielä edelleen ,10 g keksinnön mukaisen piirijärjestelyn etu voi olla se, että ainoastaan sovittamisessa o käytettäviä komponentteja vailla olevia mittalaitteita voidaan varastoida eri
CNJ
30 käyttötarkoituksissa käytettäväksi siten, että sovittavat komponentit asennetaan vasta käyttötarkoituksen ja/tai käyttökohteen mukaan.
ί ί ς ί KEKSINNÖN YKSITYISKOHTAINEN KUVAUS [
Seuraavassa selostetaan keksintöä yksityiskohtaisemmin viitaten esimerkkinä Γ esitetyihin suoritusmuotoihin ja oheisiin kuviin, joissa 5 Kuvio 1 esittää keksinnön eräässä suoritusmuodossa käytetyn useasta j johdinkuviosta koostuvan johdinjärjestelyn. j
Kuvio 2 esittää keksinnön eräässä suoritusmuodossa käytetyn piirijärjestelyn.
Kuviossa 1 esitetään keksinnön eräässä suoritusmuodossa käytetty mittausjärjestely. Lattiapinnoitteen alle ryhmäksi (4) asennetut johdinkuviot (1) on j ίο yhdistetty anturijohtimilla (2) mittalaitteeseen (3). Johdinkuviot on ympäröity ! eristeellä ja kukin johdinkuvio on kytketty ainoastaan anturijohtimeen, joka on kytketty mittalaiteeseen. Mittalaite mittaa vaihtovirtaa käyttämällä kunkin j johdinkuvion sähköistä kytkeytymistä muihin johdinkuvioihin ja/tai johdinkuvioita ympäröivään rakenteeseen. Mittausjärjestelyä käytetään mittaamaan ja 15 seuraamaan johdinkuviokohtaisia sähköisen kytkeytymisen voimakkuuksia lattiapinnoitteen päällä olevien tai liikkuvien kohteiden (K, K1) havaitsemiseen.
Kuviossa 2 esitetään keksinnön eräässä suoritusmuodossa käytetty piirijärjestely mittalaitteen yhteydessä olevan järjestelyn osalta. Piirijärjestelyn tämä osa käsittää mittalaitteeseen (3) sijoitetun mittauksessa mittausmodulina käytetyn 20 mikrokontrollerin (6) ja kuhunkin anturijohtimeen (2) sarjaan kytketyt kondensaattorit (5). Mikrokontrolleri on monikanavainen ja sallii usean 5 : rinnakkaisen anturin kytkemisen ja käyttämisen mittauksessa. Käytetty
CM
mittauskomponentti tekee analogisen mittauksen ja ilmaisee mittaustuloksen cp cv digitaalisena arvona. Mikrokontrolleri on ohjelmoitavissa mittaamaan käytetyllä o ί 25 taajuudella enimmillään kahdenkymmenen pikofaradin suuruista anturikohtaista
CC
sähköistä kytkeytymistä. Mittalaitteessa voi olla muita komponentteja ja johtimia, id cm joita ei ole esitetty kuviossa 2. Kondensaattoriksi (5) on valittu Ö o johdinkuviokohtaisesti sellainen, joka muuttaa johdinkuvion kytkeytymistä ™ mitattaessa käytettävällä mittaustaajuudella toteutuvaa mitattavaa virtaa siten, että 30 virta osuu alueelle, jonka mittaamiseen mikrokontrolleri (5) soveltuu. Tyypillisesti valitaan sellainen kondensaattori, joka tuottaa mittausalueen ylärajaa vastaavan
G
virran vahvimman mahdollisen kyseisen johdinkuvion tapauksessa esiintyvän kytkeytymisen tapauksessa.
Keksinnön eri suoritusmuodoissa voidaan käyttää sarjakondensaattorien : asentamisen osalta eroavia menettelyjä. Sarjakondensaattorit voidaan asentaa 5 mittauslaitteeseen esimerkiksi kiinteästi valmistamisen yhteydessä tai asennettaessa mittauslaitetta asennetun johdinjärjestelyn yhteyteen tällöin tiedossa ja/tai mitattavissa olevan johdinkuviokohtaisen sähköisen kytkeytymisen mukaisesti.
Keksinnön eri suoritusmuotojen mukaisesti käytettävä sarjakondensaattori 10 rajoittaa mitattavan piirin läpi menevää virtaa. Kondensaattorin vastus mittauksessa käytetylle vaihtovirralle on kääntäen verrannollinen kondensaattorin kapasitanssiin. Mitattavan piirin kokonaiskapasitanssi on yksittäisten kapasitanssien käänteislukujen summan käänteisluku, jolloin kokonaiskapasitanssi j ei voi muodostua rajoittavan sarjakondensaattorin kapasitanssia suuremmaksi 15 vaikka johdinkuvion kytkeytyminen olisi suuri.
Alan ammattimiehelle on selvää että edellä esitetyt esimerkinomaiset suoritusmuodot ovat selityksen havainnollisuuden vuoksi rakenteeltaan ja toiminnaltaan verraten yksinkertaisia. Tässä patenttihakemuksessa esitettyä mallia noudattaen on mahdollista konstruoida erilaisia ja hyvin monimutkaisiakin 20 ratkaisuja, jotka hyödyntävät tässä patenttihakemuksessa esitettyä keksinnöllistä ajatusta.
δ
(M
i
LO
O
CNJ
O
X
CC
CL
LO
co
(M
O
oo o o
(M

Claims (5)

1. Järjestely, joka sisältää yhden tai useamman johdinkuvion (1) sekä mittausvälineet (3) johdinkuvion ja sen ympäristön välisen sähköisen kytkeytymisten 5 tuottaman impedanssin mittaamiseksi, järjestely sisältää sovitinvälineet (5) johdinkuvion (1) ja sen ympäristön välisen kytkeytymisen tuottaman impedanssin sovittamiseksi mainittuihin mittausvälineisiin (3), tunnettu siitä, että mainittujen mittausvälineiden (3) impedanssin mitta-alue ilman sovitinvälinettä ίο on johdinkuvion tuottamaan impedanssialueen ulkopuolella ja mainitut sovitinvälineet (5) sovittavat mittausvälineisiin (3) kytketyn johdinkuvion (1) impedanssin mittausvälineille sopivaksi impedanssiksi.
2. Vaatimuksen 1 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että mainitut 15 sovitinvälineet (5) käsittävät yhden tai useamman kondensaattorin.
3. Vaatimuksen 1 tai 2 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että mainitut sovitinvälineet (5) on kytketty sarjaan sanotun johdinkuvion (1) kanssa. 20
4. Minkä tahansa vaatimuksen 1 - 3 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että mainitut sovitinvälineet (5) ovat sopivia mittausvälineille (3), joiden impedanssin mitta-alue vastaa mittaustaajuudella kapasitanssin mitta-aluetta, joka ulottuu enintään 100pF:iin. 25
5. Vaatimuksen 4 mukainen järjestely, tunnettu siitä, että mainitut w sovitinvälineet (5) ovat sopivia liitettäväksi johdinkuvioon (1), joka tuottaa o mittaustaajuudella suurimmillaan vähintään 101 pF kapasitanssia vastaavan o impedanssin. X cn CL tn co (M o oo o o (M <b
FI20080235A 2008-03-26 2008-03-26 Sovitinkomponentti mittausjärjestelmään FI121979B (fi)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20080235A FI121979B (fi) 2008-03-26 2008-03-26 Sovitinkomponentti mittausjärjestelmään
ES09724366T ES2774184T3 (es) 2008-03-26 2009-03-24 Aparato de medición que comprende componente adaptador
PCT/FI2009/050220 WO2009118453A2 (en) 2008-03-26 2009-03-24 Adaptor component for a measuring system
US12/934,602 US9151641B2 (en) 2008-03-26 2009-03-24 Adaptor component for a measuring system
KR1020107023838A KR101541944B1 (ko) 2008-03-26 2009-03-24 측정 시스템용 어댑터부
PL09724366T PL2274629T3 (pl) 2008-03-26 2009-03-24 Urządzenie pomiarowe zawierające podzespół dopasowujący
JP2011501256A JP5716249B2 (ja) 2008-03-26 2009-03-24 測定システムのためのアダプタ・コンポーネント
EP09724366.1A EP2274629B1 (en) 2008-03-26 2009-03-24 Measuring apparatus comprising adaptor component
DK09724366.1T DK2274629T3 (da) 2008-03-26 2009-03-24 Måleapparat omfattende adapterkomponent
PT97243661T PT2274629T (pt) 2008-03-26 2009-03-24 Componente adaptador para um sistema de medição

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20080235A FI121979B (fi) 2008-03-26 2008-03-26 Sovitinkomponentti mittausjärjestelmään
FI20080235 2008-03-26

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20080235A0 FI20080235A0 (fi) 2008-03-26
FI20080235A FI20080235A (fi) 2009-09-27
FI121979B true FI121979B (fi) 2011-06-30

Family

ID=39269471

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20080235A FI121979B (fi) 2008-03-26 2008-03-26 Sovitinkomponentti mittausjärjestelmään

Country Status (10)

Country Link
US (1) US9151641B2 (fi)
EP (1) EP2274629B1 (fi)
JP (1) JP5716249B2 (fi)
KR (1) KR101541944B1 (fi)
DK (1) DK2274629T3 (fi)
ES (1) ES2774184T3 (fi)
FI (1) FI121979B (fi)
PL (1) PL2274629T3 (fi)
PT (1) PT2274629T (fi)
WO (1) WO2009118453A2 (fi)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102466120B1 (ko) 2020-11-24 2022-11-11 이레산업(주) 3상 전력의 전압-전류 측정기용 전류측정 어댑터장치

Family Cites Families (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3372319A (en) * 1966-05-23 1968-03-05 Robertshaw Controls Co Sensing element for proximity detectors and the like
US3525937A (en) * 1967-10-19 1970-08-25 Ibm Matched impedance test probe fixture
US4305007A (en) * 1979-08-22 1981-12-08 Gerald N. Stan Electronic two directional control apparatus
US4565966A (en) 1983-03-07 1986-01-21 Kollmorgen Technologies Corporation Method and apparatus for testing of electrical interconnection networks
US5053757A (en) * 1987-06-04 1991-10-01 Tektronix, Inc. Touch panel with adaptive noise reduction
US5073757A (en) * 1988-09-23 1991-12-17 John Fluke Mfg. Co., Inc. Apparatus for and method of measuring capacitance of a capacitive element
US5463388A (en) * 1993-01-29 1995-10-31 At&T Ipm Corp. Computer mouse or keyboard input device utilizing capacitive sensors
JPH06242159A (ja) * 1993-02-19 1994-09-02 New Japan Radio Co Ltd 静電容量測定装置
US5469364A (en) * 1993-03-15 1995-11-21 Hughey; Bradley W. Apparatus and methods for measuring and detecting variations in the value of a capacitor
FI98567C (fi) * 1993-09-29 1997-07-10 Vaisala Oy Impedanssianturi, etenkin radiosondikäyttöön, sekä menetelmä anturin valmistamiseksi
US5661269A (en) * 1994-02-03 1997-08-26 Wacom Co., Ltd. Position pointing device having resonant circuit with sequentially changed characteristics and combination thereof with position detecting device
JP3378337B2 (ja) * 1994-02-24 2003-02-17 株式会社ワコム 位置検出装置及びその位置指示器
JPH09280806A (ja) 1996-04-09 1997-10-31 Nissan Motor Co Ltd 静電容量式変位計
US5760715A (en) * 1996-04-15 1998-06-02 Pressenk Instruments Inc. Padless touch sensor
JPH10262951A (ja) * 1997-01-23 1998-10-06 Toshiba Corp 指照合システム
JP3262013B2 (ja) 1997-02-24 2002-03-04 三菱電機株式会社 容量型センサインターフェース回路
SE511349C2 (sv) * 1997-03-06 1999-09-13 Jan Rudeke Kapacitiv sensor för närvaroindikering
US6304091B1 (en) * 1998-02-10 2001-10-16 Immersion Corporation Absolute position sensing by phase shift detection using a variable capacitor
JP3237629B2 (ja) * 1998-10-27 2001-12-10 ぺんてる株式会社 直接触式タッチパネル装置
US6466036B1 (en) * 1998-11-25 2002-10-15 Harald Philipp Charge transfer capacitance measurement circuit
JP2000172833A (ja) * 1998-12-10 2000-06-23 Omron Corp 指紋照合装置
ATE517426T1 (de) * 1999-01-26 2011-08-15 Limited Qrg Kapazitiver messwandler und anordnung
AU5594100A (en) 1999-06-04 2000-12-28 Interface, Inc. Floor covering with sensor
JP3771766B2 (ja) * 2000-02-16 2006-04-26 三菱重工業株式会社 静電チャック評価装置及び静電チャック評価方法
JP4336066B2 (ja) * 2001-07-11 2009-09-30 株式会社豊田中央研究所 静電容量型センサ装置
US6864687B2 (en) * 2001-08-01 2005-03-08 Amfit, Inc. Electrostatic sensor device and matrix
JP2003078365A (ja) * 2001-09-05 2003-03-14 Sony Corp オペアンプ回路、静電容量検出装置および指紋照合装置
EP1424562B1 (en) 2001-09-06 2008-06-25 Tokyo Electron Limited Sensor capacity sensing apparatus and sensor capacity sensing method
US6927581B2 (en) * 2001-11-27 2005-08-09 Upek, Inc. Sensing element arrangement for a fingerprint sensor
AU2002357807A1 (en) 2001-12-10 2003-06-23 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Electric field sensor
US6781391B2 (en) * 2001-12-12 2004-08-24 Tektronix, Inc. Multi-channel, low input capacitance signal probe and probe head
US6720777B2 (en) * 2002-02-15 2004-04-13 Rosemount Inc. Bridged capacitor sensor measurement circuit
US7006078B2 (en) * 2002-05-07 2006-02-28 Mcquint, Inc. Apparatus and method for sensing the degree and touch strength of a human body on a sensor
GB0301980D0 (en) 2003-01-28 2003-02-26 Natural Environment Res Systems and methods for resistivity measurement
US6995573B2 (en) * 2003-05-07 2006-02-07 I F M Electronic Gmbh Process for determining the position of an influencing element with an inductive position sensor
JP4009953B2 (ja) * 2003-05-14 2007-11-21 オムロン株式会社 物体検知センサ
FI20040044A0 (fi) * 2003-08-20 2004-01-15 Raimo Erik Sepponen Menetelmä ja laiteisto valvontaan
DE212004000044U1 (de) * 2003-08-21 2006-06-01 Philipp, Harald, Hamble Kapazitiver Positionssensor
US7208694B2 (en) * 2004-04-16 2007-04-24 Wabtec Holding Corp. Capacitance activated switch device
PT1779222E (pt) 2004-07-06 2015-11-20 Maricare Oy Produto sensor para detetar campo elétrico
EP1637875A1 (en) * 2004-09-17 2006-03-22 Fondazione Torino Wireless A multi-frequency capacitive measurement device and a method of operating the same
US8274481B2 (en) * 2004-10-22 2012-09-25 Sharp Kabushiki Kaisha Display device with touch sensor, and drive method for the device
US7023221B1 (en) * 2005-05-09 2006-04-04 Holylite Microectronics Corporation Structure of object proximity and position detector
US7288946B2 (en) * 2005-06-03 2007-10-30 Synaptics Incorporated Methods and systems for detecting a capacitance using sigma-delta measurement techniques
US20070024592A1 (en) * 2005-07-27 2007-02-01 Tyco Electronics Corporation Touch sensor circuitry and system
US20070074913A1 (en) * 2005-10-05 2007-04-05 Geaghan Bernard O Capacitive touch sensor with independently adjustable sense channels
JP2007121125A (ja) * 2005-10-28 2007-05-17 Hioki Ee Corp 電流検出装置および静電容量測定装置
US7924029B2 (en) * 2005-12-22 2011-04-12 Synaptics Incorporated Half-bridge for capacitive sensing
US10203814B2 (en) * 2006-04-20 2019-02-12 Nokia Technologies Oy Sensor arrangement comprising a conductive layer
US20070268272A1 (en) * 2006-05-19 2007-11-22 N-Trig Ltd. Variable capacitor array
US8040321B2 (en) * 2006-07-10 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Touch-sensor with shared capacitive sensors
US9507465B2 (en) 2006-07-25 2016-11-29 Cypress Semiconductor Corporation Technique for increasing the sensitivity of capacitive sensor arrays
US20080047764A1 (en) * 2006-08-28 2008-02-28 Cypress Semiconductor Corporation Temperature compensation method for capacitive sensors
US8547114B2 (en) * 2006-11-14 2013-10-01 Cypress Semiconductor Corporation Capacitance to code converter with sigma-delta modulator
KR100834743B1 (ko) * 2006-12-21 2008-06-05 삼성전자주식회사 커패시턴스 측정 회로 및 그에 따른 커패시턴스 측정 방법
EP2167983A4 (en) 2007-07-11 2013-05-29 Marimils Oy METHOD AND DEVICE FOR THE CAPACITIVE COLLECTION OF OBJECTS
US8059103B2 (en) * 2007-11-21 2011-11-15 3M Innovative Properties Company System and method for determining touch positions based on position-dependent electrical charges
KR100915396B1 (ko) * 2008-02-22 2009-09-03 삼성전자주식회사 현상제 카트리지, 현상유닛 및 이를 구비한 화상형성장치

Also Published As

Publication number Publication date
US9151641B2 (en) 2015-10-06
PT2274629T (pt) 2020-03-24
FI20080235A (fi) 2009-09-27
ES2774184T3 (es) 2020-07-17
WO2009118453A2 (en) 2009-10-01
KR20110029113A (ko) 2011-03-22
EP2274629A2 (en) 2011-01-19
JP2011515692A (ja) 2011-05-19
WO2009118453A3 (en) 2009-11-19
KR101541944B1 (ko) 2015-08-04
PL2274629T3 (pl) 2020-06-29
US20110068808A1 (en) 2011-03-24
JP5716249B2 (ja) 2015-05-13
DK2274629T3 (da) 2020-03-09
EP2274629B1 (en) 2019-12-25
FI20080235A0 (fi) 2008-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10416020B2 (en) Method and apparatus for monitoring fill level of a medium in a container
US8248383B2 (en) Multi-touch touch screen with single-layer ITO bars arranged in parallel
RU2565595C2 (ru) Детектор контакта с кожей
WO2011010325A1 (en) An on-line diagnostic method for health monitoring of a transformer
US7358720B1 (en) Proximity sensor interface
JP2015111087A (ja) 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法
US20130220013A1 (en) Sensors
FI121979B (fi) Sovitinkomponentti mittausjärjestelmään
US11099223B2 (en) Capacitive sensor system
US11668751B2 (en) Sensor device and method for determining an alternating voltage
JP5321990B2 (ja) 共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの電気的特性検査装置
WO2015133212A1 (ja) 電圧測定装置および電圧測定方法
JP6128921B2 (ja) 非停電絶縁診断装置及び非停電絶縁診断方法
JP2019191141A (ja) 環境検出装置
JP4872989B2 (ja) 静電容量型センサ部品、物体搭載体、半導体製造装置および液晶表示素子製造装置
KR101877883B1 (ko) 고장 예측 기능을 구비한 노이즈제거필터
RU2281470C1 (ru) Устройство для измерения звукового давления
US11398823B2 (en) Water insensitive capacitive sensor switch
EP3299830B1 (en) Detection of damper resistor degradation and failures
CN107003150A (zh) 感应式位置确定设备
US9189120B2 (en) Device for detecting the location coordinates of a pressure point within a sensor field

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 121979

Country of ref document: FI

PC Transfer of assignment of patent

Owner name: MARIMILS OY

Free format text: MARIMILS OY

PC Transfer of assignment of patent

Owner name: ELSI TECHNOLOGIES OY